1、元器件检验通用标准来料检验标准版 本:第三版文件编号:WI/HV-12-001受控状态:碳膜电阻修 改 页:第 1 页 共 53 页抽样检验标准:依据MIL-STD-105D-; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.65MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观色环标识色环标识与电阻标称值精度等级是否一一致.用毛刷沾洗板水轻擦色环,不能出现脱色现象。MI目测元件体电阻有无破损,引脚是否氧化。MI目测2尺寸符合产品工程图;符合实际装配。MA钢尺或游标卡尺3电性1. 用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内
2、,电阻值小于10K的用串联方式,频率选用100Hz. 电阻值大于等于10K的用并联方式,频率选用100Hz。2. 分别在高温85、低温-20、温度93%3%、100CM高度自由跌落3次,对应R值均符合标称值以及偏差允许范围。3. 碳膜电阻误差值:5%MALCR电桥4可焊性用40W烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在2305锡炉中一次上锡面积大于85%。表面色环的颜色不发生变化。MA烙铁小锡炉5材料1. 所用材料与样品相符。2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。3. 外壳用刀片刮取,壳体坚韧度需符合。MA目测、对比样品刀片6包装标识1、 包装材料用料正确。 2、小包装方式、数量无误。
3、3、 装箱方式、数量无误。 4、(内包装、外箱)标识单内容正确。MA目测拟制:审核:批准:日期日期日期来料检验标准版 本:第三版文件编号:WI/HV-12-002受控状态:金属膜电阻类修 改 页:第 2 页 共 53 页抽样检验标准:依据MIL-STD-105D-; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.65MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷 序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观色环标识色环标识与电阻标称值精度等级是否一致。MI目测元件体电阻有无破损,引脚是否氧化。MI目测2尺寸符合产品工程图。MA钢尺或游标卡尺3电性1 室温下用LC
4、R电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内,电阻值小于10K的用串联方式,频率选用100Hz;电阻值大于等于10K的用并联方式,频率选用100Hz。2 分别在75、-5以下、湿度933、100CM高度自由跌落3次,对应R值均符合标称值及偏差允许范围。MALCR电桥43.金属膜、精密电阻阻值偏差不得超出标称值的上下限。4. 金属膜电阻误差值1CR5可焊性用40W烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在2305锡炉中,一次上锡面积大于85%。MA烙铁小锡炉6材料1、 所用材料与样品相符。2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品7包装标识1、 包装材料用料正确。2、 小包装方式、数
5、量无误。3、 装箱方式、数量无误。4、 (内包装、外箱)标识单内容正确。MI目测拟制:审核:批准:日期日期日期来料检验标准版 本:第三版文件编号:WI/HV-12-003受控状态:氧化膜电阻修 改 页:第 3 页 共 53 页抽样来料检验标准: 依据MIL-STD-105D-; MI:AQL=1.0;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印色环标识与电阻标称值精度等级是否一致。MI目测元件体电阻有无破损,引脚是否氧化。MI目测2尺寸外形尺寸是否符合产品工程图。MA钢尺或游标卡尺3电性1
6、. 用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内,电阻值小于10K的用串联方式,频率选用100Hz;2. 分别在75、-5、湿度933、100CM高度自由跌落3次,对应R值均符合标称值及偏差允许范围CRLCR电桥4材料所用材料与样品相符MA目测、对比样品5包装标识1. 包装材料用料正确。2. 小包装方式、数量无误。3. 装箱方式、数量无误。4. (内包装、外箱)标识单内容正确。MI目测拟制:审核:批准:日期日期日期来料检验通用标准版 本:第三版文件编号:WI/HV-12-004受控状态:AI机用的电阻、二极管引脚标准要求修 改 页:第 4 页 共 53 页抽样检验标准:依据MIL-STD-105
7、D-; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.65MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷 碳膜电阻、金膜电阻、二极管1N4148、二极管1N4007引脚直径序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1电阻引脚11/4W碳膜、金膜电阻引脚直径要求必需达0.43-0.5mm2.1/4W电阻要求带编带(26mm),编带中间电阻引脚的两端尺寸为26mm,也有52mm。3电阻引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等现象。CR数字卡尺目测2二极管1N4148引脚1、二极管1N4148引脚直径为0.45-0.5mm。2二极管1N4148要求带编带(26mm),编带中间
8、二极管1N4148引脚的两端尺寸为26mm。3二极管1N4148引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等现象CR数字卡尺目测3二极管1N4007引脚1二极管1N4007引脚直径为0.68-0.73mm。2二极管1N4007要求带编带(58mm),编带中间二极管1N4007引脚的两端尺寸为58mm。3二极管1N4007引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等现象CR数字卡尺目测4可焊性用40W烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在2305锡炉中,一次上锡面积大于85%。MI烙铁小锡炉5材料1. 所用材料与样品相符。2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1. 包装材料
9、用料正确。 3.装箱方式、数量无误。2. 小包装方式、数量无误。4.内包装、外箱标识单内容正确。MI目测拟制:审核:批准:日期日期日期、来料检验标准版 本:第三版文件编号:WI/HV-12-005受控状态:瓷片电容修 改 页:第 5 页 共 53 页抽样检验标准:依据MIL-STD-105D-; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.65MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷 电容:104P/50V+80%-20% 102P/50V+80%-20%(直径5脚距5mm)序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印丝印是否清晰可辩,标识是否与来料
10、相符。MI目测元件体引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、划伤、裂痕等。MI目测2尺寸符合产品工程图。脚距5mm,6mm,符合实际装配。MA钢尺或游标卡尺3电性1使用数字电容测试仪检测其容量是否在允许范围内,漏电流检测仪检测其额定耐压与漏电流的大小。2常温下用数字电容测试仪检测电容值为0.1UF+80%-20%(0.001mF+80%-20%),损耗角0.05。3常温下,用绝缘电阻测试仪测其绝缘阻10000M4常温下,用耐压测试仪测端子间耐压值75V;端子与外壳间耐压值为100V,应元击穿或飞弧现象(高温区95-105检测方法相同)。5将其放于95105及低温-18以下,使用数字电容测试仪检测
11、测其电容值为0.1UF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).6. 手工浸水湿度93%3%用数字电容测试仪测其电容0.1UF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).CR数字电容测试仪漏电流测试仪耐压测试仪绝缘电阻测试仪4可焊性用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在2305锡炉中,一次上锡面积大于85%。MI烙铁小锡炉5材料1、 所用材料与样品相符。2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1.包装材料用料正确。 2.小包装方式、数量无误。3.装箱方式、数量无误。 4.内包装、外箱标识单内容正确。MI目测拟制:审核:批准:日期日期日期来
12、料检验标准版 本:第三版文件编号:WI/HV-12-006受控状态:高压瓷片电容修 改 页:第 6 页 共 53 页抽样检验标准:依据MIL-STD-105D-; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.65MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷 电容: 101P/1KV(直径5脚距5mm) 102P/1KV(直径6.5脚距5mm) 103P/1KV(直径8.5脚距5mm)序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。MI目测元件体引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、划伤、裂痕等。MI目测2尺寸符合产品工程
13、图。MA钢尺或游标卡尺3电性1用数字电容测试仪检测其容量是否在允许范围内,漏电流检测仪检测其额定耐压与漏电流的大小。2常温下用数字电容测试仪检测电容值为0.1UF+80%-20%(0.001mF+80%-20%),损耗角0.05。3常温下,用绝缘电阻测试仪测其绝缘阻10000M4常温下,用耐压测试仪测试端子间耐压值1.6Ur(5s);端子与外壳间耐压值为1250V,应元击穿或飞弧现象(高温区95-105检测方法相同)。5将其放于95105及低温-18以下,使用数字电容测试仪检测测其电容值为0.1UF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).6.手工浸水湿度93%3%用数字电容测试仪测
14、其电容0.1UF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).CR数字电容测试仪漏电流测试仪耐压测试仪绝缘电阻测试仪4可焊性用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在2305锡炉中,一次上锡面积大于85%。MI烙铁小锡炉5材料1、 所用材料与样品相符。2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1包装材料用料正确。 2.小包装方式、数量无误。3.装箱方式、数量无误。 4.内包装、外箱标识单内容正确。MI目测拟制:审核:批准:日期日期日期来料检验标准版 本:第三版文件编号:WI/HV-12-007受控状态:高压金属膜电容修 改 页:第 7 页 共 53 页抽样
15、来料检验标准:依据MIL-STD-105D-; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 1.0;CR:AQL=0.4MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷高压电容(CBB金属膜电容) CBB21-473J400V(脚距10mm)序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印丝印是否清晰可辩,有明确认证标志,是否标明3C、UL、TV或VDE等认证标志。MI目测元件体引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、划伤,封胶是否有气孔等。MI目测2尺寸符合产品工程图MA游标卡尺3电性1.根据所测试安规电容的容量在电容测试仪设置标准容量,根据电容正负偏差设置上下偏差,然后依据电容的标称电
16、压值,设定其损耗角正切值,最后夹上待测电容,“PASS”灯亮表示合格。2.用电容测试仪测其电容0.047F5%,损耗角1.0%(20 1KHZ).3.用绝缘电阻测试仪测其R30000M(20 1min)4.常温下100CM高度自由跌落3次,再测其电容值应为0.047F5%.5.用耐压测试仪测其极与极的抗电强度2Ur(2S).6.高温80及低温-20时,测其电容值为0.047F5%。CR耐压测试仪电容测试仪漏电流测试仪绝缘电阻测试仪4可焊性使用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在2305锡炉中,一次上锡面积大于85%。MI烙铁小锡炉5材料1 所用材料与样品相符。2 与配料表中型号规格相符、与
17、工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1 材料用料正确2 装箱方式、数量无误3 (内包装、外箱)标识单内容正确MI目测拟制:审核:批准:日期日期日期来料检验标准版 本:第三版文件编号:WI/HV-12-008受控状态:聚酯膜(绦纶)电容 修 改 页:第 8 页 共 53 页抽样来料检验标准:依据MIL-STD-105D-; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷 聚脂膜电容(绦纶): 2J103J(630V)(脚距4mm) 2J152J(630V)(脚距4mm)序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1
18、外观丝印丝印是否清晰可辩,负极标志、丝印标识是否与来料相符。MI目测元件体引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、划伤。MI目测2尺寸符合产品工程图MA钢尺游标卡尺3电性1.根据所测电容器容量在电容测试仪设置标准容量,根据电容正负偏差设置上下偏差,然后根据电容的标称耐压来设定损耗角,最后夹上待测电容,“PASS”灯亮表示为合格。2.用电容测试仪或LCR电桥测其电容0.0001F5(0.00152F5) ,损耗角正切值0.01(20 1KHZ)。3.用耐压测试仪测其极与极间的抗电强度2Ur(Ur=630VDC)时间5S4.用绝缘电阻测试仪测其R30000M(20 1min)。5.工作温度范围-40
19、85CR电容测试仪万用表稳压电源漏电流测试仪绝缘电阻测试仪4可焊性用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在2305锡炉中,一次上锡面积大于85%。MI烙铁小锡炉5材料1、所用材料与样品相符。2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1、材料用料正确。2、小包装方式、数量无误。3、装箱方式、数量无误。4、(内包装、外箱)小标签内容正确。MI目测拟制:审核:批准:日期日期日期来料检验标准版 本:第三版文件编号:WI/HV-12-009受控状态:二极管IN4007修 改 页:第 9 页 共 53 页抽样来料检验标准:依据MIL-STD-105D-; MI:AQL=1.
20、5;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4 MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷二极管:D1-D5 IN4007序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印负极标志及字符丝印是否清晰可辩。MI目测元件体元件体引脚是否氧化,是否有毛刺和破损。MI目测2尺寸符合产品工程图;符合实际装配。MA钢尺或游标卡尺3电性1. 用晶体管测试仪先后测试二极管正向压降:0.61.1V和反向耐压:IN40071000V、2. IN4007在最大反向电压下其最大反向电流值为5.0A(+25),平均输出电流值为1A(+75)3. 工作温度范围为-65to+125CR晶体管测试仪稳压电
21、源万用表4可焊性用40W烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在2305锡炉中,一次上锡面积大于85%。MA烙铁小锡炉5材料1. 所用材料与样品相符。2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1、 包装材料用料正确。2、小包装方式、数量无误。3.装箱方式、数量无误。4.(内包装、外箱)标识单内容正确。MI目测拟制:审核:批准:日期日期日期来料检验标准版 本:第三版文件编号:WI/HV-12-009A受控状态:二极管IN4007修 改 页:第 9A 页 共 53 页抽样来料检验标准:依据MIL-STD-105D-; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 0.65;
22、CR:AQL=0.4MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷型号稳压值及精度测试电流正向电压(VF)IN47233.3V5%76mA当IF=200mA时,VF1.2VIN47324.3V5%53mA当IF=200mA时,VF1.2VIN47335.1V5%49mA当IF=200mA时,VF1.2VIN47345.6V5%45mA当IF=200mA时,VF1.2VIN472312V5%21mA当IF=200mA时,VF1.2VIN472327V5%9.5mA当IF=200mA时,VF1.2V稳压二极管参数:二极管参数:型号最大反向电压(VR)正向电压(VF)正向电流(IF)最大正向输出电流
23、IAFIN400150V0.7V5.0A1AIN4002100V0.7V5.0A1AIN40071000V0.7V5.0A1AIN4148100V0.7V5.0A150mABAV9975V0.7V1.0A215mA拟制:审核:批准:日期日期日期来料检验标准版 本:第三版文件编号:WI/HV-12-010受控状态:二极管IN4148修 改 页:第 10 页 共 53 页抽样来料检验标准:依据MIL-STD-105D-; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4 MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷二极管:D6-D7 IN4148 序号检验项目检 验 标 准
24、及 要 求AQL检验方法1外观丝印负极标志及字符丝印是否清晰可辩。MI目测元件体元件体引脚是否氧化,是否有毛刺和破损。MI目测2尺寸符合产品工程图;符合实际装配。MA钢尺或游标卡尺3电性1、 用晶体管测试仪先后测试二极管正向压降:0.61.0V和反向耐压:IN4148100V、2、 最大反向电流(+25)值为0.025A,平均输出电流(+75)值为150mA3、 工作温度范围为-65to+125CR晶体管测试仪稳压电源万用表4可焊性用40W烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在2305锡炉中,一次上锡面积大于85%。MA烙铁小锡炉5材料1、 所用材料与样品相符。2、与配料表中型号规格相符、与
25、工程图相吻合。MA目测、对比样品6包装标识1、 包装材料用料正确。2、 小包装方式、数量无误。3、 装箱方式、数量无误。4、 (内包装、外箱)标识单内容正确。MI目测拟制:审核:批准:日期日期日期来料检验标准版 本:第三版文件编号:WI/HV-12-011受控状态:二极管(6A10)修 改 页:第 11 页 共 53 页抽样来料检验标准:依据MIL-STD-105D-; MI:AQL=1.5;MA:AQL= 0.65;CR:AQL=0.4 MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷二极管: 6A10序号检验项目检 验 标 准 及 要 求AQL检验方法1外观丝印负极标志及字符丝印是否清晰可辩。MI目测元件体元件体引脚是否氧化,是否有毛刺和破损。MI目测2尺寸符合产品工程图;符合实际装配。MA钢尺或游标卡尺3
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