品质管理资料SPC 作业办法精编版Word下载.docx
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文件修改记录
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修改内容概述
修订人
修订日期
A
新发行
不良情况的处理
03-Apr-2002
1.0目的
提供SPC的使用准则及步骤，并说明使用方法，以便在运用管制图时能够正确地决定、检讨管制界限与进行管制图的判读。
2.0 范围
X-R管制图、P管制图、Cpk（制程能力指数）的运用管理。
3.0定义
3.1计量值特性
凡产品的品质特性以实际量测方式取得的特性称为计量特性，例如重长等。
3.2计数值特性
凡产品的品质特性不连续，不易或不能以实际量测方式取得，只能间断取值的
特性，例如不合格数、不良品率等。
4.0相关文件
5.0职责
5.1相关部门：
SPC的运用与维持。
5.2工程部：
SPC的使用的规划。
6.0程序
6.1管制图使用规划及选择原则
6.1.1使用规划由QA及工程部根据各制造工序影响因素及质量影响因素，结合成本及效益，全面规划需采取管制图控制的工序和产品特性。
6.1.2选择原则
6.1.2.1计量值特性选用X-R管制图。
6.1.2.2计数值特性选用P管制图。
6.2管制图绘制、使用步骤
6.2.1首次使用管制图的作业程序
6.2.1.1决定须管制的特性。
6.2.1.2搜集25组数据。
6.2.1.3计算中心线（平均值）及管制上、下限。
6.2.1.4绘制管制图。
6.2.1.5检查是否有超出管制界限的点。
6.2.1.6将这些超出管制界限的资料剔除并重新计算中心线（平均值）及管
制上、下限。
6.2.1.7决定管制图的中心线（平均值）及管制上、下限。
6.2.2现场使用管制图的作业程序
6.2.2.1在新的管制图纸划出管制图的中心线（平均值）及管制上、下限。
6.2.2.2依规定的抽样频率及抽样数，并将所得资料记录于管制图上，且依所使用的管制图种类进行计算。
6.2.2.3将计算结果描点于管制图上。
6.2.2.4管制图判读及异常管制图矫正/预防措施
6.2.2.5检讨管制界限
6.2.2.5.1当完成一张管制图时，根据管制图图纸上的资料重新计算中心线（平均值）及管制上、下限。
计算时须剔除超出管制界的资料。
6.2.2.5.2比较计算前后之中心线（平均值）及管制上、下限。
6.2.2.5.3若无重大差异时在新的管制图纸延用计算前的管心线（平均值）
6.2.2.5.4若有明显的差异时，可在新的管制图纸使用计算后的管制中心线（平均值）及管制上、下限。
6.3管制图判读原则及异常管制图的矫正/预防措施
6.3.1正常之管制图其各点的动态为：
6.3.1.1多数的点集中在中心线附近。
6.3.1.2少数的点落在管制界限附近（但未超出管制界限）。
6.3.1.3各点的分布呈随机状态，无任何规则可循。
6.3.2异常管制图的判读
6.3.2.1任何超出控制限的点
6.3.2.2连续7个点在中心线之上或之下
6.3.2.3连续7个点上升或下降
6.3.2.4任何其它明显的非随机图形，如2/3的描点应落在控制限1/3的中间区域，描点成规则形状。
6.3.3异常之管制图的矫正/预防措施
6.3.3.1出现任何超出控制界限的点，都应提请相关单位进行原因分析，并采取矫正措施。
新初一语文6.3.3.2对于连续7个点在中心线之上或之下，或连续7个点上升或下降，或其它明显非随机图形，都应提请相关部门分析原因，留意趋势采取相应预防措施。
6.3.3.3如相关责任部门无视不良现象的存在或长期行动无效果,必要时发出《矫正/预防措施要求书》要求其改善。
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6.4X－R管制图的使用方法
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X－R管制图是以管制平均值（X管制图）与全距（R管制图）的方式达到管
制的目的。
6.4.1决定样本数
6.4.1.1使用X－R管制图的样本数（n）以2~5个为适当，但不要超过
10个为宜。
6.4.1.2样本数一经决定后必须在使用时固定不变。
6.4.2平均值与全距的计算
数学方案问题 6.4.2.1平均值（X）=各组内数据的和÷
样本数。
6.4.2.2全距（R）=各组内的最大值－最小值。
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6.4.3X管制图与R管制图之中心线与管制上、下限的计算公式。
6.4.3.1X管制图之中心线与管制上、下限的计算公式：
6.4.3.2R管制图之中心线与管制上、下限的计算公式：
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政治考核6.4.3.3X－R管制图的系数表
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3
智慧树《管理学》答案4
5
6
7
8
9
A2
1.88
1.02
0.73
0.58
0.48
0.42
0.37
0.34
0.31
D2
1.13
1.69
2.06
2.33
2.53
2.70
2.85
2.97
3.08
D3
0.08
0.14
0.18
0.22
D4
3.27
2.57
2.28
2.11
2.00
1.92
1.86
1.82
1.78
6.5P管制图的使用方法
P管制图是以管制不良率的方式达到管制的目的。
6.5.1决定样本数
6.5.1.1使用P管制图的样本数（n）以能够发现1-5个不良品最为适
当，样本数的决定公式为：
6.5.1.2若未决定样本数，导致管制下限小于0，则下限取0。
6.5.2管制图的管制界限必须依管制上、下限公式计算，若样本改变时，以实际样本数代入。
6.5.3P管制图之中心线及管制上、下限的计算公式：
6.6制程能力指数Cpk使用规划
6.6.1工程部根据各制造过程或工序影响以及质量特性，全面规划需进
行制程能力控制的制程或工序并明确相应的Cpk值。
6.6.2制程能力指数
6.6.1.1使用制程能力指数时，应依统计学的原则，同时衡量制程中的集中（平均）与分数（变异）状况，以确实掌握制程品质特性。
6.6.1.2Cpk值、Cpk等级、不合格率及相应措施关系列表如下。
衡量等级
Cpk值
Cpk等级
不良率（P）
相应措施
2.0（含以上）
≥6
P≤0.000000002
本公司的优势，需要时配合管制图管制。
1.67~2.0
≥5
P≤0.00000057
希望制程能够达到的水准，应考虑配合管制图进行管制
C
1.33~1.67
≥4
P≤0.00006
产品可免检，但应考虑配合管制图管制。
D
1.0~1.33
≥3
P≤0.0027
制程有改善空间，要改善并可采取抽样的方式检验产品
E
0.67~1.0
≥2
P≤0.0455
制程应进行专案改善并考虑设置检查站，确认唯有合格的批才可进入下一制程。
F
0.33~0.67
＜2
P≥0.3174
制程很差，应考虑实施全检
6.6.3制程能力指数运用的前提
6.6.3.1所使用的规格上下限依内部或客户要求。
6.6.3.2如客户另有特定制程指数值要求时，另和客户协商。
6.6.3.3指数计算的结果可能因抽样误差而有所差异，使用时掌握其等级，并采取适当措施即可。
6.6.4制程能力指数的计算
6.6.4.1符号说明
USL：
表示规格上限。
LSL：
表示规格下限。
X：
表示所搜集或抽样资料的平均。
σ：
表示自所搜集或抽样资料中所推算（估计）的标准差。
6.6.4.2制程能力指数计算公式
Cpk：
相对于规格同时表示制程集中与变异的指数。
6.6.4.3标准差计算公式
δ=R/d2
R是子组极差的平均值，d2是随样本容量变化的常数
6.6.5制程能力指数异常的处理当制程能力指数低于客户要求时，责任部门应采取措施以改善，必要时应以《矫正/预防措施要求书》的形式提出改善
7．附件
7.1X-R管制图图纸样式
7.2P管制图图纸样式
8.流程图
略
附件一
X-R管制图
部门:
管制图编号:
组别
规格
管制图
X图
R图
机器号码
工序名称
最大值
上限
作业员
管制特性
平均值
中心限
抽样方法
期限
最小值
下限
测试者
时日
合计
编号
样
本
测
定
值
X1
X2
X3
X4
X5
ΣX
平均
X
R
管
制
图
计算
原因
追查
附件二
计数型数据管制图
组别
Pc
Npu
机器编号
工序/零件名称
品质特性
期限
平均值=
管制上限=
管制下限=
平均样本容量
不合
格
数量
率
日期
应记录人员、设备、方法、环境或测量系统中的任何变化，在管制图上出现这些信号时，这些记录将帮助你矫正或改进过程的措施
时间
备注
矫正/预防措施要求书编号
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