1、电子产品可靠性试验国家标准清单电子产品可靠性试验国家标准清单GB/T 15120、1-1994 识别卡 记录技术 第1部分: 凸印GB/T 14598、2-1993 电气继电器 有或无电气继电器GB/T 3482-1983 电子设备雷击试验方法GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则GB/T 5839-1986 电子管与半导体器件额定值制GB/T 7347-1987 汉语标准频谱GB/T 7348-1987 耳语标准频谱GB/T 9259-1988 发射光谱分析名词术语GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状
2、线测试方法GB/T 2689、1-1981 恒定应力寿命试验与加速寿命试验方法总则GB/T 2689、2-1981 寿命试验与加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布)GB/T 2689、3-1981 寿命试验与加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布)GB/T 2689、4-1981 寿命试验与加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布)GB/T 5080、1-1986 设备可靠性试验 总要求GB/T 5080、2-1986 设备可靠性试验 试验周期设计导则GB/T 5080、4-1985 设备可靠性试验 可靠性测定试验的点估计与区间估计方法(指数分布)GB/T 5080、5-1
3、985 设备可靠性试验 成功率的验证试验方案GB/T 5080、6-1985 设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验GB/T 5080、7-1986 设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T 5081-1985 电子产品现场工作可靠性有效性与维修性数据收集指南GB/T 6990-1986 电子设备用元器件(或部件)规范中可靠性条款的编写指南GB/T 6991-1986 电子元器件可靠性数据表示方法GB/T 6993-1986 系统与设备研制生产中的可靠性程序GB/T 7288、1-1987 设备可靠性试验 推荐的试验条件 室内便携设备 粗模拟GB/T
4、7288、2-1987 设备可靠性试验 推荐的试验条件 固定使用在有气候防护场所设备 精模拟GB/T 7289-1987 可靠性维修性与有效性预计报告编写指南GB/T 9414、1-1988 设备维修性导则 第一部分: 维修性导言GB/T 9414、2-1988 设备维修性导则 第二部分: 规范与合同中的维修性要求GB/T 9414、3-1988 设备维修性导则 第三部分: 维修性大纲GB/T 9414、4-1988 设备维修性导则 第五部分: 设计阶段的维修性研究GB/T 9414、5-1988 设备维修性导则 第六部分: 维修性检验GB/T 9414、6-1988 设备维修性导则 第七部分
5、: 维修性数据的收集分析与表示GB/T 12992-1991 电子设备强迫风冷热特性测试方法GB/T 12993-1991 电子设备热性能评定GB/T 7349-1987 高压架空输电线变电站无线电干扰测量方法GB/T 7432-1987 同轴电缆载波通信系统抗无线电广播与通信干扰的指标GB/T 7433-1987 对称电缆载波通信系统抗无线电广播与通信干扰的指标GB/T 7434-1987 架空明线载波通信系统抗无线电广播与通信干扰的指标GB 7495-1987 架空电力线路与调幅广播收音台的防护间距GB 9254-1988 信息技术设备的无线电干扰极限值与测量方法GB/T 9382-198
6、8 彩色电视广播接收机可靠性验证试验 贝叶斯方法GB/T 12190-1990 高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法GB/T 12776-1991 机动车辆点火系统干扰抑制方法及抑制器插入损耗的测量与允许值GB/* 9307-1988 彩色显像管包装GB/* 9380-1988 彩色电视广播接收机包装GB/T 7450-1987 电子设备雷击保护导则GB/* 9381-1988 电视广播接收机运输包装件试验方法GB 8898-1988 电网电源供电的家用与类似一般用途的电子及有关设备的安全要求GB/T 9361-1988 计算机场地安全要求GB 9378-1988 广播电视演播系统的视音频与脉冲设备
7、安全要求GB/T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法GB/* 2776-1981 电子元件单孔安装轴套型式与尺寸GB/T 4210-1984 电子设备用机电元件名词术语GB/T 5076-1985 具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量GB/T 5077-1985 电容器与电阻器的最大外形尺寸GB/T 5078-1985 单向引出的电容器与电阻器所需空间的测定方法GB/T 5095、1-1985 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 第一部分: 总则GB/T 5095、2-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 第二部分: 一般检查电连续性接触电阻测试绝缘试验与电应力
8、试验GB/T 5095、3-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 第三部分: 载流容量试验GB/T 5095、4-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 第四部分: 动态应力试验GB/T 5095、5-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 第五部分: 撞击试验(自由元件) 静负荷试验(固定元件) 寿命试验与过负荷试验GB/T 5095、8-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 第八部分: 连接器接触件及接端的机械试验GB/T 5095、9-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 第九部分: 电缆夹紧试验爆炸危险性试验耐化学腐蚀试验燃
9、烧危险性试验射频电阻试验电容试验屏蔽与滤波试验磁干扰试验GB/T 6591-1986 电子设备用电容器与电阻器名词术语GB/T 11250、1-1989 复合金属覆层厚度的测定 金相法GB/T 11250、2-1989 复合金属覆层厚度的测定X荧光法GB/T 11250、3-1989 复合金属覆镍层厚度的测定 容量法GB/T 11250、4-1989 复合金属覆铝层厚度的测定 重量法GB/* 12080-1989 真空电容器引出环尺寸系列GB/* 12081-1989 可变真空电容器转动圈数系列GB/T 2472-1981 电子设备用固定式电容器工作电压系列GB/T 2473-1981 电子设
10、备用矩形金属外壳电容器外形尺寸系列GB/T 2474-1981 电子设备用圆形金属外壳电容器外形尺寸系列GB/T 2693-1990 电子设备用固定电容器 第一部分: 总规范GB/T 3664-1986 电容器非线性测量方法GB/T 4165-1984 电子设备用可变电容器的使用导则GB/T 4166-1984 电子设备用可变电容器的试验方法GB/T 4874-1985 直流固定金属化纸介电容器总规范GB/* 4875、1-1985 CJ10型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875、2-1985 CJ11型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875、3-1985 CJ30型
11、直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875、4-1985 CJ40型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/* 4875、5-1985 CJ41型直流固定金属化纸介电容器详细规范GB/T 5966-1986 电子设备用固定电容器 第八部分: 分规范: 1 类瓷介固定电容器GB/T 5967-1986 电子设备用固定电容器 第八部分: 空白详细规范: 1 类瓷介固定电容器 评定水平E(可供认证用)GB/T 5968-1986 电子设备用固定电容器 第九部分: 分规范: 2 类瓷介固定电容器(可供认证用)GB/T 5969-1986电子设备用固定电容器 第九部分: 空白详细规范: 2 类瓷介
12、固定电容器 评定水平E (可供认证用)GB/* 5970-1986 电子元器件详细规范CT1 型瓷介固定电容器 评定水平E (可供认证用)GB/* 5971-1986 电子元器件详细规范CC1 型瓷介固定电容器 评定水平E (可供认证用)GB/T 5993-1986 电子设备用固定电容器 第四部分: 分规范 固体与非固体电解质铝电容器(可供认证用)GB/T 5994-1986电子设备用固定电容器 第四部分: 空白详细规范 非固体电解质铝电容器 评定水平E (可供认证用)GB/* 5995-1986 电子元器件详细规范CD11型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/T 6252-1986 电子设备
13、用A类调谐可变电容器类型规范GB/T 6253-1986 电子设备用B类微调可变电容器类型规范GB/T 6254-1986 电子设备用C类预调可变电容器类型规范GB/T 6261-1986电子设备用固定电容器 第五部分: 分规范 额定电压不超过3000V的固定直流云母电容器(可供认证用)GB/T 6262-1986 电子设备用固定电容器 第五部分: 空白详细规范 固定云母电容器 评定水平E (可供认证用)GB/* 6263-1986 电子元器件详细规范CY-0 1 2 3 固定云母电容器评定水平E (可供认证用)GB/T 6347-1986电子设备用固定电容器 第11部分: 空白详细规范: 金
14、属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 评定水平E(可供认证用)GB/* 6348-1986电子元器件详细规范CL10型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 评定水平E (可供认证用)GB/* 6349-1986电子元器件详细规范CL11型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 评定水平E (可供认证用)GB/* 6350-1986电子元器件详细规范CL12型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 评定水平E (可供认证用)GB/* 7207-1987 电子元器件详细规范CD10型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7208-1987
15、 电子元器件详细规范CD13型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7209-1987 电子元器件详细规范CD15型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7210-1987 电子元器件详细规范CD19型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7211-1987 电子元器件详细规范CD26型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 7212-1987 电子元器件详细规范CD27型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/T 7213-1987 电子设备用固定电容器 第十五部分: 分规范 非固体或固体电解质钽电容器(可供认证用)GB/T 7214-1987电子设备用固定电容器 第十五部分: 空白详细规
16、范 固定电解质与多孔阳极钽电容器 评定水平E(可供认证用)GB/* 7215-1987 电子元器件详细规范CA42型固体电解质固定钽电容器 评定水平E (可供认证用)GB/T 7332-1987 电子设备用固定电容器 第二部分: 分规范: 金属化聚酯膜介质直流固定电容器(可供认证用)GB/T 7333-1987电子设备用固定电容器 第二部分: 空白详细规范: 金属化聚酯膜介质直流固定电容器 评定水平E(可供认证用)GB/* 7334-1987 电子元器件详细规范CL20型金属化聚酯膜介质直流固定电容器 评定水平E (可供认证用)GB/* 7335-1987 电子元器件详细规范CL21型金属化聚
17、酯膜介质直流固定电容器 评定水平E (可供认证用)GB/* 7336-1987 电子元器件详细规范CC52型圆片穿心瓷介电容器(可供认证用)GB/* 7337-1987 电子元器件详细规范CT52型圆片穿心瓷介电容器(可供认证用)GB/* 8555-1987 CKTB 400/7、5/60 型可变陶瓷真空电容器GB/T 9320-1988 电子设备用固定电容器 第八部分(1): 分规范1类高压瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9321-1988电子设备用固定电容器 第八部分(1): 空白详细规范1 类高压瓷介电容器 评定水平E (可供认证用)GB/T 9322-1988 电子设备用固定电容器
18、第九部分(1): 分规范2 类高压瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9323-1988电子设备用固定电容器 第九部分(1): 空白详细规范2类高压瓷介电容器 评定水平E (可供认证用)GB/T 9324-1988 电子设备用固定电容器 第十部分: 分规范 多层片状瓷介电容器(可供认证用)GB/T 9325-1988 电子设备用固定电容器 第十部分: 空白详细规范: 多层片状瓷介电容器 评定水平E (可供认证用)GB/* 9583-1988 电子元器件详细规范CA型固体电解固定钽电容器GB/T 9597-1988 电子设备用固定电容器 分规范: 1类高功率瓷介电容器(可供认证用)GB/T 959
19、8-1988 电子设备用固定电容器 空白详细规范: 1 类高功率瓷介电容器 评定水平E(可供认证用)GB/* 9599-1988 电子元器件详细规范CC81型高压瓷介电容器 评定水平E (可供认证用)GB/* 9600-1988 电子元器件详细规范CT81型高压瓷介电容器 评定水平E (可供认证用)GB/* 9604-1988 电子元器件详细规范CD288型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9605-1988 电子元器件详细规范CD289型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9606-1988 电子元器件详细规范CBB13 型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器 评定水平E (可供认证
20、用)GB/* 9607-1988 电子元器件详细规范CD30型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9608-1988 电子元器件详细规范CD110型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9609-1988 电子元器件详细规范CD291, CD292, CD293 型固定铝电解电容器(可供认证用)GB/* 9610-1988 电子元器件详细规范CBB111型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器 评定水平E (可供认证用)GB/T 10185-1988 电子设备用固定电容器 第7部分:分规范: 金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用)GB/T 10186-1988电子设备用固定电容器
21、 第7部分: 空白详细规范:金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器 评定水平E (可供认证用)GB/* 10187-1988 电子元器件详细规范CB14型金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器 评定水平E (可供认证用)GB/T 10188-1988 电子设备用固定电容器 第13部分: 分规范: 金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用)GB/T 10189-1988电子设备用固定电容器 第13部分: 空白详细规范: 金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器 评定水平E (可供认证用)GB/T 10190-1988 电子设备用固定电容器 第16部分: 分规范: 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器(可
22、供认证用)GB/T 10191-1988电子设备用固定电容器 第16部分: 空白详细规范: 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器 评定水平E(可供认证用)GB/T 11300-1989 电子设备用A 类调谐可变电容器空白详细规范GB/T 11301-1989 电子设备用装有整体C 类预调电容器的A 类调谐可变电容器空白详细规范GB/T 11302-1989 电子设备用B 类微调可变电容器空白详细规范GB/T 11303-1989 电子设备用C 类预调可变电容器 空白详细规范GB/T 11304-1989 电子设备用固定电容器 第四部分: 空白详细规范 固体电解质铝电容器 评定水平E (可供认证用)
23、GB/T 11305-1989 电子设备用固定电容器 分规范: 3 类瓷介电容器(可供认证用)GB/T 11306-1989 电子设备用固定电容器 空白详细规范: 3 类瓷介电容器 评定水平E (可供认证用)GB/* 11307-1989 电子元器件详细规范CS1 型瓷介固定电容器 评定水平E (可供认证用)GB/* 11308-1989 电子元器件详细规范CH11型金属箔式聚酯- 聚丙烯膜介质直流固定电容器 评定水平EGB/T 14005-1992电子设备用固定电容器 第六部分: 空白详细规范 金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器 评定水平EGB/T 12775-1991 电子设备用圆片型瓷介
24、预调可变电容器总规范GB/T 12794-1991电子设备用固定电容器 第十五部分: 空白详细规范 非固体电介质箔电极钽电容器 评定水平E(可供认证用)GB/T 12795-1991电子设备用固定电容器 第十五部分: 空白详细规范 非固体电介质多孔阳极钽电容器 评定水平E(可供认证用)GB/T 14004-1992 电子设备用固定电容器 第六部分: 分规范 金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器GB/T 5730-1985 电子设备用固定电阻器 第二部分: 分规范 低功率非线绕固定电容器(可供认证用)GB/T 5731-1985电子设备用固定电阻器 第二部分: 空白详细规范: 低功率非线绕固定电阻
25、器 评定水平E (可供认证用)GB/T 5732-1985 电子设备用固定电阻器 第四部分: 分规范 功率型固定电阻器(可供认证用)GB/T 5733-1985 电子设备用固定电阻器 第四部分: 空白详细规范 功率型固定电阻器 评定水平E (可供认证用)GB/T 5734-1985 电子设备用固定电阻器 第五部分: 分规范 精密固定电阻器(可供认证用)GB/T 5735-1985 电子设备用固定电阻器 第五部分: 空白详细规范 精密固定电阻器 评定水平E (可供认证用)GB/* 5834-1986 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RT14型碳膜固定电阻器 评定水平E (可供认证用)G
26、B/* 5873-1986电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ14型金属膜固定电阻器 评定水平E (可供认证用)GB/T 7016-1986 固定电阻器电流噪声测量方法GB/T 7017-1986 电阻器非线性测量方法GB/* 7275-1987电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ15型金属膜固定电阻器 评定水平E (可供认证用)GB/T 7338-1987 电子设备用固定电阻器 第六部分: 分规范 各电阻器可单独测量的固定电阻网络(可供认证用)GB/T 7339-1987电子设备用固定电阻器 第六部分: 空白详细规范 阻值与功耗相同, 各电阻器可单独测量的固定电阻网络 评
27、定水平E (可供认证用)GB/T 7340-1987电子设备用固定电阻器 第六部分: 空白详细规范 阻值与功耗不同, 各电阻器可单独测量的固定电阻网络 评定水平E (可供认证用)GB/* 8551-1987 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RT13型碳膜固定电阻器 评定水平E (可供认证用)GB/* 8552-1987电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ13型金属膜固定电阻器 评定水平E (可供认证用)GB/T 12276-1990 电子设备用固定电阻器 第七部分: 分规范 各电阻器不可单独测量的固定电阻网络(可供认证用)GB/T 12277-1990电子设备用固定电阻器
28、第七部分: 空白详细规范 各电阻器不可单独测量的固定电阻网络 评定水平E (可供认证用)GB/T 6663-1986 直热式负温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)GB/T 6664-1986 直热式负温度系数热敏电阻器空白详细规范 评定水平E(可供认证用)GB/* 6665-1986 电子元器件详细规范MF11型直热式负温度系数热敏电阻器 评定水平EGB/* 6666-1986 电子元器件详细规范MF53-1型直热式负温度系数热敏电阻器评定水平EGB/T 7153-1987 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)GB/T 7154-1987 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器空白
29、详细规范 评定水平E (可供认证用)GB/T 10193-1988 电子设备用压敏电阻器 第一部分: 总规范(可供认证用)GB/T 10194-1988 电子设备用压敏电阻器 第二部分: 分规范 浪涌抑制型压敏电阻器(可供认证用)GB/T 10195-1988电子设备用压敏电阻器 第二部分: 空白详细规范 浪涌抑制型压敏电阻器 评定水平E (可供认证用)GB/* 10196-1988电子元器件详细规范 浪涌抑制用压敏电阻器MYG1型过压保护压敏电阻器 评定水平E (可供认证用)GB/T 13189-1991 旁热式负温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)GB/T 4596-1984 电子设备用
30、三相变压器E型铁心GB/T 8554-1987 电子与通信设备用变压器与电感器测试方法与试验程序GB/T 9632-1988 通信用电感器与变压器磁芯测量方法GB/T 11441-1989 通信与电子设备用变压器与电感器铁心片GB/T 14006-1992 通信与电子设备用变压器与电感器外形尺寸 第一部分: 采用YEI-1铁心片的变压器与电感器GB/T 2414-1980 压电陶瓷材料性能测试方法 圆片的径向伸缩振动长条的横向长度伸缩振动GB/T 3351-1982 人造石英晶体的型号命名GB/T 3388-1982 压电陶瓷材料型号命名方法GB/T 3389、1-1982 压电陶瓷材料性能测
31、试方法常用名词术语GB/T 3389、2-1982 压电陶瓷材料性能测试方法 纵向压电应变常数d33的静态测试GB/T 3389、3-1982 压电陶瓷材料性能测试方法 居里温度Tc的测试GB/T 3389、4-1982 压电陶瓷材料性能测试方法 柱体纵向长度伸缩振动模式GB/T 3389、6-1982 压电陶瓷材料性能测试方法 长方片厚度切变振动模式GB/T 3389、7-1986 压电陶瓷材料性能测试方法 强场介电性能的测试GB/T 3389、8-1986 压电陶瓷材料性能测试方法 热释电系数的测试GB/T 6426-1986 铁电陶瓷材料电滞回线的准静态测试方法GB/T 6427-1986 压电陶瓷振子频率温度稳定性的测试方法GB/T 6627-1986 人造石英晶体棒材型号命名方法GB/T 6628-1986 人造石英晶体棒材GB/T 9532-1988 铌酸锂钽酸锂锗酸铋硅酸铋压电单晶材料型号命名方法GB/T 11113-1989 人造石英晶体中杂质的分析方法GB/T 11114-1989 人造石英晶*错的X 射线形貌检测方法GB/T 11309-1989 压电陶瓷材料性能测试方法 纵向压电应变常数d33的准静态测试GB/T 11310-1989 压电陶瓷材料性能测试方法 相对自由介
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