SPI总线信号质量信号完整性测试方法与规范Word文档格式.docx

SPI总线信号质量信号完整性测试方法与规范Word文档格式.docx

《SPI总线信号质量信号完整性测试方法与规范Word文档格式.docx》由会员分享，可在线阅读，更多相关《SPI总线信号质量信号完整性测试方法与规范Word文档格式.docx（13页珍藏版）》请在冰豆网上搜索。

BY

DATE

1.目的…………..…………………………………………………………..3

2.适用范围…………………………………………………………………3

3.测量设备…………………………………………………………………3

4.参考文件………………………………………………………………..4

5.注意事项………………………………………………………………..5

6.测试项目………………………………………………………………..5

7.操作步骤………………………………………………………………..5

※※修订履历※※

REV.

修订内容

发行日期

备注

1.目的

依照规格手册，介绍和规范在测量SPI信号时的操作。

2.适用范围

用于产品在做信号完整性量测。

3.测量设备

TektronixTDS3034Qty=1TektronixP6139ProbeQty=2

4.参考文件

4.1《TektronixTDS3034操作手册》

4.2《SPI总线规范》

4.3相关测试点位组件的DATASHEET,线路图等。

5.注意事项

5.1确认测试人员静电环接触良好

5.2在测量时应检查示波器是否运行正常

5.3检查信号连接是否正确，接地是否合理

5.4确定待测系统SUT是否工作在预定的模式

5.5为保证量测的准确性，测量中请用探头直接连接测量点，如确有必要，连接探头和测量的传输线及信号接地线不能超过0.5英寸。

5.6如量测结果超出规格﹐须再次确认测量点与芯片规格﹐确认测量条件及测量方法无误后，更换PCBA板测量，若量测结果仍为Fail，则定性为Bug并与相关人员确认。

信号

测试项

测试点

预期结果

备注

SPI片选信号CE

Vih（高电平幅值）

信号宿端

1、符合芯片规格书的要求

2、符合《信号质量测试通用规范（v1.0）》第5小节要求

“预期结果”中，信号的质量首先要符合芯片规格书的要求；

如果芯片规格书对该测试项没有具体规定时，请参考公司《信号质量测试通用规范（v1.0）》判定标准。

Vil（低电平幅值））

Overshoot

Undershoot

Tr（上升时间）

Tf（下降时间）

SPI数据输出口SO

tDSU数据建立时间

tDH数据保持时间

SPI数据输入口SI

SPI时钟SCK

Tclch（上升时间）

Tchcl（下降时间）

Tclh高电平脉宽

Tcll低电平脉宽

占空比

频率

周期

6测试项目

时序示意图:

7.操作步骤

7.1操作前准备

7.1.1搭建测试环境，确认各个设备正常运行。

7.1.2准备测试仪器，使用示波器测量之前确保示波器至少预热30分钟，并且示波器所有探头的校正或DSKEW（多通道）均为PASS。

7.2测试流程

7.2.1按下示波器电源开关，开始进入操作接口

对于示波器操作接口和基本操作，參考《示波器操作手册》。

7.2.2当完全进入操作接口时，按照测试用例，选择不同的测试探头，将被测信号接到相应的探头上。

7.2.3让被测试系统进入测试模式,进行信号测试,测试完成后关机退出.

让被测系统SPI总线处于传输数据的状态进行测试.

7.3信号分类测量

7.3.1SPI片选信号CE高低电平测试

在Measure菜单选中高，低电平.，触发模式为上升（下降）沿触发，在AUTO狀态调整触发电平，使之刚好能触发满足测试要求的相应的波形，调整好Scale，进行single操作。

预先按下single按钮，注意：

只有让系统被测通讯线处于传输数据的状态，进行测试，才能捕捉到所需的波形，量测结果如下图Figure1所示:

Figure1

7.3.2SPI片选信号CE上升,下降时间测试

在Cursors菜单选中触发模式为上升（下降）沿触发，找到数据波形的上下降位置，利用measure的上升时间和下降时间选项测量所需的数据，注意：

只有让系统被测通讯线处于传输数据的状态，进行测试，才能捕捉到所需的波形。

量测结果波形如下所示：

7.3.3SPI数据输入信号SI建立时间

设置触发模式为上升（下降）沿触发，找到数据传输停止的波形，用Cursor标出之间的时间,满足测试要求的相应的波形，调整好Scale，进行single操作﹐预先按下single按钮，注意：

只有让系统被测通讯线处于传输数据的状态，进行测试，才能捕捉到所需的波形，量测结果如下图Figure5所示:

Figure5

7.3.4SPI数据输入信号SI数据保持时间

设置触发模式为上升（下降）沿触发，找到数据传输的波形，用Cursor标出之间的时间,满足测试要求的相应的波形，调整好Scale，进行single操作﹐预先按下single按钮，注意：

只有让系统被测通讯线处于传输数据的状态，进行测试，才能捕捉到所需的波形，量测结果如下图Figure6所示:

Figure6

7.3.5SPI数据输入信号SI上升，下降时间测试

7.3.6SPI数据输出信号SO信号测试方法和SI信号相同，但测试点需选择在信号的宿端。

7.3.7SPISCK信号频率和周期测试，在Cursors菜单选中Cursortype-waveform，触发模式为上升（下降）沿触发，找到数据传输的波形，用Cursor标出之间的时间,满足测试要求的相应的波形，调整好Scale，进行single操作﹐预先按下single按钮，注意：

只有让系统被测通讯线处于传输数据的状态，进行测试，才能捕捉到所需的波形.

7.3.8SPISCK信号的高低电平、过冲电压、上下降时间的测试方法和SI信号的测试方法基本一样，参考其测试方法即可，SCK信号脉宽及占空比可参考《信号质量测试通用规范（v1.0）》第5小节测试方法，在此不再详述。

注意：

①在测试过程中使用尽量短的转接线和地线，并且示波器探头接地点要尽量地靠近被测点；

示波器光标标示到位,做好示波器各通道信号的标识。

②保存测量数据与图片，填入相应测试用例表格中,判断结果是否正确。

③关闭系统,收拾整理实验室。