集成电路封装与系统测试Word格式文档下载.docx

1、工机 A VeritestATE为BC3199集成电路测试机的配套控制软件，可以对被测器件进行测试序列生成、测试参数生成以及自动测试，同时具有设备校准与自检， 测试结果保存和分析，以及 HANDLER连接等功能。该软件可以在 Windows XP系 统上运行。系统软件采用与测试程序分离的编程方法，用户可以建立单独的工程 编写测试方案的代码，所生成的动态连接库可以被系统软件识别和运行，用户可 以在所生成的工程中调试这些代码。2.2测试电路原理图通过查找资料分析综合后采用如下电路原理图rh图2测试原理图其中 C1=1.03uF, C0=0.1uF2.3测试参数分析根据LM7805的器件参数文档，需

2、要器件的测试参数如下图 3所示ParameterSymbolConditionsMC7805/LM7805Mtn.Typ.Max.Tj =+25C4.B5.05.2Output VoltageVO5.0mA 三 Io V| = 7V to 20V1 0Ar Pq M 15W4 7550S 25VLine Reguhtion （Notel）ReglineTj=+25flCVO = 7Vlo25V4.01WmVV|=0Vfo 12V-16Io = 5.0mA toi .5A9100Load Regulation （NotelRegloadTj=+25Iq -250 mA to750mA斗图1 LM

3、7805电气特性2.3.1 测量输出电压Vo输出电压即为在一定条件下，LM7805输出端口的电压值。在代码中，利用 GetVo函数即可得到不同条件下的Vo值。2.3.2测量电源电压调整率电源电压调整率即为当输入侧电压从允许输入的最低值变化到规定的最大值时，输出电压的相对变化值占额定输出电压的百分比，一般不超过 0.1%。在图2中，通过测出的输出电压 Vo值，利用公式：res1 = fabs（Vo2-Vo1）;regline = （res1 / 1.25 ）/ （fabs（Vi2）-fabs（Vi1） ）*100;2.3.3测量负载电压调整率负载调整率来源于电源的输出电压因负载大小的变化 （空载

4、到满载），而电压调整率来源于电源在满载时，其输出电压因该电源的供电电压波动引起的变化。三、 实验设备BC3199 VC2005四、 实验步骤4.1焊制电路板焊制后的电路板如下图:疗 Q J J .* 1 - J * J I- 00務*CQ勢 x 昭鲁-常* 年4鼻 r .督1/1 B 尸、t * 鼻 QIGQioIG门厂G3&ceIQcloloIHGG朽 d 亠 - 9 匕J JT图4实际电路4.2建立LM7805测试程序BC3199测试程序编写采用C+语言对系统硬件行为进行描述。它采用了测 试策略与数据分离的设计。用户可以通过测试程序编写出所需要的全部或者基本 测试参数，通过系统软件界面修改

5、或者输入数据。 用户编写的测试程序最终将生成DLL动态链接库，可以使用系统软件调用这些测试程序。测试代码见附录4.3测试数据及结果加载以上测试程序，进入以下测试界面。在连测状态下， BC3199测试系统可对测试结果进行数据统计并生成报表。经测试，得到某批次 LM7805测试数据 结果报表见表1。序号Vo （V ）Vo 7V（V ）Vo 20VVo 5mAVo 1ARegli ne1（mV ）Regli ne2Regload1 （mV ）Regload2 （mV ）15.01225.01345.00895.01375.01166.951.524.881.8325.01245.01355.0139

6、5.01187.061.505.021.8035.01235.00875.01177.331.415.201.8745.01205.01315.00815.01367.501.375.861.7355.01195.01305.00785.01157.491.235.991.6865.01255.00745.01335.01137.471.296.331.6675.01145.00705.01107.361.276.321.6585.01125.00685.01265.01087.401.396.235.00665.01067.451.386.301.72107.351.36表1 实验测试数据E

7、lectrical Characteristics （MC7805/LM7805）（Rpfer to tmi f ircurt ,D c tj c- i?5 c hq = 5OQmA V| - lev, C|- c 33pF. CQ= 0 ipF uriieKE nttiherwiEF Kpecrrted）FaraimentrSymibcic on d mon eMG7SD5JLM7BQ5unit的北，Output VcrfljgeVoTj =*25 4.8S.05 0mA io 1 OiA, Pq i I5w vi Tv go 20vd 76so5 25Line Regulation （No

8、te 1 ReghreTjr=+M 叱VO - 7V 25V4 01Mvi = av to iav*1 6LMd RfrgULffitlOinIO = 3 0H1A IDl SAIW10 ID7&0mAQui-escent cu rre mIQTJ-t25 0卑0mAQliI-escent Cu rre rit cnangeIQ s 5mA tQ 1 OA0 03 ：05V|s TV I0i 25V-031 3output voyage Dm.WOATIO* 5mA电8mw叱Outpul vMgrVNr iQHf ia looKHz, “y 弓七佗|V/WRippie RejecliDRRRr

9、=vo= bv to iav73阳DropCHUt voitaqeVlDrap!= 1A.TJ =+25 叱Outpu? ResistanceT- 1KHZ15m|Short ckcur currentV| = 35V. TA =+2523QPeak CurrentIPKTj =+25 2 2A图5芯片手册数据由实验数据可知，当输入条件为 5.0mAlo1.0A, 7VViOpenAllCBits（）;pDrv-Delay（5）;/ 根据判据判断量程 if（VoutMax SetMeasureChannel（BMV0, VM_2V）; else if（VoutMax SetMeasureChannel（BMV0, VM_5V）; 10.00） pDrv-SetMeasureChannel（BMV0, VM_10V）;