如果对PDH和SDH进行测量的话，选“PhysicalLayer”，左下窗口会出现如下功能模块：
Anomaly/DefectAnalyzer:
误码分析；
Anomaly/DefectInsertion:
误码插入；
JitterGenerator/Analyzer:
抖动产生和分析；
SingalStructure：
信号结构设置；
OverheadGenerator：
帧溢出产生
OverheadAnalyzer：
帧溢出分析
PointerGenerator：
指针产生
PointerAnalyzer：
指针分析
PerformenceAnalyzer：
性能分析
如果仪表配置了ATM模块，选"ATMStandard"，会出现如下功能模块：
ATMSignalAnalyzer
ATMBackgroundGenerator
ATMTrafficAnalyzer
选“ATMAdvanced”会出现如下功能模块：
ATMTestControl
ATMTestResult
ATMChannelExplorer
不过，目前公司大部分的ANT-20E仪表，只有最新购买的ANT-20SE才有测试ATM业务的功能，对ATM业务的测试在这我们就不做介绍了。
注意：
一般激活的窗口不要超过5项，激活相应的测试功能项后，在主菜单上会自动增加功能快捷键，可以通过选择主程序菜单上快捷建来切换不同的测试功能。
1.3.4收发激光器设置
ANT-20ESDH测试的激光器类型一般有两种，一种为1550nm的激光器，另一种为1310nm的激光器。
若购买时，只选购其中的一种，则只有一种类型的激光器。
在SignalStructur菜单点击‘Laser’菜单，可设置激光器的打开和关闭。
点击‘Interface’菜单，再点击‘Settings’，如下图2-8所示，可对TX和RX和激光器的打开、关闭和激光器类型进行设置。
图2-8ANT-20ESDH测试仪接口设置界面
显示的激光器参数对应数据结构对应，左边为发送激光器设置:
BitRate:
速率为2488.320Mbit/s，
Offset:
偏移量为0ppm
ClockSource:
时钟源为Internal（仪表的内部时钟），可以选exterl（仪表更总外部时钟）
Output:
输出信号形式为Electrical&optical（可自动识别）
Code：
编码方式为NRZ，缺省
Level：
级别为HIGH（高），缺省
Laser：
激光器为On（打开），Off（关闭）
Wavelength：
波长为1307.71nm，一般有1310nm和1550nm的选择
Scrambler：
On为加扰，Off为解扰
注意：
一般仪表一上电，相应的输出光口就会工作，输出口会发光，如果有输入光相应的光口的无光输入指示灯会灭，所以上电前一定确认输入光是否在允许输入的范围，否则会将仪表损坏。
1.3.5SignalStructure（信号配置）
在测试前需要对ANT-20E的接收和发送数据结构进行设置，使测试仪启动相应的接口进行指标和功能测试。
ANT-20E启动后，选择主菜单Instrumens，如图2-9所示，也可点击相应的快捷选项。
图2-9ANT-20ESDH测试仪主菜单
选中主菜单项下的SignalStructure子菜单选项，并点击，出现如图2-9所示的数据结构设置选项，显示的为最近一次设置的结构。
图2-10数据结构设置选项
可以通过选择SingnalStructure窗口中的Edit菜单里的SingnalStructure进行设置，点击快捷选项
，则出现如图2-11信号结构设置选项，
图2-12ANT-20ESDH测试仪数据结构设置选项
设置过程：
点击‘Clear'选项，清除上次的设置，点击‘TX’选项，根据被测试的信号速率进行相应的设置，再点击‘TX=>RX’选项，使SDH测试仪的收发信号结构一致。
也可根据收发速率的不同，分别进行TX和RX的设置。
如：
对TWC进行误码测试的数据结构设置，操作顺序：
点击‘TX’选项--->选择‘ITU-T’--->选择‘Optical’--->选择‘STM-16’--->选择‘AU4’--->选择‘VC4’--->选择‘140M’--->选择‘Unfrm’--->选择‘PRBS23’--->选择‘TX=>RX’--->选择‘OK’，完成SDH测试仪的收发数据信号设置。
注意：
数据结构设置选项不是每一项都可以进行选择的，根据购买时选购的硬件和软件模块来定，所以要测量某项指标前要确认仪表内是否能设置相应的数据结构，是否有测试该项的功能模块。
1.3.6测量开始和终止
在主菜单靠中间位置有一交通灯模样的快捷按键
，完成仪表和要测的功能项的测试配置后，可点击该快捷键来启动测试，同时交通灯变成红色，
图2-12主菜单上交通灯图
旁边的空格里出现绿色的running字样，边上显示是运行的时间，左边是已运行的时间，右边是时间设置菜单中GateTime所设置的时间。
再次点击的时候交通灯变成绿色，表示测试停止；也可通过面板上的‘START’和‘STOP’键来完成。
在测试过程中，尤其是长时间的误码测试过程中，为避免人为的随意按动键盘和鼠标等误操作，导致测试仪的测试结果不正确，一般可设置键盘锁定工作方式，这时，随意按动键盘和鼠标，不影响测试仪的正常工作。
设置步骤：
按图2-5显示的主菜单，点击‘Configure’菜单，再点击‘KeyboardLock’选项，按提示点击‘OK’，键盘和鼠标操作失效。
选中后，一定要记住开锁的按键，一起按动‘Ctrl’+‘TAB’+‘Esc’三键，才能使键盘和鼠标恢复功能。
1.3.7结果保存
保存分程序的设置保存和测试结果保存，保存的方法方法不一样，下面分开介绍。
1、保存程序设置
保存程序设置前先要停止程序运行，选择程序主菜单中“Application”菜单下的“save”项，存储窗口出现如下：
图2-13ANT-20E的保存窗口
在存储窗口的顶部可以选择存储在A盘还是C盘，在存储窗口中可以看到存储的日期和时间，RX/TX口的设置，在COMMENT栏输入存储的文件名，按下OK键。
2、保存测量结果
保存测量结果前先要停止程序的运行，选择程序主菜单中的“measure”菜单下的“SaveResultas...”项，在弹出来的存储菜单中选择驱动器，输入存储文件名，点击OK即可。
图2-14ANT-20E保存窗口
第二章测试指导书
2.1光输入口允许频偏
2.1.1概念
光输入口允许频偏是用来规范光输入口能够无差错地接收一定频偏范围内的光信号，通常情况下，光发送信号的频率是在标称频率附近上下浮动，这就要求光输入口能够对这种偏差有一定的容忍能力，这个指标主要是测试接收机的锁相环能力，对光口输入频偏的允许能力。
2.1.2测试方法
光输入口允许频偏的指标要求如下：
再生器的内部振荡器在自由运行方式下的长期频率稳定度不得劣于±20×10-6（20ppm），所以指标为±20ppm，适用于STM-1到STM-16信号的测试。
对光输入口的频偏测试步骤如下：
图3-1测试方法
1）按图3-1接好电路；
2）在SDH设备上配置一个支路上下业务，记下此业务的支路与光路的通道编号对应关系；
3）打开ANT-20E测试仪，选择“SignalStructure”菜单中的快捷键
，弹出信号结构设置窗口，如图3-2所示。
根据被测接口速率等级，设置发送和接收的信号结构，注意此时光发信号和光收信号是一对信号，要保持一致。
下面例子是设置收发都为STM-1/AU4/VC-12/2MFramed步聚：
图3-2图编辑信号结构图
A）在“EditSignalStructureTX”窗口中选择Edit栏的TX选项；
B）选择“Clear”选项；
C）选择“ITU-T”，“Normal”，“Optical”按键；
D）选择“STM1”、“AU4”、“VC12”、“2M”、“Framed”；
E）选用223-1的伪随机序列（PRBS）信号。
F）选择TX=》RX；
G）选择OK完成。
4）用鼠标点出业务结构界面“SigalStructure”，其界面如下图3-4：
图3-4ANT-20E的前面板
在“加入频偏”的地方加入频偏，这个用键盘不能输入数值，只能先选一个频偏，然后用“增减频偏按钮”进行增加或者减少输出频偏；
按照上面的方法，输入正频偏数值，看仪表有没有误码，继续增大正频偏，尽可能达到不出现误码时的极限，按下仪表的“START”按钮，测试1分钟，没有误码出现，则可以认为这是该单板能够容忍的正频偏，记录频偏值；同样测试负频偏。
注意：
在被测的SDH设备和分析仪上，要确保业务在设备和SDH分析仪上形成通路，可将相应的光或电接口上用自环验证。
在调整频偏时需要先停止测试，不能在测量的时候进行增大或减小。
设置的信号结构最好存储下来。
注意：
测试频偏过程中，在将对设备加的频偏从正的频偏到负的频偏或从负的频偏到正的频偏时，最好在0频偏点做一短暂停留，让设备适应后再做极性变化。
千兆以太网接口的输入口允许频偏为±100ppm。
2.2光口的输出抖动
2.2.1概念
抖动是指数字脉冲信号的特定时刻（如最佳抽样时刻、判决时刻）相对于其理想时间位置的短时间偏离。
实际上也就是数字脉冲信号的实际有效时间相对于其理想标准时间位置的偏差，如下图所示。
图3-5抖动信号示意图
抖动的单位为UI，所谓UI指光传送比特率的倒数：
STM-1：
UI==6.43ns；
STM-4：
UI==1.61ns；
STM-16：
UI==0.40ns；
输出抖动是抖动出现在网元输出端口的抖动量。
测量的结果选测试过程中出现最大的抖动。
SDH输出口输出抖动指标分为全频段（B1指标）和高频段（B2指标）两个部分来规范。
输出抖动在各个频段的抖动幅度不同，抖动在低频部分的能量较大。
抖动的测试选用带通或者高通滤波器来实现。
如果关闭测量用的滤波器，此时测试到的就是整个频率段的抖动值，即显示整个频段内抖动最大的那个频率的抖动值。
抖动指标如下：
等级
最大输出抖动峰峰值UIp-p
测量滤波器参数
B1
B2
f1（Hz）
f2（k）
f3（M）
STM-1
0.75
0.15
500
65
1.3
STM-4
0.75
0.15
1000
250
5
STM-16
0.5
0.15
5000
1000
20
2.2.2测试方法
STM-N光口输出抖动测试配置框图如图3-5所示：
图3-5SDH设备STM-N口抖动产生测试配置
测试步骤如下：
1）按上图3-5连接电路，设置仪表收发的信号结构；
2）用鼠标点出业务结构界面“SigalStructure”，将频偏设为0，不加输入抖动，按照实际情况配置好收发信号结构；
3）点击快捷选项‘JIT’激活“JitterGenerator/Analyzer”功能模块，菜单如图3-6，在此界面下，通过不同的选择，可进行输出抖动、抖动容限和抖动传递特性的测试；
4）将鼠标移到“RX：
Range”，即接收抖动的范围，有2UI和32UI两种，测试输出抖动时，选择2UI；
4）按被测输出口速率等级，并依照指标表格要求，设置适当的测试滤波器（分别选择B1：
HP1+LP；B2：
HP2+LP），如测试STM-16的B1抖动设置为：
“LP”选中其中的“20M”，“HP”选中其中的“5kHz”，测试B2输出抖动时，HP高通滤波器的值选为1MH；
5）按一下“STOP”按钮，再按一下“START”按钮，测试1分钟，读出测出的最大抖动峰—峰值。
说明：
其中测试结果表中，左边的为当前的抖动值，右边的为测试抖动的最大值，最上为峰—峰值，中间为正的峰值，最下为负的峰值。
在此界面下，通过不同的选择，可进行输出抖动、抖动容限和抖动传递特性的测试。
图3-7抖动窗口
注意：
在测量SDH设备的输出抖动时，ANT-20E输出信号不应加有抖动；测量时需要选择带通或者高通滤波器。
抖动是短期的，非累积性的偏离，偏离随时间变化较快（变化频率大于10Hz）的变化，有正偏，也有负偏，平均值为零，不是一直负偏或一直正偏。
2.3输入口的抖动容限
2.3.1概念
抖动容限的定义为施加在输入STM-N信号上能使光设备产生1dB光功率代价的正弦抖动峰-峰值。
输入抖动容限的测试，要求设备输入口能承受输入信号的各个频率点加的抖动幅度均能满足指标。
该指标测试中需要注意的要点有：
测试结果不显示具体值，只
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