统计过程控制综合题真题无答案.docx

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统计过程控制综合题真题无答案

统计过程控制综合题

(总分176,考试时间90分钟)

一、单项选择题

  (每题的备选项中,只有1个最符合题意)

1.造成连续8点在中心线两侧,但无一在c区中的现象的主要原因是______。

A.数据虚假B.数据分层不够

C.数据虚假或分层不够D.其他原因

2.在国标GB/T4091—2001《常规控制图》中规定的8种判异准则中,判定过程平均值的较小趋势比准则2更为灵敏的是______。

A.准则3B.准则5

C.准则7D.准则8

3.p图的统计基础是______。

A.正态分布B.二项分布

C.泊松分布D.以上都不是

4.对于计量数据而言,______是最常用最基本的控制图。

A.X-R控制图B.X-s控制图

C.p控制图D.u控制图

5.______提出了过程控制理论以及控制过程的具体工具______控制图。

A.休哈特B.朱兰

C.道奇D.罗米格

6.在SPC中发生小概率事件是指______。

A.发生小概率事件就说明生产处于异常状态B.一种风险的表述

C.一事件发生的概率很小D.不可能事件

7.分析用控制图的调整过程即是______不断改进的过程。

A.质量B.技术

C.工序D.状态

8.在单侧限过程能力指数的计算公式中,正确的是______。

9.对过程偏离稳态的程度进行评估时,过程相对稳定系数落在20%~50%内,则该过程的评价为______。

A.接近稳定B.不太稳定

C.不稳定D.很不稳定

10.控制图的判异准则之一是点出界就判异,依据为______。

A.中心极限定理B.大概率原理

C.概率原理D.小概率原理

11.有关Cp,CpK的叙述正确的是______。

A.Cp——无偏移短期过程能力指数  CpK——有偏移短期过程能力指数

B.Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数  CpK——有偏移短期过程能力指数

C.Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数  CpK——无偏移下单侧短期过程能力指数

D.Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数  CpK——有偏移下单侧短期过程能力指数

12.生产过程正常,由于点子偶然越界而判异,于是就犯了______,这种错误将造成______的损失。

A.第一类错误,寻找根本不存在的异因B.第一类错误,不合格品增加

C.第二类错误,寻找根本不存在的异因D.第二类错误,不合格品增加

13.在双侧限无偏移情况下,过程能力指数Cp为______。

  

14.下述结论,正确的是______。

A.Cp<CpK

B.Cp>CpK

C.Cp≥CpK

D.以上都不满足

15.

16.统计过程诊断(SPD)是在______发展起来的。

A.20世纪60年代B.20世纪20年代

C.20世纪80年代D.20世纪90年代

17.当产品质量特性值分布的均值与公差中心不重合时,______。

A.不合格品率增大,过程能力指数不变

B.不合格品率增大,过程能力指数增大

C.不合格品率增大,过程能力指数减小

D.不合格品率不变,过程能力指数减小

18.分析用控制图阶段是指______。

A.将非稳态的过程持续观察一段时间B.将非稳态的过程调整到稳态

C.将稳态的过程保持下去D.以上皆错

19.下列说法正确的是______。

A.产品的质量特性落在大于μ+3σ一侧的概率为0.27%

B.处于控制状态的过程中,只有偶因没有异因

C.统计状态下,过程不会产生不合格品

D.过程中只有偶因没有异因存在时,产品的合格率可以达到100%

20.绘制图时,应______。

A.先作R图,判稳后再作图

B.先作图,判稳后再作R图

C.图、R图同步作出

D.以上做法都不行

21.某产品的合格率为99.45%,其不合格率为______。

A.9945×10-6

B.99.45×10-6

C.0.545×10-6

D.5500×10-6

22.不属于控制状态下生产的好处是______。

A.对产品的质量有完全的把握B.生产是最经济的

C.管理的安排是最合理的D.在控制状态下,过程的变异最小

23.SPC扣主要工具是______。

A.随机性B.正态分布法

C.概率分布理论D.控制图理论

24.对过程能力指数Cp值1.00<Cp<1.33的评价最适当的是______。

A.过程能力较差,表示技术管理能力较勉强,应设法提高一级

B.过程能力充分,表示技术管理能力已很好,应继续维持

C.过程能力充足,但技术管理能力较勉强,应设法提高为Ⅱ级

D.过程能力不足,表示技术管理能力很差,应采取措施立即改善

25.过程控制是指______。

A.为保证产品质量而进行的质量检验活动

B.为实现产品生产过程质量而进行的有组织、有系统的过程管理活动

C.为了解产品的质量特性而进行的测试、测量活动

D.为控制产品质量而进行的统计分析活动

26.在表中所示的状态中,状态______是现场所不能容忍的,需要加以调整,使之逐步达到状态______。

A.Ⅳ,ⅠB.Ⅲ,Ⅰ

C.Ⅳ,ⅢD.Ⅲ,Ⅰ

27.QS-9000提出______的好处是:

可以反映出系统当前的实际状态,而不要求在稳态的条件下进行计算。

A.Pp和PpK

B.PpV和PpK

C.PpK和PpL

D.Pp和PpL

28.在过程控制中,最理想的状态是______。

A.统计控制状态达到,技术控制状态未达到

B.统计控制状态未达到,技术控制状态达到

C.统计控制状态与技术控制状态均达到

D.统计控制状态与技术控制状态均未达到

29.生产过程异常,但仍会有部分甚至大部分点子在控制界限以内,于是就犯了______,这种错误将造成______的损失。

A.第一类错误,寻找根本不存在的原因B.第一类错误,不合格品增加

C.第二类错误,寻找根本不存在的原因D.第二类错误,不合格品增加

30.过程控制,特别是统计过程控制的任务之一就是识别、控制和利用“要素”之间的______或相互作用。

A.总体性B.关联性

C.有序性D.动态性

31.用于控制不合格率、废品率、交货延迟率、缺勤率、邮电、铁道部门的各种差错率等的控制图是______。

A.c控制图B.U控制图

C.p控制图D.印控制图

32.电话总机接转员每天的话务量不同,采用“平均差错数”评定工作质量,则适用的控制图为______。

A.p图B.np图

C.u图D.c图

33.______控制图用于观察正态分布的分散或变异情况的变化。

A.

B.R

C.

D.

34.在双侧限有偏移情况下,偏移系数k的表达式为______。

35.在纺织过程中,为了控制纺织布上的疵点,应采用______.

A.不合格品率p控制图

B.均值控制图

C.极差R控制图

D.不合格数c控制图

36.世界上第一张控制图是______。

A.p控制B.np控制图

C.c控制图D.控制图

37.过程性能指数______进行计算。

A.要求在没有偶然因素下B.要求在未出现重大故障状态下

C.要求必须在稳态条件下D.不要求在稳态条件下

38.控制图的操作步骤正确的是______。

  

(1)计算R图控制线并作图  

(2)确定控制对象  (3)计算图控制线并作图  (4)延长控制图的控制线,作控制用控制图,进行日常管理  (5)将预备数据点绘在R图中,并对状态进行判断  (6)计算,Ri  (7)计算  (8)计算过程能力指数并检验其是否满足技术要求  (9)取预备数据

A.

(2),(9),(6),(7),

(1),(5),(3),(8),(4)

B.

(2),(7),

(1),(6),(5),(9),(8),(3),(4)

C.(9),

(2),(7),(6),

(1),(5),(8),(3),(4)

D.(9),(7),

(2),(6),(5),

(1),(8),(3),(4)

39.控制图是对______进行测定、记录、评估和检查过程是否处于统计控制状态的一种统计方法。

A.质量体系运行B.设备维护保养计划执行情况

C.过程质量特性值D.计量检测系统

40.若对检验费用高的产品进行控制,最宜选取的控制图为______。

A.控制图

B.X-Rs控制图

C.p控制图

D.c控制图

41.一样本由n个观察值组成,样本均值和样本标准差s都大于零,如果其中一个观察值等于样本均值,现把该观察值样本除去,则以下哪条成立______。

A.和s都变化

B.和s都不变

C.不变,s增加

D.不变,s减少

42.在过程性能指数的计算公式中,σ的估计式为______。

A.(样本标准差)

B.

C.

D.

43.3σ原则不包括下列哪个公式______。

A.UCL=μ+3σB.CL=μ

C.LCL=μ-3σD.VCL=μ+3σ

44.设电阻规范下限为95Ω,规范上限为105Ω,现设电阻规范上、下限不变,另一批电阻阻值取自正态总体N(101,12),则过程能力指数CpK为______。

A.2/3B.1

C.4/3D.2

45.偶然波动与异常波动都是______的波动。

A.产品某种特性B.产品性能指标

C.产品质量D.以上均不对

46.在双侧限有偏移情况下,过程能力指数CpK为______。

  

47.在啤酒厂检测啤酒的酒精含量,应采用______。

A.p控制图B.np控制图

C.c控制图D.控制图

48.某厂加工手表齿轮轴,为控制其直径,应采用______。

A.小合格品率p控制图

B.均值一极差控制图

C.不合格数c控制图

D.不合格品数np控制图

二、多项选择题

  (每题的备选项中,2项或2项以上的正确选项,至少有一个错项)

1.下列有关说法正确的是______。

A.控制图主要用于观察正态分布的均值的变化

B.R控制图用于观察正态分布的分散或变异情况的变化

C.控制图联合运用控制图和R控制图,用于观察正态分布的变化

D.控制图对于计件数据而言,是最常用最基本的控制图

E.控制图用于控制对象为长度、重量、强度、纯度、时间、收率和生产量等计量值的场合

2.在控制图中发现______应判为过程不稳定。

A.数据有波动

B.有越出控制线的点

C.控制线内连续6点以上递减

D.控制线内连续6个以上的点递增

3.图中,图的优点有______。

A.适用范围广

B.灵敏度高

C.不用考虑子组容量

D.信息利用充分

4.有关统计过程控制(SPC)的叙述恰当的是______。

A.统计过程控制是为了贯彻预防性原则

B.统计过程控制是为了贯彻谨慎性原则

C.统计过程控制应用统计技术对过程中的各个阶段进行评估和监察

D.SPC中的主要工具是控制图

E.SPC可以判断过程的异常,及时报警

5.过程改进策略包括______两个环节。

A.判断过程是否处于统计控制状态

B.评价过程能力

C.判断过程是否处于异常状态

D.判断过程的离散程度

E.质量改进

6.下列情况中可以判断异常的是______。

A.连续3点中有2点落在中心线同一侧的C区以外

B.连续15点落在中心线两侧的C区内

C.连续9点落在中心线同一侧

D.连续5点递增或递减

E.连续8点落在中心线同一侧

7.统计过程控制(SPC)是过程控制的一部分,主要内容有______。

A.研究绘制控制图的原理与方法

B.利用控制图分析生产过程的稳定性,并对其变异进行预警

C.调查、统计历史资料,确定控制图的控制界限

D.计算CpK(或PpK),分析满足技术要求的程度,对过程质量进行评价

8.在控制状态下,生产的好处有______。

A.对产品的质量有完全的把握

B.生产也是最经济的

C.在控制状态下,过程的变异最小

D.推行SPC能够保证实现全过程的预防

E.推行SPC不能够保证实现全过程的预防

9.控制图中的两种错误,其正确的解释为______。

A.第一种错误的实质是漏发警报

B.生产正常而点子偶然出界,点出界就判过程异常,这是第一种错误

C.过程异常,但点子仍然在控制界限以内时未判异常,这是第二种错误

D.第二种错误的实质是虚发警报

10.在双侧限有偏移的情况下,过程性能指数的确定具有______特点。

A.长期性

B.短期性

C.过程不一定稳定

D.过程稳定

11.在常规控制图中,若发现______,则认为过程异常。

A.点子出界

B.连续9点位于中心线同一侧

C.连续6点递增或递减

D.连续5点中有4点落在中心线同一侧的B区以外

E.点子的排列是随机的

12.无偏移情况的Cp表示______。

A.过程加工的一致性

B.Cp越大,质量能力越弱

C.“质量能力”

D.Cp越大,质量能力越强

E.过程加工的不统一

13.对过程偏离稳态的程度进行评估时,过程相对稳定系数落在10%~20%范围内,则过程不属于______。

A.接近稳定

B.不太稳定

C.不稳定

D.很不稳定

14.X-s图的绘图步骤包括______,延长统计控制状态下的X-s控制图的控制限,进入控制用控制图阶段,实现对过程的日常控制。

A.依据合理子组原则,取得n>10组预备数据

B.计算各子组的平均值和标准差si

C.计算所有观测值的总平均值和平均标准差

D.计算s图的控制限,绘制控制图

E.与容差限比较,计算过程能力指数

15.某工厂为了提高其产品质量,决定采用SPC,工厂管理者最后决定,首先采用p控制图,其画图步骤有______。

A.预备数据的取得

B.计算样品不合格品率

C.计算p图的控制线

D.将各个样本不合格率点描出来

E.使用

16.对合理子组原则的正确说法有______。

A.合理子组原则是由朱兰提出的

B.其内容是:

“组内差异只由偶因造成,组间差异主要由异因造成。

C.组内差异只由偶因造成,其目的是保证控制图上、下控制线的间隔距离6δ为最小,从而对异因能够及时发出统计信号

D.在取样本组时应在短问隔内取,以避免异因进入

E.为了便于发现异因,在过程不稳,变化激烈时应多抽取样本,而在过程平稳时,则可少抽取样本

17.在过程能力指数的计算公式中,σ的估计式有______。

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