实验七移位寄存器及其应用讲解.docx
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实验七移位寄存器及其应用讲解
实验七移位寄存器及其应用
、实验目的
1.掌握中规模4位双向移位寄存器逻辑功能及使用方法。
2.熟悉移位寄存器的应用一一环形计数器。
二、实验原理
1.移位寄存器是一个具有移位功能的寄存器,是指寄存器中所存的代码能够在移位脉
冲的作用下依次左移或右移。
既能左移又有右移的称为双向移位寄存器,只需要改变左、右
移的控制信号便可实现双向移位要求。
根据移位寄存器存取信息的方式不同分为:
串入串出、
串入并出、并入串出、并入并出四种形式。
本实验选用的4位双向通用移位寄存器,型号为74LS194或CC40194,两者功能相同,可互换使用,其逻辑符号及引脚排列如图1所示。
7^194
(OC40194)
图174LS194的逻辑符号及其引脚排列
行输入端,SL为左移串行输入端,S,、S0为操作模式控制端;CR为直接无条件清零端;
CP为时钟脉冲输入端。
74LS194有5种不同操作模式:
即并行送数寄存,右移(方向由Q3
tQ0),左移(方向由Q0tQ3),保持及清零。
S1、S0和CR端的控制作用如表1所示。
表1
CP
-
CR
Si
4
功能
QiQzQiQo|
X
0
X
X
清除
^=0t使QQQiQ^OOOO角存器正常工作故鯨
1
1
1
送数
CP上升沿作用后,并行输人数擴送人寄存雜°QjCfaQA=
UUDiDfe此时串行数SCSxaSl)被禁止
1
0
1
右移
串行数据送至右移上升沿进行右移。
QQQQ毛rQQjQ
fI
1
1
0
左移
串行数据送至左移输入JSSt,CP土升沿进行左移。
uQQQ)%
f
1
0
0
保持
CP作用后寄存器内容保持不变GbQ2QjQ)=QSQ?
QfQS
1
X
X
保持
QQQ如OSOJOfOS
2•移位寄存器应用很广,可构成移位寄存器型计数器;顺序脉冲发生器;串行累加器;
可用作数据转换,即把串行数据转换为并行数据,或把并行数据转换为串行数据等。
本实验
研究移位寄存器用作环形计致器和串行累加器的线路及其原理。
(1)环形计数器:
把移位寄存器的输出反馈到它的串行输入端,就可以进行循环移位,
如图2所示,把输出端Q0和右移串行输入端Sr相连接,设初始状态Q3Q2QiQ0=1OOO,则在时钟脉冲作用下Q3Q2Q1Qo将依次变为0100t0010^0001t1000……,可见它是具有四个有效状态的计数器,这种类型的计效器通常称为环形计数器。
图2电路可以由各个
输出端输出在时间上有先后顺序的脉冲,因此也可作为顺序脉冲发生器。
(2)串行累加器(了解内容)
累加器是由移位寄存器和全加器组成的一种求和电路,它的功能是将本身寄存的数和另
一个输入的数相加,并存放在累加器中。
图3是由二个右向移位寄存器、一个全加器和一个进位触发器组成的串行累加器。
设开始时,被加数A=0An」•-A0和加数B=0BN1…B0已分别存入N+1位累加数移位寄存器和加数移位寄存器。
再设进位触发器D已被清零。
在第一个CP脉冲到来之前,全加器各输入、输出端的情况为:
An=A0,Bn=B0,CnJ=
0,Sn=A0+B0+0=S0,Cn=C0。
当第一个CP脉冲到来后,S0存入累加移位寄存器的
最高位,C0存入进位触发器D端,且两个移位寄存器中的内容都向右移动一位。
全加器输
S1存入累加和移位寄存器
在第二个脉冲到来后,两个移位寄存器的内容又右移一位,
的最高位,原先存入的
S0进入次高位,C1存入进位触发器Q端,全加器输出为:
Sn=
A2+B2+C1,Cn=C2。
如此顺序进行,到第N+1个CP时钟脉冲后,不仅原先存入两个移位寄存器中的数已被
全部移出,且A、B两个数相加的和及最后的进位CnJ也被全部存入累加和移位寄存器中。
若需要继续累加,则加数移位寄存器中需再一次存入新的加数。
中规模集成移位寄存器,其位数往往以4位居多,当需要的位数多于4位时,可把几块移位寄存器用级联的方法来扩展位数。
三、实验设备及器件
1、数字电路实验箱2、双踪示波器
3、万用表4、74LS194(CC40194)X1
四、实验内容
1.测试74LS194(或CC40194)的逻辑功能
按图4接线,即CR、S1、S0、SL、SR、D3、D2、D1、D0分别接至逻辑开关的输
出插口;Q3、Q2、Q1、Q0接至LED逻辑电平显示输入插口。
CP端接(正或负)单次脉
冲源输出插口。
按表9-9-2所规定的输入状态,逐项进行测试。
ftLED*
+5V网电乎M
16
颯示捕口
J、
K
15
112
Illi109
bC
74LS194
1
岳%D
aDiDiDk
1
2i
k
6|7丄g
1
/
V—~~~1接湮辑幵关愉岀播口
图4741S194逻辑功能测试
(1)清除:
令CR=0,其它输入均为任意态,这时寄存器输出Q3、Q2、Q1、Q0均为o。
清除后,置CR=I。
(2)送数:
令CR=S1=So=1,送入任意4位二进制数,如D3D2D1D0=abed,加CP脉冲,观察CP=0、CP由0T1、CP由It0三种情况下寄存器输出状态的变化,观察寄
存器输出状态变化是否发生在CP脉冲的上升沿。
(3)右移:
清零后,令CR=I,S1=0,S0=l,由右移输入端Sr送入二进制数码如0100,由CP端连续加4个脉冲,观察输出情况,记录之。
(4)左移:
先清零或预置,再令CR=I,S1=1,s0=0,由左移输入Sl送入二进制
数码如1111,连续加四个CP脉冲,观察输出端情况,记录之
表2
清除
模式
时ft
串行
M人
«出
功ftatt
5
CP
Sl
%
PjUDiPj
0
X
X
X
X
X
XXXX
1
1
1
t
X
X
abod
1
0
1
t
X
0
XXXX
1
0
1
t
X
1
XXXX
1
0
X
0
XXXX
1
0
1
t
X
0
XXXX
1
1
0
t
1
X
XXXX
1
11
0
t
1
X
XXXx
1
11
0
t
1
X
XXXX
1
1
0
f
I
X
XXXX
1
0
0
f
X
X
XXXX
(5)保持:
寄存器预置任意4位二进制数码abed,令CR=I,S1=S0=0,加CP脉冲,观察寄存器输出状态,记录之。
2.循环移位
将实验内容1接线参照图2进行改接。
用并行送数法预置寄存器为某二进制数码(如0100),然后进行右移循环,观察寄存器输出端状态的变化,记入表3中。
表3
CP
QjQ
2QiQ)
0
01
0
0
1
2
3
4
3.累加运算(不必做)
按图3连接实验电路。
CR、S1、S0接逻辑开关输出插口,CP接单次脉冲源(正脉冲)由于逻辑开关的数量有限,两寄存器并行输入端D3D2D1D0根据实验设备现有条件进行接线。
两寄存器的输出端接至LED逻辑电平显示输入插口。
(1)触发器置零
使74LS74的R由低电平变为高电平。
(2)送数
令CR=S1=S0=1,用并行送数方法把三位被加数A2A1A0和三位加数B2B1B0分别
送入累加和移位寄存器A和加数移位寄存器B中。
然后进行右移,实现加法运算。
连续输入4个CP脉冲,观察两个寄存器输出状态变化,记入表4中。
表4
CP
B寄存器
A寄存器
Q3Q2Q1Q0
Q3Q2Q1Q0
0
1
2
3
4
五、实验预习要求
1.复习有关寄存器及累加运算的有关内容。
2.查阅74LS194、74LS183、74LS74逻辑线路。
熟悉其逻辑功能及引脚排列。
3.在对74ILS194进行送数后,若要使输出端改成另外的数码,是否一定要使寄存器清零?
4.使寄存器清零,除采用CR输入低电平外,可否采用右移或左移的方法?
可否使用并行送数法?
若可行,如何进行操作?
5.若进行循环左移,图4接线应如何改接?
六、实验报告
1.分析表2的实验结果,总结移位寄存器74LS194的逻辑功能并写入表格功能总结一栏中。
2.根据实验内容2的结果,写出4位环形计数器的状态转换图及波形图。
3.分析累加运算所得结果的正确性。
实验八、综合设计实验
一、目的:
1、综合应用所学的数字电路知识,学会查找相关资料,针对设计提出的任务要求和使用条件,设计制作合理、可靠、经济、可行的电子产品。
2、培养学生独立分析问题、解决问题的能力。
3、培养严肃认真的工作作风和严谨的科学态度。
4、掌握PCE板的设计,完成电路连接和调试方法二、实验内容:
1、明确设计任务、确定设计题目
2、设计电路,选择器件,电路模拟仿真设计功能
3、完成电路连接(制作PCB板或用万能板),写出调试测试方法
4、设计报告撰写
三、设计基本步骤
1、明确设计任务要求:
充分了解设计任务的具体要求,如性能指标、内容及要求,明确设计任务。
2、方案选择:
根据掌握的知识和资料,针对设计提出的任务、要求和条件,设计合理、可靠、经济、可行的设计框架,对其优缺点进行分析,做到心中有数。
3、根据设计框架进行电路单元设计、参数计算和器件选择:
具体设计时可以模仿成熟的电路进行改进和创新,注意信号之间的关系和限制;接着根据电路工作原理和分析方法,进行参数的估计与计算;器件选择时,元器件的工作、电压、频率和功耗等参数应满足电路指标要求,元器件的极限参数必须留有足够的裕量,一般应大于额定值的1.5倍,电阻和电容的参数应选择计算值附近的标称值。
4、电路原理图的绘制:
电路原理图是组装、焊接、调试和检修的依据,绘制电路图时布局必须合理、排列均匀、清晰、便于看图、有利于读图;信号的流向一般从输入端或信号源画起,由左至右或由上至下按信号的流向依次画出各单元电路,反馈通路的信
号流向则与此相反;图形符号和标准,并加适当的标注;连线应为直线,并且
交叉和折弯应最少,互相连通的交叉处用圆点表示,地线用接地符号表示。
四、综合设计报告
1、课题名称
2、内容摘要
3、设计内容及要求
4、比较和选择的设计方案
5、单元电路设计、参数计算和器件选择
6、画出完整的电路图。
并说明电路的工作原理
7、组装调试的内容,如使用的主要仪器和仪表、调试电路的方法和技巧、测试的数据和波形并与计算结果进行比较分析、调试中出现的故障、原因及排除方法
8、总结设计电路的特点和方案的优缺点,指出课题的核心及实用价值,提出改进意见和展望
9、列出元器件清单
10、列出参考文献
11、收获、体会
五、实验题目:
具体要求见实验指导书或自己查