机电控制工程基础实验报告4实验参考模板Word下载.docx

1、2、通过模拟实验，定性和定量地分析系统开环增益K对系统稳定性的影响。二、实验原理1典型的二阶系统稳定性分析 结构框图如下图所示。图1-1系统开环传递函数为：先算出临界阻尼、欠阻尼、过阻尼时电阻R的理论值，再将理论值应用于模拟电路中，观察二阶系统的动态性能及稳定性，应与理论分析基本吻合。在此实验中（图1-2）， 系统闭环传递函数为：其中自然振荡角频率：阻尼比：对应的模拟电路图：如图1-2所示。（其中R取10 K，50 K，160 K，200 K） 图1-2 三、实验设备、仪器及材料TDN-AC/ACS教学实验系统、导线四、实验步骤（按照实际操作过程）1. 典型二阶系统瞬态性能指标的测试 （1）

2、按模拟电路图1-2接线，将阶跃信号接至输入端，取R = 10K。（2） 用示波器观察系统响应曲线C（t），测量并记录超调MP、峰值时间tp和调节时间tS。（3） 分别按R = 50K；160K；200K；改变系统开环增益，观察响应曲线C（t），测量并记录性能指标MP、tp和tS，及系统的稳定性。并将测量值和计算值（实验前必须按公式计算出）进行比较。将实验结果填入表1-1中。五、实验过程记录（数据、图表、计算等）参数项目RKKl/snC（tp）C（）tpts阶跃响应曲线计算值测量值0过阻尼200表1-1六、实验结果分析及问题讨论第 组电气信息专业实验中心 6a-201 实验时间 ：线性系统的频率

3、响应分析掌握波特图的绘制方法及由波特图来确定系统开环传函。掌握实验方法测量系统的波特图。1频率特性 当输入正弦信号时，线性系统的稳态响应具有随频率 （ 由0变至 ） 而变化的特性。频率响应法的基本思想是：尽管控制系统的输入信号不是正弦函数，而是其它形式的周期函数或非周期函数，但是，实际上的周期信号，都能满足狄利克莱条件，可以用富氏级数展开为各种谐波分量；而非周期信号也可以使用富氏积分表示为连续的频谱函数。因此，根据控制系统对正弦输入信号的响应，可推算出系统在任意周期信号或非周期信号作用下的运动情况。2线性系统的频率特性 系统的正弦稳态响应具有和正弦输入信号的幅值比）（j和相位差）（j随角频率

4、（由0变到） 变化的特性。而幅值比）（j和相位差）（j恰好是函数）（j的模和幅角。所以只要把系统的传递函数）（s，令js=，即可得到）（j。我们把）（j称为系统的频率特性或频率传递函数。当由0到变化时， ）（j随频率的变化特性成为幅频特性，）（j随频率的变化特性称为相频特性。幅频特性和相频特性结合在一起时称为频率特性。3频率特性的表达式 （1） 对数频率特性：又称波特图，它包括对数幅频和对数相频两条曲线，是频率响应法中广泛使用的一组曲线。这两组曲线连同它们的坐标组成了对数坐标图。 （2） 极坐标图 （或称为奈奎斯特图） 本次实验中，采用对数频率特性图来进行频域响应的分析研究。实验中提供了两种实

5、验测试方法：直接测量和间接测量。直接频率特性的测量 用来直接测量对象的输出频率特性，适用于时域响应曲线收敛的对象（如：惯性环节）。该方法在时域曲线窗口将信号源和被测系统的响应曲线显示出来，直接测量对象输出与信号源的相位差及幅值衰减情况，就可得到对象的频率特性。间接频率特性的测量 用来测量闭环系统的开环特性，因为有些线性系统的开环时域响应曲线发散，幅值不易测量，可将其构成闭环负反馈稳定系统后，通过测量信号源、反馈信号、误差信号的关系，从而推导出对象的开环频率特性。PC机一台，TD-ACC+系列教学实验系统一套四、实验步骤（按照实际操作过程）实验内容 本次实验利用教学实验系统提供的频率特性测试虚拟

6、仪器进行测试，画出对象波特图。1 实验对象的结构框图 图2-4 2 模拟电路图 图2-5 开环传函为：， 闭环传函：得转折频率。此次实验，采用直接测量方法测量对象的闭环波特图及间接测量方法测量对象的开环波特图。将信号源单元的“ST”插针分别与“S”插针和“+5V”插针断开，运放的锁零控制端“ST”此时接至示波器单元的“SL”插针处，锁零端受“SL”来控制。实验过程中“SL”信号由虚拟仪器自动给出。1.实验接线：按模拟电路图2-5接线，检查无误后方可开启设备电源。2.直接测量方法 （测对象的闭环波特图） （1） 将示波器单元的“SIN”接至图2-5中的信号输入端，“CH1”路表笔插至图2-5中的

7、4运放的输出端。（2） 打开集成软件中的频率特性测量界面，弹出时域窗口，点击按钮，在弹出的窗口中根据需要设置好几组正弦波信号的角频率和幅值，选择测量方式为“直接”测量，每组参数应选择合适的波形比例系数，具体如下图所示: （3） 确认设置的各项参数后，点击 按钮，发送一组参数，待测试完毕，显示时域波形，此时需要用户自行移动游标，将两路游标同时放置在两路信号的相邻的波峰 （波谷） 处，或零点处，来确定两路信号的相位移。两路信号的幅值系统将自动读出。重复操作（3），直到所有参数测量完毕。（4） 待所有参数测量完毕后，点击B按钮，弹出波特图窗口，观察所测得的波特图，该图由若干点构成，幅频和相频上同一角

8、频率下两个点对应一组参数下的测量结果。点击极坐标图按钮G，可以得到对象的闭环极坐标图。3.间接测量方法：（测对象的开环波特图） 将示波器的“CH1”接至3运放的输出端，“CH2”接至1运放的输出端。按直接测量的参数将参数设置好，将测量方式改为间接测量。此时相位差是指反馈信号和误差信号的相位差，应将两根游标放在反馈和误差信号上。测得对象的开环波特图。测得对象的开环极坐标图。直接测量法的Bode图： 直接测量法的Nyquist图：间接测量法的Bode图： 间接测量法的Nyquist图： 2016年 5 月 日系统校正1、学会分析校正装置对系统稳定性和暂态指标的影响。2、学会设计串联校正装置1、原系

9、统的原理方框图：见图3-1图3-1由闭环传函见图3-2图3-22、设计串联校正装置，使系统满足性能指标：3串联校正环节的理论推导 由公式，设校正后的系统开环传函为，由期望值得：校正后系统的闭环传函为：取0.5，则T 0.05s，n20满足n10，得校正后开环传函为：因为原系统开环传函为：，且采用串联校正，所以串联校正环节的传函为：，加校正环节后的系统结构框图：见图3-3图3-3 见图3-4 图3-4 a） 测量未校正系统的性能指标。（1）按图3-2线。（2）加入阶跃电压，观察阶跃响应曲线，并测出超调量p和调节时间ts，将曲线及参数记录下来。b）测量校正系统的性能指标。（1）按图3-4接线。（2

10、）加入阶跃电压，观察阶跃响应曲线，并测出超调量p和调节时间ts，看是否达到期望值，若未达到，请仔细检查接线（包括阻容值）。c）将测出的超调量p和调节时间ts填入表3-1中，并绘制出相应的响应曲线。（）ts（s）响应曲线校正前校正后直流电机闭环调速2、实验目的3、学会综合应用机电控制工程基础和其它学科的知识分析系统。4、熟悉单片机控制的电机闭环调速的基本原理。5、掌握自动控制的PID算法。 直流电机闭环调速系统原理如图4-1所示，实验接线图如图4-2所示图4-1 图4-2上图中，控制机算机的“DOUT0”表示 386EX 的 I/O 管脚 P1.4，输出 PWM 脉冲经驱动后控制直流电机，“IR

11、Q7”表示 386EX 内部主片 8259 的 7 号中断，用作测速中断。实验中，用系统的数字量输出端口“DOUT0”来模拟产生 PMW 脉宽调制信号，构成系统的控制量，经驱动电路驱动后控制电机运转。霍尔测速元件输出的脉冲信号记录电机转速构成反馈量。在参数给定情况下，经 PID 运算，电机可在控制量作用下，按给定转速闭环运转。系统定时器定时 1ms，作为系统采样基准时钟；测速中断用于测量电机转速。直流电机闭环调速控制系统实验的参考程序流程图及参考程序见附录。1参照C盘Tangdu/example/ACC6-1-1.ASM，编写实验程序，编译、链接。2按图 4-2 接线，检查无误后开启设备电源，

12、将编译链接好的程序装载到控制机中。3打开专用图形界面，运行程序，观察电机转速，分析其响应特性。4若不满意，改变参数：积分分离值 Iband、比例系数 KPP、积分系数 KII、微分系数 KDD 的值后再观察其响应特性，选择一组较好的控制参数并记录下来。5注意：在程序调试过程中，有可能随时停止程序运行，此时 DOUT0 的状态应保持上次的状态。当 DOUT0 为 1 时，直流电机将停止转动；当 DOUT0 为 0 时，直流电机将全速转动，如果长时间让直流电机全速转动，可能会导致电机单元出现故障，所以在停止程序运行时，最好将连接 DOUT0 的排线拔掉或按系统复位键。1、观察电机转速及示波器上给定值与反馈值的波形，分析其响应特性，结果记录在表4-1中。2、记录较好的一组较好的控制参数，结果记录在表4-1中。项目 参数IBANDKPPKIIKDD例程中参数响应特性0060H1060H0010H0020H自测一组较好参数表4-1 实验结果 原始数据波形图： 自测较好波形图： 友情提示：范文可能无法思考和涵盖全面，供参考!最好找专业人士起草或审核后使用，感谢您的下载！