元器件检验通用标准.docx

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元器件检验通用标准.docx

元器件检验通用标准

来料检验标准

版本:

第三版

文件编号:

WI/HV-12-001

受控状态:

碳膜电阻

修改页:

第1页共53页

抽样检验标准:

依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:

AQL=;MA:

AQL=;CR:

AQL=

MI:

次要缺陷MA:

主要缺陷CR:

致命缺陷

序号

检验

项目

检验标准及要求

AQL

检验方法

1

外观

色环标识

色环标识与电阻标称值精度等级是否一一致.

用毛刷沾洗板水轻擦色环,不能出现脱色现象。

MI

目测

元件体

电阻有无破损,引脚是否氧化。

MI

目测

2

尺寸

符合产品工程图;符合实际装配。

MA

钢尺或游标卡尺

3

电性

1.用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内,电阻值小于10K的用串联方式,频率选用100Hz.电阻值大于等于10K的用并联方式,频率选用100Hz。

2.分别在高温85℃、低温-20℃、温度93%±3%、100CM高度自由跌落3次,对应R值均符合标称值以及偏差允许范围。

3.碳膜电阻误差值:

±5%

MA

LCR电桥

4

可焊性

用40W烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在230±5℃锡炉中一次上锡面积大于85%。

表面色环的

颜色不发生变化。

MA

烙铁

小锡炉

5

材料

1.所用材料与样品相符。

2.与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

3.外壳用刀片刮取,壳体坚韧度需符合。

MA

目测、对比样品

刀片

6

包装标识

1、包装材料用料正确。

2、小包装方式、数量无误。

3、装箱方式、数量无误。

4、(内包装、外箱)标识单内容正确。

MA

目测

拟制:

审核:

批准:

日期

日期

日期

来料检验标准

版本:

第三版

文件编号:

WI/HV-12-002

受控状态:

金属膜电阻类

修改页:

第2页共53页

抽样检验标准:

依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:

AQL=;MA:

AQL=;CR:

AQL=

MI:

次要缺陷MA:

主要缺陷CR:

致命缺陷

序号

检验

项目

检验标准及要求

AQL

检验方法

1

外观

色环标识

色环标识与电阻标称值精度等级是否一致。

MI

目测

元件体

电阻有无破损,引脚是否氧化。

MI

目测

2

尺寸

符合产品工程图。

MA

钢尺或游标卡尺

3

电性

1.室温下用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内,电阻值小于10K的用串联方式,频率选用100Hz;电阻值大于等于10K的用并联方式,频率选用100Hz。

2.分别在75℃、-5℃以下、湿度93%±3%、100CM高度自由跌落3次,对应R值均符合标称值及偏差允许范围。

MA

LCR电桥

4

3.金属膜、精密电阻阻值偏差不得超出标称值的上下限。

4.金属膜电阻误差值±1%

CR

5

可焊性

用40W烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于85%。

MA

烙铁

小锡炉

6

材料

1、所用材料与样品相符。

2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA

目测、对比样品

7

包装标识

1、包装材料用料正确。

2、小包装方式、数量无误。

3、装箱方式、数量无误。

4、(内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制:

审核:

批准:

日期

日期

日期

来料检验标准

版本:

第三版

文件编号:

WI/HV-12-003

受控状态:

氧化膜电阻

修改页:

第3页共53页

抽样来料检验标准:

依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:

AQL=;MA:

AQL=;CR:

AQL=0

MI:

次要缺陷MA:

主要缺陷CR:

致命缺陷

序号

检验

项目

检验标准及要求

AQL

检验方法

1

外观

丝印

色环标识与电阻标称值精度等级是否一致。

MI

目测

元件体

电阻有无破损,引脚是否氧化。

MI

目测

2

尺寸

外形尺寸是否符合产品工程图。

MA

钢尺或游标卡尺

3

电性

1.用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内,电阻值小于10K的用串联方式,频率选用100Hz;

2.分别在75℃、-5℃、湿度93%±3%、100CM

高度自由跌落3次,对应R值均符合标称值及偏差允许范围

CR

LCR电桥

4

材料

所用材料与样品相符

MA

目测、对比样品

5

包装标识

1.包装材料用料正确。

2.小包装方式、数量无误。

3.装箱方式、数量无误。

4.(内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制:

审核:

批准:

日期

日期

日期

来料检验通用标准

版本:

第三版

文件编号:

WI/HV-12-004

受控状态:

AI机用的电阻、二极管引脚标准要求

修改页:

第4页共53页

抽样检验标准:

依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:

AQL=;MA:

AQL=;CR:

AQL=

MI:

次要缺陷MA:

主要缺陷CR:

致命缺陷

碳膜电阻、金膜电阻、二极管1N4148、二极管1N4007引脚直径

序号

检验

项目

检验标准及要求

AQL

检验方法

1

电阻

引脚

1.1/4W碳膜、金膜电阻引脚直径要求必需达-0.5mm

4W电阻要求带编带(26mm),编带中间电阻引脚的两端

尺寸为26mm,也有52mm。

3.电阻引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等现象。

CR

数字卡尺

目测

2

二极管

1N4148

引脚

1、二极管1N4148引脚直径为-0.5mm。

2.二极管1N4148要求带编带(26mm),编带中间二极管1N4148引脚的两端尺寸为26mm。

3.二极管1N4148引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等现象

CR

数字卡尺

目测

3

二极管

1N4007

引脚

1.二极管1N4007引脚直径为-0.73mm。

2.二极管1N4007要求带编带(58mm),编带中间二极管1N4007引脚的两端尺寸为58mm。

3.二极管1N4007引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等现象

CR

数字卡尺

目测

4

可焊性

用40W烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于85%。

MI

烙铁

小锡炉

5

材料

1.所用材料与样品相符。

2.与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA

目测、对比样品

6

包装

标识

1.包装材料用料正确。

3.装箱方式、数量无误。

2.小包装方式、数量无误。

4.内包装、外箱标识单内容正确。

MI

目测

拟制:

审核:

批准:

日期

日期

日期

来料检验标准

版本:

第三版

文件编号:

WI/HV-12-005

受控状态:

瓷片电容

修改页:

第5页共53页

抽样检验标准:

依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:

AQL=;MA:

AQL=;CR:

AQL=

MI:

次要缺陷MA:

主要缺陷CR:

致命缺陷

电容:

104P/50V+80%-20%102P/50V+80%-20%(直径φ5脚距5mm)

序号

检验

项目

检验标准及要求

AQL

检验方法

1

外观

丝印

丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。

MI

目测

元件体

引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、划伤、裂痕等。

MI

目测

2

尺寸

符合产品工程图。

脚距5mm,φ6mm,符合实际装配。

MA

钢尺或游标卡尺

3

电性

1.使用数字电容测试仪检测其容量是否在允许范围内,漏电流检测仪检测其额定耐压与漏电流的大小。

2.常温下用数字电容测试仪检测电容值为+80%-20%(+80%-20%),损耗角≤。

3.常温下,用绝缘电阻测试仪测其绝缘阻≥10000MΩ

4.常温下,用耐压测试仪测端子间耐压值75V;端子与外壳间耐压值为100V,应元击穿或飞弧现象(高温区95℃-105℃检测方法相同)。

5.将其放于95℃~105℃及低温-18℃以下,使用数字电容测试仪检测测其电容值为+80%-20%(+80%-20%).

6.手工浸水湿度93%±3%用数字电容测试仪测其电容+80%-20%(+80%-20%).

CR

数字电容测试仪

漏电流测试仪

耐压测试仪

绝缘电阻测试仪

4

可焊性

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于85%。

MI

烙铁

小锡炉

5

材料

1、所用材料与样品相符。

2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA

目测、对比样品

6

包装标识

1.包装材料用料正确。

2.小包装方式、数量无误。

3.装箱方式、数量无误。

4.内包装、外箱标识单内容正确。

MI

目测

拟制:

审核:

批准:

日期

日期

日期

来料检验标准

版本:

第三版

文件编号:

WI/HV-12-006

受控状态:

高压瓷片电容

修改页:

第6页共53页

抽样检验标准:

依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:

AQL=;MA:

AQL=;CR:

AQL=

MI:

次要缺陷MA:

主要缺陷CR:

致命缺陷

电容:

101P/1KV(直径φ5脚距5mm)102P/1KV(直径φ脚距5mm)103P/1KV(直径φ脚距5mm)

序号

检验

项目

检验标准及要求

AQL

检验方法

1

外观

丝印

丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。

MI

目测

元件体

引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、划伤、裂痕等。

MI

目测

2

尺寸

符合产品工程图。

MA

钢尺或游标卡尺

3

电性

1.用数字电容测试仪检测其容量是否在允许范围内,漏电流检测仪检测其额定耐压与漏电流的大小。

2.常温下用数字电容测试仪检测电容值为+80%-20%(+80%-20%),损耗角≤。

3.常温下,用绝缘电阻测试仪测其绝缘阻≥10000MΩ

4.常温下,用耐压测试仪测试端子间耐压值(5s);端子与外壳间耐压值为1250V,应元击穿或飞弧现象(高温区95℃-105℃检测方法相同)。

5.将其放于95℃~105℃及低温-18℃以下,使用数字电容测试仪检测测其电容值为+80%-20%(+80%-20%).

6.手工浸水湿度93%±3%用数字电容测试仪测其电容+80%-20%(+80%-20%).

CR

数字电容测试仪

漏电流测试仪

耐压测试仪

绝缘电阻测试仪

4

可焊性

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于85%。

MI

烙铁

小锡炉

5

材料

1、所用材料与样品相符。

2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA

目测、对比样品

6

包装标识

1包装材料用料正确。

2.小包装方式、数量无误。

3.装箱方式、数量无误。

4.内包装、外箱标识单内容正确。

MI

目测

拟制:

审核:

批准:

日期

日期

日期

来料检验标准

版本:

第三版

文件编号:

WI/HV-12-007

受控状态:

高压金属膜电容

修改页:

第7页共53页

抽样来料检验标准:

依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:

AQL=;MA:

AQL=;CR:

AQL=

MI:

次要缺陷MA:

主要缺陷CR:

致命缺陷

高压电容(CBB金属膜电容)CBB21-473J400V(脚距10mm)

序号

检验

项目

检验标准及要求

AQL

检验方法

1

外观

丝印

丝印是否清晰可辩,有明确认证标志,是否标明3C、UL、TüV或VDE等认证标志。

MI

目测

元件体

引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、划伤,封胶是否有气孔等。

MI

目测

2

尺寸

符合产品工程图

MA

游标卡尺

3

电性

1.根据所测试安规电容的容量在电容测试仪设置标准容量,根据电容正负偏差设置上下偏差,然后依据电容的标称电压值,设定其损耗角正切值,最后夹上待测电容,“PASS”灯亮表示合格。

2.用电容测试仪测其电容μF±5%,损耗角≤%(20℃1KHZ).

3.用绝缘电阻测试仪测其R≥30000MΩ(20℃1min)

4.常温下100CM高度自由跌落3次,再测其电容值应为μF±5%.

5.用耐压测试仪测其极与极的抗电强度2Ur(2S).

6.高温80℃及低温-20℃时,测其电容值为μF±5%。

CR

耐压测试仪

电容测试仪

漏电流

测试仪

绝缘电阻测试仪

4

可焊性

使用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于85%。

MI

烙铁

小锡炉

5

材料

1.所用材料与样品相符。

2.与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA

目测、对比样品

6

包装标识

1.材料用料正确

2.装箱方式、数量无误

3.(内包装、外箱)标识单内容正确

MI

目测

拟制:

审核:

批准:

日期

日期

日期

来料检验标准

版本:

第三版

文件编号:

WI/HV-12-008

受控状态:

聚酯膜(绦纶)电容

修改页:

第8页共53页

抽样来料检验标准:

依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:

AQL=;MA:

AQL=;CR:

AQL=

MI:

次要缺陷MA:

主要缺陷CR:

致命缺陷

聚脂膜电容(绦纶):

2J103J(630V)(脚距4mm)2J152J(630V)(脚距4mm)

序号

检验

项目

检验标准及要求

AQL

检验方法

1

外观

丝印

丝印是否清晰可辩,负极标志、丝印标识是否与来料相符。

MI

目测

元件体

引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、划伤。

MI

目测

2

尺寸

符合产品工程图

MA

钢尺

游标卡尺

3

电性

1.根据所测电容器容量在电容测试仪设置标准容量,根据电容正负偏差设置上下偏差,然后根据电容的标称耐压来设定损耗角,最后夹上待测电容,“PASS”灯亮表示为合格。

2.用电容测试仪或LCR电桥测其电容μF±5%μF±5%),损耗角正切值≤(20℃1KHZ)。

3.用耐压测试仪测其极与极间的抗电强度2Ur(Ur=630VDC)时间5S

4.用绝缘电阻测试仪测其R≥30000MΩ(20℃1min)。

5.工作温度范围-40℃~+85℃

CR

电容

测试仪

万用表

稳压电源

漏电流

测试仪

绝缘电阻测试仪

4

可焊性

用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于85%。

MI

烙铁

小锡炉

5

材料

1、所用材料与样品相符。

2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA

目测、

对比样品

6

包装标识

1、材料用料正确。

2、小包装方式、数量无误。

3、装箱方式、数量无误。

4、(内包装、外箱)小标签内容正确。

MI

目测

拟制:

审核:

批准:

日期

日期

日期

来料检验标准

版本:

第三版

文件编号:

WI/HV-12-009

受控状态:

二极管IN4007

修改页:

第9页共53页

抽样来料检验标准:

依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:

AQL=;MA:

AQL=;CR:

AQL=

MI:

次要缺陷MA:

主要缺陷CR:

致命缺陷

二极管:

D1-D5IN4007

序号

检验

项目

检验标准及要求

AQL

检验方法

1

外观

丝印

负极标志及字符丝印是否清晰可辩。

MI

目测

元件体

元件体引脚是否氧化,是否有毛刺和破损。

MI

目测

2

尺寸

符合产品工程图;符合实际装配。

MA

钢尺或游标卡尺

3

电性

1.用晶体管测试仪先后测试二极管正向压降:

~和反向耐压:

IN4007>1000V、

2.IN4007在最大反向电压下其最大反向电流值为μA(+25℃),平均输出电流值为1A(+75℃)

3.工作温度范围为-65℃to+125℃

CR

晶体管测试仪

稳压电源

万用表

4

可焊性

用40W烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于85%。

MA

烙铁

小锡炉

5

材料

1.所用材料与样品相符。

2.与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA

目测、对比样品

6

包装标识

1、包装材料用料正确。

2、小包装方式、数量无误。

3.装箱方式、数量无误。

4.(内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制:

审核:

批准:

日期

日期

日期

来料检验标准

版本:

第三版

文件编号:

WI/HV-12-009A

受控状态:

二极管IN4007

修改页:

第9A页共53页

抽样来料检验标准:

依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:

AQL=;MA:

AQL=;CR:

AQL=

MI:

次要缺陷MA:

主要缺陷CR:

致命缺陷

型号

稳压值及精度

测试电流

正向电压(VF)

IN4723

±5%

76mA

当IF=200mA时,VF≤

IN4732

±5%

53mA

当IF=200mA时,VF≤

IN4733

±5%

49mA

当IF=200mA时,VF≤

IN4734

±5%

45mA

当IF=200mA时,VF≤

IN4723

12V±5%

21mA

当IF=200mA时,VF≤

IN4723

27V±5%

当IF=200mA时,VF≤

稳压二极管参数:

二极管参数:

型号

最大反向电压(VR)

正向电压(VF)

正向电流(IF)

最大正向输出电流IAF

IN4001

≥50V

μA

1A

IN4002

≥100V

μA

1A

IN4007

≥1000V

μA

1A

IN4148

≥100V

μA

150mA

BAV99

≥75V

μA

215mA

拟制:

审核:

批准:

日期

日期

日期

来料检验标准

版本:

第三版

文件编号:

WI/HV-12-010

受控状态:

二极管IN4148

修改页:

第10页共53页

抽样来料检验标准:

依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:

AQL=;MA:

AQL=;CR:

AQL=

MI:

次要缺陷MA:

主要缺陷CR:

致命缺陷

二极管:

D6-D7IN4148

序号

检验

项目

检验标准及要求

AQL

检验方法

1

外观

丝印

负极标志及字符丝印是否清晰可辩。

MI

目测

元件体

元件体引脚是否氧化,是否有毛刺和破损。

MI

目测

2

尺寸

符合产品工程图;符合实际装配。

MA

钢尺或游标卡尺

3

电性

1、用晶体管测试仪先后测试二极管正向压降:

~和反向耐压:

IN4148>100V、

2、最大反向电流(+25℃)值为μA,平均输出电流(+75℃)值为150mA

3、工作温度范围为-65℃to+125℃

CR

晶体管测试仪

稳压电源

万用表

4

可焊性

用40W烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于85%。

MA

烙铁

小锡炉

5

材料

1、所用材料与样品相符。

2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA

目测、对比

样品

6

包装标识

1、包装材料用料正确。

2、小包装方式、数量无误。

3、装箱方式、数量无误。

4、(内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

拟制:

审核:

批准:

日期

日期

日期

来料检验标准

版本:

第三版

文件编号:

WI/HV-12-011

受控状态:

二极管(6A10)

修改页:

第11页共53页

抽样来料检验标准:

依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:

AQL=;MA:

AQL=;CR:

AQL=

MI:

次要缺陷MA:

主要缺陷CR:

致命缺陷

二极管:

6A10

序号

检验

项目

检验标准及要求

AQL

检验方法

1

外观

丝印

负极标志及字符丝印是否清晰可辩。

MI

目测

元件体

元件体引脚是否氧化,是否有毛刺和破损。

MI

目测

2

尺寸

符合产品工程图;符合实际装配。

MA

钢尺或游标卡尺

3

电性

4.用晶体管测试仪先后测试二极管正向压降:

(MAX)和反向耐压:

6A10>1000V

5.6A10在最大反向电压下其最大反向电流值为10μA(+25℃),平均输出电流值为(+100℃)

6.工作温度范围为-55℃to+150℃

CR

晶体管测试仪

稳压电源

万用表

4

可焊性

用40W烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于85%。

MA

烙铁

小锡炉

5

材料

1、所用材料与样品相符。

2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。

MA

目测、对比样品

6

包装标识

1、包装材料用料正确。

2、小包装方式、数量无误。

3.装箱方式、数量无误。

4.(内包装、外箱)标识单内容正确。

MI

目测

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批准:

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