防灾科技学院 晶体光学 期末复习Word格式文档下载.docx

1、表示光波在晶体中传播时，光波振动方向与相应折射率之间关系的一种立体图形。光轴角：两个光轴之间所夹的锐角，以“2V表示”。光学法线：通过光率体中心而垂直光轴面方向为主轴Nm，光学法线与主轴Nm一致。二轴晶光率体光性正负的划分原则： （1）显微镜下，Bxa=Ng（+） Bxa=NP（-） （2）作差相比。光性方位：光率体主轴与结晶轴之间的关系。第四章 单偏光镜下的晶体光学性质（单偏光镜装置：下偏光镜）解理：矿物晶体在外力作用下，沿一定方向裂成光滑平面的性质。解理缝：解理在岩石薄片中表现为一些相互平行的细缝。裂纹：如果缝是弯曲的，而不是直线，彼此常不平行，则称为裂纹。解理角的测定：（1）选择两组解理

2、缝最细最清晰、升降镜筒解理缝不左右移动的切面； （2）旋转载物台使一组解理缝平行于目镜的十字丝纵丝，并记下载物台读书a； （3）旋转载物台使另外一组解理缝平行于目镜纵丝，记下物台读数b，a-b即为解理角。（非均质体）多色性：在单偏光镜下旋转载物台时，矿物颜色发生变化的现象。 （不同方向对不同波长光的选择性吸收所决定）Ng浅绿色（非均质体）吸收性：在单偏光镜下旋转载物台时，矿物颜色深浅发生变化的现象。 （不同方向对光的吸收强度上的差异）如：NeNo *折射率较大的振动方向表现的多色性和吸收性较明显。边缘：岩石薄片中，在两个折射率不同的物质接触处，可以看到一条比较黑暗的界线，称为边缘。贝克线：在边

3、缘的临近处可以看到一条比较明亮的细线，称为贝克线。 边缘和贝克线原因：相邻两介质折射率不同；双折射率越大，越黑，贝克线越亮。贝克线移动规律：（1）提升镜筒（下降物台），贝克线总是向折射率大的方向移动。 （2）下降镜筒（提升镜筒），贝克线总是向折射率小的方向移动。贝克线用途：通过矿物与矿物或矿物与树胶之间的贝克线移动规律，可以比较他们之间的折射率相对大小，并确定突起的政府。糙面：单偏光镜下观察薄片中矿物表面的光滑程度，某些矿物表面像粗糙皮革一样呈像点状，这种矿物表面粗糙不平的现象称为糙面。（原因：树胶与矿物折射率不等） *矿物与树胶折射率差越大，糙面越显著。突起：在单偏光镜下观察矿物薄片中矿物时

4、，不同矿物好像高低不同，这种现象称为突起。矿物折射率和树胶折射率不同）闪突起：单偏光镜下，当旋转载物台时，非均质体矿物边缘、糙面及突起高低随方向而发生明显变化，这种现象称为闪突起。（双折射率最大具明显闪突起，即平行光轴面）旋转载物台时突起等级突然由高突起变为低突起，突起等级发生闪动变化）第五章 正交偏光镜下的晶体光学性质（正交偏光装置：下偏光镜、上偏光镜）消光：透明矿物薄片，在正交偏光镜下呈现黑暗的现象。消光位：矿片在消光位时所处的位置。（光率体长短半径/十字丝）全消光：均质体和非均质体垂直光轴的切片，在正交偏光镜下，旋转物台360。,视域始终保持黑暗。这两种矿片光率体切面均为圆切面没有双折射

5、）四次消光：非均质体不垂直于光轴的切片，在正交偏光下，旋转物台360。，有四明四暗的现象。消光类型：对称消光（解理缝、双晶缝或晶体延长方向/十字丝纵丝或横丝）、斜消光（解理缝、双晶缝或晶体延长方向与十字丝斜交）、平行消光（矿片在消光位时，目镜十字丝平分两组解理夹角）角闪石不同切面消光类型不同： /（001）对称消光（001面两组解理）、/（010）斜消光（Ngc, Np=b）、/（100）平行消光（Ng和c轴投影一致）消光角：指矿物消光时，其光率体椭圆半径与解理缝、双晶缝、晶体延长方向之间的夹角。（实质：解理缝与应变椭球体Ng之间的夹角）如Ngc=25消光角的测定：（1）选择定向切片。选只有一

6、个轴，最大，干涉色级别最高的切面（平行于光轴的切面）;（2）将矿片至于视阈中心，旋转物台使解理缝或双晶缝平行十字丝纵丝，记下载物台读书a;（抬升镜筒，解理缝不左右移动）（3）旋转载物台使矿片达到消光位（/AA），此时光率体椭圆半径与十字丝平行，记下读数b;（4）b-a即为消光角读数。光程差：两束光通过介质后传播距离的差值。R=d当光程差=k 干涉结果相抵消而变黑暗；光程差=（2k+1）/2 干涉结果相互叠加亮度增强。干涉色色序及特征： I级（0-550nm）：暗灰-灰白-浅黄-橙-暗红,特点：明显的灰色、灰白色； II级（550-1100nm）：蓝蓝绿绿黄橙紫红，特点：蓝最清晰； III级（1

7、100-1650nm）:蓝绿黄橙红，特点：绿最清晰； IV级（1650-2200nm）：浅蓝浅绿浅橙浅红,特点：干涉色条带间的界线更模糊。 V级以上：高级白补色法则：在正交偏光的45位置（光波振幅最大）放置两个互相垂直的非均质体矿片（垂直光轴切片除外），在光波通过此两个矿片后，其总的光程差发生增减的法则同名半径平行，干涉色升高，异名半径平行，干涉色降低。补色器：已知椭圆半径和光程差的矿片。 （作用：确定晶体内部长短半径的工具）在物台上放一个石膏试板，在试板孔中插入云母试板，转动物台一周的过程中，可观测到：二次黄、二次蓝、四次灰白 石膏（R=550nm）试板适用于干涉色较低的矿片，云母试板（R=

8、137nm,147nm）适用于干涉级别低的矿片。石英楔推至最里边会变黑，因为石英楔与矿片光程差相等且异名轴平行。非均质体矿片上光率体椭圆半径及名称的测定：（1）将矿片置于视域中心，转动载物台使矿片处于消光位，此时长短半径与目镜十字丝平行。（2）在转动载物台45，矿片干涉色最亮，此时光率体椭圆半径与十字丝夹角45。（3）从试板空插入试板，观察干涉死继续升降变化，利用补色法则即可判断长短半径名称。干涉色级序的观察与测定：法一、目估法：根据干涉色色序特点判断。法二、楔形变法：矿片干涉色级序边缘低、中部高，若经过n条红带，则干涉色为（n+1）。级。法三、利用石英楔。延性：一向延伸矿物，其延长方向与光率

9、体椭圆半径之间的关系。 正延性：晶体切面延长方向与光率体椭圆长半径（Ng或NgNp）夹角45； 负延性：晶体切面延长方向与光率体椭圆短半径（Np或NpNm）夹角延性符号的测定方法：（1）将待测的矿物切面置于视域中心，使晶体延长方向平行于目镜十字丝的纵丝，此时矿物消光；（2）旋转物台45，使晶体延长方向与目镜十字丝纵丝成45夹角，此时矿片干涉色最亮该方向与试板方向垂直或一致，可应用补色法则；（3）加入试板，观察干涉色的升降变化，判断椭圆半径名称，即可确定延性符号。干涉色升高即为正延性，干涉色降低即为负延性。双晶：正交偏光镜下，表现为相邻两个单体消光位不同，呈一明一暗的现象。 （实质：两个单体的光

10、率体椭圆半径方位不同）卡氏双晶：钾长石类 格子双晶：微斜长石 聚片双晶：斜长石 环带构造：中长石第六章 锥光镜下的晶体光学性质（锥光镜装置：下偏光镜、上偏光镜、锥光镜、高倍镜、勃视镜）一轴晶光轴（OA）切面的干涉图 图像特点：一个黑十字和同心圆干涉色色圈。（色圈的有无取决于矿物的双折射率和矿片厚度）射线：Ne 切线：黑十字成因：东西、南北方向光率体半径与上、下偏光振动方向（AA、PP）平行或近平行。黑十字越向外宽度越大：越向外越斜交于光轴，切出的长短半径越大。应用：（1）确定轴性和切片方向；（2）测定光性A（+）B（）一轴晶斜交光轴切面的干涉图（光轴与显微镜轴不平行）图像特点：光轴出露点不再视

11、域中心，出现的黑十字的一部分与不完整的干涉色色圈。 （光轴倾角较小） （光轴倾角较大）一二三四象限-左下右上（1）光轴倾角不大时，可以确定轴性和切片方向；确定光性：（1）确定象限；（2）插入试板，观察干涉色变化现象。一轴晶平行光轴切面的干涉图（最大） 该切片在正交偏光下干涉色级别最高（一般不用此图来判断光性，易与二轴晶混淆）闪图。二轴晶Bxa切面的干涉图0位：黑十字及形干涉色圈 黑十字交点：Bxa出露点；黑十字从中心分裂成两个弯曲的黑带。光轴角（2V）大小取决于黑带顶点间的距离；距离d越大光轴角2V越大.90位转动90的效果。（1）确定轴性及切面方向；（2）确定光性符号；（3）估算光轴角的大小

12、二轴晶一个光轴（OA）切面的干涉图（相当于Bxa干涉图的一半）一个直的黑带及卵形干涉色圈；黑带弯曲度最大，凸向Bxa出露点，顶点为光轴出露点并位于视域中心；：效果；135效果。（1）确定轴性及切面方向：根据一条黑臂转动时不是上下左右的平行移动黑臂弯曲顶点在视域中心-证明是二轴晶OA切面； （2）估计光轴角大小：当2V=90，黑带为一直带；当2V=0，黑带弯曲成902V在090之间时，黑带弯曲程度介于直带和90之间。 （3）测定光性符号：二轴晶斜交切面的干涉图（相当于Bxa切面干涉图的一部分）带与干涉色色圈均不完整，转动载物台，黑带弯曲移动，在45 位置时，弯曲黑带顶点（光轴出露点）不在视域中心

13、。相当于Bxa切面干涉图的一部分（1）斜交Bxa切面（不AP，斜交OA，斜交Bxa ）A.黑带与干涉色色圈均不完整，转动载物台，黑带弯曲移过视域B.45 位置时，弯曲黑带顶点（光轴出露点）连线不过视域中心。（2）斜交光轴切面A.0 位置时，黑带不过视域中心,且仅有一个，偏在视域的一侧B. 45 位置时，弯曲黑带顶点不在视域中心.（如果切面与光轴斜交角度不大，弯曲黑带顶点在视域内）二轴晶斜交切面干涉图应用：（2）测定光性：Bxa=Ng？或Np？二轴晶垂直于Bxo切面干涉图特点：中心为Bxo出露点；2个OA相距很远；AP面为Nm。AP=0或AP/AA、PP：粗大黑十字，交点位Bxo出露点，光轴出露点在视域外，周边一级灰白；转动载物台黑十字分裂沿光轴面（AP）退出视域；AP=45弯曲黑带顶点相距最远，其顶点（OA出露点）不在视域内，有色带；AP=90【AP=0或AP/AA、PP】 转动90多用于确定切片方向；少用于测定光性（易与平行光轴混淆）二轴晶平行光轴（/AP）切面干涉图（1）当轴性已知，确定切片方向。