超声检测复习题Word文档下载推荐.docx

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15、采用当量法确定的缺陷尺寸一般小于缺陷的实际尺寸.（O）

16、只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时，才能采用测长法确定缺陷长度.（X）

17、绝对灵敏度法测量缺陷指示长度时，测长灵敏度高，测得的缺陷长度大.（O）

18、当工件内存在较大的内应力时，将使超声波的传播速度及方向发生变

化.（O）

19、超声波倾斜入射至缺陷表面时，缺陷反射波高随入射角的增大而增高.（X）

二、选择题

1、采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度？

（D）

A.

直探头探伤法B•脉冲反射法C•斜探头探伤法D•穿透法

.区分开相邻的缺陷

.以上全部

A.发现较小的缺陷

C.改善声束指向性

5、工件表面形状不同时耦合效果不一样，下面的说法中，哪点是正确的（A）

A.平面效果最好B.凹曲面居中

C.凸曲面效果最差D.以上全部

6缺陷反射声能的大小，取决于（D）

A.缺陷的尺寸B.缺陷的类型

C.缺陷的形状和取向D.以上全部

7、声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时，缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响

是:

（C）

A.反射波高随粗糙度的增大而增大B.无影响

C.反射波高随粗糙度的增大而下降D.以上A和C都可能

8、如果在耦合介质中的波长为入，为使透声效果好，耦合层厚度为（D）

A.入/4的奇数倍B.入12的整数倍

C.小于入/4且很薄D.以上B和C

9、表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（B）

A.缺陷深度B.缺陷至探头前沿距离

C.缺陷声程D.以上都可以

10、探头沿圆柱曲面外壁作周向探测时，如仪器用平试块按深度1:

1调扫描，下面哪种说法正确（A）

A.缺陷实际径向深度总是小于显示值

B.显示的水平距离总是大于实际弧长

C.显示值与实际值之差，随显示值的增加而减小

D.以上都正确

11、采用底波高度法（F/B百分比法）对缺陷定量时，以下哪种说法正确（B）

A.F/B相同，缺陷当量相同B.该法不能给出缺陷的当量尺寸

C.适于对尺寸较小的缺陷定量D.适于对密集性缺陷的定量

12、在频率一定和材料相同情况下，横波对小缺陷探测灵敏度高于纵波的原因是：

（C）

A.横波质点振动方向对缺陷反射有利B.横波探伤杂波少

13、米用下列何种频率的直探头在不锈钢大锻件超探时，可获得较好的穿透能力:

（A）

A.1.25MHZB.2.5MHZC.5MHZD.10MHZ

14、在用5MHZ①10晶片的直探头作水浸探伤时，所测结果：

A.小于实际尺寸B.接近声束宽度

C.大于实际尺寸D.等于晶片尺寸

15、使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：

（B）

A.小于实际尺寸B.接近声束宽度

C.稍大于实际尺寸D.等于晶片尺寸

16、棱边再生波主要用于测定：

（D）

A.缺陷的长度B.缺陷的性质

C.缺陷的位置D.缺陷的高度

17、从A型显示荧光屏上不能直接获得缺陷性质信息、超声探伤对缺陷的定性是通过下列方法进行：

A.精确对缺陷定位B.精确测定缺陷形状

C.测定缺陷的动态波形D.以上方法须同时使用

18、单斜探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能时：

（B）

A.来自工件表面的杂波B.来自探头的噪声

C.工件上近表面缺陷的回波D.耦合剂噪声

19、确定脉冲在时基线上的位置应根据：

20、用实测折射角71。

的探头探测板厚为25mm勺对接焊缝，荧光屏上最适当的声程测定范围是：

A.IOOmmB.125mmC.150mmD.200mm

21、用IIW2调整时间轴，当探头对准R50圆弧面时，示波屏的回波位置（声程调试）应在：

（B）

AB

2550

50100

题4.21图

22、能使K2斜探头得到图示深度1:

1调节波形的钢半圆试块半径R为（C）

A.50mmB.60mmC.67mmD.40mm

23、在厚焊缝斜探头探伤时，一般宜使用什么方法标定仪器时基线？

（B）

A.水平定位法B•深度定位法

C•声程定位法D•一次波法

24、在中薄板焊缝斜探头探伤时，使用什么方法标定仪器时基线？

（A）

C.声程定位法D•二次波法

25、对圆柱形简体环缝探测时的缺陷定位应：

A.按平板对接焊缝方法B•作曲面修正

C.使用特殊探头D•视具体情况而定采用各种方法

26、在探测球形封头上焊缝中的横向缺陷时，缺陷定位应：

C.使用特殊探头D•视具体情况决定是否采用曲面修正

27、在筒身外壁作曲面周向探伤时，缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数：

A.大B•小C•相同D•以上都可以

28、在筒身内壁作曲面周向探伤时，所得缺陷的实际深度比按平板探伤时的读数:

A•大B•小C•相同D•以上都可以

29、在筒身外壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读

数：

30、在筒身内壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数：

31、为保证易于探出垂直于焊缝表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探头探伤应选用（B）

A.小K值探头B•大K值探头

C.软保护膜探头D•高频探头

32、在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是：

（A）

A.侧面反射波带来干涉B•探头太大，无法移至边缘

C.频率太咼D.以上都不是

33、在斜探头厚焊缝探伤时，为提高缺陷定位精度可采取措施是：

（D）

A.提高探头声束指向性B.校准仪器扫描线性

C.提高探头前沿长度和K值测定精度D.以上都对

34、当量大的缺陷实际尺寸：

（A）

A.—定大B.不一定大

C一定不大D.等于当量尺寸

35、当量小的缺陷实际尺寸：

A.—定小B.不一定小

C一定不小D.等于当量尺寸

36、在超声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射回波越：

A.大B.小C.无影响D.不一定

37、当声束指向不与平面缺陷垂直时，在一定范围内，缺陷尺寸越大，其反射回

波强度越：

A.大B.小C.无影响D.不一定

38、焊缝探伤中一般不宜选用较咼频率是因为频率越咼：

A.探头及平面缺陷型缺陷指性向越强，缺陷方向不利就不易探出

B•裂纹表面不光滑对回波强度影响越大

C•杂波太多D.AB都对

39、厚度为600mm勺铝试件，用直探头测得一回波的传播时间为165西，若纵波

在铝中声速为6300m/s则此回波是：

（C）

A.底面回波B.底面二次回波

C•缺陷回波D.迟到回波

40、直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生：

A.底面回波降低或消失B.底面回波正常

C.底面回波变宽D.底面回波变窄

41、直探头探测厚100mn和400mn的两平底面锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差为5db，材质衰减均为0.01Db/mm（双程），今将前者底面回波调至满幅（100%）高，则后者的底面回波应是满幅度的：

A.40%B.20%C.10%D.5%

42、厚度均为400mm但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400/①2灵敏度进行分别探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：

A.两个缺陷当量相同B.材质衰减大的锻件中缺陷当量小

C•材质衰减小的锻件中缺陷当量小D.以上都不对

43、在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在？

C.接收探头接收到的能量的减弱D.AB都对

44、在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是：

A.耦合不良B.存在与声束不垂直的平面缺陷

C.存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D.以上都是

45、在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是：

A.与表面成较大角度的平面缺陷B.反射条件很差的密集缺陷

C.AB都对D.AB都不对

46、影响直接接触法耦合损耗的原因有：

A.耦合层厚度，超声波在耦合介质中的波长及耦合介质声阻抗

B•探头接触面介质声阻抗

C•工件被探测面材料声阻抗

D.以上都对

47、被检工件晶粒粗大，通常会引起：

（D）

A.草状回波增多B.信噪比下降

C.底波次数减少D.以上全部

48、为减少凹面探伤时的耦合损耗，通常采用以下方法：

A.使用高声阻抗耦合剂B.使用软保护膜探头

C•使用较低频率和减少探头耦合面尺寸D.以上都可以

49、在平整.光洁表面上作直探头探伤是宜使用硬保护膜探头，因为这样：

A.虽然耦合损耗大，但有利于减小工件中噪声

B.脉冲窄，探测灵敏度高

C.探头与仪器匹配较好

50、应用有人工反射体的参考试块主要目的是：

A.作为探测时的校准基准，并为评价工件中缺陷严重程度提供依据

B•为探伤人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具

C.为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证

D.提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体

51、下面那种参考反射体与入射声束角度无关：

A.平底孔

B.平行于探测面且垂直于声束的平底槽

C•平行于探测面且垂直于声束的横通孔

D.平行于探测面且垂直于声束的V型缺口

52、测定材质衰减时所得结果除材料本身衰减外，还包括：

（D）

A.声束扩散损失B.耦合损耗

C•工件几何形状影响D.以上都是

53、沿细长工件轴向探伤时，迟到波声程△X的计算公式是：

A即自2nB.分自21C.罗+自21D.罗Jn自21

54、换能器