RTⅢ射线检测题.docx

1、RT射线检测题X射线照相检验复习题原子核中的质子数与原子的 B 相等。A、 中子数 B、原子序数 C、质量数 D、以上都不是光子与质子、中子、电子的本质不同是由于 A、 质量更小 B、不带电荷 C、速度更快 D、以上都不是放射性同位素的半衰期决定于其 C A、放出射线的能量 B、放出射线的强度 C、放射性同位素本身的性质 D、以上都是连续谱X射线产生于 A 过程A、 轫致辐射B、跃迁辐射 C、荧光辐射 D、以上都是下列相互作用中，入射射线光子的能量既被散射又被吸收的过程是 B A、 光电效应 B、康普顿散射 C、电子对效应 D、以上都是对电子在加速电压为200KV时产生的X射线，线衰减系数最大

2、的元素是 B A、 铁 B、铜 C、铝 D、镁钨靶X射线管，当管电压为200KV时，X射线的转换效率约为 A、 0.5 B、1.0 C、2.0 D、3.0X射线机在老化训练中发现毫安表轻微摆动，这说明X射线管 A、 真空度不够 B、击穿 C、漏气 D、以上都可能两个活度相同但比活度不同的同种射线源，比活度大的射线源的 A、尺寸较大、半衰期短 B、尺寸较大、半衰期不变C、尺寸较小、半衰期短D、尺寸较小、半衰期不变下列射线源中，半衰期最长的是 A、 60Co B、75Sc C、192Ir D、170Tm从胶片特性曲线的斜率可以判断胶片的 特性A、 感光度 B、梯度 C、灰雾度 D、以上都可以射线照

3、片的灰度为1.5时，评片时入射亮度与透射亮度之比约为 A 、16:1 B 、32:1 C、 64:1 D 、128:11、 工业射线照相中，钨酸钙增感屏主要用于：（ C ）A、改善射线照相地清晰度和分辨率 B、改善射线照相图象地对比度 C、缩短暴光时间2、在一定的曝光条件下，当管电流为5mA，曝光时间为12分钟，可得到满意的射线底片。如其它条件不变，管电流增加到10mA，曝光时间需变为：（ C ）A、24分钟 B、12分钟 C、6分钟 D、30分钟3、X射线的穿透能力取决于：（ A ）A、管电压 B、曝光时间 C、管电流 D、焦距4、密度计用于测量：（ B ）A、X射线强度 B、底片密度 C、

4、材料密度 D、管电流5、引起射线照片密度过高的原因是：（ D ） A、水洗不足 B、定影液污染 C、显影液老化 D、过显影6、胶片射线照相时，透度计通常放于：（ B ）A、增感屏和胶片之间 B、被检物体靠近射线源地一侧C、被检物体靠近胶片地一侧 D、操作者和射线源之间7、胶片处理中必不可少地三种液体是（ C ）A、停显液、醋酸和水 B、显影液、停显液和双氧水C、显影液、定影液和水 D、显影液、定影液和醋酸8、放射性材料原子衰变一半所需要地时间叫做（ C ）A、反平方定律 B、一居里 C、一个半衰期 D、暴光时间9、检出小缺陷地能力叫做（ B ）A、射线照相对比度 B、射线照相灵敏度 C、射线照

5、相密度 D、射线照相分辨率10、对含有大裂纹地零件进行射线照相时，裂纹在射线照片上地影象是（ A ）A、一条断续或连续地黑线 B、一条不规则的亮线C、黑线或亮线 D、射线照片上的一个灰雾度11、钴60源的半衰期为（ C ）A、1.2年 B、6各月 C、5.3年 D、75天12、荧光增感屏通常成对地装在刚性袋中，这种刚性袋叫做：（ B ） A、胶片架 B、暗盒 C、乳化剂 D、限光板13、焦距为2m时，需曝光时间为60秒钟，当焦距变为1m时需曝光时间为：（ C ）A、120秒 B、30秒 C、15秒 D、240秒14、为了减小几何不清晰度（ A ）A、在其他条件允许的情况下，辐射源焦点应尽可能小

6、B、在其他条件允许的情况下，辐射源焦点应尽可能大C、胶片离被检物体应尽可能远D、阳极到被检物体的距离应尽可能小15、下列那种材料适合于制作配制胶片处理溶液的容器（ A ）A、不锈钢 B、铝 C、镀锌铁 D、锡16、射线照相上产生亮的月牙形痕迹的原因很可能是（ B ）A、曝光后使胶片卷曲 B、曝光前使胶片卷曲 C、片处理时温度变化急剧 D、定影液过热或用乏17、透度计用来指示（ D ）A、零件中缺陷的尺寸 B、胶片密度 C、胶片对比度 D、射线照相底片的质量18、胶片处理的三个主要步骤是（ B ）A、显影、皱折和定影 B、显影、定影和水洗 C、曝光、显影和定影 D、显影、成网状和定影19、射线照

7、相中，铅屏的作用是：（ C ）A、通过减少散射线的影响改善射线照片的质量； B、缩短曝光时间；C、A和B均是； D、A和B均不是。20、手动处理胶片时，为使胶片均匀显影：（ C ）A、应在显影后将胶片放入干燥器； B、应用机械搅拌器或循环泵搅拌显影液；C、应在显影过程中搅拌胶片； D、应将胶片从显影液直接转移到定影液中。21、未曝光的X射线胶片盒保存时应：（ B ）A、平放； B、直立； C、堆放； D、无所谓。22、射线照相图象的密度是指：（ D ）A、胶片厚度 B、试样厚度 C、胶片重量 D、胶片黑化度23、乳胶皱折或从片基上脱落的原因可能是：（ D ）A、胶片处理前溅上水 B、溶液温度低

8、 C、显影液污染 D、定影液过热24、胶片表面起网状皱纹的原因可能是：（ B ）A、胶片卷曲 B、胶片处理时温度急剧变化 C、胶片处理前溅上水 D、焦距过大25、射线底片上产生数枝形或圆形静电感光痕迹的原因是：（ D ）A、装入暗盒时弯曲 B、增感屏上嵌入外来材料 C、铅屏划伤 D、取胶片方法不当26、显影过程中搅动胶片的目的是：（ B ）A、使胶片免受压力 B、更新胶片表面显影液 C、使胶片表面未曝光银粒子散开 D、防止产生网状皱纹27、X射线管中发射射线的小区域叫做：（ B ）A、限光板 B、焦点 C、聚焦室 D、阴极28、X射线防护中最常用的材料是：（ D ）A、高密度转 B、合金钢 C

9、、钨 D、铅29、X射线和射线总是：（ C ）A、成对传播 B、沿球形轨迹传播 C、沿直线转播 D、以上都不对30、制造低压X射线管窗口的材料一般是：（ B ）A、塑料 B、 铍 C、玻璃 D、铅31、放射性同位素的辐射强度：（ B ）A、随时间增大 B、随时间减小 C、不随时间变化 D、以上都不对32、产生X射线的一般方法是使高速电子在固体上突然减速。这种固体叫：（ C ） A、聚焦室 B、灯丝 C、靶 D、阴极33、下列哪种同位素的半衰期最长：（ D ）A、铥170 B、钴60 C、铱192 D、铯13734、X射线管中，电子轰击靶时能量转换的主要形式是生产：（ D ）A、一次射线 B、二

10、次射线 C、短波长射线 D、热35、有些X射线管中循环油的作用是：（ D ）A、润滑运动部件 B、吸收二次射线 C、降低需要的高电压 D、散热36、放射性同位素的辐射强度：（ B ）A、随时间增大 B、随时间减小 C、不随时间变化 D、以上都不对37、小焦点X射线管比大焦点X射线管的好处是：（ B ）A、射线穿透力大 B、射线底片清晰度好 C、射线底片对比度好 D、底片密度高38、X射线管通常装在防止电击的壳体中，其目的是：（ B ）A、散热 B、防止操作者受高压电击 C、防止二次散射 D、提高整流器效率39、下列哪种参数最常用来调整对比度：（ D ）A、焦距 B、管电流 C、焦点尺寸 D、管

11、电压40、下列哪种方法可减小或消除衍射产生的斑点：（ C ）A、提高管电压 B、使用铅屏 C、以上都是 D、以上都不是41、射线底片上，焊缝区有一个非常亮的形状不规则的小影象。这个影象可能是：（ C ）A、气孔 B、溶剂夹渣 C、钨夹渣 D、未熔合42、源尺寸、工件厚度和源到工件距离这三个因素决定着：（ D ）A、底片密度 B、底片曝光量 C、胶片尺寸 D、底片的不清晰度43、10居里钴60源衰减到2.5居里时大约需多长时间：（ C ）A、5.3年 B、21.2年 C、10.6年 D、以上都不对44、试样中靠近射线源一侧的缺陷的图象在下列哪种情况下清晰度不好：（ B ）A、源到物体距离增大 B

12、、试样厚度增大 C、焦点尺寸减小 D、试样厚度减小45、X射线管靶常用的材料是：（ D ）A、铜 B、碳 C、碳化物 D、钨46、从胶片放入定影液到胶片乳黄色消失的时间叫做：（ A ）A、通透时间 B、定影时间 C、硬化时间 D、氧化时间47、几何因素不适当、胶片和铅屏接触不良以及胶片粒度是造成下列哪种情况的可能原因：（B ）A、胶片密度过高 B、清晰度不好 C、胶片灰雾 D、胶片密度过低48、显影液是：（ B ）A、酸性的 B、碱性的 C、盐 D、胶体49、铯的半衰期是：（ C ）A、36天 B、6年 C、33年 D、526天50、原子核的主要组成部分：（ D ）A、质子、电子 B、质子、光

13、子 C、光子、中子 D、质子、中子51、钴60源发射的用于无损检测的射线是：（ B ）A、中子 B、射线 C、X射线 D、粒子52、射线照片上焊缝中心出现的长度和宽度不等的连续或间断的长条形黑色图象是（ B ）A、裂纹 B、未焊透 C、夹杂 D、疏松53、射线底片上呈现为宽度不等、有许多断续分支的锯齿形黑线的一个或多个显示是（ C ）A、冷裂纹 B、冷隔 C、热撕裂 D、型心偏移54、射线底片上，沿焊缝熔合区边缘的宽度不等的黑线是：（ A ）A、咬边 B、未熔合 C、气孔 D、疏松55、射线底片上，位于焊缝中心的长度合宽度不等的长条形黑色显示可能是（ D ）A、链状气孔 B、熔渣线 C、焊车轨

14、迹 D、未焊透56、射线底片上边缘光滑的椭圆形或圆形黑点可能是（ C ）A、烧穿 B、弧坑裂纹 C、气孔 D、未熔合57、焊接沟槽或坡口边缘的间断的或连续的黑线可能是（ B ）A、链状气孔 B、熔渣线 C、根部凹陷 D、弧坑裂纹58、方向无规律的窄的黑线一般可能是（ A ）A、裂纹 B、熔渣线 C、链状气孔 D、未熔合59、通常位于焊缝一边且与焊缝平行的连续的或间断的非常细的直的黑线是（ D ）A、溶剂夹渣 B、收缩 C、链状气孔 D、未熔合60、埋弧焊缝中出现的单个或成群的小亮点显示可能是（ C ）A、飞溅 B、非金属夹杂 C、钨夹杂 D、气孔61、焊道与基体金属表面熔合处基体金属厚度的减薄

15、叫做（ B ）A、凸起 B、咬边 C、未熔合 D、凹陷62、胶片在高温和高湿度条件下长时间放于铅屏之间会：（ B ）A、感光速度增加但质量降低 B、产生灰雾 C、生产斑点 D、生产亮的树枝状图象63、下列哪种方法可减少或消除衍射生产的斑点：（ C ）A、提高千伏 B、使用铅增感屏 C、以上都是 D、以上都不是64、射线照片上，生产背衬“B”亮图象的原因可能是：（ B ）A、密度过高 B、背散射 C、千伏太低 D、胶片放置不当65、含碳量超过0.30%的钢，焊接时容易发生哪种类型的缺陷：（ A ）A、热影响区裂纹 B、气孔 C、未熔合 D、熔剂夹渣66、由于浇注温度不当或合金成分不当而引起的缺陷

16、叫做：（ B ）A、气孔 B、疏松 C、分散缺陷 D、未熔合金属滴67、射线底片上，沿焊缝熔合区边缘的宽度不等的黑线是：（ A ）A、咬边 B、未溶合 C、气孔 D、疏松68、方向无规律的窄的黑线一般可能是：（ A ）A、裂纹 B、熔渣线 C、链状气孔 D、未熔合69、焊接次数过多或速度不当会使焊缝产生：（ C ）A、根部凹陷 B、氧化 C、根部过厚 D、未焊透70、焊接坡口熔合面加热不足或存在氧化皮可能引起：（ D ）A、未焊透 B、根部凹陷 C、根部过厚 D、未熔合71、在X射线束中放置滤波器的效果是：（ A ）A、硬化射线束 B、软化射线束 C、弥散射线束 D、增大射线束强度72、由于剧

17、烈的温度变化而引起的胶片乳剂的损伤叫做：（ A ）A、网状皱纹 B、边缘起皱 C、气泡 D、条纹73、工业射线照相荧光增感屏中最常用的增感材料是：（ D ）A、硫化锌 B、硫化钙 C、碘化铯 D、钨酸钙74、靶材料产生X射线的效率与什么成正比：（ C ）A、千伏 B、电极间距 C、原子序数 D、阿伏加德罗数75、从焦点向各个方向发射的X射线强度不同，这种现象叫做：（ C ）A、屏效应 B、出射角 C、偏斜效应 D、散光76、钴60发射的射线的能量是：（ A ）A、1.17和1.33MeV B、0.66MeV C、1.09和1.29MeV D、1.36和2.75MeV77、按照公认的理论，乳剂中

18、潜像所在点是下列哪种物质的局部集中点：（ A ）A、硫化银 B、溴化银 C、碘化银 D、硝酸银78、下列几种粒子或射线中，哪种在空气中的电离效应最高：（ A ）A、粒子B、粒子C、中子 D、和X射线79、在空气中每厘米行程上产生的离子对的数目叫做：（ C ）A、二次电离 B、总电离 C、比电离 D、伦琴80、停止显影作用的最好方法是将胶片放入：（ A ）A、停影液 B、定影液 C、水洗槽 D、润湿剂溶液81、哪种增感屏可大量吸收散射线（ A ）A、金属增感屏 B、荧光增感屏 C、金属荧光增感屏82、X射线管靶的投影面积叫做：（ C ）A、焦点 B、聚焦 C、有效焦点 D、几何不清晰度83、使胶

19、片晶粒曝光的实际作用剂是：（ C ）A、射线量子 B、粒子 C、电子 D、质子84、X射线与同能量射线的唯一区别：（ B ）A、生物效应 B、产生原因 C、相互作用 D、波长85、射线底片的图象轮廓的鲜明度是指：（ A ）A、清晰度 B、灵敏度 C、宽容度 D、对比度86、下列哪种因素不是减小几何不清晰度时需考虑的因素：（ C ）A、源到胶片距离 B、物体到胶片距离 C、源强度 D、源尺寸87、由工件引起的散射通常叫做：（ D ）A、背散射 B、侧散射 C、咬边 D、正向散射88、显影后呈现在底片上的亮的周折痕迹是由什么原因造成的：（ C ）A、静电感光 B、铅增感屏划伤 C、曝光前拿胶片不当

20、 D、曝光后拿胶片不当89、显影液作用：（ D ）A、停止胶片处理 B、坚膜 C、回收银 D、将曝光的卤化银晶粒变为金属银90、胶片在高于30的水中长时间冲洗可能：（ B ）A、使明胶结晶 B、使明胶软化 C、产生黄斑 D、使图象模糊91、熔化金属中的气泡、潮气、清理不干净等原因引起的焊缝缺陷叫做：（ C ）A、氧化膜 B、未焊透 C、气孔 D、溶剂夹渣92、射线底片上呈长条形或圆形影象的氧化物或其它固体叫做：（ A ）A、熔渣 B、气孔 C、收缩 D、蛀孔93、射线照相检验技术易漏检的缺陷是：（ B ）A、焊缝裂纹 B、复合材料分层 C、铸件冷隔 D、气孔94、入射到物体的X射线，由于 （

21、B ）而被衰减A、反射与折射 B、散射与吸收 C、激发与电离 D、以上都是95、对得到良好底片无影响的是（ D ）A、透照环境 B、透照参数 C、暗室处理条件 D、评片条件96、下列哪种缺陷属于工艺缺陷范围内：（ C ） A、疲劳裂纹 B、板材分层 C、淬火裂纹 D、以上都是97、原子核的正电荷数等于（ B ）A、中子数 B、原子序数 C、光子数 D、原子数98、从X射线管发射的射线包括：（ D ）A、连续X射线 B、标识X射线 C、射线 D、A和B99、光量子能量的数学表达式是（ C ）A、E=h/ B、E=/hc C、E=h D、E=h/100、下列放射性元素中，半价层最厚的是（ A ）A

22、、60Co B、137Sc C、192Ir D、170Tm二、填空题1、评片室的光线应暗而柔和，评片人员所在处的光照度以25Lx为宜 2、鸡眼轻金属及低密度非金属材料时，推荐采用铍窗口软X射线机3、暗室安全红灯所产生的胶片灰雾度不应高于0.054、对于金属材料我厂采用GB5618规定的像质计5、丝型的像质计金属丝应与焊缝方向垂直并横跨在非焊缝射线源一侧的 表面上，细丝朝外6、底片的密度应控制在1.54.0范围内，最佳密度值为2.0 7、 射线照相检验说明书的文件编号是 TY404SC0005 8、 如射线检验过程重出现质量失控为体，按TY401QC1310规定执行 9、经过三个半衰期后，同位素

23、放射强度减弱到原来的1/810、X射线管由阴极、阳极、壳体组成。11、金属增感屏的增感系数随着X射线管电压的降低而减小12、像质计的摆放位置应是射线照射范围内显示灵敏度最差的位置13、显影温度越高：显影速度越快，灰雾度越大,颗粒越大14、射线防护的三个要素是时间、距离、屏蔽。15、放射性同位素Co60的半衰期为年5.3年16、光量子的能量越高，射线的波长越短，穿透物体的能力越大17、射线的波长越长，其光量子的能量越低，穿透物体的能力越小18、工业探伤适用的主要射线源都是人工放射性同位素19、几何不清晰度产生于射线源尺寸20、在射线照相中，产生散射线的最主要源是工件21、存放中造成显影液失效的主

24、要原因是显影液被氧化22、显影时间过长会使影象的颗粒度加大，射线照片的灰雾度增高23、平板工件照度的有效透照区主要决定于焦距24、曝光曲线的斜率越大，一次透照的厚度差范围越小25、源在外双壁透照时焦距越大，有效透照区越小26、环焊缝透照时，有效透照长度不仅与焦距相关，而且也相关于工件直径和壁厚27、对非金属材料与复合材料工件进行射线照相时应特别注意散射线28、多个工件一次同时透照时应特别注意各个工件间的散射线影响29、熔化焊焊缝的基本结构包括三部分，它们是焊缝、熔合线热影响区30、未焊透是焊缝的母材与母材间局部未熔化为一体性的缺陷 31、X射线照相中，射线穿透物体的能力取决于管电压32、射线胶

25、片H和D曲线的斜率叫做梯度33、增大源到胶片的距离，图象清晰度提高 34、配置停影液最常用的酸是冰醋酸 35、比较大的散射源通常是被检零件36、X射线机房通风设备的换风量不应低于5次/小时37、提高管电压时，底片上被透照物体的对比度将降低38、定影液的两个作用是溶解未曝光的AgBr和坚膜作用39、X射线穿透5个半价层后，其强度仅剩下最初的1/3240、管电压越大射线的强度越高41、焊接件中常见的缺陷 气孔、夹渣、裂纹、未焊透、未熔合等42、焊接件的X射线检验一般在热处理前进行43、铸件的X射线检验一般在热处理后进行44、管电压低于100Kv时，不宜使用铅增感屏45、从事无损检测的人员，其近距离

26、视力应在1.0以上，且无色盲46、曝光量等于管电流乘以曝光时间47、管电压为200Kv电压时，产生的X射线的最短波长为0.6210-10m48、材料厚度为100mm时发现的金属丝的最小直径为0.2mm，其相对灵敏度为2%49、X射线机的最大管电流为5mA，若要获得30mA.min的曝光量需曝光时间6min50、胶片粒度越大，感光度也越高51、增感屏主要有工种类型：金属增感屏、荧光增感屏、金属荧光增感屏52、定影不足，底片长期存放后将发黄53、机房内透照场附近的照度不应低于300Lx54、暗室温度应保持在205，暗室的“干区”的湿度应控制在30%60%55、X射线机房的面积一般不小于35m256

27、、密度计和标准密度片的校验周期为一年57、检验复合材料制件的胶片，其灰雾度不得高于0.2058、当管电压高于100Kv时，应使用铅增感屏59、配置好的溶液应储存在密闭的容器内且应避免光照，已防氧化60、新配置的胶片处理用溶液的最佳储存温度为4261、新配置的胶片处理溶液应放置24小时后才能使用62、当裂纹的破裂面与射线束的方向夹角不大于10时，才有较大的检出可能63、评片时可采用310倍带刻度尺的放大镜64、从日光下进入评片室适应时间不能少于10min65、从室内光线下进入评片室时适应时间不能少于30S66、采用双壁双影透照管径小于90mm环焊缝时，其像质可降低一档67、射线底片的焊缝影象上应

28、发现的像质计的金属丝的长度不得小于10mm68、透照时，摆放的像质计的最细金属丝应位于外侧69、如果底片上出现的铅字“B”的光亮影象，说明背散射防护不足70、使用中的曝光曲线的校验周期是一年71、我厂现使用的铅增感屏的前屏厚度为0.03mm，后屏厚度为0.10mm72、胶片与铅增感屏接触状态保存时，不应超过三个星期73、新购入的胶片，应在一个月内进行验收试验74、对同批号的胶片至少应从任意盒中抽出三张测量灰雾度75、透照焊接件时，胶片的灰雾度不得高于0.3076、达到有效期的胶片，复验合格后可延长使用六个月77、对工件进行局部透照时，可利用铅板对非透照区进行遮挡78、采用双壁双影透照管径小于9

29、0mm的环焊缝时，像质计应放置在射线源一侧焊缝的外表面79、采用双壁单影透照管径小于90mm的环焊缝时，像质计应放置在受检区焊缝的内表面上80、显影液有效性试验的实测密度值低于基准密度值的-15%时，显影液不再进行使用81、采用双壁双影法透照环焊缝时，射线束与环焊缝截面夹角不应超过40角82、决定可检验的缺陷在射线透照方向的最小尺寸的是影象的对比度83、射线照片上所能记录的细节最小尺寸决定于颗粒度84、在射线辐射角确定的前提下，对有效透照区大小影响最大的是焦距85、射线照相中确定焦距最小值的原则是考虑几何不清晰度86、在胶片和被检工件确定的前提下，对射线照相影象对比度影响最大的是管电压87、G

30、B4792-84标准对随机效应全身均匀外照射规定的年剂量当量限值是50mSv88、照射量的常用单位是库仑/千克，专用单位是伦琴89、吸收剂量的常用单位是戈瑞，专用单位是拉德90、剂量当量的常用单位是希沃特，专用单位是雷姆91、以相同的条件透照同一工件若焦距缩短20%，则曝光时间可减少36%92、物体厚度20mm，焦距800mm，几何不清晰度0.05mm，则焦点尺寸是2mm93、射线能量为1Mev10Mev时，铁对射线的衰减起主要的作用的过程是电子对效应94、计算放射形同位素的半衰期的公式为0.693/95、X射线的强度与管电压的平方成正比，与管电流成正比96、工作前必须对X射线机进行老化训练，是为了提高X射线管的真空度97、普通胶片是单面乳剂胶片，射线胶片是双面乳剂胶片且乳剂层厚98、X射线机焦点的测量方法有针孔法和几何不清晰度法99、射线照片的表面不应有明显的机械损伤、污染、伪缺陷100、椭圆成像透照时，一般规定两侧焊缝影象的间距应为3mm至10mm三、是非题原子的轨道电子只有获得了一定的能量，才能从一个轨道跃迁到另一个轨道。产生X 射线与可见光不同性质的原因，是X射线可以穿透可见光不能穿过的物体。在光子与物质的相互作用中，入射光子的能量被吸收、散射，导致透射射线强度降低。连续谱X射线在穿透一定的措施，使其照射范围限制在较小的区域