1、数字电路基础实验集成逻辑门测试(含4个实验项目)一、实验目的(1)深刻理解集成逻辑门主要参数的含义和功能。(2)熟悉TTL与非门和CMOS或非门主要参数的测试方法,并通过功能测试判断器件好坏。二、实验设备与器件本实验设备与器件分别是:表1-1 与非门功能测试表输 入输 出A B C DF1 1 1 10 1 1 11 0 1 11 1 0 11 1 1 0实验设备:自制数字实验平台、双踪示波器、直流稳压电源、数字频率计、数字万用表及工具;实验器件:74LS20两片,CC4001一片,500 左右电阻和10k 左右电阻各一只。三、实验项目1TTL与非门逻辑功能测试按表1-1的要求测74LS20逻
2、辑功能,将测试结果填入与非门功能测试表中(测试F=1、0时,VOH与VOL的值)。2TTL与非门直流参数的测试测试时取电源电压VCC=5V;注意电流表档次,所选量程应大于器件电参数规范值。(1)导通电源电流ICCL。测试条件:输入端均悬空,输出端空载。测试电路按图1-1(a)连接。(2)低电平输入电流IiL。测试条件:被测输入端通过电流表接地,其余输入端悬空,输出空载。测试电路按图1-1(b)连接。(3)高电平输入电流IiH。测试条件:被测输入端通过电流表接电源(电压VCC),其余输入端均接地,输出空载。测试电路按图1-1(c)连接。(4)电压传输特性。测试电路按图1-2连接。按表1-2所列各
3、输入电压值逐点进行测量,各输入电压值通过调节电位器W取得。将测试结果在表1-2中记录,并根据实测数据,做出电压传输特性曲线。然后,从曲线上读出VOH,VOL,Von,Voff和VT,并计算VNH,VNL等参数。 图1-1 ICCL,IiL和IiH测试电路 图1-2 电压传输特性测试电路表1-2 与非门电压传输特性测试表Vi(V)00.40.81.11.21.31.351.41.52.02.42.73.0V0(V)图1-3 扇出系数测试电路(5)扇出系数NO。测试条件:所有输入端悬空,负载RL为可变电阻。测试电路按图1-3连接。调节RL,使输出电压VOL=0.4V,测出此时的IOL,再按下式:N
4、O=IOl/IiL求得NO。3平均延迟时间tpd的测试现一般采用环形振荡器法测tpd,测试原理电路及波形如图1-4(a)和(b)所示。图1-4(a)中与非门1、与非门2为标准门的tpd1和tpd2是已知的(可预先在高精度的双踪示波器上测出),与非门(3)是被测门。三个与非门构成一个环形振荡电路。点(3)和点(3 )的波形是同一波形,由图1-4(b)可知,振荡波形的周期为:图1-4 平均延迟时间测试电路及波形T=tPHL1+tPHL2+tPHL3+tPLH1+tPLH2+tPLH3=2tpd1+2tpd2+2tpd3(在一个振荡周期内每个门经过两次延迟时)从数字频率计上可以读出振荡频率f(也可用
5、示波器测出周期T),即可算出被测门的平均延时时间为:T=1/f=2(tpd1+tpd2)+2tpd3tpd3=1/2f(tpd1+tpd2) 或者 tpd3=T/2(tpd1+tpd2)4CMOS或非门电路的测试(注意CMOS器件使用规则)图1-5 CMOS门传输特性测试电路图(1)传输特性测量 调节电位器W,选择若干个输入电压值,测量相应的输出电压值,然后由测得的数据作出曲线,并从曲线中求得VoH、VoL、Von和VoFF等参数值。注意,测量输出端的电压时,要选用高阻抗的直流电压表,最好用直流数字电压表。通常取Von为0.1VoH时对应的输入电平值,VoFF为0.9VOH对应的输入电平值。
6、将两个输入端并联在一起,重复上述测试,比较两种情况下电压传输特性和噪声容限的差异。 测试电源电压的影响:将VDD依次调节至5V和15V,观察电路的逻辑功能以及输出高电平VoH值。(2)逻辑功能测试选CC4001按图1-5电路接线。断开与电位器W连接的输入端和接地输入端,在两个输入端分别送入表1-3中所列出的输入状态,测试其输出相对应的逻辑值。表1-3 或非门功能测试表输 入输 出A BF0 00 11 01 1五、预习要求(1)阅读TTL与非门主要参数的含义及CMOS门电路的特点。(2)熟悉CMOS电路和TTL电路的使用规则。(3)设计实验电路,提出器件清单。(4)拟定实验方案和调测步骤。三态
7、门、OC门的功能测试及其应用(含2个实验项目)一、实验目的(1)熟悉OC门和三态门的功能及应用。(2)掌握OC门负载电阻选择方法。二、实验设备与器件本实验的实验设备和器件为:实验设备:自制数字实验平台、双踪示波器、直流稳压电源、脉冲信号发生器、万用表及工具;实验器件:74LS20,74LS00,74LS01,74LS05,CC4011,CC4069和电阻若干。三、实验项目1OC门实验(1)OC门“线与”电路功能测试:将两个OC门进行“线与”连接,以驱动三个TTL与非门,如图2-1所示。EC=+5V,要求VOH=3.6V,VOL=0.3V,工作速度无严格要求。试在负载电阻允许值范围,选取RL值接
8、入电路,并测试其逻辑功能,列表记录测试结果。(2)用实验方法确定RLmax和RLmin,要求VOH=3.6V,VOL=0.3V。实验电路按图2-2连接,加+5V电源后,调节电位器W,先使电路输出为高电平(即F=3.6V),测得此时的RL值为RLmax。再使电路输出为低电平(即F=0.3V),测得此时的RL值为RLmin。(3)用OC电路实现TTL与非门驱动CMOS与非门(CC4011)的电平转换电路。取VDD=10V,确定电阻值接入电路,然后在输入端加一个方波信号(fi=1kHz),用示波器观察A点、B点、C点的波形幅度值的变化。 图2-1 OC门“线与”功能测试电路 四、预习要求(1)阅读O
9、C门和三态门的工作原理,根据任务要求计算RL的取值范围(即RLmax与RLmin)。(2)设计实验电路,提出器件清单。(3)拟定实验方案和调测步骤。组合逻辑电路的设计及功能测试(含5个实验项目)一、实验目的(1)掌握组合逻辑电路的设计方法及功能测试方法。(2)观察组合逻辑电路的冒险现象。(3)熟悉消除冒险现象的常用方法。二、实验设备与器件本实验的设备和器件如下:实验设备:自制数字实验平台、双踪示波器、脉冲信号发生器、万用表及工具;实验器件:74LS00,74LS10,74LS20,74LS04,74LS32。三、实验项目1. 用TTL与非门设计一个4人控制表决器。4人表决的结果用指示灯显示,多
10、数赞成则指示灯亮,反之,则灯不亮。2. 设计一个全加器。3. 设计一个四舍五入电路,输入信号为 8421BCD码,输出结果用指示灯显示。4. 设计一个组合逻辑电路,它接收3位二进制数B2B1B0,仅当B2B1B0对应的十进制数大于2小于6时,输出Y才为1。表3-1DCBAF000000001000101001110100001010011000111110000100101010110110110011101111101111115. 按表3-1设计一个组合逻辑电路。 设计要求:输入信号仅提供原变量,反变量由电路自行产生,给定与非门为74LS00、74LS20,画出逻辑图。 搭试电路,进行静态
11、测试,验证逻辑功能,记录测试结果。 分析输入端D、C、B各处于什么状态下能观察到输入端A信号变化时产生的冒险现象。 在A端输入f =100kHz1MHz的方波信号,观察电路的冒险现象,记录A和F点的工作波形图。 观察:用增加校正项的方法,消除由输入端A信号变化所引起的冒险现象。画出此时的电路图,并记录消除冒险后A和F点的波形图。四、预习要求(1)必须在预习报告中写出设计全过程,画出设计电路图。(2)什么叫冒险现象?如何判断一个组合逻辑电路中是否存在冒险现象?(3)设计实验电路,提出器件清单。(4)拟定实验方案和调测步骤。译码器及其应用(含4个实验项目)一、实验目的(1)掌握译码器功能测试方法和
12、灵活应用。(2)熟悉多位译码显示电路的设计方法及工作原理。二、实验设备与器件本实验的设备与器件如下:实验设备:自制数字实验平台、双踪示波器、直流稳压电源、万用表及工具;实验器件:74LS00,74LS48,BS201/202等。三、实验任务1. 七段显示译码器74LS48的功能测试实验电路按图4-1连接。测试时,各输入端按表4-1中相应状态输入信号。观察各输出情况,列表记录并将结果与给出的功能表做比较。2. 采用TTL与非门设计一个输入两位二进制码,显示十进制数的七段显示译码器(要求使用共阴发光二极管作为显示器)。3. 实验电路示意图如图4-2所示。A3作为数据输入端,A0、A1、A2作为地址
13、。当A0A1A2=000111时,测试相应的Q0Q7的输出。 图4-1 74LS48功能测试连线图 图4-2 74LS42 用作数据分配器 A3端输入秒脉冲(周期T1秒)信号,列表整理测试结果。 A3端输入约2kHz连续脉冲,观察并记录A0A1A2的输入、输出波形。4. 采用74LS48和共阴数码管构成一个多位显示电路,并按以下要求完成实验。分别按下列要求输入信号,观察记录其相应的显示情况,并分析所观察到的现象产生的原因。 =1, =1,IC1、IC6的DCBA输入均为0,IC2、IC3、IC4、IC5的DCBA输入不为全0; =1, =1,IC1,IC2、IC5、IC6的DCBA输入均为0,
14、IC3、IC4的DCBA输入不为全0; =1, =1,IC1IC6的DCBA输入均为0。四、预习要求(1)熟悉74LS48的功能和使用方法,拟好实验电路和记录表格。(2)复习译码显示原理和数据分配器的工作原理。(3)设计实验电路,提出器件清单。(4)拟定实验方案和调测步骤。数据选择器及应用(含6个实验项目)一、实验目的(1)掌握中规模集成数据选择器的逻辑功能及其测试方法。(2)熟悉数据选择器的应用。三、实验设备与器件本实验设备和器件如下:实验设备:自制数字实验平台、双踪示波器、万用表及工具;实验器件:74LS151,74LS153,74LS390和74LS00等。四、实验任务1. 按表5-1测
15、试74LS151的逻辑功能,在测试中注意(使能端)的作用。2. 采用74LS151和74LS153,并利用降维图法实现下列逻辑函数: F1=ABD+BCD+ACD+ABC (5-1) F2=AC+A+BC+AB (5-2) F3=BC+AC+AB+ABC (5-3)3. 用74LS153扩展成八选一的电路。4. 用数据选择器和与非门实现8421码转换成5421码中权值为2的码位变换。5. 表5-2G1G0F00110101AABABA+B表5-1A2 A1 A0D7 D6 D5 D4 D3 D2 D1 D0Y0 0 001 0 1 0 1 0 1 00 0 101 0 1 0 1 0 1 00
16、 1 001 0 1 0 1 0 1 00 1 101 0 1 0 1 0 1 01 0 001 0 1 0 1 0 1 01 0 101 0 1 0 1 0 1 01 1 001 0 1 0 1 0 1 01 1 101 0 1 0 1 0 1 0X X X1X X X X X X X X设计一个多功能电路,其功能如表5-2所示,选用一片八选一数据选择器和与非门实现电路。(6)用74LS151八选一电路和74LS390组成一个图形发生器。由74LS390产生一个固定周期的选择信号,只要将D0D7置成不同的电平,在输出端Q就会输出不同波形,若假定D0D3D4D6为“1”,D1D2D5D7为“0
17、”,观察Q端波形。四、预习要求(1)熟悉74LS151和74LS153的工作原理及使用方法。(2)根据实验内容要求,设计实验电路,提出器件清单。(3)拟定实验方案和调测步骤。集成触发器(含6个实验项目)一、实验目的(1)掌握用与非门组成的基本RS触发器的特征。(2)掌握集成JK触发器、D触发器的逻辑功能和使用方法。(3)熟悉各种触发器的应用。二、实验设备及器件本实验的设备及器件如下:实验设备:自制数字实验平台、双踪示波器、万用表;图6-1 基本RS触发器实验器件:74LS00,74LS73,74LS74,74LS373等。三、实验任务1. 如图6-1,用与非门组成一个基本RS触发器,测试其逻辑
18、功能,将结果填入表6-1中。2. 表6-2 JK触发器功能测试表JKCPQn=0Qn=1Qn+1Qn+1100101110111注:Q端起始状态Qn仅为第一个CP信号加入前的原态。测试JK触发器(74LS73)的逻辑功能,将测试结果填入表6-2中。表6-1 基本RS触发器真值表Q触发器状态000110113. 用74LS73设计一个异步四进制计数器,并用双踪示波器观察输入输出波形。(CP、1Q、2Q)4. 由D触发器和按钮开关S组成的电路图如图6-2所示,测试其输入CP和输出Q1,U0(Q2)的对应波形图,并说明此电路的逻辑功能。5. 图6-2试设计一电路,将D触发器(74LS74)转换为JK
19、触发器。6. 测试74LS373的逻辑功能。四、预习要求(1)熟悉各类触发器的逻辑功能。(2)了解各类触发器之间的类型转换方法。移位寄存器及移存型计数器的应用(含3个实验项目)一、实验目的(1)掌握中规模集成电路74LS194四位双向移位寄存器的逻辑功能。(2)熟悉74LS194的应用。(3)熟悉实用性移存型计数器的逻辑设计方法。二、实验设备与器件本实验设备与器件如下:实验设备:自制数字实验平台、示波器、万用表及常用工具;实验器件:四位双向移位寄存器74LS194一片、与非门74LS00,74LS10各一片。四、实验任务1. 测试四位双向移位寄存器74LS194的逻辑功能,测试结果填入表7-1
20、中。表7-1 74LS194功能测试表CPS1S0D0D1D2D3Q0Q1Q2Q3CPS1S0D0D1D2D3Q0Q1Q2Q3送数0101左移SL=Q000101010X右移SR=Q30010XXXXXX保持0110XX2. 用74LS194及与非门设计一个具有自启动功能的四位右移的环形计数器,记录电路的全部状态,观测并画出输入与输出波形(CP,Q0,Q1,Q2,Q3)。3. 二进制数码的串并转换及传输令74LS194的Q0为最低位,Q3为最高位,串行输入或输出一个四位二进制数。 串行输入、并行输出:设串行输入为0101。先用右移方式,后用左移方式,实现并行输出。 并行输入、串行输出:设并行输
21、入1001。采用左移方式,实现串行输出。 二进制数码在两片74LS194中传输:任选一组四位二进制数码,在图7-2所示电路中实现数据传输。要求所选的代码“1”在八位逻辑指示中,按环形移位显示。四、预习要求(1)熟悉74LS194的工作原理。(2)复习环形计数器的自启动反馈逻辑设计方法,按实验内容画出实验电路。(3)设计实验电路,提出器件清单。(4)拟定实验方案和调测步骤。计数器及其应用(含5个实验项目)一、实验目的(1)熟悉同步、异步计数器的工作原理及应用。(2)掌握任意进制计数器的设计方法。二、实验设备与器件表8-1 74LS390逻辑功能测试表CPQDQCQBQA0123456789本实验
22、的设备与器件如下:实验设备:自制数字实验平台、双踪示波器及常用仪表和工具;实验器件:74LS390,74LS00,74LS162A,74LS192等。三、实验任务1. 将计数器(74LS390)的QA端与CPB端相连,测试其逻辑功能,结果填入表8-1中,然后,用示波器观测CP,QA,QB,QC及QD的波形并与理论分析的工作波形相比较,若有明显不同,必须分析原因,查找故障,直至正常。2. 用74LS390和与非门74LS00设计一个模24的计数器,用灯显区LED显示计数器状态并记录,观察计数器输入输出波形。3. 用74LS162A设计一个模8的同步计数器,计数状态从0001开始。4. 设计模60
23、计数器,并用显示译码器、七段LED数码管配合显示计数过程(时钟脉冲频率用12Hz)。5. 用74LS192设计一个模11的减法计数器,用灯显区LED显示计数器状态并记录,观察计数器输入输出波形。五、预习要求(1)根据指定的任务和要求设计电路,画出逻辑图及理论分析的工作波形,以便与实验波形比较。(2)设计实验电路,提出器件清单。(3)拟定实验方案和调测步骤。脉冲信号的产生与整形电路(含3个实验项目)一、实验目的1掌握脉冲信号的产生与整形方法。2熟悉输出波形与定时元件RC的关系。3熟悉改善波形上升沿的方法。二、实验设备与器件本实验的设备与器件如下:实验设备:自制数字实验平台、双踪示波器、直流稳压电
24、源、万用表及工具;实验器件:74LS00,74LS390,晶体2MHz,电阻,电容,电位器R=1k 等若干。三、实验项目1. 用与非门、电阻组成一个2MHz的晶体振荡电路,并用74LS390设计100分频输出电路。用双踪示波器观察并画出两级十分频波形图(1CPA,1QD,2CPA,2QD),并标出振荡波形的周期。2. 用集成与非门构成的环形多谐振荡器性能测试。 实验电路如图9-2所示。 用示波器显示并画出A,B,D,E各点和输出V0的波形。 将电位器R从大到小和从小到大旋动。观察V0的脉宽tp和周期T随R的变化情况,做出定性的结论。当R旋到最大(R=1k )时,用示波器测出V0的周期T并与理论
25、估算T值进行比较。3. 设计一个用与非门组成的自激多谐不对称振荡器,要求其工作频率为10kHz。通过实验调整元件参数。四、预习要求(1)根据所给题目指标,设计并画好实验电路,提出器件清单。(2)考虑电路中各点波形对应处的坐标象限,拟定坐标轴(输入、输出波形的坐标轴必须上下对齐)。(3)拟定实验方案和调测步骤。集成定时器555及其应用(含3个实验项目)一、实验目的(1)熟悉集成定时器555电路原理及其功能。(2)掌握集成定时器555电路的典型应用。二、实验设备及器件本实验的设备及器件如下:实验设备:双踪示波器、自制数字实验平台、万用表;实验器件:集成定时器555、74LS390。三、实验项目1.
26、 图10-1 555自激多谐振荡器用集成定时器555设计的自激多谐振荡电路如图10-1所示,按表10-1中所给的元件值计算出振荡波形的参数,并用示波器测试出振荡电路中a,b,c各点的波形,计算公式为:脉冲宽度TP=0.7(R1R2)C脉冲间隙Td=0.7R2C脉冲周期T=0.7(R12R2)C555电路要求R1和R2均应大于或等于1k ,但R1R2应小于或等于3.3M 。表10-1R1(k)R2(k)C(F)Tp(s)Td(s)T(s)理 论 值实 测 值理 论 值实 测 值理 论 值实 测 值4.74.70.01104.70.0222. 图10-2构成间隙声响发生器,调节元件W使振荡器频率为
27、1kHz,并经5分频后输出,以1Hz信号控制振荡器的复位端,当1Hz/S信号为高电平时,振荡器振荡,当1Hz/S信号为低电平时,振荡器停振,这样扬声器发出间隙声响。测出A,A点波形图。3. 用集成定时器555构成单稳态触发器,用无抖动开关电路(采用单次CP信号)实现触发,以控制其他自动化系统工作,要求输出脉宽(即定时时间)为1ms,1s,试确定相应的电阻、电容值,用示波器观测其输出波形,并与理论值比较分析。要求有设计全过程说明(含参数估算)。图10-3 间隙声响发生器四、预习要求(1)单稳态触发器有哪些特点?(2)熟悉集成定时器555构成的多谐振荡器输出信号的脉宽TWH,周期T和频率f的计算方法。(3)设计实验电路,提出器件清单。(4)拟定实验方案和调测步骤。大规模集成存储器EEPROM的应用(含3个实验项目)一、实验目的(1)了解大规模集成存储器EEPROM。(2)通过实验熟悉它们的工作特性,使用方法及其应用。二、实验原理EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory),电可擦可编程只读存储器一种掉电后数据不丢失的存储芯片,是可用户更改的只读存储器(ROM),其可通过高于普通电压的作用来擦除和重编程(重写)。EEPROM一般用在即插即用;常用在接口卡中,用来存放硬件
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