光电传感器实验指导书文档格式.docx

1、示浪器实验装S实验过程可以采用如下步骤：下面利用光电综合实验平台提供的硬件资源，模拟示波、模拟伏安 特性以及其功能软件， 直接对光敏电阻进行伏安特性的测量实验， 在计算机界面上直接得到光敏电阻 的伏安特性曲线。具体实验步骤如下：a.电路接通无误后将LED与光敏电阻闭合、固定，接通平台电源，进入如平台软件的主界面，在主界面中点击“伏安特性实验”选项。在参数设置框中对伏安特性实验的参数进行设置， 主要有两项，分别是采样频率（250Hz）阶梯波与扫描锯齿波的工作频率，和发出锯齿波的级数选择 （4级）。点击示波器进行观测。b. 执行“返回”，更换采集方式。返回到主界面后，单击“数据采集”菜单，显示屏将

2、显示出 光敏电阻的伏安特性曲线，保存数据。1.5、实验结果及分析测量光敏电阻伏安特性。思考：图1中R2、R3的作用。2、光敏电阻时间响应特性实验2.1、实验目的2.2、实验仪器1GDS-叽或W）型光电综合实验平台1台;LED光源1个；2.3、实验原理光敏电阻的光电导率 C和光电流le随时间变化的规律为如上图下方所示的输出波形， 其变化规 律为:式中c 0与I e0分别为弱辐射作用下的光电导率和光电流的稳态值。显然，当 t r 时，Ac = c 0， le =I e0 ；当 t = T r 时，Ac =0.63 c 0， I =0.63I e0； te0r定义为光敏电阻的上升时间常数，即光敏电阻

3、的光电流上升到稳态值 Ie0的63渐需要的时间。停止辐射时，入射辐射通量 e与时间的关系为:同样，可以推导出停止辐射情况下的光电导率和光电流随时间的变化规律当 t =T f 时，A c 0 下降到 A c =0.37 A c 0，I e0 下降到 I =0.371 e0;当 t t f 时，Ac 0 与I eO均下降到0;可见，在辐射停止后，光敏电阻的光电流下降到稳态值的 37%所需要的时间称为光敏电阻的下降时间常数，记为（2）强辐射条件下的时间响应脉冲当r-O 削光敏电阻电导率c的变化规律为:Act = Act tmh7其光电流的变化规律为:当停止辐射时，由于光敏电阻体内的光生电子和光生电荷

4、需要通过复合才能恢复到辐射作用前的稳定状态，而且随着复合的进行，光生载流子数密度在减小，复合几率在下降，所以，停止辐射的过渡过程要远远大于入射辐射的过程。停止辐射时光电导率和光电流的变化规律可表示为:平台电源，进入如平台软件的主界面，在主界面中点击“时间响应实验”选项。然后，再从时间响应端测量方波输入脉冲和光敏电阻变换电路的输出上，然后点击“采集数据”菜单。结果的界面”，界面分为两部分，上部显示加在光敏电阻上的输入方波脉冲的波形，其横轴为时间坐 标，显示以方波脉冲光作用到光敏电阻上， 下部分为光敏电阻变化电路的输出信号， 对比上下两部分 波形，观测光敏电阻的时间响应特性。b.调节R2,使得方波

5、信号工作在非饱和状态。测量光敏电阻在强（ R1=510Q）、弱（R1=1血）两种辐射作用下时间响应特性。 例如，弱辐射的上升时间测量方法为： 上升曲线边缘处点击鼠标右键， 在上升到稳态 50%点击鼠标右键，弱辐射条件下光敏的上升时间为两者差，可从界面右下角处直接读出。2.5、实验结果及分析测量光敏电阻在强、 弱两种辐射作用下时间响应特性， 并分别计算出对应的上升、 下降时间， 将结果进行比较。 关机与结束1所测的数据及实验结果（包括实验曲线）保存好，分析实验结果的合理性，如不合理，则要重新补作上述 实验;若合理，可以进行关机;2先将实验平台的电源关掉，再将所用的配件放回配件箱;3将实验所用仪器

6、收拾好后，请指导教师检查，批准后离开实验室。实验二 光电二极管的特性参数及其测量1、实验目的硅光电二极管是最基本的光生伏特器件，掌握了光电二极管的基本特性参数及其测量方 法对学习其他光伏器件十分有利。通过该实验，要熟悉光电二极管的光电灵敏度、时间响应、 光谱响应等特性。2、实验仪器GDS-m （或W）型光电综合实验平台1台;LED 光源 1 个； 光电二极管 1 只;通用光电器件实验装置 3 只;光电器件支杆 2 只;连接线 20 条;示波器探头 2 条;LEDf光电二极管的区别以及正负极性问题（从顶端看去，能够看出它们的差异，光电 二极管的光敏面积，即显深颜色部分，较大;发光二极管没有）。光

7、电二极管的长引脚为正、短引脚 为负。通用光电器件引线红色为正，黑色为负。3、实验原理光电二极管是典型的光生伏特器件，它只有一个 PN结。光电二极管的全电流方程为：1%一1）一警（1一厂）和式中前一项称为扩散电流，也称为暗电流，用Id表示；后一项为光生电流，常用IP表示。显然, 扩散电流Id与加在光电二极管上的偏置电压U有关，当U=0时，扩散电流为0。扩散电流Id与偏置电 压U的关系为:式中，ID为PN结的反向漏电流，与材料中的杂质浓度有关；q为电子电荷量，k为波尔曼常数,T为环境的绝对温度。显然，上式描述了光电二极管的扩散电流与普通二管没有什么区别。 而与入射辐射有关的电流Ip为：式中，h为普

8、朗克常数，a为硅材料的吸收系数，d为光电二极管在光行进方向上的厚度， 初入射光的波长。显然，对单色辐射来讲，当光电二极管确定后，上述参数均为常数。的方向与扩散电流的方向相反。4、实验内容作）b.调出光电综合实验平台的执行软件界面，在界面上先选中“伏安特性实验”。点击界面上的“示波器”，所示的示波器显示界面，选择通道 1为红色，通道2为蓝色，再点击“开始”菜单，屏幕上将显示出各通道输入信号的波形。C.调节电路参数，使输出信号波形的每个台阶的高度均有一定的差异， 高度尺寸不太小或太大,此时光电二极管的变换电路调得比较合适。点击停止按键，然后在主界面上再点击“数据采集”，保存光电二极管器件的伏安特性

9、曲线图。 光电二极管时间响应特性的测量a.按图2搭建电路，电路检查无误后，进行“时间响应实验”b.调节电路参数，观测时间响应特性，并保存。6实验结果及分析1测量光电二极管的伏安特性曲线。2测量光电二极管的时间响应特性曲线。关机与结束1所测的数据及实验结果（包括实验曲线）保存好，分析实验结果的合理性，如不合理，则要 重新补作上述实验；实验三PSD位置传感器实验1.实验目的通过PSD光电位置传感器的原理实验，掌握光伏器件的横向效应和利用横向效应制造出的光点 位置传感器（PSD），并了解有关PSD的应用技术。2.实验仪器GDS-m（或W）型光电综合实验平台主机1台;一维PSD光电位置传感器及其夹持器

10、1件;点状半导体激光器1只;二维调整架1只;3.实验内容将装载有点光源的被测物体所发出的圆形光点落入到一维 PSD器件上，其两个电极分别输出两路电流，电流强度的和与差值与光点距器件中心位置的距离有关， 因此，可用电流强度来度量光点在PSD上的位置，既用电流测出被测物体的位置。4.实验原理5.若以PSDS件的几何中心点O为原点，光斑中心距原点 O勺距离为XA,则:利用上式即可测出光斑能量中心对于器件中心的位置 XA,它只与电流11和I2的和、差及其比值有关，而与总电流无关。5.实验步骤将点状半导体激光器（LD光源）装置安装到下面装有二维调整架上，使二维调整架能够沿 PSD长度方向微调，构成右图所

11、示的结构。b.将激光器LD电源正极与Vcc连接，负极与50Q电阻串联后接地。串联电阻的作用为防止电路电流过大烧坏激光器。c.PSD器件搭设。PSD有三个引脚：红、黄、黑，红色引脚接电流表正极，黄色引脚接另一电流 表正极，黑色引脚分别接入电流表负极。d.打开试验台开关，调节调整架位置，使激光器的光斑落在 PSD的中间位置，分别读出11与12的值。然后调节微调器，使光斑沿 PSD敏感面移动，边移动边记录电流11与12的值，从调整架或微调器上测出位移量 X,观测并记录位移量与电流变化量的关系。6. 实验结果及分析画出 X与 I 1-12的关系曲线。思考入射光电大小对测量结果的影响。1将所测的数据及实

12、验结果（包括实验曲线）保存好，分析实验结果的合理性，如不合理，则 要重新作上述实验;若合理，可以关机;2先退出计算机软件，关掉计算机电源，再将实验平台的电源关掉；3最后，将所用的配件放回配件箱；将实验所用仪器收拾好后，请指导教师检查，批准后离开 实验室。实验四 非接触物体外形尺寸的测量实验本实验是在光电综合实验平台上利用线阵 CCD 相机、非接触测量物体尺寸的基本部件和成像物 镜等自行搭建的方法来完成， 通过实际搭建的测量系统使学生的动脑分析、 动手操作的能力大幅度提升，对系统的认识程度也会得到提升与锻炼。GDS-m （或GDS-W）型光电综合实验平台1台;线阵CCD相机1台；50mm 焦距的

13、成像物镜 1 只;被测物夹持器 1 只;模拟被测杆件 3mm、5mm、8mm 各 1 只；远心照明光源 1 只; 磁性表座 3 只;若用GDS-W型光电综合实验平台时，必须配置 PC计算机1台;线阵CCD的输出信号包含了 CCD各个像元所接收光强度的分布和像元位置的信息， 使它在物体尺寸和位置检测中显示出十分重要的应用价值。CCD输出信号的二值化处理常用于物体外形尺寸、物体位置、物体震动（振动）等的测量。将被 测物体A置于成像物镜的物方视场中，将线阵 CCD像敏面恰好安装在成像物镜的最佳像面位置上。图4-1线阵CCD测量尺寸物体外径原理图当被均匀照明的被测物体A通过成像物镜成像到CCD的像敏面

14、上时，被测物体像黑白分明的光强分布使得相应像敏单元上存储载荷了被测物尺寸信息的电荷包， 通过CCD及其驱动器将载有尺寸信息找出光学成像系统的放大倍率P,便可以用下面公式的电荷包转换为如图4-1右侧所示的时序电压信号（输出波形）。根据输出波形，可以测得物体 A在像方的尺寸D ，再根据成像物镜的物像关系， 计算出物体A的实际尺寸DD = D线阵CCD的输出信号UO随光强的变化关系为线形的，因此，可用 UO模拟光强分布。采用二值化处理方法将物体边界信息（图 4-1中的N1与N2）检测出来是简单快捷的方法。有了物体边界信息便可以进行上述测量工作。建立非接触测量物体外形尺寸的基本结构;观测二值化处理过程

15、中CCD的输出信号;在进行二值化阈值电平调整的过程中，观察阈值电平的调整对测量值的影响; 进行光学系统放大倍率的标定；先从配件箱中找出所需仪器设备（配件），在光学平台上用磁性表座将远心照明光源安装与固定 在平台的一侧，可以参考然如图4-2所示的结构图。2再用磁性表座将被测物固定装置安放到远心照明光源前 （距光源20mm为最佳），模拟被测物杆件的顶端应高出光源出光的上端（远心照明光源正极接 +5V,负极接1K电位器，然后接地）；3再用一个磁性表座将平台提供的TCD1252线阵CCD相机安装固定到平台的另一侧（如图4-2所示）， 安装时要注意相机的中心高度与远心照明光源光轴中心尽量等高；4将50m

16、m成像物镜连同接圈一起安装到线阵CCD相机上;5用平台提供的电源将远心照明光源点亮，用白纸观察被测物在远心光源下所成的像，调整被测物 的位置，使被测物的像位于视场中间部位，然后将屏向相机镜头方向移动，直到镜头，并使器像恰好 在镜头的中部。到此，图4-2平台上尺寸测量实验装置系统图6LCCD（线阵CCD的7针插座，将相机的电缆线上的7孔插座插到其上;在光学平台上找到7启动光电综合实验平台的计算机电源，进入“带实验装置”文件夹，点击之，弹出如图各种实验 软件选项，找到尺寸测量软件；在被测夹持器中夹入5m被测杆件，计算放大倍率并进行标定；6、实验结果及分析建立非接触测量物体外形尺寸的基本结构；对二值

17、化处理过程中CCD的输出信号进行观测；在进行二值化阈值电平调整的过程中，观察阈值电平的调整对测量值的影响；写出实验总结报告，解释为何不同阈值下测量结果有差异，造成这种差异的原因有几点。若合理，可以进行关机；2先将实验平台的电源关掉，再将所用的配件放回配件箱；实验五 利用线阵CCI测量物体的倾斜角度应用彩色线阵CCD可以测量物体的倾斜角度，学习利用线阵 CCD测量被测物体倾斜角度的方法能够帮助学生进一步掌握线阵CCD的基本应用问题，培养学生充分发挥想象力，增强创新设计能力。2、实验所需仪器设备GDS-m（或W）型光电综合实验平台1台;TCD1251D相机1台;3模拟物体倾斜角度实验装置1台;45

18、0mm焦距成像物镜1台；远心照明光源1只;磁性表座底座3只;利用线阵CCD测量物体倾斜角度的方法有很多，其实质都属于尺寸测量和位移量测量的类型。常用的测量方法有两种。第一种方法为用单色线阵 CCD的测量方法，在如图5-1所示中的水平粗线代表线阵CCD的像敏单元阵列，假设被测物体的轴线与像元排列方向垂直， 线阵CCD将测出它的直径宽 度为D,当该物体旋转了角度a后，CCD测量出来的宽度值也发生变化，变为 DSo被测物的倾斜角度a的计算公式为1学习利用彩色线阵 CCD测量被测物体倾斜角度的基本原理。2掌握利用彩色线阵CCD测量倾角的方法。5、实验步骤1从平台备件箱中取出3只磁性表座、支杆、模拟物体

19、倾斜角度实验装置、远心照明光源和TCD1251D 相机；4在GDS-W型平台上搭建时，应该参考如图5-2所示的结构进行搭建，同样，倾斜实验装置应该靠 近远心照明光源；5将远心照明光源用平台上的电源将其点亮（可以利用平台上的所有资源），使模拟倾斜的被测物 图像能够被线阵CCD相机所接收;6将50mm成像物镜安装到相机上;7将相机的电缆线与平台的“ LCCD”接口接好;8将GDS-m型光电综合实验平台的计算机启动，并调出事先装好的角度测量实验软件，弹出如图5-3所示的软件界面;图5-3平台上搭建倾斜角度测量实验软件界面9先将被测量的杆件至于垂直放置，在软件界面“尺寸测量”框中点击“宽度 D”，测量

20、出杆件的直径D，然后，再将杆件调到倾斜一定的角度，再点击“宽度 DS”，测量出倾斜放置时的DS值，此时，在角度测量窗内就可以读到倾角角度值。6、实验结果及分析1根据彩色线阵CCD测量被测物体倾斜角度的基本原理，对被测杆件进行角度测量;2写出实验总结报告，思考光源与被测物间的距离变化会有什么样的影响?所测的数据及实验结果（包括实验曲线）保存好，分析实验结果的合理性，如不合理，则要重新补作上述实验；实验六用线阵CCI测量物体的振动通过搭建物体振动的实验系统掌握系统的结构与构成；通过实验掌握系统结构参数对测量结果的影响。学习用线阵 CCD 测量物体振动参数的方法。GDS-m（或W）型光电综合实验平台

21、1台;TCD1251D 相机1 台；YHZD- I型振动实验装置1台;磁性表座 2 只;支杆 2 只;PC计算机（在只有GDS-W型平台情况）1台;物体振动的测量常需要测量的振动参数为振幅、 频率和相位。 用线阵 CCD 测量这些参数的测量原理结构如图6-1所示。利用安装在光学成像物镜像面上的线阵 CCD对振动过程中的物进行成像并其边界信息连续地采样输出，测量电路不断地找出被测物体像的中心在线阵 CCD向面上的位置，显然，它是时间的函数，设其为 W（t）。如果物体做周期运动，则函数 W（t）为周期函数，周期T的倒数为物体振动的频率f; W（t）最大值与最小值之差的一半应该为物体的振动幅度。如何

22、采集物体像在线阵CCD像面上位置的函数W（t）是测量物体振动的关键。线阵CCD在驱动脉冲的作用下周期性地输出每个像元所接收的光强信息， 其周期为行同步脉冲Fc的周期，也为线阵CCD的积分时间ting。在同步脉冲Fc的周期内利用二值化数据采集方法或 A/D数据采集方法总能够测出被测物体像中心在 CCD像敏面上的位置，它便是时间的函数W（t）。而Fc的周期或ting为采样的间隔时间，它相当于显示曲线坐标架的横轴刻度， 其纵轴坐标应为物体中心的位置值。因此，连续不断地采集物体图像的中心位置便可以获得函数 W（t），测出物体的振动状况。测量被测杆件做正弦运动时的振动状态，画出振动波形图;根据振动波形图

23、计算出它的振动周期、振幅与初相位。搭建完成后就可以进行测量物体振动的实验，具体步骤为: 先在光电综合实验平台上将远心照明光源点亮; 将TCD1251D相机的电缆线连接到平台的“ LCCD ”插座上，并接通电源，执行振动实验程序, 弹出振动实验主界面，观测被测杆件的像（输出波形），调整被测杆件与相机间的距离，直到能够观 测到较为清晰的图像（波形的前后沿陡直）后，再用镜头上的调焦环仔细调整好焦距，然后将系统锁 定；3再将振动实验装置的电源接入平台提供的 +12V和地（GND ）上，振动实验装置将驱动振动杆件 做往复正弦振动，其振动速度可由调节旋钮调节;4图6-2 GDS- W平台上搭建振动实验5杆

24、件振动后，界面上部将实时显示被测杆像每个瞬间在线阵 CCD像面上的位置（如图6-3所示），而下部则显示出它位置的时间变化量，既运动波形;M Xi t* HiCAii图6-3振动测量实验软件界面6点击界面下方的“计算”菜单，界面上将出现系列操作步骤的提升，按着提示内容进行操作便能并显够完成放大倍率的计算工作。完成放大倍率的计算后，程序将自动计算出振动幅度等各种参数,jpg）保存,示在界面上。7将实验数据存储到自己指定的文件夹内，如果有条件，可以将实验结果以图形格式（以便后用。调整拖动振动实验装置的电机转速，观察振动曲线的变化情况。4在振动测量实验中采用“固定阈值”与“浮动阈值”对振动测量的结果有无影响？用不同的“固定 阈值”进行实验，观察测量结果是否发生变化? 所测的数据及实验结果（包括实验曲线）保存好，分析实验结果的合理性，如不合理，则要 重新补作上述实验；