无损检测理论开卷4730RT2级标准考试题文档格式.docx

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X

6、只有在射线底片上的焊缝区能够瞧清晰地看到长度不小于10mm的连续的金属丝影像时,才能认为该项丝是可以识别的。

7、缺陷在底片上的黑度大少不作为焊缝合格与否的依据。

8、用X射线机对φ219χ10的管道对焊口进行照像时,按照AB级检测要求时,像质计应观察到11号金属丝影像。

9对球罐采用全曝光时,至少要放置11个像质计。

10、厚度为68mm的钢制压力容器对接焊缝中,存在一条长度为22mm的条状夹渣,根据JB/4730.2—2005规定,该焊应评为Ⅱ级.V

11、对不锈钢材料的对立即焊口进行X射线照像时,可以使用碳钢材料制造的像质计,反之亦然V

12、当100mm<D≤400mm时,无论容器或者管子对接接头,只要采用A级、AB级检测技术,K值均可以放宽到1.2..V

13、对小径管实施双壁双影垂直透照时,透照次数与检测的技术等级有关。

14、标准6.1.9条规定:

在条形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时,应进行了综合评级.标准中所指的多种缺陷不包括裂纹、未熔合和圆形缺陷。

15、对致密性要求高的焊接接头,制造方评定人员应考虑将圆形缺陷的作为评级的依据。

这一规定的理解是:

深孔或针孔缺陷不能以直径或点数来进行控制。

16、底片评定范围的宽度一般为焊缝本身用两侧5mm宽的区域。

17、对小径管进行双壁双影透照椭圆成像时,应控制影像的开口宽度(上下焊缝投影最大间距)在1倍旨缝宽度左右,其主要目的是提高横向裂纹的检出率。

18、诺模图给出的f值是射线源到工件表面的最小距离。

19、X射线实时成像检测通常用于确定缺陷平面投影的位置、大小以用缺陷性质。

20、对初次制定的检测工艺,或使用中检测工艺的条件、环境发生改变时,应进行背散射防护检查。

21、按照JB4730-2005标准规定,对从事射线检测人员主要要求的规定,包括技术资格、健康条件,视力和上岗前辐射安全知识培训并取得放射工作人员证等。

22、按照JB/4730-2005标准规定:

确定小径管的透照次数与焦距的大小无关。

23、按照JB/4730-2005标准规定,铁像质计适应于碳钢、低合金钢、不锈钢等材料的照相,但实际工作中,对镍合金焊缝照相,如没有Ni丝像质计,也可用负丝代替。

24、根据JB/4730-2005标准(biāozhǔn)检定,确定圆形缺陷评定区的尺寸和条形缺陷评定区的尺寸均与被检工件的公称厚度有关。

25、按照(à

nzhà

o)JB/4730—2005标准规定,单壁透照和双壁单影透照时,像质计放置在胶片侧时,必须进行(jì

nxí

ng)对比试验。

26、按照(à

o)JB/4730—2005标准规定,双壁双影透照时,像质计置于源侧时,透照厚度(hò

udù

)不能大于54mm。

27、按照JB/4730—2005标准规定,采用AB级技术透照直径为400mm、壁厚为16mm的管道环形焊缝,若射线源的焦点尺寸为3MM,可采用源在中心周向曝光透照方式。

28、按照JB/4730—2005标准规定,小径管双壁双影透照时,像质计可放置于源侧,也可放置于胶片侧。

29、按照JB/4730—2005标准规定,采用源在内透照方式,允许f什在一定范围内减小。

这校规定的目的是增加源在内透照方式的应用机会,国为该方式不但能保证底片黑度均匀,而且能减少透照次数,提高效率。

30、按照JB/4730—2005标准规定,用X射线透照小径管时,无论是双壁双影透照垂直透照,AB级黑度均可降到1。

5V

31、按照JB/4730—2005标准规定,透照小径管环形对接接头时,每次必须放置沟槽专用对比试块IA或IB,用于对未焊透、根部内凹和根部咬边的深度进行测定。

32、按照JB/4730—2005标准把承压设备管子用压力管道熔化焊环向对接接头中根部内凹和根部咬边视为同一类型缺陷进行分级评定。

33、按照JB/4730—2005标准规定,确定要求达到的射线照相灵敏度(像质计线径编号)是依据公称厚度或透照厚度,不计焊缝余高。

34由于圆形缺陷点数与安全并无直接关系,所以按照JB/4730—2005标准规定,底片评定人员有权将各级别的圆形缺陷放宽1—2点。

35、JB/4730—2005标准中,所提供的透照次数曲线图只能很快查出公称直径DO>100mm的环向对接焊接接头的最少透照次数。

31、JB/T4730.2—2005标准,底片评定范围内的黑度D对于AB级应为(B)。

A1.2≤D≤3.5B2.0≤D≤4.0

C1.5≤D≤4.0D2.3≤D≤4.0

32、JB/T4730.2—2005《承压设备无损检测》中推荐的诺图的主要目的是(B)。

A保证射线照相底片对比度

B保证射线照相的几何不清晰度

C保证(bǎozhè

ng)射线照相的底片固有不清晰度

D射线(shè

xià

n)设备的原因

33、按JB/T4730.2—2005标准的要求,透照环向对焊接接头(jiētó

u),当选用射线源在内透照法,横向裂纹检出率最高时射线源应放在(A)。

A内圆中心(zhōngxīn)B小于内圆半径

C大于内圆半径D以上(yǐshà

ng)都可以

34、按JB/T4730.2—2005标准要求,透照环向对焊接接头时,射线源到工件表面最小距离f下列叙述正确的是(B)。

A单壁外透时,f值可以减小,减少的最大值是规定值的20%

B中心内透时,f值可以减小,减少的最大值是规定值的50%

C偏向内透时,f值可以减小,减少的最大值是规定值的50%

D双壁单影时,f值可以减小,减少的最大值是规定值的20%

35、针对特定的某台X射线探伤机时,以下哪种条件改变时,不必重新制作曝光曲线(C)。

A黑度B焦距C透照厚度D显影时间

36、JB/T4730.2—2005标准对钢制压力容器对焊接接头权限等级评定的规定,以下叙述错误的是(D)。

AⅠ级焊缝中不计小数点的圆形缺陷在评定区内不得多于10个

BⅡ级焊缝中允许有条状加渣的存在

C圆形缺陷长径大于1/2木材厚度时,直接评为Ⅳ级

D在圆形缺陷评定区内同时存在圆形缺陷和条状加渣或未熔合时,应进行综合评级

37、按标准规定,与底盘像质计灵敏度的规定无关的因素()。

A透照方式B像质计摆放位置

C射线源的种类C检测的技术等级

38、依据JB/T4730.2—2005标准的规定,对透照φ57×

5mm的管子环焊缝,以下哪一组源和胶片的组合使用,符合要求()。

AⅠr192和天Ⅲ胶片配合BⅠr192和天Ⅴ胶片配合

CSe75和天Ⅴ胶片配合DSe75和天Ⅲ胶片配合

39、JB/T4730.2—2005标准中,与检测技术等级无关的规定是(D)。

A一次透照长度的规定B增感屏选用的规定

C用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时,底片黑度允许降低的规定

D小径管使用对比试块的规定

40、环向对接焊接接头采用射线源置于中心周向一次曝光,探伤比例为100%,至少在圆周上等距离放置(B)个像质计。

A2B3C4D以上都可以

41、设管电流(dià

nliú

)由原来的10mA变为15mA,焦距由800mm变为1200mm,则曝光时间应有原来的4分钟变为(D)。

A12分钟B8分钟C4分钟D6分钟

42、采用AB级照相技术、源在内中心透照方式对下列管子环焊缝进行周向曝光(bà

oguāng),如果射线源焦点尺寸为3×

3mm,能满足标准关于(guānyú

)f值规定的是(C)

Aφ114×

8mmBφ133×

8mm

Cφ219×

14mmDφ159×

14mm

43、标准规定:

应根据工件的特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。

在可以实施(shí

shī)的情况下,应选用单壁透照方式,在单壁透照不能实施时,才能允许采用双壁透照方式。

这一规定的主要目的是(A)。

A单壁透照最有利于缺陷(quēxià

n)的检出

B单壁透照在实际工作中最容易实施

C单壁透照所采用的管电压低,可延长X射线机的使用寿命

D单壁透照时产生的辐射最小,有利于环保

44、下列那种情况说明被散射防护不符合要求(A)

A底片上出现重影的白色“B”字

B底片上不出现“B”字

C底片上出现反向黑色“B”字

D以上说法都不正确

45、在双壁双影透照时,如果像质计放置在胶片侧,则下列哪种说法正确(D)

A应进行对比试验,保证灵敏度相同

B应在像质计上适当位置放置铅字“R”作为标记

C底片上的像质计丝号即为实际透照的底片灵敏度

D应在检测报告中注明

46、采用AB级检测技术对φ426×

12.8主蒸汽管道对接焊口进行射线检测时,焦距568mm,最少透照次数为(B)。

A4次B5次C6次D7次

47、关于曝光量规定的理解,错误的是(B)

A曝光量与焦距有关,与检测技术等级有关

B曝光量与焦距有关,与检测技术等级无关

C当采用伽马源透照时,总的曝光时间与检测技术等级无关

D当焦距改变时,可按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算

48、射线检测技术级别为B级,纵向焊接接头一次透照长度的透照厚度比K值(B)

AK≤1.03BK≤1.01CK≤1.1DK≤1.06

49、透照厚度30mm铝制承压设备对接焊缝,Ⅲ级对接焊接接头允许存在的缺陷是()。

Aφ5mm的夹铜B长径为12mm的圆形缺陷

C长度10mm的夹熔合D长度为12mm的条形缺陷

50、采用专用像质计时,在射线底片上应能至少()以上的钢丝像质计影像。

A一根B二根C三根D四根

78、按标准规定,下列说法(shuōfǎ)正确的是()

A采用(cǎiyò

ng)Ir192源中心透照时,最小透照厚度为10mm时,应经合同各方同意

B采用Ir192源其它方式照时,最小透照厚度小于10mm时,即使(jí

shǐ)合同各方同意也不能能实施

C采用Se75中心照,最小透照厚度小于5mm时,合同(hé

tong)双方同意后方可实施

D采用Se75其它方式透照时,最小透照厚度为5mm时,不用合同(hé

tong)各方同意

79、标准对各级别的底片黑度值都有所提高,这一规定的主要目的是(B)

A提高底片的清晰度B扩大一次透照厚度范围

C提高小缺陷检出能力D减少散射线对底片的影响

80、以下关于射线能量重返的叙述,与标准规定不相符的是(C)

AX射线照相应尽量选用较低的管电压

B对截面厚度变化大的承压类设备,在保证灵敏度的前提下,管电压可以超过图规定的限值,对钢、铜及铜合金材料,管电压增量不应超过80KV

C采用较高管电压时,应保证适当的曝光量

D采用任何管电压透照所得的底片,像质计灵敏度均应达到4.11.3规定要求

81、以下关于曝光曲线使用的叙述,与标准规定不相符的是(A)

A对使用中的曝

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