TOFD检测基本程序Word文档格式.docx
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超声探头………………………………………………………………………..…13-15
扫查器………………………………………………………………………………..16
仪器设置程序………………………………………………………………………..16
基本信息…………………………………………………………………………..…16
探头的选择以及探头的间距………………………………………………………..16
探头的选择…………………………………………………………………………16-17
探头的间距…………………………………………………………………………..17
时间窗口设置………………………………………………………………………..18
灵敏度的设置………………………………………………………………………..18
扫查分辨力设置……………………………………………………………………..18
扫查速度设置………………………………………………………………………..18
系统检查……………………………………………………………………………..18
6.0数据分析以及解释…………………………………………………………………..19
6.1缺陷的基本分析……………………………………………………………………..19
6.1.1基础…………………………………………………………………………………..19
6.1.2缺陷的特点…………………………………………………………………………..19
6.1.2.1表面开口缺陷的特点……………………………………………………………….19
6.1.2.2底面开口缺陷的特点……………………………………………………………….19
6.1.2.3埋藏性缺陷的特点………………………………………………………………….20
6.1.3缺陷位置的计算…………………………………………………………………….20
6.1.4缺陷长度的计算…………………………………………………………………….20
6.1.5缺陷深度以及自身高度的计算…………………………………………………….21
6.1.5.1表面开口缺陷………………………………………………………………………..21
6.1.5.2底面开口缺陷…………………………………………………………………….….21
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6.1.5.3埋藏性缺陷…………………………………………………………………………..21
6.2缺陷详细分析………………………………………………………………………..22
6.2.1附加的扫查………………………………………………………………………….22
6.2.1.1扫查中较低的检测频率……………………………………………………………..22
6.2.1.2扫查中较高的检测频率……………………………………………………………..22
6.2.1.3扫查中减少探头的角度……………………………………………………………..22
6.2.1.4扫查中不同的探头偏离中心距离…………………………………………………..23
6.2.2附加计算法…………………………………………………………………………...24
7.0复杂几何形状的缺陷的检出以及定量……………………………………………..24
8.0技术的局限性………………………..……………………………………………....24
8.1精度以及解晰度……………………………………………………………………..25
8.1.1侧向波位置的误差…………………………………………………………………...25
8.1.2时间的误差…………………………………………………………………………...25
8.1.3声速的误差…………………………………………………………………………...25
8.1.4探头间距的误差……………………………………………………………………...26
8.1.5空间解晰度…………………………………………………………………………...26
8.2盲区……………………………………………………………………………………26
9.0检测报告………………………………………………………………………………27
10.0参考试块
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1.0,范围以及局限性
此程序用于低合金钢中不连续缺陷的检测以及定量,是TOFD方法检测的一般程序,所用的标准是EN583-6
这种方法同样适用于其它类型的材料,用TOFD技术必须考虑到材料的几何特性,声学特性,以及检测灵敏度
除非在参考文件中有特别的要求,此程序已给出了最基本的要求
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2.0参考标准
这个基本程序是结合参考书,其它的出版物编制而成。
本程序中所引用的这些标准参考资料已在下面列出。
对于标注日期的参考资料使用更改或修订过的版本。
对于没有标注日期的参考资料,使用其最新版本。
EN473NDT个人资格以及认证---基本程序
ASNT-TC-1AASNT美国无损检测考试委员会,无损检测个人资格以及认证的标准
ISO9712:
2005en国际标准,无损检测个人考试的培训,资格,以及认证
EN12062:
1997/A2:
2004en焊缝无损检测的一般规则,对象是铁素体材料
EN12668-1超声检测---超声检测设备的不同特点,第一节,仪器
EN12668-2超声检测---超声检测设备的不同特点第二节,探头
EN12668-2超声检测---超声检测设备的不同特点第三节,组合的设备
NVN-CEN/TS14751:
2004en焊接---使用TOFD技术检测焊缝
EN583-1无损检测---超声检测---第一章,基本原理
EN583-2无损检测---超声检测---第十二章,灵敏度以及范围设定
NVN-ENV583-6:
2000en无损检测---超声检测---第六章,TOFD技术是一种可以对不连续性缺陷进行检测和定量的方法
NEN1822:
2005en对于TOFD检测技术可接受缺陷的描述
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3.0图例以及对于相应字符的定义
图1,定义坐标
X坐标平行于扫查表面,平行于预定参考线,以便检测参考线与焊缝一致,确定坐标的起点以便达到更好的检测精度
△X缺陷的长度
y坐标平行于扫查表面,可以垂直于预定参考线
△y横向位置的误差
Z坐标垂直于扫查面
△Z缺陷的高度
d缺陷尖端在表面以下的深度
δd深度误差
Dds扫查表面的盲区
Ddw底面盲区
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C声速
δc声速误差
R空间的解析度
t侧向波和第二个超声信号之间的飞越时间
δt飞越时间的误差
tw底面回波的飞越时间
S两个探头之间入射点距离的一半
δs探头间距一半的误差
W工件厚度
Deadzone盲区,是指由于几何因素指示信号被遮挡的区域
Backwalldeadzone底面盲区,在工件背面所存在的盲区
A-Scan显示超声信号幅度转换为时间
B-Scan飞越时间是通过探头移动所显示出来的
Non-parrallelscan垂直于超声束方向的扫查(见图4)
Parrallelscan平行于超声束方向的扫查(见图5)
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4.0基础
4.1技术原理
TOFD技术,是在不连续缺陷的尖端产生波型的转换,当它转换后产生衍射波,这个衍射波覆盖了较大的角度范围,那么衍射波就会检测出所存在的缺陷,记录信号的飞越时间就可以测量出缺陷的高度,那么就可以对缺陷进行定量,缺陷尺寸通常是被定义为衍射信号的飞越时间差,信号波幅与缺陷定量没有关系
图例:
1发射探头C探头角度
2接收探头d埋藏性缺陷
a侧向波e缺陷下尖端
b缺陷上尖端f底面回波
埋藏性缺陷TOFD基本结构
这个基本构造TOFD技术包括,有一定间距的超声波发射与接收探头(见图2),由于缺陷尖端的方向衍射波很微弱时,通常使用大角度的纵波探头
一次扫查一定的长度,在一次扫查中要求精确,
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当声波脉冲传送到接收探头一端,第一个信号就到达接收探头的一端,这个就是侧向波,侧向波是在被检工件表面下传播。
如果没有缺陷的存在,那么第二个到达接收探头的信号将是底面回波。
这两个信号都被用作参考的目的,如果忽略变形波,那么在材料中缺陷的信号将在侧向波以及底面回波之间,两个波到达以后,从发射探头到接收探头的路径就会有长和短,显而易见,通常指的是缺陷下尖端信号,缺陷A超信号的典型模式如图3中所示,缺陷的自身高度是缺陷两个尖端的飞越时间差,此时应该注意,侧向波的相位与底面回波的相位是相反的,缺陷上尖端以及下尖端的相位是相反的
无论是缺陷接近于表面,或者是贯穿于整个工件厚度,扫查两个表面的时候需要改进精度,特别近表面的缺陷时
图例
X波幅b上尖端
y时间c下尖端
a侧向波d底面回波
埋藏性缺陷的A超信号
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4.2表面状况以及耦合剂
T0FD检测时,探头必须与被检工件的表面紧密的贴合在一起,为了更有效的TOFD焊缝检测,必须注意到焊缝的形状,焊缝两边的飞溅,铁锈,涂层等等,这些都可能会影响灵敏度,根据检件来选择探头间距,所以要求有良好的表面,那样可以有更好的声速传播,声能损失小,焊缝两边的距离必须满足1.75倍的工件厚度加25mm(1.75t+25mm),每一边都必须满足这个条件,表面要足够的平整,在边缘和表面不允许超过0.5mm的裂纹,保持清洁的表面也是对客户的一种责任。
可以使用不同的耦合介质,它们的类型要和材料一样被检测,例如,水,可能包含化学成份——变湿,结冰,腐蚀等等,耦合介质包括:
浆糊,油,干油,纤维素浆糊,还包括有水。
耦合剂应该保证不改变材料本身的特性
4.3材料以及程序类型
由于使用TOFD技术得到的是较低信号的波幅,这种方法的运用尽量减少超声波束的衰减以及扩散,它的检测对象是合金和低合金碳钢。
4.4健康,安全以及环境
在工作的所有步骤中,个人的安全以及健康是很重要的,在工作之间,应该提前做好注意事项,在VANTAGENDT中也有对环境方面的事项,这是做一个合格的工作者必要条件。
4.5个人要求
个人必须有合格的培训记录,以及有足够的经验,合格的NDT等级,而且必须达到国际所认证的合格等级---EN473NDT个人资格以及认证,ASNT-TC-1AASNT美国无损检测考试委员会,无损检测个人资格以及认证的标准ISO9712:
2005en国际标准,无损检测个人考试的培训,资格,以及认证。
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5.0一般要求
5.1基本要求
在进行TOFD检测之前,必须按照NVN-CEN/TS14751:
2004en进行指导,包括如下
---检测人员资质
---检测计划,位置,以及焊缝的特性
---确认编号
---位置指向,例如,流向,风向
---检件以及焊缝的几何形状和尺寸
---检件材料等级
---材料填充类型
---表面状况,例如,温度,以及涂层
---检测设备
---校验设备
---标度试块
---可接受性缺陷
---扫描记录
---报告格式
---对于缺陷采取的措施
5.2附加信息
操作人员可以要求更多的信息,这样有益于缺陷评定
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5.3设备的要求
5.3.1超声设备以及显示
在TOFD技术中使用超声设备,至少要遵守以下标准中的要求:
EN12668-1,EN12666-3,EN12668-3。
另外,还有如下要求
----接收探头的带宽,最低要求是0.5-2倍范围内,探头频率-6db,除非是特殊的材料和产品等级才可以使用较大的带宽,适当使用滤波
---发射脉冲可以是单级的也可以是双级的,上升时延不超过0.25倍的普通探头频率
---非调整的信号必须数字化作为取样频率至少是4倍的普通探头频率
---对于一般的设备来说包括有,超声设备和扫查器,它们将获取信号以及将信号数字化,信号采样率应该至少是每毫米扫查长度一个A扫信号,数据的获取和扫查器的移动一定要同步
---A扫信号数字化以后,呈现出来的是适当的时间数据,窗口是可编程的,将位置以及长度显示出来,传送脉冲起始值为0-200μs,窗口长度可编程为5-100μs,用这种方法信号就会被数字化,侧向波以及爬波,底波信号,变形波信号,在4.1中会详细介绍。
---A扫数字化后是作为单色灰度信号显示出来的,B扫是非平行的扫查。
---为了保存所接收到的A扫信号以及B扫信号,设备应有硬盘,软盘,以及其它可选的磁盘作为存储器,为了记录的目的,将A扫和B扫的数据备份到硬盘上。
---设备可以对收集到的信号进行平均化处理。
对于典型的TOFD信号,为达到更高的增益设置,可以使用前置放大器,它在频率范围以内可以引起谐振,前置放大器的位置应尽可能地接近接收探头。
另个值得注意的是对于缺陷的基本和高级的分析,在本书6.0中有详细的介绍
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5.3.2超声探头
TOFD技术所使用的超声探头必须达到如下的要求
---至少是两个探头,一个发射探头,一个接收探头
---类型,任何适用的探头
---波的模式,通常是纵波,使用横波探头很复杂,如有特殊的要求,可以使用。
---两个探头必须使用同样的中心频率,它们的公差应该是±
20%,对于频率的选择可以见此书5.4.2
---脉冲的长度,无论是侧向波还是底波,都不可以超过两个回合,测量得到10%的波峰
---脉冲重复频率的设置,不可以干涉到正常传送的脉冲波
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1参考线6侧向波
2探头的移动方向7缺陷上尖端
3发射波探头8缺陷下尖端
4接收探头9底面反射
5传送时间---通过整个厚度范围内的时间
图4,非平行的扫查,探头移动的方向如左图,相应的成象如右图
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1,参考线6,侧向波
2,探头移动的方向7,缺陷的上尖端
3,发射探头8,缺陷的下尖端
4,接收探头9,底面反射信号
5,传送的时间----整个厚度范围内的时间
图5,平行的扫查,探头移动的方向如左图,相应的成象如右图
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5.3.3扫查器
扫查器,必须调整两个探头入射点的间距,使之不变
扫查器的另一种功能是给超声设备提供探头的位置信息,为B扫精确定位,探头的位置信息是由编码器读出来的
TOFD所用的编码器可以是自动的,也可以是手动的
探头两个入射点的的距离的中点,与参考中心线也就是焊缝中心线的偏差是±
10%
5.4设备设置程序
5.4.1基础
探头的选择与探头晶片尺寸是非常重要的仪器设置参数,它们在很大程度上决定了精度,信噪比,区域的覆盖率。
设置程序有以下细节应该注意
-----系统足够的增益和信噪比会影响到衍射信号
-----合格的分辨率和足够的覆盖率也很重要
-----有效地使用仪器的动态范围
5.4.2探头的选择以及探头的间距
5.4.2.1探头的选择
无论是厚或者是薄的工件,合理的选择TOFD探头,可以得到好的检出率,选择这些探头不是特定的,而是根据需要选择相应的规格
对于70mm厚的铁素体钢,可以使用一对探头,为了达到好的分辨率和足够的覆盖率,必须合理的选择探头参数,以下列出了三种不同厚度的检件所需的参数
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表1,厚度小于70mm检件的探头参数的选择
对于大于70mm厚度的检件,可以进行分区检测,每一个区域覆盖不同的深度,对厚度在70-300mm的检件,为了达到良好的分辨率和足够的覆盖率,表2中列出了探头的中心频率,晶片尺寸,以及探头的角度,这些区域将被分开来检测
表2厚度在70mm-300mm检件的探头参数的选择
5.4.2.2.探头的间距
最大的衍射效率所包含的角度大约是120度,探头的排列使声束中心线可以贯穿整个深度范围,那样缺陷才可以被发现
角度偏差大于-35度或是+45度时,会使衍射波变弱,所以最好不要用,除非是检测需要
5.4.3时间窗口的设置
在理想状态下,时间窗口的记录,从1微秒开始记录,直到侧向波到达,然后伸展到第一个底波到达,因为变形波可以用来分辨缺陷,所以时间窗口是包括第一个变形底面回波的信号
时间窗口的显示至少可以覆盖到整个深度范围内的显示
用比较小的时间窗口也是可行的,这样可以提高缺陷位置的测量精度,如在参考试块中的代表性的缺陷或人工缺陷
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5.4.4灵敏度的设置
探头的间距以及时间窗口的设置完成后,就可以进行下一步的检测
为了保证缺陷的信号在数字转换器的范围以内,就必须限制噪声信号,使超声信号大于电噪声信号。
仪器的设置——电子噪声抑制和系统增益,电子噪声信号会在侧向波这之前到达,所以要求电噪声信号至少低于超声信号6db,并不大于整个波幅范围的5%。
灵敏度的设置可以用附录A中的参考试块中的代表性缺陷以及人工缺陷调节,可以得到合理和增益设置和信噪比。
5.4.5扫查分辨率的设置
推荐使用每毫米一个A扫信号
5.4.6扫查速度的设置
扫查速度的设置可以根据前三节中的描述进行设置
5.4.7系统显示的检查
在进行检测之前,应该对仪器的记录,以及A扫进行检查
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6.0数据分析以及解释
6.1缺陷的基本分析
6.1.1基础
记录或者可接受缺陷必须满足标准中的要求,缺陷的记录有如下几个主要因素
----缺陷的位置‘X坐标,Y坐标’
----缺陷的长度
----缺陷的深度以及它的自身高度
----缺陷的类型,有如下三种,表面开口缺陷,底面开口缺陷,以及埋藏性缺陷
6.1.2缺陷的特点
对缺陷更好的描述,缺陷上尖端定义为
------可以看出来明显的相位,侧向波的相位与缺陷下尖端的相位是相同的
------可以看出来明显的相位,底波的相位与缺陷下尖端的相位是相反的,缺陷没有自身高度的时也是这样
由于信噪比太底而去辨别相位,这样没有任何意义
6.1.2.1.表面开口缺陷的特性
缺陷下尖端的衍射信号非常的弱,不过先得检查有没有足够的耦合剂,此时侧向波会断开,这种情况就会被认为表面开口缺陷
有时候侧向波没有断开只是稍微向下移,那么此时的飞越时间长了一点
6.1.2.2底面开口缺陷的特性
缺陷上尖端的衍射信号与底面回波会向上移,或者是底面回波信号会断开,这种情况会被认为是底面开口缺陷
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