光电耦合器作业指导书.docx

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光电耦合器作业指导书

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

1

★外观质量

光敏晶体管输出型光电耦合器的外观应良好，无污物。

引脚应平整、无氧化、无弯曲、无折断。

标志耐擦，用沾水的棉球擦三次，丝印不模糊、易于看清楚。

外形尺寸、安装尺寸符合产品规格书要求。

C

目检

II

0.65

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

2

★最大正向输入直流电流（IFM）

输入端发光二极管通过规定的最大正向输入直流电流IFM,光耦不击穿.

B

测试工装、直流电源、万用表

II

0.65

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

3

★最大正向峰值电流（IFPM）

输入端发光二极管通过规定幅度、宽度、占空比的脉冲IFPM,光耦不击穿.

A

测试工装、直流电源、万用表

SI

0.65

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

4

★最大反向输入直流电压（VR）

输入端发光二极管施加规定的最大反向输入直流电压VR,光耦不击穿.

A

测试工装、直流电源、万用表

SI

0.65

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

5

★最大集电极－发射极电压（VCEO）

输出端光敏晶体管集电极－发射极两端施加规定的最大集电极－发射极电压VCEO,光耦不击穿.

A

测试工装、直流电源、万用表

SI

0.65

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

6

★最大发射极－集电极电压（VECO）

输出端光敏晶体管发射极－集电极两端施加规定的最大发射极－集电极电压VECO,光耦不击穿.

A

测试工装、直流电源、万用表

SI

0.65

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

7

★最大集电极－基极电压（VCBO）（适用于有基极引线光敏晶体管输出型光耦合器）

输出端光敏晶体管集电极－基极两端施加规定的最大集电极－基极电压VCBO,光耦不击穿.

A

测试工装、直流电源、万用表

SI

0.65

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

8

★最大发射极－基极电压（VEBO）（适用于有基极引线光敏晶体管输出型光耦合器）

输出端光敏晶体管发射极－基极两端施加规定的最大发射极－基极电压VEBO,光耦不击穿.

A

测试工装、直流电源、万用表

SI

0.65

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

9

★最大集电极直流电流（IC）

将光耦与合适的负载电阻串联，（有基极引线光耦：

输出端光敏晶体管基极开路），使光敏晶体管集电极通过规定的最大集电极直流电流IC,光耦不击穿.

A

测试工装、直流电源、万用表

SI

0.65

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

10

★最大输入－输出隔离电压（BVS）

在规定的湿度环境下，将输入端发光二极管的两端、输出端光敏晶体管的两端分别短接在一起，在输入端与输出端之间施加规定的电压（试验电压从零增加到规定值，如果规定值小于或等于1000V，则增加速率约为100V/s，如果规定值大于1000V，则增加速率应为500V/s）,保持规定的时间，不应出现内部和外部飞弧，试验后，光耦电性能测试应符合产品规格书要求。

A

直流电源、万用表

SI

0.65

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

11

★输入正向电压（VF）

输入端发光二极管通过规定的正向输入直流电流时，用万用表测量输入端发光二极管两端的正向电压,VF应符合产品规格书要求.

A

直流电源、万用表

II

0.65

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

12

★输入反向电流（IR）

输入端发光二极管施加规定的反向输入直流电压，测量输入端发光二极管的反向电流,IR应符合产品规格书要求.

A

直流电源、万用表

SI

0.65

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

13

★集电极－发射极暗电流（ICEO）

输入端开路，（有基极引线光耦：

输出端光敏晶体管基极开路），光敏晶体管集电极－发射极施加规定的正向直流电压，串联电流表测量光敏晶体管集电极－发射极电流,ICEO应符合产品规格书要求.

A

直流电源、万用表

SI

0.65

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

14

★集电极－发射极饱和电压（VCE（sat））

输入端发光二极管通过规定的正向输入直流电流，（有基极引线光耦：

输出端光敏晶体管基极开路），且光敏晶体管集电极通过规定的正向直流电流，测量光敏晶体管集电极－发射极电压,VCE（sat）应符合产品规格书要求。

A

直流电源、万用表

SI

0.65

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

15

★集电极－基极暗电流（ICBO）（适用于有基极引线光敏晶体管输出型光耦合器）

输入端开路，输出端光敏晶体管发射极开路，光敏晶体管集电极－基极施加规定的正向直流电压，测量光敏晶体管集电极－基极电流,ICBO应符合产品规格书要求.

A

直流电源、万用表

SI

0.65

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

16

★电流传输比（CTR）

输入端发光二极管通过规定的正向输入直流电流，（有基极引线光耦：

输出端光敏晶体管基极开路），且光敏晶体管集电极－发射极施加规定的正向直流电压，串联万用表测量光敏晶体管集电极电流，计算CTR等于光敏晶体管集电极电流与发光二极管正向输入直流电流之比,CTR应符合产品规格书要求.

A

直流电源、万用表

II

0.65

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

17

★输入－输出隔离电阻（RS）

在规定的湿度环境下，将光敏晶体管的输入端及输出端分别短接在一起，在输入端与输出端之间施加规定的电压，测试输入端与输出端之间的电流，计算输入端与输出端之间的电压与电流之比,RS应符合产品规格书要求.

A

直流电源、万用表

SI

0.65

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

18

★可焊性

将焊接部位浸过助焊剂后，沿轴线方向浸入240~245℃的Sn96.5Ag3Cu0.5（RoHS物料）、235±5℃的Sn63pb37（非RoHS物料）的熔融焊锡槽中2~3s，本体距熔融焊料1.6mm。

将被试件取出后用3-10倍放大镜观察,浸渍过的表面上必须覆盖上一层光滑明亮的焊料层，只允许有少量分散的如针孔不浸润或弱浸润之类的缺陷，且这些缺陷不出现在同一位置。

A

锡炉

SI

0.65

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

19

★耐焊接热

将试样引脚浸过助焊剂后，沿轴线方向浸入265±5℃的Sn96.5Ag3Cu0.5（RoHS物料）、260±5℃的Sn63pb37（非RoHS物料）熔融焊锡槽中10±0.5s,试验后恢复1h，外观应无损伤，电性能测试应符合产品规格书要求。

A

锡炉

SI

0.65

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

20

★拉力试验

任取光耦引脚，使光耦处于正常安装位置，沿引脚轴线方向施加10N的拉力时间为10±1s,光耦引脚无断裂（弯月形断裂除外）、松动，引脚和本体不发生移位，结构尺寸、电性能符合产品规格书要求。

B

拉力计

SI

0.65

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

21

★弯曲试验

在引脚长度的一半处按相反方向连续弯曲两次（共四次）,光耦引脚无断裂、引脚和本体无松动或脱落，结构尺寸、电性能符合产品规格书要求。

B

拉力计

SI

0.65

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态

序号

检验项目

技术要求

质量特性

检测工具

抽样水平或抽样数

AQL值或Ac/Rc

22

输入－输出电容（CS）

将输入端、输出端短接，在输入端与输出端之间用电容表测量输入端与输出端之间的电容，测试频率为1MHz（除非另有规定）,CS应符合产品规格书要求。

.

B

电容表

SI

1.0

23

高温试验

将试样放在规定的高温环境下，放置8h后，取出在常态下恢复2h,光耦外观无损伤，电性能测试符合产品规格书要求。

A

高温箱

SI

1.0

24

低温试验

将试样放在规定的低温环境下，放置8h后，取出在常态下恢复2h,光耦外观无损伤，电性能测试符合产品规格书要求。

A

低温箱

SI

1.0

25

高温电耐久性试验

在规定的高温环境下，将光耦与合适的负载电阻串联，使光耦输出集电极电流达到最大值，运行48h后，取出在常态下恢复2h，光耦外观无损伤，电性能测试符合产品规格书要求。

A

多功能综合老化系统

SI

1.0

26

振动

将光耦安装在相应的集成电路插座中，并将其牢固的固定在振动台上，然后在三个互相垂直方向上分别振动2h，振动频率为10-50Hz，振动的位移峰值振幅为1.5mm，试验后恢复2h,光耦外观无损伤，电性能测试符合产品规格书要求。

A

低温箱

SI

1.0

27

稳态湿热

光电耦合器在温度为40±2℃，相对湿度为90%～95%的环境下，放置8h后，取出充分除去表面水滴并在常态下恢复2h,光耦外观无损伤，电性能测试符合产品规格书要求。

A

振动台

SI

1.0

28

RoHS检测

应符合美的企业标准产品中限制使用有害物质的技术标准中的相关规定.

B

\

SI

1.0

编制状态

版本

编订/日期

审批/日期

备注

V1.0

新制

修订状态