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光学基础实验

　　　　　　　　光学基础实验报告　　　　班级：

081XX学号：

081XXX　　姓名：

XX　　同组者姓名：

X、　　　　X　　　　　　　　　　目录　　　　实验一自组望远镜----------------------------------------3实验二薄透镜焦距的测定--------------------------------5实验三透镜像差的观测----------------------------------12实验四实验五实验六　　　　偏振光光学实验-----------------------------------------19测量光栅常数--------------------------------------------25双缝干涉实验--------------------------------------------26　　　　实验一自组望远镜　　一、实验目的　　了解透镜成像规律和望远镜的基本原理及结构，并掌握其调节、使用和测量它的放大率的两种方法。

二、实验原理　　最简单的望远镜是一片长焦距的凸透镜作为物镜，用一短焦距的凸透镜作为目镜组合而成。

远处的物经过物镜在其后焦面附近成一缩小的倒立实像，物镜的像方焦平面与目镜的物方焦平面重合。

而目镜起一放大镜的作用，把这个倒立的实像再放大成一个正立的像，如图一所示。

三、实验仪器　　光学平台、带调节架的底座、透镜、激光光源、白屏、微尺、毫米尺、带底座的米尺等。

四、原理光路图　　图一　　五、实验步骤　　1、把全部器件按图一的顺序摆放在平台上，通过激光光源和透镜成像规律　　将所有元件调至共轴。

　　2、选取一个焦距大的为物镜，一个焦距小的为目镜　　，按光路图组装好，并调焦，看到清晰成像。

　　3、将千分尺调节成d1=5mm，放在S1=1000mm处作为要观察的成像物体。

4、一只眼通过目镜观察千分尺成像，另一只眼直接观察千分尺，比较读出　　像的长度d2。

　　5、求出望远镜测量放大率M=d2/d1，并与理论值比较。

6、对结果进行误差分析。

六、实验数据处理与分析　　实验测量的d2=19mm，望远镜测量放大率：

　　M=d2/d1=　　与理论值比较M?

tg?

’?

S2（S1?

S2?

S3）S1S3=　　　　相对误差　　可见误差还是比较大的，分析其中原因可能主要有：

1、望远镜焦距f、f’与实际的S2、S3存在差距；2、于读d2时主要人眼辨别读出可能存在较大误差。

　　　　七、思考题　　1、根据透镜成像规律，怎样用最简单的方法区别凸透镜和凹透镜？

　　答：

凸透镜成像，物距近及远依次为正立放大的虚像、不成像、倒立放大的实像、倒立等大的实像、倒立缩小的实像；而凹透镜只能成正立缩小的虚像。

另外凸透镜对光线有聚集的作用，把它放在阳光或是灯光下调整会出现一个明亮光斑；凹透镜对光线有发散的作用，把它放在阳光或是灯光下调整不能得到一个明亮光斑。

　　　　　　　　　　　　实验二薄透镜焦距的测定　　一、实验目的　　1.学会测量透镜焦距的几种方法。

　　2.掌握简单光路的分析和光学元件等高共轴调节的方法。

3.进一步熟悉数据记录和处理方法。

4.熟悉光学实验的操作规则。

　　二、实验原理　　凸透镜焦距的测定1.粗略估测法：

　　以太阳光或较远的灯光为光源，用凸透镜将其发出的光线聚成一光点（或像），此时，　　即该点（或像）可认为是焦点，而光点到透镜中心（光心）的距离，　　即为凸　　透镜的焦距，此法测量的误差约在10％左右。

于这种方法误差较大，大都用在实验前作粗略估计，如挑选透镜等。

　　　　图1薄透镜成像　　　　2.利用物距像距法求焦距：

　　当透镜的厚度远比其焦距小的多时，这种透镜称为薄透镜。

在近轴光线的条件下，薄透镜成像的规律可表示为：

　　　　当将薄透镜置于空气中时，则焦距　　　　　　　　　　

（2）式中,f’为像方焦距；f为物方焦距;s’为像距；s为物距。

　　式中的各线距均从透镜中心（光心）量起，与光线进行方向一致为正，反之为负，如图1所示。

若在实验中分别测出物距和像距，即可用式

（2）求出该透镜的焦距。

但应注意:

测得量须添加符号，求得量则根据求得结果中的符号判断其物理意义。

　　3.自准直法：

　　　　　　　　　　　　　　如图2所示，在待测透镜L的一侧放置被光源照明的1字形物屏AB，在另一侧放一平面反射镜M，移动透镜（或物屏），当物屏AB正好位于凸透镜之前的焦平面时，物屏AB上任一点发出的光线经透镜折射后，将变为平行光线，然后被平面反射镜反射回来。

再经透镜折射后，仍会聚在它的焦平面上，即原物屏平面上，形成一个与原物大小相等方向相反的倒立实像A′B′。

此时物屏到透镜之间的距离，就是待测透镜的焦距，即　　　　　　f=s　　（3）　　于这个方法是利用调节实验装置本身使之产生平行光以达到聚焦的目的，所以称之为自准法，该法测量误差在1%～5%之间。

　　　　　　　　4.贝塞尔法（又称为共轭法、二次成像法）：

　　物距像距法、粗略估测法、自准法都因透镜的中心位置不易确定而在测量中引进误差，　　为避免这一缺点，可取物屏和像屏之间的距离D大于4倍焦距（4f），且保持不变，沿光轴方向移动透镜，则必能在像屏上观察到二次成像。

如图3所示，设物距为s1时，得放大的倒立实像；物距为s2时，得缩小的倒立实像，透镜两次成像之间的位移为d,根据透镜成像公式

（2），将　　　　　　代入式即得　　　　　　可见，只要在光具座上确定物屏、像屏以及透镜二次成像时其滑座边缘所在位置，就可　　较准确的求出焦距f’。

这种方法毋须考虑透镜本身的厚度，测量误差可达到1％。

　　凹透镜焦距的测定凹透镜是发散透镜，用透镜成像公式测量凹透镜的焦距时，凹透镜成的像为虚象，且　　虚像的位置在物和凹透镜之间，因而无法直接测量其焦距，常用视差法、辅助透镜成像法和　　自准法来测量。

1视差法　　视差是一种视觉差异现象：

设有远近不同的两个物体Ａ和Ｂ，若观察者正对着AB连线　　方向看去，A、B是重合的；若将眼睛摆动着看，A、B间似乎有相对运动，远处物体的移动方向跟眼睛的移动方向相同，近处的物体移动方向相反。

A、B间距离越大，这种现象越明显；A、B间距为零，就看不到这种现象。

因此，根据视差的情况可以判定A、B两物体谁远谁近及是否重合。

　　　　视差法测量凹透镜焦距时，在物和凹透镜之间置一有刻痕的透明玻璃片，当透明玻璃片上的刻痕和虚像无视差时，透明玻璃片的位置就是虚象的位置。

　　图4为凹透镜成像光路图。

实验中物AB是物屏上的箭头，其虚像的位置不能直接用像屏测定。

实验时将一有刻痕的透明玻璃片装到滑座上，让它在物屏和透镜之间移动，眼睛在透镜另一侧观察。

观察的要点是：

从凹透镜里边看物，从凹透镜外边看刻痕，且眼睛左右移动观察。

当透镜中物的虚像与镜外玻片刻痕间没有视差时，光具座标尺测出物屏及刻痕到透镜的距离，即为s和s’（s’为负值），将它们代入

（2）式即可求得焦距f。

2辅助透镜成像法　　　　图6.辅助透镜成像法　　如图6所示，先使物AB发出的光线经凸透镜L1后形成一大小适中的实像　　　　A′B′，然后在L1和A′B′之间放入待测凹透镜L2，就能使虚物A′B′产生一实像A″B″。

分别测出L2到A′B′和A″B″之间距离式

（2）即可求出L２的像方焦距　　　　根据　　　　如图7所示，L1为凸透镜，L2为凹透镜，M为平面反射镜，调节凹透镜的相对位置，直到物屏上出现和物大小相等的倒立实像，记下凹透镜的位置X2。

再拿掉凹透镜和平面镜，则物经凸透镜后在某点处成实像，记下这一点的位置X3，则凹透镜的焦距f=-|X3-X2|。

四实验步骤与内容　　1.光具座上各光学元件同轴等高的调节：

　　薄透镜成像公式仅在近轴光线的条件下才成立。

对于几个光学元件构成的光学系统进行共轴调节是光学测量的先决条件，对几个光学元件组成的光路，应使各光学元件的主光轴重合，才能满足近轴光线的要求。

习惯上把各光学元件主光轴的重合称为同轴等高。

本实验要求光轴与光具座的导轨平行，调节分两步进行：

（1）粗调　　将安装在光具座上的所有光学元件沿导轨靠拢在一起，用眼睛仔细观察，使各元件的　　中心等高，且与导轨垂直。

（2）细调　　对单个透镜可以利用二次成像法调节。

使屏与物之间的距离大于４倍焦距，且二者的　　位置固定。

移动透镜，使屏上先后出现清晰的大、小像，调节透镜或物，使透镜在屏　　上成的大、小像在同一条直线上，并且其中心重合。

　　对于多个透镜组成的光学系统，则应先调节好与一个透镜的共轴，不再变动，再逐个　　加入其余透镜进行调节，直到所有光学元件都共轴为止。

２．测量凸透镜焦距

（1）物距像距法　　先对光学系统进行共轴调节，然后取物距s≈2f，保持s不变，移动像屏，仔细寻找像　　清晰的位置，测出像距s’，重复3次，将数据填于表格1中，求出s’的平　　　　均值，代入式求出f平均值。

（2）自准法　　光路如图2所示，先对光学系统进行共轴调节，实验中，要求平面镜垂直于导轨。

移　　动凸透镜，直至物屏上得到一个与物大小相等，倒立的实像，则此时物屏与透镜间距就是透　　镜的焦距。

为了判断成像是否清晰，可先让透镜自左向右逼近成像清晰的区间，待像清晰时，　　记下透镜位置，再让透镜自右向左逼近，在像清晰时又记下透镜的位置，取这两次读数的平　　均值作为成像清晰时透镜位置的读数。

重复测量3次，将数据填于表格2中，求平均值。

（3）共轭法　　取物屏，像屏距离D>4f，固定物屏和像屏，然后对光学系统进行共轴调节。

移动凸透　　镜，当屏上成清晰放大实像时，记录凸透镜位置X1；移动凸透镜当屏上成清晰缩小实像时，　　记录凸透镜位置X2，则两次成像透镜移动的距离为d=|X2-X1|。

记录物屏和像屏之间距离D，根据式求出f，重复测量3次，将数据填于表格3中，求出f均值。

　　3.测量凹透镜的焦距

（1）视差法　　按图5放好物屏、带痕玻片和凹透镜。

正对透镜看清凹透镜中物的虚像，调整物屏的　　位置和高低，使虚像的顶端正好处在凹透镜上沿。

移动带痕玻片并左右摆动头，仔细观察凹　　透镜内虚像的顶端和凹透镜外玻片刻痕间的相对位置有无变化。

当相对位置不变时，即无视　　差，记录下玻片刻痕的位置，重复测量3次，将数据填于表格4中，求出f均值。

（2）.辅助透镜成像法　　将发光物、凸透镜、像屏按图6的顺序安放在光具座上。

.移动发光物位置，相应移动像屏，使物AB经凸透镜L1后在屏上出现清晰的缩小的实像A′B′，记录A′B′的位置xq；保持物AB和凸透镜L1的位置不变，在L1与A′B′之间放上待测的凹透镜L2，移动L2并同时移动像屏，直至虚物A′B′在像屏上清晰地生成放大的实像A′′B′′，重复3次，将数据填于表格5中，记录此时凹透镜的位置’1x和A′B′′的位置xp.（3）自准法　　先对光学系统进行共轴调节，然后把凸透镜放在稍大于两倍焦距处。

移动凹透镜和平　　面反射镜，当物屏上出现与原物大小相同的实像时，记下凹透镜的位置读数。

然后去掉凹透　　镜和平面反射镜，放上像屏，用左右逼近法找到F点的位置，重复测量3次，　　　　将数据填于表格6中，求出f均值。

五注意事项　　1．光学元件应轻拿轻放，要避免震动和磕碰，以防破损.　　2．为了区别凸透镜和凹透镜，可以持镜看书，将字放大者为凸透镜，缩小者为凹透镜.　　决不准用手触摸光学元件的光学面，只能接触非光学面.　　也不准对着光学元件说话、咳嗽、打喷嚏，以防污损.　　3．光学表面附有灰尘、污物时，不要自行处理.应向教　　师说明，在教师的指导下进行处理.六数据处理　　1.测量凸透镜焦距　　表1物距像距法物屏位置X0=　　透镜位置X1=次数n像屏位置X2Vn=|X2-X1|f△f1　　2　　3　　平均值　　f=±㎝　　E=%　　表2自准法　　物屏位置X0=㎝　　单位：

厘米次数n物距像距vf△fu150=-

　　　　　　　　250=-350=-平均值50-f=-±　　Ef=%表5辅助透镜成像法A′B′位置X0=　　次数n凹透镜位置A′′B′′位f△fX2置1-2-3-平均值-f=-±㎝　　Ef=%　　　　表6自准法　　　　单位：

厘米次数凹透凹透镜平均F点位置F点位置平均fn△fn镜位位置右左→右右→左置左→左→右1　　-2　　-3　　-平均　　-值　　f=-±㎝　　Ef=%七思考题：

　　1、如果会聚透镜的焦距大于光具座的长度，试设计一个实验，在光具座上能测定它的焦距。

　　答:

用平行光射入透镜，在光具座面上放一镜子，反射透镜过来的光，然后用一小屏幕去看光汇聚的最小光点，然后测出座面距小屏幕的距离，加上光具座的距离便是焦距.　　　　2．用共轭法测凸透镜焦距时，为什么必须使D>4f？

试证明之。

答:

物像共轭对称性质的到透镜焦距f=（D_-d_）/（4D）.其中，d是两次得到清晰的物像所在位置之间的距离，所以d是大于零的，如果D是小于或等于4f的话，那上式的到的f是负值或零。

　　　　　　实验三透镜像差的观测　　一、实验目的　　成像系统中的单会聚透镜、单发散透镜以及球面镜，在理想加工情况下，当实验条件不能满足近轴条件时，总是存在像差。

像差使像变模糊、失真，在光学测量中还会影响测量准确度。

此外，像差知识也是几何光学学习的重点和难点。

　　本次实验的目的是通过实验观察球面像差、彗星像差的形成，每种像差使用不同的仪器或自制的投影片来使其成像，最后再使用数字相机将成像的图像拍摄下来。

　　二、实验原理　　实际的光学系统，只有在近轴区域以很小的孔径角成像时才是完善的。

如果一个光学系统的成像仅限于近轴区域是没有什么实际意义的，因为进入的光能量太少，分辨率很低。

因此，任何光学系统都具有一定的孔径和视场，而且成像光束多是复色光，在这些情况下用近轴光学理论来研究光学系统成像就不合适了，必须采用精确的三角光线追迹公式进行光线计算。

用近轴光线追迹公式进行光线计算得出的像点与在不同孔径下用精确的三角追迹公式进行光线计算得出的像点之间往往并不重合，这个差别称为像差。

像差的大小反映了光学系统质量的优劣。

　　像差分单色光像差和复色光像差两大类。

单色像差又有轴上点像差和轴外点像差之分，轴上点单色像差只有球差一种，轴外点单色像差有球差、彗差、像散、像面弯曲、畸变。

复色光像差有轴向色差和垂轴色差两种。

　　图1像差的分类　　1、球差　　球差是光学系统的口径面引起的，即球差是光学系统口径的函数。

如图2所示，　　图2具有球差的透镜　　　　轴上物点A发出近轴光线1和1’，经光学系统后交轴上A’；A点发出的上、下边缘光线3和3’经过光学系统后交轴上于C’点；A点发出的上、下带光线2和2’经过系统后交光轴于B’点，即不同高度的光线交于不同的点，得到的不是一个完善的像点，而是一个边缘模糊而对称的弥散圆。

　　球差是轴上点唯一的单色像差，可在沿轴方向和垂轴方向度量，分别称为轴向球差和垂轴球差。

如果某一光线的像方后截距用L’表示，像方孔径角用U’表示，近轴光线的像方截距用l’表示，则轴向球差为：

δL’=L’-l’；垂轴球差就是轴向球差引起的弥散圆的半径：

Δy’=δL’﹡tanU’。

　　球差的存在使图像变模糊，对比度降低，从而降低了系统的分辨率，因此光学系统的球差通常是要校正的。

单透镜自身不能校正球差，在正常情况下，正透镜产生负球差，而负透镜产生正球差，因此将正负透镜组合起来就能校正球差。

　　2、彗差　　彗差是轴外物点发出宽光束通过光学系统后不会聚在一点，而呈彗星状图形的一种相对主光线失对称的像差，如图3所示。

具体地说，在轴外　　图3彗差　　物点发出的光束中，对称于主光线的一对光线经光学系统后，失去对主光线的对称性，使交点不再位于主光线上，对整个光束而言，与理想像面相截形成一彗星状光斑的一种非轴对称性像差。

彗差通常用子午面上和弧矢面上对称于主光线的各对光线，经系统后的交点相对于主光线的偏离来度量，分别成为子午彗差和弧矢彗差。

彗差既是孔径的函数，又是视场的函数。

当系统存在彗差时，物方一点的像成为彗星状弥散斑，损害了像的清晰度，使成像质量降低。

　　三、实验器材　　激光器、白炽灯、不同焦距的凸透镜若干、不同孔径的光阑挡板若干、白屏、三维光学平台、光具座等。

　　四、实验步骤　　1、球差的观察　　　　利用光具座，架设实验装置如图4，将圆孔大小不同的光阑依次置于成像透镜后，使中间部分光通过，成像于屏幕上，记录成像位置，利用数字相机拍摄成像结果，并比较不同光阑之间成像位置的差异。

　　2、彗差的观察　　安排实验装置如图5，在光源前加一聚光透镜，使其成近似平行光束。

将平行光入射到一透镜，并将此透镜旋转一定度数，在其焦平面观察成像图，并利用数字相机拍摄成像结果。

　　图4观察球差的实验装置　　图5观察彗差的实验装置　　五、实验结果与分析　　1、球差的观察　　数据结果：

物距‐cm，理论像距cm加1号光阑加2号光阑径直径比1号大）径直径比3号更大）实际成像距cmcmcmcm　　　　　　观察球差实验成像结果图：

　　　　　　A加1号光阑　　　　　　B加2号光阑　　C加3号光阑　　分析讨论　　D加4号光阑　　实验结果表明，孔径光阑的直径越大，球差也越大。

在测量过程中，我们将孔径光阑在不同位置移动，发现成像的位置并不改变，说明球差与孔径光阑的位置无关。

　　　　　　2、彗差的观察　　观察彗差实验成像结果图：

成像为灯丝　　　　　　A透镜不旋转　　C透镜旋转25°　　成像为圆斑　　　　B透镜旋转15°　　D透镜旋转35°　　　　　　　　A透镜不旋转　　B透镜旋转20°　　　　　　C透镜旋转40°　　D透镜旋转60°　　从实验结果易得知，透镜的旋转角度越大，彗尾越长，彗差越大。

单个透镜对于一定位置的物体成像时，其彗差的大小与透镜的形状和孔径光阑位置有关，对给定的光阑位置，可通过对透镜的整体弯曲使彗差等于零，或等于某一定值而与其他透镜组合起来消彗差。

　　六、实验思考　　　　单正透镜在后时，为了减少给前续系统校正球差带来的困难，一般需要将折射率选择偏大一些，增大折射率对于校正系统高级球差是很有效的方法之一；在胶合镜组的胶合面两边，需要考虑选择折射率和阿贝系数差别较大的玻璃对，在消色差的同时，正负球差也能够尽量减少，并且有可能产生剩球差平衡其他镜组的球差；在某些镜组曲率太小，承担的光焦度较多的情况下，可以考虑采用两个透镜分担其光焦度，这样增大了球面半径，减少了许多高级球差；适当的采用负透镜，即如果系统中正透镜太多，造成的球差和场曲、畸变无法消除，在最后增加一块负透镜会起到很好的校正效果。

　　　　　　　　实验四偏振光光学实验　　一、实验目的　　观察光的偏振现象，分析偏振光，起偏，定光轴二、实验原理　　偏振光的基本概念　　光是电磁波，它的电矢量E和磁矢量H相互垂直，且均垂直于光的传播方向c，通常用电矢量E代表代表光的振动方向，并将电矢量E和光的传播方向c所构成的平面称为光振动面。

在传播过程中，电矢量的振动方向始终在某一确定方向的光称为平面偏振光或线偏振光，如附图15。

光源发射的光是大量原子或分子辐射构成的。

于大量原子或分子的热运动和辐射的随机性，它们所发射的光的振动面，出现在各个方面的几率是相同的。

故这种光源发射的光对外不显现偏振的性质，称为自然光附图15。

在发光过程中，有些光的振动面在某个特定方向上出现的几率大于其他方向，即在较长时间内电矢量在某一方向上较强，这种的光称为部分偏振光，如图附图15所示，还有一些光，其振动面的取向和电矢量的大小随时间作有规律的变化，而电矢量末端在垂直于传播方向的平面上的轨迹呈椭圆或圆。

这种光称为椭圆偏振光或圆偏振光。

　　　　附图15　　附图15　　附图15　　获得偏振光的常用方法　　将非偏振光变成偏振光的过程称为起偏，起偏的装置称为起偏器。

常用的起偏装置主要有：

　　1、反射起偏器　　当自然光在两种媒质的界面上反射和折射时，反射光和折射光都将成为部分偏振光。

　　当入射角达到某一特定值?

b时，反射光成为完全偏振光，其振动面垂直于入射面而角?

b就是布儒斯特角，也称为起偏振角，布儒斯特定律得　　tg?

n2/n1　　例如，当光空气射向n=的玻璃板时，?

b=57度　　若入射光以起偏振角?

b射到多层平行玻璃片上，经过多次反射最后透射出　　　　来的光也就接近于线偏振光，其振动面平行于人射面。

多层玻璃片组成的这种透射起偏振器又称为玻璃片堆。

见附图17。

　　　　φbnn空气玻璃附图16　　非线偏振光入射φb　　附图17　　偏振片入射自然光透射的平面偏振光附图18　　2、晶体起偏器

　　　　　　　　利用某些晶体的双折射现象来获得线偏振光，如尼科尔棱镜等。

　　1、偏振片　　聚乙烯醇胶膜内部含有刷状结构的炼状分子。

在胶膜被拉伸时，这些炼状分子被拉直并平行排列在拉伸方向上，拉伸过的胶膜只允许振动取向平行于分子排列方向的光通过，利用它可获得线偏振光，其示意图参看图附图18。

偏振片是一种常用的“起偏”元件，用它可获得截面积较大的偏振光束。

　　（三）偏振光的检测　　鉴别光的偏振光状态的过程称为检偏，它所用的装置称为检偏器。

实际上，起偏器和检偏器是通用的。

用于起偏的偏振片称为起偏振器，把它用于检偏就成为检偏器了。

　　按照马吕斯定律，强度为I0的线偏振光通过检偏器后，透射光的强度为　　I?

I0cos?

2　　式中?

为入射光偏振方向与检偏器偏振轴之间的夹角。

显然，当以光线传播方向为轴转动检偏器时，透射光强度I将发生周期性变化。

当?

=0度时，透射光强度最大；当?

=90度时，透射光强度最小；当0度　　偏振光通过波晶片时的情形1.波晶片　　波晶片是从单轴晶体中切割下来的平行平面板，其表面平行于光轴。

当一束单色平行自然光正入射到波晶片上时，光在晶体内部便分解为o光与e光。

o光电矢量垂直与光轴;e光电矢量平行于光轴。

而o光和e光的传播方向不变，仍都与表面垂直。

但o光在晶体内的速度为v0,e光的为ve即相应的折射率　　n0、ne不同。

　　设晶片的厚度为，则两束光通过晶体后就有位相差　　?

（n0?

ne）l　　?

2k?

式中λ为光波在真空中的波长。

半波片；?

2k?

2的晶片，?

2k?

称为全波片；者为　　为λ/4片，上面的k都是任意整数。

不论全波　　片，半波片或λ/4片都是对一定波长而言。

　　以下直角坐标系的选择，是以e光振动方向为横轴，o光振动方向为纵轴。

沿任意方向振动的光，正入射到波晶片的表面，其振动便按此坐标系分解为e分量和o分量。

　　2.光束通过波片后偏振态的改变　　平行光垂直入射到

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