锅炉维修工程无损检测工艺规程Word文档格式.docx
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8.规定检验
9.缺陷评定
10.检验结果的等级分类
11.检测记录及报告
三、磁粉检测
4.设备、工具和材料
5.磁化技术
6.检测程序及要求
7.磁痕的评定
8.质量分级
9.复验
10.检测记录及报告
四、渗透检测
5.渗透检测方法
6.渗透检测基本程序
7.渗透检测操作方法
8.观察
10.后清洗
11.显示记录
12.渗透显示的分类和记录及质量分级
13.检测记录及报告
本规程适用于我公司安装和维修工程中射线检测操作。
JB4730—2005《承压设备无损检测》
GB4792《射线卫生防护基本标准》
3.1检测人员必须经过技术培训，按《特种设备无损检测人员资格考核与监督管理规则》取得与其工作相适应的资格证书。
3.2检测人员应每年检查一次视力，校正视力≮1.0。
评片人员还应辨别出400mm距离处高0.5mm和间距0.5mm的一组印刷字母。
射线防护应符合GB4792的规定。
5.1射线源和能量的选择
5.1.1现使用设备见表1
5.1.2透照不同厚度的焊缝时，允许使用的最高管电压应控制在图1的范围内。
表1
制造厂
型号
有效焦点尺寸（mm）
最大透照厚度（mm）
备注
丹东
XXQ—2505
2.0×
2.0
40
定向
XXQ—2005
1.5×
1.5
29
※用γ射线透照，当采用内透法（中心法和偏心法）时，透照厚度下限减半。
透照厚度和允许使用最高管电压如图1所示：
5.1.3钢管环缝透照时，其能量的选择参照JB/T4730-2005《承压设备无损检测》进行。
5.2胶片和增感屏
5.2.1胶片：
在满足灵敏度要求的情况下，一般x射线选用T3型或更高类别胶片，如天津Ⅲ型等。
γ射线选用T2型或更高类别胶片。
5.2.2增感屏：
采用金属增感屏或不用增感屏。
金属增感屏的选用见表2。
表2
射线源
增感屏材料
前屏厚度（mm）
后屏厚度（mm）
≤100KV
铅
不用或≤0.03
≤0.03
＞100-150KV
≤0.1
≤0.15
＞150-250KV
0.02~0.15
＞250-500KV
0.02~0.2
5.2.3胶片和增感屏在透照过程中应始终紧密接触。
5.3象质计
5.3.1象质计的选用
采用线型象质计，其型号和规格应符合JB/T7902的规定。
5.3.2象质计的使用
A.象质计应放在射线源一侧的工件表面上被检焊缝区的一端（被检区长度1/4部位）。
金属丝应横跨焊缝，细丝置于外侧。
当一张胶片上同时透照多条焊接接头时，象质计应放在透照区最边缘的焊缝外。
B.象质计放置原则
按JB/T4730.2-2005中4.7.2及4.7.3的规定执行。
5.4B标记
背部散射线及无用射线应采用常规方法屏蔽。
为验证背部散射线的影响，在每个暗盒背向工件侧贴一个“B”铅字标记（高13mm厚度1.6mm）。
若在底片的黑色背影上出现B的较暗淡的影象，就说明背散射防护不良，应予重照。
但若较淡背影上出现B的较黑的影象，则不作为底片质量判废的依据。
5.5识别系统
识别系统由定位标记和识别标记构成。
5.5.1定位标记
焊缝透照定位标记包括搭接标记（）和中心标记（）。
局部检测时搭接标记称为有效区段标记。
当铅质标记用数字表示时，可不用中心标记，如图2（a）所示。
5.5.2识别标记
识别标记包括产品编号、焊缝编号、底片编号和透照日期。
返修部分还应有返修标记R1R2…（其数码表示返修次数）。
扩大检测比例的透照还应有扩大检测标记。
5.5.3象质计和识别系统的位置图2所示。
识别系统编号至少距焊缝边缘5mm。
5.5.4工件不适合打钢印标记时，应采用绘图和漆笔写的方法办理。
胶片处理应按胶片说明书或公认的有效方法处理。
处理溶液应保持在良好的状况中，应注意温度、时间和抖动对冲洗效果的影响。
自动冲洗时，还应准确控制传递速度药液的补充。
底片质量应满足JB/T4730.2-2005中4.11的要求。
8.1观片灯
观片灯的亮度应能满足评片要求，且观片窗口的漫散射光亮度可调，并备有遮光板，对不需观察或透光量过强部分屏蔽遮光。
8.2评片室
评片应在评片室进行。
评片室的光线应暗淡，但不能全暗，周围环境亮度应大致与底片上需要观察部位透过光的亮度相当。
室内照明光线不得在观察的底片上产生反射。
9.1同一条焊缝的余高在允许范围内应均匀，以保证底片黑度处于规定范围内。
9.2距焊缝中心40mm范围内的焊疤、飞溅、成型粗糙及表面缺陷等应修磨，以不掩盖或干扰缺陷影象的显示为度。
9.3焊缝及热影响区的表面质量（包括余高高度）应经检查员检查合格。
9.4受检表面经检测人员认可。
一般采用AB级，具体按JB/T4730.2-2005中3.8的规定执行。
11.1透照方式
根据工件特点和技术条件的要求，在可以实施的情况下应选用单壁透照，在单壁透照不能实施时再选用双壁透照。
11.2透照方向
射线束中心一般应垂直指向透照区中心，需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。
11.3一次透照长度
一次透照长度以透照厚度比进行控制。
透照厚度比应满足JB/T4730.2-2005中表3的要求。
环向对接接头的透照次数按JB/T4730.2-2005中附录D的曲线图确定。
11.4小径管的透照布置和透照次数分别按JB/T4730.2-2005中4.1.4及4.1.5的规定执行。
射线源到工件表面的最小距离应满足JB/T4730.2-2005中4.3的要求。
13.1X射线照相，当焦距为700毫米时，暴光量的推荐值为：
A和AB级不小于15毫安分；
B级不小于20毫安分。
当焦距改变时按平方反比定律进行修整。
13.2Y射线透照，总的暴光时间应不小于输送源往返所需时间的10倍。
胶片贮存、装取和冲洗按附录A进行。
底片的评定由Ⅱ级以上人员进行。
焊缝质量分级按JB/T4730.2-2005中5及6的规定进行。
17.1射线照相检测后，应对检验结果及有关事项进行详细记录并写出检测报告。
其主要内容应包括JB/T4730.2-2005中7的内容。
17.2底片及检测报告必须妥善保管7年以上，以备随时查核。
暗室处理是保证底片质量的重要工序，各班指定专人进行。
暗室处理包括切片、装袋、显影、定影、水冲洗和底片烘干等。
A1胶片的切片和装袋与保管
A1.1胶片应与射线完全隔离，距暖气不少于1m的阴凉干燥处立放。
A1.2胶片盒应在暗室开封，外包装纸富裕量要折回盖严，以防露光。
A1.3按每次用量带衬纸取出胶片，单张按规格切，多余片带衬纸放回胶片盒内保存，以防划伤。
A1.4装胶片要避免乳剂膜与衬纸或增感屏或其它粗糙摩擦，以防静电感光；
拿胶片只能触及边或角，以防留下指印；
胶片不得折叠和弯曲，以防折迹感光。
A1.5操作人接触胶片时，应将手洗净，胶片处理前不得粘上显、定影液。
A1.6暗室安全灯应在距胶片0.5以外安放，第一次使用须测试，以防胶片感光。
A1.7当对胶片质量有怀疑时，应在暴光前显、定影分析之，问题严重者停用。
B2暗室处理
B2.1手工冲洗规程
B2..1.1显影：
其温度为18~21℃，显影时间为4~8分钟。
显影之初和显影过程中要使胶片上下移动，以保证显影液的新鲜性。
显影夹之间要有一定的距离，防止胶片相粘。
B2.1.2显影后水冲洗10~15秒，以防显影液带入定影槽内。
B2.1.3定影：
胶片进入定影液1分钟内上下移动，定影时间为通透时间的2倍，一般为15分钟。
B2.1.4水冲洗：
在流动的清水（流速2立升/分）中进行，一般为15~20分钟。
不得超过30分钟，以防乳剂膜泡胀粘附污物。
B2.1.5底片干燥；
在底片清洗后进行。
自然干燥时，应在无干燥通风处晾干；
需烘干时，应用去水剂或自然干燥至无水滴时进行。
烘箱温度≤50℃。
B3责任：
对暗室处理不当造成的底片伪像负责。
本规程适用于公司安装工程中超声波检测操作。
JB4730-2005《承压设备无损检测》
4.1仪器和探头
4.1.1现使用仪器为汕头超声仪器厂生产的CTS-23和南京新七星超声技术有限公司DUT710型仪器和探头。
A.仪器和探头的组合灵敏度：
在达到所检工件最大声程时，其灵敏度余量应≥10dB。
B.衰减器精度：
任意相邻12dB误差在±
1dB以内，最大累计误差不超过1dB。
C.水平线性：
水平线性误差不大于1%。
D.垂直线性：
在荧光屏满刻度80%的范围内呈线性显示。
垂直线性误差不大于5%。
4.1.2探头
A.晶片有效面积除另有规定外一般不应超过500mm²
，且任意一边长不大于25mm..
B.单斜探头声束轴线水平偏离角不应大于2°
，主声束垂直主方向不应有明显的双峰。
C.直探头的远场分辨力应大于或等于30dB，斜探头的远场分辨力应大于或等于6dB。
4.1.3仪器和探头的系统性能应按JB/T9214和JB/T10042的规定进行测试。
4.2试块
4.2.1试块应采用与被检工件相同或近似声学性能的材料制成，该材料用直探头检测时，不得有大于φ2mm平底孔当量直径的缺陷。
4.2.2试块的制造要求应符合JB/T10043和JB/T7913的规定。
4.2.3现场测试时，也可采用其他方式的等效试块。
5.1检测面
5.1.1检测面和检测范围的确定原则上应保证检查到工件被检部分的整个体积。
对于钢板和锻件应检查到整个工件；
而对熔接焊缝则应检查到整条焊缝。
5.1.2检测面应经外观检查合格，所有影响超声检测的锈蚀、飞溅和污物都应予以清除，其表面粗糙度应符合检测要求。
5.2扫查覆盖率
检测时，探头的每次扫查覆盖率应大于探头直径的15%。
5.3探头的移动速度
探头的扫查速度不得超过150mm/s。
当采用自动报警装置扫查时，不受此限。
5.4扫查灵敏度
扫查灵敏度不低于基准灵敏度。
5.5耦合剂
采用机油、浆糊、甘油和水等透声性好，且不损伤检测表面的偶合剂。
5.6灵敏度补偿
5.6.1在检测和缺陷定量时，应对由表面粗糙度引起的耦合损失进行补偿，对材质衰减引起的检测灵敏度下降和缺陷定量误差进行补偿。
5.6.2对探测面是曲面的工件，应采用曲率半径与工件相同或相近的试块，通过对比试验进行曲率补偿。
6.1系统校准应在标准试块上进行，校准中应使超声主声束垂直对准反射体的轴线，以获得稳定的和最大的反射信号。
6.2仪器校准
在仪器开始使用时，应对仪器的水平线性进行测定，测定方法按JB/T10041的规定进行。
在使用过程中，每隔三个月至少应对仪器的水平线和垂直线性进行一次测定。
6.3探头校准
在探头开始使用时，应进行前沿距离、K值、主声束偏离、灵敏度余量和分辩力等主要参数的测定，测定方法按JB/T10042的有关规定执行。
6.4检测前仪器和探头系统的测定
6.4.1使用仪器——斜探头系统，检测前应测定前沿距离、K值和主声束偏离，调节或复核扫描量程和扫查灵敏度。
6.4.2使用仪器——直探头系统，检测前应测定始脉冲宽度、灵敏度余量和分辨力，调节或复核扫描量程和扫查灵敏度。
6.5检测过程中仪器和探头系统的复核
遇有下列情况应对系统进行复核：
A.校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋纽发生改变时；
B.检测人员怀疑扫描量程或扫查灵敏度有变化时；
C.连续工作4小时以上时；
D.工作结束时；
6.6检测结束前仪器和探头系统的复核
6.6.1每次检测结束前，应对扫描量程进行复核。
如果任意一点在扫描线上的偏移超过扫描读数的10%，则扫描量程应予以修正，并对上一次复核以来所有的检测部位进行复检。
6.6.2每次检测结束前，应对扫查灵敏度进行复核。
一般对距离一波幅曲线的校核应不小于3点。
如曲线上任何一点幅度下降2dB，则应对上一次以来所有的检测结果进行复验；
如幅度上升2dB，则应对所有的记录信号进行重新评定。
7.1一般要求
7.1.1超声波检验应在焊缝及探伤表面检查合格后进行。
7.1.2检验前，探伤人员应了解受检工件的材质、结构、曲率、厚度、焊接方法、焊缝种类、坡口形式、焊缝余高及背面衬垫、沟槽等情况。
7.1.3探伤灵敏度不低于评定线灵敏度
7.1.4扫查速度不应大于150mm/S，相邻两次探头移动间隔保证至少有探头宽度10%的重叠。
7.1.5对波幅超过评定线的反射波,应根据探头位置、方向、反射波的位置，判断其是否为缺陷，判断为缺陷的部位应在焊缝表面作出标记。
8.1一般要求
8.1.1规定检验只对初始检验中的被检标记的部位进行检验。
8.1.2探伤灵敏度应调节到评定灵敏度。
8.1.3对所有反射波幅超过定量线的缺陷，均应确定其位置，最大反射波幅所在区域和缺陷的指示长度。
8.2最大反射波幅的确定
8.2.1对判定为缺陷的部位，可采用前、后、左、右转角环绕四种方法扫查，增加探伤面，改变滩头折射角度进行探测，测出最大反射波幅并与距离-波幅曲线做比较，确定波幅所在区域，波幅测定的允许误差为2dB。
8.2.2最大反射波幅A与定量线SL的dB差记为SL±
——dB。
8.3位置参数的测定
8.3.1缺陷位置以获得缺陷最大反射波的位置来表示，根据相应的探头位置和反射波在荧光屏的位置来确定。
8.3.2缺陷的深度和水平距离两数值中的一个可由缺陷最大反射波幅在荧光屏上的位置直接读出，另一数值可采用计算法、曲线法、作图法或缺陷定位尺求出。
8.4尺寸参数的确定
应根据缺陷最大反射波幅确定缺陷当量值φ或测定缺陷指示长度△L。
8.4.1缺陷当量φ用当量平底孔直径表示，主要用于直探头检验可采用公式计算，DGS曲线、试块对比或当量计算尺确定缺陷当量尺寸。
8.4.2缺陷指示长度△L的测定，可用如下二种方法：
A.当缺陷反射波只有一个高点时，用降低6dB相对灵敏度法测长。
B.在测长扫查过程中，如发现缺陷反射波峰值起伏变化，有多个高点，则以缺陷两端反射波极大值之间探头的移动长度确定为缺陷指示长度，即端点峰值法。
9.1超过评定线的信号应注意，其是否具有裂纹等危害性缺陷特征，如有怀疑时应采取改变探头角度，增加探伤面，观察动态波形，结合结构工艺特征判定，如对波形不能准确判断时应辅以其他检验个综合判定。
9.2最大反射波幅位于Ⅱ区时的缺陷，其指示长度小于10mm时按5mm计。
9.3相邻两缺陷各向间距小于8mm，两缺陷指示长度之和作为单个缺陷的指示长度。
9.4具体按JB/T4730.3-2005的规定执行。
10.1最大反射波幅位于Ⅱ区的缺陷，根据指示长度评级。
10.2最大反射波幅不超过评定线的缺陷均评为Ⅰ级。
10.3最大反射波幅超过评定线的缺陷，检验者判定为裂纹等危害性缺陷时，无论其波幅和尺寸如何，均评定为Ⅳ级。
10.4反射波幅位于Ⅰ区时的非裂纹性缺陷均评为Ⅰ级。
10.5反射波幅位于III区的缺陷，无论指示长度如何，均评为Ⅳ级。
10.6具体按JB/T4730.3-2005的规定执行。
10.7不合格的缺陷，应予以返修，返修区域修补后返修部位及受影响的区域，应按原探伤条件进行复验。
11.1超声检测后，应对检验结果及有关事项进行详细记录并写出检测报告。
其主要内容应包括JB/T4730.3-2005中8的内容。
11.2检测记录及报告必须妥善保管7年以上，以备随时查核。
本规程适用于公司安装工程中磁性材料的机加工件、焊缝、板材坡口面等表面和表近面缺陷的检测。
不得有色盲或弱视。
4.1磁化设备及校验
4.1.1磁化设备见表1表1
结构形式
电流或提升力
技术
江苏射阳无线电厂
CT—1
便携式
AC提升力≥44N
CD提升力≥177N
磁轭磁化
4.1.2磁化设备的校验
A.电流表在正常使用情况下，至少每半年校验一次。
B.提升力的校验：
至少每年或损坏时校验一次，长期停用首次使用前校验。
电磁轭级间距为200mm时，交流至少应有44N的提升力；
直流至少应有177N的提升力。
4.2灵敏度试片
4.2.1A型灵敏度试片
A型灵敏度试片用于被检工件表面有效磁场强度和方向、有效检测区以及磁化方法是否正确的测试。
4.2.2磁场指示器
磁场指示器的作用与A型灵敏度试片相同，但它仅是一种粗略的校验。
4.2.3灵敏度试片的使用
A.A型灵敏度试片：
将试片无人工缺陷的面朝上，使试片与被检面接触良好，必要时可用透明胶带将其整体粘在被检面上，但人工缺陷处不得贴覆。
试验时边磁化边洒磁悬液，以人工缺陷清晰显示来确定磁化范围。
B.磁化指示器：
将其平放于被检面，边磁化边加磁悬液，使*形清晰显示来估判。
4.3磁粉及磁悬液
4.3.1磁粉：
用BW—1型磁膏。
4.3.2磁悬液：
一般悬浮介质为水，每升加5~10g。
磁悬液的浓度的测定采用磁悬液浓度测定管进行。
一般浓度应控制在1.2~2.4ml/100ml的范围内或按制造厂的推荐。
4.3.3施加磁悬液：
使用磁悬液喷液器或其它有效方法进行。
5.1磁化方法
本作业指导书采用磁轭磁化和平行电缆法磁化两种基本磁化方法：
5.2磁化电流
可选用直流、交流或整流电流。
5.3磁场强度选择
5.3.1磁轭磁化
采用磁轭磁化工件时，其磁场强度应根据提升力或A型灵敏度试片来确定，即满足3.1.2B和3.2的要求。
5.3.2平行电缆磁化
检测角焊缝的缺陷时可采用此法，磁化电流应根据3.2节A型灵敏度试片来确定。
6.1磁粉检测程序
磁粉检测程序为：
预处理——磁化——施加磁粉或磁悬液——磁痕的观察与记录——缺陷评级——退磁——后处理
6.2被检表面的制备
6.2.1若被检表面凹凸不平，以至可能遮盖缺陷显示时，应通过磨削或机加工来制备。
6.2.2若被检面为焊缝，其两侧100mm的范围内不得有松散的锈蚀、氧化皮、飞溅、油污或其它妨碍检测的外来物。
6.3检测时机：
筒体焊缝在校圆、内部缺陷返修合格后进行；
封头在热作用成型、内部缺陷返修合格后进行。
机加工件在加工成成品、最终热处理后进行；
有延续裂纹倾向的材料，应在焊后24小时进行。
6.4磁化方法按4.1节选用。
6.5磁场强度按4.3节选用。
6.6采用连续磁化方法，在通电磁化的同时，施加水磁悬液，持续磁化时间为1~3S，为保证磁化效果至少反复磁化2次，停施磁悬液至少1S后方可停止磁化。
6.7磁化方向
被检工件的每一被检区至少进行2次独立的测试，2次检测的磁力线方向应大致相互垂直。
6.8磁轭磁化的间距应控制在50~200mm的范围内，检测的有效区域为两极中心连线两侧各50mm的范围内，磁化区域每次应有15mm重叠；
平行电缆法的有效磁化宽度，用灵敏度片测定。
6.9被检件经修补的区域按5.2至5.8节的程序重新检测。
6.10磁粉材料或剩磁干扰后续加工或使用时，检测后可采用任何适当的方法清理或退磁。
磁痕的评定按JB/T4730.4-2005中5的规定进行。
磁粉检测质量分级按JB/T4730.4-2005中9的规定进行。
在磁粉检测过程中当出现下列情况之一使应进行复验。
A.检测结束时，用标准试片验证检测灵敏度不符合要求时。
B.发现检测过程中操作方法有误或技术条件改变时。
C.合同各方有争议或认为有必要时。
10.1磁粉检测后，应对检验结果及有关事项进行详细记录并写出检测报告。
其主要内容应包括JB/T4730.4-2005中10的内容。
10.2检测记录及报告必须妥善保管7年以上，以备随时查核。
本规程适用于公司安装工程中非多孔性材料或制品表面开口缺陷的检测。
4.1渗透检测剂
渗透检测剂包括渗透剂、乳化剂、清洗剂和显像剂。
其质量控制要求应满足JB/T4730.5-2005中3.2的要求。
对同一检测件，不同类型的检测剂禁止混用。
4.2设备、仪器和试块
4.2.1暗室或检测现场
暗室或检测现场应有足够的空间，能满足检测要求，检测现场应保持清洁，荧光检测时暗室或暗处可见光照度应不大于20lx。
4.2.2黑光灯
黑光灯的紫外线波长应在320-400nm的范围内，峰值波长为365nm，距黑光灯滤光片38cm的工件表面的辐照度大于或等于1000uW/c㎡,自显像时距黑光灯滤光片15cm的工件表面的辐照度大于或等于3000uW/c㎡。
黑光灯的电源电压波动大于10%时应安装电源稳压器。
4.2.3黑光辐照度计
黑光辐照度计的紫外线波长应在320-400nm的范围内，峰值波长为365nm。
4.2.4荧光亮度计
荧光亮度计波长应在430-600
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