射线检测实验.docx

1、射线检测实验实验一 曝光曲线的制作一、实验目的与任务1掌握常用曝光曲线的制作方法；2制作某一型号X射线机的曝光曲线。二、实验设备与器材1X射线机 一台2阶梯试块 一套3密度计 一台4铅箔增感屏和胶片等 若干5普通坐标纸和对数坐标纸各 一张三、实验原理选用任意一台X射线机，采用相同的增感屏、胶片、显影液、定影液及显影、定影时间和显影温度的情况下，对同一材料的不同厚度工件的透照时，所用的曝光条件（焦距、管电压、管电流和曝光时间），是不一样的，如果我们固定其中的一些因素，使透照厚度仅随其中某一种因素的变化而改变，那么我们就可以获得一条相关曲线，这条曲线就是曝光曲线。曝光曲线是检测的工具。一台X射线机

2、在不同的工艺和环境条件下其曝光曲线是不同的。因此，已经制成的曝光曲线只适用于与当时特定条件相同的状态，否则应制作新的曝光曲线。常用曝光曲线有两种：1管电压厚度曝光曲线：在X射线机、胶片、增感屏、焦距、暗室处理条件保持不变的情况下，固定曝光量（mAmin）对阶梯试块进行透照。为了使不同厚度部分的黑度值一样，就必须随着厚度的变化而改变曝光强度（管电压KVP），这就是我们在实际生产运用中最常用的基本曲线。根据数学分析可以知道，管电压与透照厚度之间不存在简单的线性关系，因而得到的不是直线而是一条曲线，但从实验中可以看出这条曲线的曲率不大，在某些区域内可以近似的看作直线，在实验中用阶梯试块实现不同厚度d

3、的透照，在同一焦距和曝光量条件下，用不同的管电压进行多张胶片曝光，经暗室处理可得一组底片，通过这组底片可获得多条黑度与厚度的曲线（每张底片即是一条黑度厚度的曲线），当我们选取某一黑度值时，不同管电压对应的不同厚度即有一对应点，将选取的各点标注于普通坐标纸上便可得一条曝光曲线，这一曝光曲线，就是管电压厚度曝光曲线。2曝光量厚度曝光曲线同制作管电压厚度曝光曲线一样，在各种条件不变的情况下，固定管电压（KVP）改变曝光量（mAmin），对阶梯试块进行分次曝光。在管电压不变的情况下，d与logIt呈直线关系。在实验中用阶梯试块实现不同厚度d的透照，在同一管电压下用不同的曝光量进行多张胶片曝光，经暗室处

4、理可得一组底片。通过这组底片可获得多条黑度厚度的关系曲线（每张底片即是一条黑度厚度的曲线）。我们选取某一黑度值时不同的曝光量对应不同的厚度即有一对应点。将各实验点标注于对数坐标纸上便可得一条曝光曲线，这一曝光曲线就是曝光量厚度曝光曲线。曝光量厚度曝光曲线在对数坐标纸上是一条直线，这是因为： I = I0td （1-1） 通过推论可得： log （1-2）四、实验方法与步骤1阶梯试块的准备加工阶梯试块，其材质与被检工件相同或相似。形状、尺寸如图1-1所示。阶梯厚度梯按极差为2mm的等差数列变化，从2mm20mm，另外再制备厚度为10mm和20mm的平板试块各一块，如加在阶梯试块下面，可扩大制作曲

5、线的厚度范围。图1-1 阶梯式块示意图2制作管电压厚度曝光曲线（钢铁材料）管电压材料厚度曝光曲线是常用的一种曲线，实验时要求：（1）按阶梯试块大小切好四张胶片（30080mm），胶片用0.03毫米的铅箔增感，放入暗袋中；（2）按表1-1所给定的条件逐张分别进行曝光，曝光时应固定焦距，曝光量及暗室处理条件，放置识别标记等；（3）将曝光后的胶片进行暗室处理；（4）暗室处理后的底片用黑度计测量每一厚度对应的黑度值，并填入表1-1中；（5）根据表1-1的数据，在普通坐标纸上作出不同管电压时，材料厚度黑度的关系曲线，纵坐标为黑度D，横坐标为材料厚度d (mm)；（6）选黑度D =1.5时，作横坐标的平行

6、线，与每根D d曲线相交，并读取交点处的管电压和厚度值并填入表1-2；（7）根据表1-2的数据，在普通坐标纸上绘制管电压材料厚度的曝光曲线，纵坐标为KVP，横坐标为d (mm)。3制作曝光量厚度曝光曲线（钢铁材料）（1）按钢铁阶梯试块的大小切好四张胶片，用0.03毫米铅屏增感，放入暗袋中；（2）按表1-3所给定的条件逐张分别曝光，曝光时间应固定焦距，管电压及暗室处理条件，放置识别标记等；（3）将曝光后的胶片进行暗室处理；（4）暗室处理后的底片用黑度计测量每一厚度对应的黑度值，并填入表1-3中；（5）根据表1-3的数据，在普通坐标纸上作出不同曝光量时，材料厚度黑度的关系曲线，纵坐标为黑度D，横坐

7、标为材料厚度d (mm)；（6）选黑度D =1.5时，作横坐标的平行线，与每根D - d曲线相交，并读取交点处的曝光量和厚度值并填入表1-4中；（7）根据表1- 4的数据，在对数坐标纸上绘制it（或Logit）与d的曝光曲线，纵坐标为mAt（或Logit），横坐标为d (mm)。五、数据处理1从表1-4得到一组离散数据，由于d与Log之间存在线性关系，这是因为： （1-1） （1-2）因此，这些点可以连成一条直线，但是在实验过程中由于各种因素的影响而产生误差，这些点都可能偏离直线，利用实验所取得的数据求出直线方程，就是数据处理的主要任务，求解直线方程的方法很多，在此我们采用一元回归方程：y =

8、 bx+a （1-3）通过一元回归方程，求出（1-3）式中系数a和b。回归直线方程也就得到了。设有一组实验数据，自变量为x，应变量为y，在求回归方程时，首先按表1-5，将xi和yi值填入，并计算出xiyi，xi2以及它们的和，然后按下式计算系数b和d。 （1-4） （1-5）根据求得的b和a值即可得一条直线，这条直线称为y对x的回归直线，（1-3）式y对x的回归方程，b 为回归系数，a为一常数。这个回归方程所代表的直线，是平面XOY上一切直线中与已知观测值最靠近的一条直线。曝光量厚度曝光曲线的Logit与d之间已从数学表达式（1-2）知道具有线性关系，因此可用一元回归法求此直线方程。2在实际工

9、作中，由散点图得到的不一定是直线，经常遇到曲线。因此选择适当类型的曲线去拟合各散点，如果各离散实验点趋近于在一直线的附近时，则可用上面的方法进行拟合。六、实验报告要求1简述两种曝光曲线的作用；2列出实验数据，画好曝光曲线，并作简要分析；3用一元回归方程拟合曝光量厚度曲线，求出方程，画出直线并与连点法所得直线进行比较；4分析讨论管电压厚度曲线能否用一元回归法拟合，为什么？5实验体会（认识、疑问、新的见解等）；6将所有实验表格附于报告内。表1-1机 型透照规范焦距： mm ，曝光量： mAt管电压（KVP）底片黑度测量值dDdDdDdD表1-2 （D =1.5时）厚度d (mm)管电压（KVP）表

10、1-3机 型透照规范焦距： mm ，管电压： KVP曝光量（mAt）底片黑度测量值dDdDdDdD表1-4厚度d (mm)mAtLogit 注：1机型和透照规范实验前由老师提供；2实验结束后将本页剪下附于实验报告内。表1-5实验点xyxy12x实验数据（依据表1-4）实验点1234注：本页附于实验报告内。实验二 焊缝的射线探伤检测一、实验目的：掌握利用X射线机对金属结构焊缝进行无损检测的方法。二、实验器材：1X射线机 一台2焊缝试板 一件3R16系列像质计 一套4胶片、铅箔增感屏、暗袋和铅字 若干5密度计 一台6观片灯 一个7JB4730-94压力容器无损检测标准 一本三、实验原理：1X射线和

11、射线具有穿透物质的特性，在穿透物质过程中，会被物质所吸收，使透过的射线强度减弱，我们称其为衰减作用，这种物质对射线的衰减作用具有一定的衰减规律，其衰减规律可用下列公式表示： （2-1）式中：I 通过物体后的射线强度； Io通过物体前的射线强度；物质的衰减系数； d 物体的厚度。不同的物质对射线的吸收和衰减系数是不一样的，测量其变化就可以探测物体内部有无缺陷，如图2-1所示： 设：为射线透过无缺陷部位强度，则： I1 = I0 ed （2-2）设：为射线透过有缺陷部位强度，则： I2 = I0 e （d x） （2-3） 如果缺陷部位含有杂质或夹有其它物质，则： I2 = I0 e （d x）x

12、 = I0 e d（ ）x （2-4）图2-1 射线透照示意图透过有缺陷部位和无缺陷部位后的射线强度比为： I2 / I1= I0 e （d x）x/ I0 ed= I0 e d（ ）x/ I0 ed= e（ ）x (2-5)由2-5式可知，被透照物质吸收系数与缺陷部位吸收系数差越大，则透过有缺陷部位与无缺陷部位的射线强度差越大，从而反映在底片上的黑度差越大。这样就可以通过X或射线透照，来判断缺陷的种类，数量和大小。2X或射线对某些物质可以产生光化学作用，利用光化学作用，可以采用荧光显示摄像或感光胶片摄像，将上述过程进行显示和记录，即我们通常所说的X或射线适时成像和X或射线照像技术。四、实验步

13、骤：1根据焊缝试块厚度及形状，制定工艺卡，选择适当的工艺规范。2将胶片置于试块下面，在试块上放好中心标记、搭接标记、试件编号、检验日期、检验者代号等标记，垂直于焊缝，距焊缝边缘5mm以上。在胶片三分之一处外侧放置与工件厚度相应的像质计，像质计的金属丝与焊缝垂直相交跨越放置，细丝朝外。如图2-2。 图2-2 识别标记摆放示意图3按照选择的工艺规范进行曝光。4暗室处理及水洗和干燥。5按照JB4730-94压力容器无损检测标准进行评片并填写探伤报告，如表2-1。五、实验报告要求：按照JB4730-94压力容器无损检测标准，对所拍底片进行级别评定。填写探伤报告应包括以下内容：试件名称、焊缝及底片编号、使用仪器、验收标准、透照规范、暗室处理