太阳电池所需测试大全Word文档格式.docx

太阳电池所需测试大全Word文档格式.docx

《太阳电池所需测试大全Word文档格式.docx》由会员分享，可在线阅读，更多相关《太阳电池所需测试大全Word文档格式.docx（13页珍藏版）》请在冰豆网上搜索。

1.2非接触式少子寿命测量仪器（SEMILAB）

名称：

个人计算机、测试基台

将需要测试的不同硅片放置于测试台面上

使用软件为UPCD，测试多为扩散后的硅片.

点击ASET键，LT为测试显示值。

少子寿命数值规定如下：

FZ片子大于100

原始硅片单晶10um以上

多晶5um以上（原则上要求要大于10um正常中需要算大于10um以上的所占比率）

扩散后硅片单晶10um左右（原则上要大于10um）

多晶7um左右（原则上要大于10um）

影响少子寿命的内容

杂质类型即深能级杂质如金属杂质等等严重影响少子寿命

硅片表面态的状况，即高温处理前硅片的表面状况直接影响少子寿命

杂质浓度对少子寿命的影响，重掺杂状况下会引起晶格的畸变，复合加剧影响少子寿命

1.3SUN-Voc检测方法

对电池片的选择要求，

Uoc

Isc

Rs

Rsh

FF

NCell

Lreve2　

0.604

7.688

2.22

98.60

78.23

0.1498

2.199

0.609

7.631

2.38

67.61

78.648

0.1497

4.667

串并联正常，漏电较大的电池片

J01，测试前后表面

J02，测试结区

使用厚的滤光片、1号滤光片和3号滤光片；

将机台的两根线接上机台（一根红的，一根蓝的），红线接红接口，蓝线接蓝接口.

将电池片的电流密度算出（电流除以电池片面积），输入测试软件中.

将待测电池片放在机台上，正面朝上，用测试笔点在主栅线上

点击Measure键，然后让软件自己校准

完成后，再点两次Rasmple，

然后再点击IVCurve，对曲线进行拟合，

查看Jo1、Jo2、PFF和0.1sun下的品质因子的数值.

2.1膜厚折射率检测方法

扫描椭圆偏振光测试仪

测试计算机、控制器、测试基台（三种）

对于基台1，长方形斜面台测试单晶2，小圆盘测试多晶3，大圆盘测试抛光片

首先激光对点，标记需要测试的部位，选择需要测试的膜对应的文件，

点Measure，Th与n为所需要的数值（Thick膜厚与refractiveindex折射率）

测量方法

镀膜后电池片放置于测试台面上，单晶选择小型圆行测试台面成斜面多晶选择圆形台面水平放置

数值取值单晶72—76nm多晶80—85nm

对于实际操作中，单晶范围一般在70—80nm多晶范围一般在80—90nm

3.1反射率测试方法

积分式反射仪

计算机、测试腔、测试台、标准片

操作方法：

打开电源将按钮“Power”打到I电流位置，氙灯亮后，将电流调整至5A工作电流，光谱仪正常工作时指示灯为红色.

软件使用：

SR-D8（CDI）

触发氙灯。

将按钮“Power”打开到“I”位置，以接通电源，氙灯被打开；

当氙灯被触发点亮后，转动旋钮，将电流表读数调节到5A的位置，即氙灯的额定工作电流；

确认光谱仪与电脑正常连接后，接通光谱仪的电源，确认红色指示灯亮起，并且风扇可以正常工作；

双击桌面上的“SR-D8（CDI）”图标，进入主操作界面；

将载物台移动到最右端，使积分球的出光口对准底板上的消光片，单击“Device”中的“background”项，即进行背景光的测量；

将基准片放在托盘上，然后将载物台移动到左端，使积分球的出光口对准基准片，单击“Device”中的“Reference”项，开始对基准片进行测量；

选择“File”中的“OpenRecipe”项，按照实际测量的需要，选择对应的Recipe；

将待测片放在载物台上，使积分球的出光口对准需要测量的区域。

单击“Measurement”按钮，开始测量；

注意：

在测量的过程中，不要接触光纤、光谱仪、积分球等。

以免数据失真；

在“ShowList”的下拉菜单中，将会显示曲线名称和颜色的关系，点击“Copy”可将数据复制到Excel等软件中，也可以将数据通过单击“ShowList”的下拉菜单“Save”可将数据保存到指定文件夾；

由于组件时没有统一的标准，所以在测量前需要对灯箱高度进行微调，测量时积分球与组件是以接触的方式，所以在移动载物台或者取片的时候，必须将灯箱升高，以免造成积分球的偏移或损伤。

校准

进行如下的动作将载物台移动到最右端，使积分球的出光口对准底板上的消光片，单击“Device”中的“background”项，即进行背景光的测量；

将基准片放在托盘上，然后将载物台移动到左端，使积分球的出光口对准基准片，单击“Device”中的“Reference”项，开始对基准片进行测量如前相同的步骤；

取下基准片，换上标准片，进行6.8步骤，得到一组反射率数据；

打开标准数据与测量值进行比较。

测量数据的平均反射率与标准数据的平均反射率的偏差小于1%；

软件参数的设定

Recipe参数的设定。

在主操作界面中，依次点击File”、“EditRecipe”、“Login”、“Recipe”；

“BoundariesforCalculation”的设定不要超过光谱仪的硬件参数范围；

“AlarmSetting”是指如果测量结果超出了设定的范围，在打印出的报告中会有“NG”提示标志；

当“Savefileafterthemeasurement”被选定后，“Path”将生效，所设定的位置为测量结果的保存文件夹，“filename”为最后一次测量结果的文件名；

“R（%）”是设定offset参数生效范围的，根据不同的使用测量范围，对recipe进行设定。

对结果的补偿所对应的公式为Y=AX3+BX2+CX+D。

在测试前必须与标准片进行在背光条件下的对比。

单晶反射率一般在13—15

多晶反射率一般在21---25

4.1电池扫描分析仪

Corescan扫描分析仪

测试腔、测试探针、计算机

可以测试接触电阻分布；

并联电阻分布；

开路电压分布；

光生电流密度分布.

打开电源，将机身左侧后部的电源开关拨至“I”位置；

点击电脑桌面上的“Correscan”图标，输入密码，进入软件操作界面；

点Scantype，设置Scantype，需设置X、Y、对角线，对X1、X2、Y1、Y2设置是表示需要扫描的区域.测试整个电池片X1、X2、Y1、Y2为0

对测试项进行选择，其中包含四部分（Coresan、Shuntscan、Vocscan:

、LBICscan.）

对测试间距可以选择，一般选择2.0mm，如果需要测试更细密，则选择0.5mm、1mm

探针校正。

在“ControlPanel”窗口下，单击“Probeadjustment”,如果太短，顺时针旋转探针旁边的旋纽，太长则反之；

扫描“LBICScan”，不需要进行探针校正；

在扫描时需观察电池正面电极主栅线是两根还是三根而选择压条.

将待扫描的电池片放置好，将压条对准主栅线，按下“VACUUM（真空）”的蓝色按纽，启动真空泵；

扫描“VocScan”，须将压条取下；

合上盖子，点击“starttestrun”，测试是否可以运行；

进入“MEASUREMENT”点击“StartXXXXScan”进行扫描；

说明：

在扫描之前系统会提示保存数据，需要数据的话须保存；

保存点击Print

做过接触式扫描（除了LBICScan）的电池片表面会有清晰的划痕，所以不能做重复性的扫描。

测试分析图表：

Corescan

Shuntscan

Vocscan

LBICscan

Info:

Rseries

Voc

Jsc

好的电池片的大致范围

小于15mV

小于10mV

不均匀差小于10mV

不均匀度小于3%

原理图

可能导致坏电池的部分原因

1.丝网印刷不好

2.过度烧结或烧结不够

3.发射极不统一

4.有少量的磷硅玻璃

1.边缘隔离不好

2.过度烧结

3.SiC的搀杂

1.发射极不统一

2.原材料的不好

1.钝化不好

2.原材料的质量不好

5.1浓度测试仪

梅特勒-托利多浓度分析仪

包含部分：

主机药液放置点、取样器、标准液、操作平台、终端设备控制器

取样为1g以内，不同的取样药液需要对应的不同标准液.

取样器药液放置孔有22个，仅有数字标识.

点击操作平面，平面如上图：

a为重置键:

它中断所有正在进行的任务。

b为信息键:

它调出相应屏幕内容的交互式在线帮助。

c为主页键:

使用它们返回主页（在显示屏的左右两侧）。

重置键为紧急按钮，出现异常操作或者测试错误时使用.

设置可以使用电脑主机，一般使用终端设备控制器，如下：

对图片解释

方法：

该菜单进入方法编辑器，可以创建和管理方法。

样品系列：

在这个菜单中可以创建和管理由单一试样组成的系列，可以创建不同的取样分析点对应不同的标准液。

结果：

菜单中可以管理分析结果。

设置：

菜单中可以对滴定仪使用的硬件和全部资源进行配置。

此外还可以在这里进行全局设置和用户设置。

手动操作：

菜单下进行一些手动的操作，如：

启动搅拌器、电极、泵、溃液等等.

以测HF-HNO3中HF和HNO3的质量比为例

选择“HF-HNO3%”，会出现如图三的界面；

对于方法号根据所选择的溶液进行对应选择，上图中有7种选择方法，HF-HNO3%为1，HF-HNO3L为2，NaOH为3。

。

等等

图三

称样品的质量范围为0.5g-1.0g，将小烧杯放在取样器上，在“样品大小”栏中输入所称的值，数值可以精确到小数点后三位，如图四；

图四

然后选择“起始位置”，烧杯放在几号就填几号，在准备工作就绪后，选择“开始”进行测量；

图五为测试界面

图五

等测量结束后，结果会在电脑和控制器上显示出来。

6.1光学显微镜

仪器名称：

使用方法：

打开电源。

将机身右侧后部的主电源开关拨至“I”位置；

将待观察的试样放置到载物台上；

转动物镜转盘，使5倍物镜进入光路；

转动调焦旋纽，使视野中出现清晰的图像；

移动载物台，使试样上需要观察的部分位于视野中央；

切换到高倍物镜，调节微调旋纽，使图像清晰；

如需在暗场下观察，将右侧的切换拉杆拨至“DF”位置，同时推进孔径光阑FS；

双击计算机屏幕上的“OLYSIM”图标，打开图像捕捉窗口后，点击快捷工具栏中的“采图”按钮，并将观察筒右侧的光路切换拉杆拉出至中间位置，便可以在计算机屏幕上获得显微图像。

调校

调节目镜的瞳间距：

通过目镜观察时，调节观察筒，直到左右视场完全吻合。

观察筒中间的白点标明了瞳间距的大小，可以记下数值以便以后再次观察。

不戴眼镜的操作人员观察时应将目镜上的橡皮圈翻出。

调节屈光度：

将标准台尺放到载物台上，将物镜转盘切换到5倍物镜，使视场中出现完整的标尺图像；

用右眼通过右侧目镜观察，调节调焦旋钮获得清晰的标尺图像；

握住右侧目镜，使十字线测微尺刻度保持水平，同时转动屈光度调节环，直到测微尺的刻度与标准台尺的刻度完全重合；

用左眼通过左侧目镜观察，调节目镜上的屈光度调节环，使图像清晰。

对中孔径光阑（AS）：

转动物镜转盘，使10倍物镜进入光路，然后把样品放在载物台上，对图像粗略聚焦；

卸下左侧的目镜，直接从目镜筒中观察，拉出孔径光阑调节杆，将孔径缩小为70~80%；

使用六角改锥插进两个孔径光阑对中螺丝，转动这两个螺丝，将光阑图像调节到中央；

注意事项：

用暗场进行观察时，必须推进视场光阑调节杆，完全打开孔径光阑。

在高倍下观察或者观察某些样品时，适当缩小孔径光阑，可以获得高反差和低眩光的图像。

对中视场光阑（FS）：

轻轻拉出显微镜机身右侧的FS拉杆，稍稍缩小视场光阑；

使用六角改锥插进两个视场光阑对中螺丝，转动这两个螺丝，将视场光阑图像调节到视场中央；

开大视场光阑，直到光阑图像与视场同样大小；

用暗场进行观察时，应推进视场光阑调节杆，完全打开视场光阑。

载物台对中：

在载物台上放一个试样，调节显微镜获得图像；

旋转载物台，使载物台的旋转中心与目镜中的十字线重合。

测微尺参数

物镜倍数

5X

10X

20X

50X

100X

目镜测微尺每小格长度

20um

10um

5um

2um

1um

比例尺刻度代表的长度

200um

100um

50um

目前选用观察软件，选择需要的倍数，通过粗调螺母和微调螺母调整物镜与物体的距离；

达到清晰后对图片进行保存.

对成像焦点，记录微调螺母上的数字，可以计算两点间高度.

对镜头上的标尺可以计算平面内两点距离.

7.1LBIC、IQE和QE检测

扩散长度多晶要求在400以上，越大越好

单晶要求在600以上，越大越好

IQE内量子效应

QE外量子效应

正常图形短波400—500nmQE响应大于80%，长波响应1000nm附近响应大于60%