超声仪器系统性能测试规程.docx
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超声仪器系统性能测试规程
超声仪器系统性能测试规程
1范围
1.1本规程适用于模拟式、数字式的A型超声探伤系统性能的测试与检定。
1.2本规程只规定测试方法而不涉及合格指标。
1.3本规程只适用于手工探伤系统。
2引用标准
下列标准是本规程的重要参考技术资料，其中包含的某些条文已被引用构成本技术规程的内容。
拟定时的下列版本有效，使用本规程时应注意其版本的变化。
GB/T18694-2002无损检测超声检验探头及其声场的表征
GB/T18852-2002无损检测超声检验测量接触探头声束特征的参考试块方法
YB/T144-1998超声探伤信号幅度误差测量方法
YB/T145-1998钢管探伤对比试样人工缺陷尺寸测量方法
GB/T11259-1999超声波检验用钢制对比试块的制作与校验方法
JB/T8428-1996校正钢焊缝超声波检测仪器用标准试块
JB/T9214-1999A型脉冲反射式超声探测系统工作性能测试方法
ZBY230-84A型脉冲发射式超声探伤仪通用技术条件（JB/T10061-1999）
ZBY231-84超声探伤仪用探头性能测试方法（JB/T10062-1999）
ZBY232-84超声探伤用1号标准试块技术条件（JB/T10063-1999）
JB/T7406.2-1994试验机术语无损检测仪器
ZBY334-85超声探伤用探头型号命名方法
JB3111-82无损检测名词术语（GB/T12604.1-1990）
3术语定义
探伤系统是指探伤仪连同探伤时必须与之电气连成一体的各种器件的总和。
4测定探伤系统的噪声水平
4.1概述
探伤系统噪声水平是指在规定的灵敏度下，由于各种原因在探伤系统荧光屏上出现的干扰信号幅度。
4.2测定方法
将探头脱离工作放置，将探伤仪的灵敏度和扫描范围调至最大，在避免外界干扰的条件下，读取时基线上电噪声幅度在垂直刻度上的百分数。
4.3报告格式及记录表，见附件1-6
5探伤系统灵敏度余量的测定
5.1概述
使指定的标准反射体回波到规定幅度的探测灵敏度与最大探测灵敏度的差值，称为探伤系统灵敏度余量。
单位是分贝。
5.2直探头系统灵敏度余量的测定
5.2.1测定方法
仪器的衰减器、抑制均为零，将探伤仪增益调至最大，其他调整取适当值。
若此时噪声幅度小于满屏高度的10%，则设此时衰减器读数为S0dB。
若此时噪声幅度超过满屏高度的10%，则调整衰减器，使噪声幅度等于满屏高度的10%，并设调整后的衰减器读数为S0dB。
将探头置于DB-PZ20-2型（参见JBT9214-1999）试块上（图1），将适当耦合剂，仅调节衰减器，使平底孔回波高度降至满刻度的50%，设此时衰减器读数为S1dB。
S=S1-S。
即为该探伤系统的灵敏度余量。
图1直探头探伤系统灵敏度余量的DB-PZ20-2型试块
5.2.2报告格式及记录表1﹙编号：
﹚。
5.3斜探头系统灵敏度余量测定
5.3.1测定方法
抑制为零，将超探仪增益调制最大，其他调整取适当值。
如此时噪声幅度小于满屏高度的10%，则设此时衰减度读数为a0dB。
若此时噪声幅度超过满屏的10%，则调整衰减器，使噪声幅度为满屏高度的10%，若调整后的衰减器读数为a0dB。
将探头置于CSK-IA型号标准试块（参见JBT9214-1999，JB/T10063）上（图2），加适当耦合剂，调节衰减器，使R100mm曲面回波高度降至满刻度的50%，设此时衰减器读数为a1dB。
a=a1-a0即为使用探测头时该探伤系统的灵敏度余量。
5.3.2报告格式及记录表2﹙编号：
﹚。
6测定探伤系统垂直线性
6.1概述
超探仪荧光屏上回波幅度与接收信号成正比关系的程度称为探伤系统垂直线性。
它与探伤仪增益线性和衰减器精度有关。
6.2测定方法
将抑制置为零。
将一直探头置于试块DB-PZ20-2（图1）上，加适量耦合剂。
将平底孔回波调制时基的中部。
调节衰减器或移动探头使平底孔回波幅度恰等于满屏高度。
此时衰减器至少应有30dB的余量。
然后，以每次2dB的增量调节衰减器，每次调节后用满刻度的百分比值记录回波高度。
一直到增量为26dB为止。
测量精度为1%。
将测定值填入附件3的表中。
测试值与理论值的差为偏差。
表中最大正偏差d（+）和最大负偏差（-）的绝对值之和为△d（以百分比计）。
6.3报告格式及记录表3﹙编号：
﹚。
7测定探伤系统水平线性
7.1概述
超探仪系统对于不同距离的反射体所产生的一系列回波（通常是平行工件底面的多次反射波）的显示距离与反射体实际距离之间能按比例方式显示的能力，称为水平线性。
7.2测定方法
使用检测面与底面平行的表面光滑的任何试块，试块的厚度原则上相当于探测生成的1/5，采用某一直探头，探伤仪抑制置于零。
将探头压在试块上，加适当耦合剂，调节增益和扫描范围，时屏幕上呈现6次底波，设它们分别是B1、B2、B3、B4、B5、B6。
设水平刻度为100。
反复调整“水平移位”和“扫描范围”的按钮，使得B1、B6的幅度分别为50%满刻度时，将它们的前沿分别对准刻度0和100。
再依次分别将底波B2、B3、B4、B5调到50%刻度，分别读出他们的前沿与刻度20、40、60、80的偏差a1、a2、a3、a4（以格数计），取其中最大的偏差值amax°则水平线性误差△L（以百分比值计）=（︳amax︳/80）×100%。
7.3报告格式及记录表4﹙编号：
﹚。
8测定超探系统分辨力
8.1概述
超探仪系统能够将荧光屏上相邻的两个回波区分开的能力成为探伤系统的分辨力。
8.2直探头超探系统分辨力的测定
8.2.1测定方法
使抑制为零。
将直探头置于CSK-I试块的图3（a）所示的位置上，加适当耦合剂。
调整增益并左右移动探头，使来自A、B两个面的回波幅度相等，且为满屏刻度的20%-30%，如图3（b）中的h1。
调节衰减器，使A、B两波峰间的波谷高度h2上升到h1的高度。
此时衰减器释放的dB数（等于h1和h2的分贝高度差）即为以分贝表示的使用直探头时探伤系统的分辨力。
图3直探头超探系统分辨力的测定
。
8.3斜探头超探系统分辨力的测定
8.3.1测定方法
使抑制为零。
将斜探头置于CSK-IA试块的图4（a）或（b）所示的位置上，加适当耦合剂。
调整增益并左右移动探头，使Ф50mm和Ф44mm两孔的回波A、B幅度相等，且为满屏刻度的20%-30%，如图5中的h1。
调节衰减器，使A、B两波峰间的波谷高度h2上升到h1的高度。
此时衰减器释放的dB数（等于h1和h2的分贝高度差）即为分贝表示的使用斜探头时探伤系统的分辨力。
图4测定斜探头系统分辨力
图5使Ф50mm和Ф40mm两孔的回波A、B幅度相等
9测定探伤系统盲区
9.1概述
从探测面到最近可探测到的标准反射体的距离称为探伤系统盲区。
“可探测到”意味着其幅度达到规定值，并能够与始波区分开。
9.2测定方法
图6使用直探头时探测系统盲区的DZ-I型试块
使抑制为零。
将探头置于DZ-I试块上（图6，参见JB/T9214-1999），使深度为31mm的横孔回波达满屏刻度的50%。
选择能够分辨得开的最短探测距离的2mm横孔回波，并将其幅度调至满屏刻度的50%。
如果此时回波的前沿与始波后沿交叉点（见图7）的高度高于满屏刻度的10%，则取与之相邻的较深孔再
图7测试探伤系统盲区
测，直至回波的前沿与始波后沿交叉点的高度低于满屏刻度的10%为止，此时的横孔离探测面的距离即为使用直探头时探测系统的盲区。
9.3报告格式（编号﹚。
年月日
超声波探伤仪校验报告
编号：
仪器型号
仪器编号
探头型号
耦合剂
测试依据
下次测试日期
性能参数
JB4730.3-2005要求
水平线性
≤1％
垂直线性
≤5％
备注
测试人
审核人
资格
UT-Ⅱ
资格
UT-Ⅲ
测试日期
审核日期
附表1：
水平线性测试表
a2
a3
a4
amax
δ
第一次测量
第二次测量
第三次测量
附表2：
垂直线性测试表
衰减量ΔidB
0
2
4
6
8
10
12
14
16
18
20
22
24
回
波
高
度
实
测
绝对波高Hi
相对波高%
理想相对波高%
100
79.4
63.1
50.1
39.8
31.6
25.1
19.9
15.8
12.6
10.0
7.9
6.3
偏差%
D=（|d1|+|d2|）％＝％
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