光纤通信实验报告Word下载.docx

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实验目的:

1、了解半导体激光器LD的P-I特性。

2、掌握光源P-I特性曲线的测试方法。

实验器材:

1、实验器材:

主控&

信号源模块、2号、25号模块各一块

2、23号模块(光功率计)一块

3、FC/PC型光纤跳线、连接线若干

4、万用表一个

实验内容:

激光器的电流与电压的关系类似于正向二极管的特性。

该实验就是通过测量输出功率和电流关系,对该线性关系进行测量,以验证P-I的线性关系。

最后根据实验数据,绘出光源P-I特性曲线。

实验原理:

数字光发射机的指标包括:

半导体光源的P-I特性曲线测试、消光比(EXT)测试和平均光功率的测试。

接下来的三个实验我们将对这三个方面进行详细的说明。

LD半导体激光器P-I曲线示意图

半导体激光器具有高功率密度和极高量子效率的特点,微小的电流变化会导致光功率输出变化,是光纤通信中最重要的一种光源,激光二极管可以看作为一种光学振荡器,要形成光的振荡,就必须要有光放大机制,也即启动介质处于粒子数反转分布,而且产生的增益足以抵消所有的损耗。

半导体激光器的输出光功率与驱动电流的关系如上图所示,该特性有一个转折点,相应的驱动电流称为门限电流(或称阈值电流),用Ith表示。

在门限电流以下,激光器工作于自发辐射,输出(荧光)光功率很小,通常小于100pW;

在门限电流以上,激光器工作于受激辐射,输出激光功率随电流迅速上升,基本上成直线关系。

该实验就是对该线性关系进行测量,以验证P-I的线性关系。

P-I特性是选择半导体激光器的重要依据。

在选择时,应选阈值电流Ith尽可能小,没有扭折点,P-I曲线的斜率适当的半导体激光器:

Ith小,对应P值就小,这样的激光器工作电流小,工作稳定性高,消光比大;

没有扭折点,不易产生光信号失真;

斜率太小,则要求驱动信号太大,给驱动电路带来麻烦;

斜率太大,则会出现光反射噪声及使自动光功率控制环路调整困难。

实验步骤:

1、关闭系统电源,按如下说明进行连线:

(1)用连接线将2号模块TH7(DoutD)连至25号光收发模块的TH2(数字输入),并把2号模块的拨码开关S4设置为“ON”,使输入信号为全1电平。

(2)用光纤跳线连接25号光收发模块的光发输出端和光收接入端,并将光收发模块的功能选择开关S1打到“光功率计”。

(3)用同轴电缆线将25号光收发模块P4(光探测器输出)连至23号模块P1(光探测器输入)。

2、将25号光收发模块开关J1拨为“10”,即无APC控制状态。

开关S3拨为“数字”,即数字光发送。

3、将25号光收发模块的电位器W4和W2顺时针旋至底,即设置光发射机的输出光功率为最大状态;

4、开电,设置主控模块菜单,选择主菜单【光纤通信】→【光源的P-I特性测试】功能。

5、用万用表测量R7两端的电压(测量方法:

先将万用表打到直流电压档,然后将红表笔接TP3,黑表笔接TP2)。

读出万用表读数U,代入公式I=U/R7,其中R7=33Ω,读出光功率计读数P。

调节功率输出W4,将测得的参数填入表格。

P(uW)

u(V)

I(A)

实验过程原始记录(数据、图表、波形等):

1、实验过程:

实验接线与结果显示图:

在主控&

信号源模块,选择光纤通信菜单,在其中选择选择第一个实验,光源的P-I特性测试。

2实验结果记录

测得参数填入表格如下:

413.7

387.0

309.6

239.8

172.5

97.84

13.62

0.64

0.60

0.51

0.43

0.34

0.27

0.16

0.019

0.018

0.0155

0.013

0.0103

0.0081

0.0049

7.576

1.318

1.040

0.700

0.5120

0.3750

0.1922

0.15

0.14

0.13

0.12

0.11

0.09

0.05

0.0045

0.0042

0.0039

0.0036

0.0033

0.0027

0.0015

最后根据实验测得数据,用Matlab绘出光源P-I特性曲线图如下:

Matlab绘制曲线代码如下:

x=[19,18,15.5,13,10.3,8.1,4.9,4.5,4.2,3.9,3.6,3.3,2.7,1.5];

y=[413.7,387,309.6,239.8,172.5,97.84,13.62,7.576,1.318,1.040,0.700,0.512,0.375,0.1922];

plot(x,y)

xlabel('

I/mA'

);

ylabel('

P/uW'

title('

实验得LD半导体激光器P-I特性曲线'

gridon;

对实验结果曲线图的阈值电流部分进行局部放大,如图所示:

实验结果及分析:

通过进行了光源的P-I特性测试实验,结合了书本上的知识,我对半导体激光器LD的P-I特性有了进一步的了解,同时也掌握了光源P-I特性曲线的测试方法。

首先可以学习到,P和I分别为激光器的输出光功率和驱动电流,I和P都有其阈值。

当I小于阈值电流时,激光器发出的是自发辐射光;

当I大于阈值电流时,发出的是受激辐射光,光功率随驱动电流的增加而增加。

故一般信息的传输采用调制的方法,一般在I大于其阈值电流的线性区间上进行调制。

且激光器输出光功率随温度的变化而变化,因为激光器的阈值电流随温度升高而增大,二是外微分量子效率随温度升高而减小,故温度升高时,输出光功率明显下降,达到一定温度时,激光器就不辐射了。

P-I特性也是选择半导体激光器的依据,选择的时候,应该选择阈值电流尽可能小,没有扭折点,P-I曲线的斜率适当的半导体激光器。

在做实验的过程中,也因为是初次接触,还有些不习惯,从这第一个实验开始对实验箱的每个模块进行熟悉,中间在读数的时候,我们测得的数据波动的很厉害,不能稳定地读数,所以只能取中间值进行采集。

在实验的过程中,我们对多组数据进行了测量。

我们首先由u=0.05(V)测量至u=0.64(V),发现了P-I大致的规律,后又估计在u=0.15(V)左右对应有阈值电流,故又在此范围附近多测量了几组,使最终结果更精确。

最后根据我们的数据绘出了实验测得的LD光源P-I特性曲线,曲线与理想情况还有些偏差,我认为造成误差的原因,主要可能有实验温度的影响和测量过程中读数与记录的误差等,但在误差允许的范围内,实验结果与理论基本吻合。

可以从曲线上看出,阈值电流在4.2mA左右,阈值功率在1.318uW左右。

《光纤通信》实验报告2

光纤通信实验室 实验日期:

光发射机消光比测试

1、了解数字光发射机的消光比的指标要求。

2、掌握数字光发射机的消光比的测试方法。

通过测量光发射机输入全“0”时输出的平均光功率P00即无输入信号时的输出光功率,以及光发射机输入全“1”时输出的平均光功率P11,计算数字发射机消光比的测试方法。

1、主控&

信号源模块、2号、25号模块各一块

2、23号模块(光功率计)一块

3、FC/PC型光纤跳线、连接线若干

4、

消光比定义为:

式中P00是光发射机输入全“0”时输出的平均光功率即无输入信号时的输出光功率。

P11是光发射机输入全“1”时输出的平均光功率。

从激光器的注入电流(I)和输出功率(P)的关系,即P-I特性可以清楚地看出消光比的物理概念,如下图所示。

ΔP

EXT

ADP

PIN

消光比对灵敏度的影响

由图可知,当输入信号为“0”时,光源的输出光功率为P00,它将由直流偏置电流Ib来确定。

无信号时光源输出的光功率对接收机来说是一种噪声,将降低光接收机的灵敏度。

所以从接收机角度考虑,希望消光比越小越好。

但是,应该指出,当Ib减小时,光源的输出功率将降低,光源的谱线宽度增加,同时,还会对光源的其它特性产生不良影响,因此,必须全面考虑Ib的影响,一般取Ib=(0.7~0.9)Ith(Ith为激光器的阈值电流)。

在此范围内,能比较好地处理消光比与其它指标之间的矛盾。

考虑各种因素的影响,一般要求发送机的消光比不超过0.1。

在光源为LED的条件下,一般不考虑消光比,因为它不加直流偏置电流Ib,电信号直接加到LED上,无输入信号时的输出功率为零。

因此,只有以LD作光源的光发射机才要求测试消光比。

(1)用连接线将2号模块TH7(DoutD)连至25号光收发模块的TH2(数字输入)。

4、开电,设置主控模块菜单,选择【光功率计】功能。

5、将2号模块的拨码开关S4设置为“ON”,使输入信号为全1电平。

测得此时光发端机输出的光功率为P11。

6、将2号模块的拨码开关S4设置为“OFF”,使输入信号为全0电平。

测得此时光发端机输出的光功率为P00。

7、代入公式,即得光发射机消光比。

8、调节W4,改变各参数,并将所测数据填入下表。

P00(uW)

P11(uW)

0.097

0.0958

0.0951

0.0964

405.4

369.3

231.6

156.0

62.88

0.512

-36.21

-35.86

-33.83

-32.15

-28.20

-18.98

-7.28

实验结果

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