TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试Word文件下载.docx

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TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试Word文件下载.docx

只有当输入端全部为高电平时,输出端才是低电平(即有“0”

得“1”,全“1”得“0”。

其逻辑表达式为丫=■

2、TTL与非门的主要参数

⑴低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH

与非门处于不同的工作状态,电源提供的电流是不同的。

ICCL是指所有输

入端悬空,输出端空载时,电源提供器件的电流。

ICCH是指输出端空截,每

个门各有一个以上的输入端接地,其余输入端悬空,电源提供给器件的电流。

通常|ccl>

Icch它们的大小标志着器件静态功耗的大小。

器件的最大功耗

为PCCL=VcCCCLO手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流

和总的功耗。

Iccl和ICCH测试电路如图2-2(a)、(b)所示。

5.5V将损坏器件;

低于4.5V器件的逻辑功能将不正常。

[注意]:

TTL电路对电源电压要求较严,电源电压VCc只允许在+5V±

10%的范围内工作,超过

Vcc

£

TTL与非门静态参数测试电路图

(2)

IiL和高电平输入电流IiHoIiL是指被测输入端接地,其

低电平输入电流

余输入端悬空,输出端空载时,由被测输入端流出的电流值。

在多级门电路中,IiL相当于前级门输出低电平时,后级向前级门灌入的电流,因此它关系到前级门的灌电流负载能力,即直接影响前级门电路带负载的个数,因此希望IiL小些

IiH是指被测输入端接高电平,其余输入端接地,输出端空载时,流入被测输入端的电流值。

在多级门电路中,它相当于前级门输出高电平时,前级门的拉电流负载,其大小关系到前级门的拉电流负载能力,希望IiH小些。

于IiH较小,难以测量,一般免于测试。

IiL与Lh的测试电路如图2-2(c)、(d)所示。

(3)扇出系数Nd

扇出系数Nd是指门电路能驱动同类门的个数,它是衡量门电路负载能力的一个参数,TTL与非门有两种不同性质的负载,即灌电流负载和拉电流负载,因此有两种扇出系数,即低电平扇出系数N3L和高电平扇出系数Noh。

通常

liHVliL,则N0h>

Ndl,故常以Ndl作为门的扇出系数。

血的测试电路如图2-3所示,门的输入端全部悬空,输出端接灌电流负载RL,调节RL使IOL增大,Vol随之增咼,当VOl达到VoLm(手册中规定低电平规范值0.4V)时的Iol就是允许灌入的最大负载电流,则

Nol=上通常NOl>

8

liL

(4)电压传输特性

门的输出电压V。

随输入电压Vi而变化的曲线V。

=f(vi)称为门的电压传输特性,通过它可读得门电路的一些重要参数,如输出高电平Voh输出低电平VOl、关门电平VOff、开门电平Vdn阈值电平Vt及抗干扰容限Vnl、Vnh等值。

测试电路如图2-4所示,采用逐点测试法,即调节FW,逐点测得V及Vo,然后绘成曲线。

a

*5V

lOL

Vol

Rw

Vcc+5V?

形对应边沿0.5Vm点的时间间隔,如图2-5所示

图2—5(a)中的tpdL为导通延迟时间,tpdH为截止延迟时间,平均传输延迟时间为

⑻传输延迟特性(b)tpd的测试电路

1

tpd(tPdL-tpdH)

tpd的测试电路如图2—5(b)所示,由于TTL门电路的延迟时间较小,直接测量时对信号发生器和示波器的性能要求较高,故实验采用测量由奇数个与非门组成的环形振荡器的振荡周期T来求得。

其工作原理是:

假设电路在

接通电源后某一瞬间,电路中的A点为逻辑“1”,经过三级门的延迟后,使A点由原来的逻辑“1”变为逻辑“0”;

再经过三级门的延迟后,A点电平又重新回到逻辑“1”。

电路中其它各点电平也跟随变化。

说明使A点发生一个周期的振荡,必须经过6级门的延迟时间。

因此平均传输延迟时间为

+T

tpd

6

TTL电路的tpd一般在10nS〜40nS之间。

74LS20主要电参数规范如表2—1所示

表2—1

参数名称和符号

规范值

单位

测试条件

流参数

通导电源电流

ICCL

V14

mA

Vcc—5V,输入端悬空,输出端空载

截止电源电流

ICCH

V7

Vcc=5V,输入端接地,输出端空载

IiL

W1.4

Vcc—5V,被测输入端接地,其他输入端悬空,输出端空载

高电平输入电流

IiH

V50

A

VCc—5V,被测输入端Vn—2.4V,其他输入端接地,输出端空载。

V1

Vcc—5V,被测输入端Vn—5V,其他输入端接地,输出端空载。

输出高电平

VoH

>

3.4

V

VCc—5V,被测输入端Vn—0.8V,其他输入端悬空,1oh—4001A

输出低电平

V0.3

v

Vcc—5V,输入端Vn—2.0V,

Iol—12.8mA。

扇出系数

Nd

4〜8

同Voh和VOl

交流参数

平均传输延迟时间

W20

ns

Vcc—5V,被测输入端输入信号:

Vn—3.0V,f—2MHz

二、实验设备与器件

 

四、实验内容

在合适的位置选取一个14P插座,按定位标记插好74LS20集成块。

1、验证TTL集成与非门74LS20的逻辑功能

按图2—6接线,门的四个输入端接逻辑开关输出插口,以提供“0”与

“1”电平信号,开关向上,输出逻辑“T,向下为逻辑“0”。

门的输出端接

由LED发光二极管组成的逻辑电平显示器(又称0—1指示器)的显示插口,LED亮为逻辑“1”,不亮为逻辑“0”。

按表2—2的真值表逐个测试集成块中两个与非门的逻辑功能。

74LS20有4个输入端,有16个最小项,在实际测试时,只要通过对输入1111、0111、1011、1101、1110五项进行检测就可判断其逻辑功能是否正常。

11+5V

14

AiBiCiDi

图2-6与非门逻辑型備鴻试啤路

2、74LS20主要参数的测试

(1)分别按图2—2、2—3、2—5(b)接线并进行测试,将测试结果记入

表2—3中。

表2—3

(mA)

IOL

No上

tpd=T/6

(ns)

⑵接图2—4接线,调节电位器R,使Vi从OV向高电平变化,逐点测量

Vi和vo的对应值,记入表2—4中

表2-4

V(V)

0.2

0.4

0.6

0.8

1.0

1.5

2.0

2.5

3.0

3.5

4.0

VO(V)

五、实验报告

1记录、整理实验结果,并对结果进行分析。

2、画出实测的电压传输特性曲线,并从中读出各有关参数值。

六、集成电路芯片简介

数字电路实验中所用到的集成芯片都是双列直插式的,其引脚排列规则

如图2-1所示。

识别方法是:

正对集成电路型号(如74LS20)或看标记(左边的缺口或小圆点标记),从左下角开始按逆时针方向以1,2,3,…依次排列到最后一脚(在左上角)。

在标准形TTL集成电路中,电源端Vcc—般排在左上端,接地端GND-般排在右下端。

如74LS20为14脚芯片,14脚为Vcc,7脚为GND若集成芯片引脚上的功能标号为NC则表示该引脚为空脚,与内部电路不连接。

七、TTL集成电路使用规则

1、接插集成块时,要认清定位标记,不得插反。

2、电源电压使用范围为+4.5V〜+5.5V之间,实验中要求使用Vcg+5V。

电源极性绝对不允许接错。

3、闲置输入端处理方法

(1)悬空,相当于正逻辑“1”对于一般小规模集成电路的数据输入端,实验时允许悬空处理。

但易受外界干扰,导致电路的逻辑功能不正常。

因此,对于接有长线的输入端,中规模以上的集成电路和使用集成电路较多的复杂电路,所有控制输入端必须按逻辑要求接入电路,不允许悬空。

(2)直接接电源电压VCc(也可以串入一只1〜10KQ的固定电阻)或接至某一固定电压(+2.4<

V<

4.5V)的电源上,或与输入端为接地的多余与非门的输出端相接。

(3)若前级驱动能力允许,可以与使用的输入端并联。

4、输入端通过电阻接地,电阻值的大小将直接影响电路所处的状态。

当R<

680Q时,输入端相当于逻辑“0”当R>

4.7KQ时,输入端相当于逻辑“1”。

对于不同系列的器件,要求的阻值不同。

5、输出端不允许并联使用(集电极开路门(OC)和三态输出门电路(3S)除外)。

否则不仅会使电路逻辑功能混乱,并会导致器件损坏。

6、输出端不允许直接接地或直接接+5V电源,否则将损坏器件,有时为了使后级电路获得较高的输出电平,允许输出端通过电阻R接至Vcc,一般取R=3〜5.1KQo

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