铅及铅合金化学分析方法.docx

1、铅及铅合金化学分析方法铅及铅合金化学分析方法锡、锑、砷、铋、铜、镉、钙、银含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法编制说明1 任务来源根据工业和信息化部“关于印发2016年第一批行业标准制修订计划项目的通知”（工信厅科函 2016 58号）的文件精神，以及全国有色金属标准化技术委员会“关于印发粗锌化学分析方法等26项标准任务落实会会议的通知”（有色标秘201641号）及相关会议纪要的文件精神，铅及铅合金化学分析方法 锡、锑、砷、铋、铜、镉、钙、银含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法由国家再生有色金属橡塑材料质量监督检验中心（安徽）和云南驰宏锌锗股份有限公司共同起草，昆明冶金研究院、北京有色金属研究

2、总院、广州有色金属研究院、阳谷祥光铜业有限公司、河南豫光金铅股份有限公司等单位协助起草。项目计划编号：2016-0262T-YS，完成年限2018年。2 工作过程 全国有色金属标准化技术委员会于2016年7月12日14日在陕西宝鸡市组织召开了粗锌化学分析方法等26项标准任务落实会议，会议确定了标准制定的起草单位和参与验证单位，落实了标准计划项目的进度安排和分工。全国有色金属标准化技术委员会将于2018年7月25日7月27日在哈尔滨召开行业标准预审会议。会议将对标准预审稿、实验报告及验证报告进行分析和讨论，并将对此标准研究接下来的工作进行安排。3 准编写原则和编写格式本标准是根据GB/T1.1-

3、2009标准化工作导则 第1部分：标准的结构和编写规则和GB/T20001.4-2015标准编写规则 第4部分：化学分析方法的要求进行编写的。4 标准编写的必要性和意义4.1 必要性X射线荧光光谱法具有谱线简单、分析速度快、测量元素多、能进行多元素同时分析等优点。国家标准对铅及铅合金中元素的检测方法主要集中在分光光度计法，原子吸收光谱法等。但上述方法存在操作繁琐、分析时间长且不能多元素同时测定等缺点。铅及铅合金中的元素含量对其性能影响较大，因此对其元素含量的准确测定极为重要。我国目前尚未制定x射线荧光光谱测定铅及铅合金中元素的检测方法标准，且极少见相关的文献报道。目前国内极少见X射线荧光光谱法

4、测定铅及铅合金中元素的检测方法。因此，有必要进行X射线荧光光谱法测定铅及铅合金中元素检测方法的研究。4.2 意义第一，制定X射线荧光光谱法测定铅及铅合金中元素的方法标准，提供各种元素检测的所需条件及注意事项，为检测部门制定限量标准提供检测技术方法支撑；第二，为相关企业开展分析检测，改进加工工艺和生产条件，实施产品安全控制措施提供技术手段；第三，提升铅及铅合金质量，规范铅及铅合金生产加工工艺，加强企业质量控制，维护消费者健康安全具有深远意义；第四，为加快全国生态文明建设、实现资源节约型和环境友好型社会作出贡献。5 国内外有关工作情况针对波长色散X射线荧光光谱法测定铅及铅合金中元素的检测方法，目前

5、国际上暂无相应的国际标准。我国国内近年来有国家标准对铅及铅合金中元素的检测方法主要集中在分光光度计法，原子吸收光谱法，光电直读发射光谱法。国内文献中也有电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铅及铅合金中元素的。我国目前缺少相关标准。6 标准适用范围本标准适用于铅及铅合金中锡、锑、砷、铋、铜、镉、钙、银的测定，测定范围见表1。表1元素及测定范围分析元素测定范围（质量分数）/%Sn1.017.0Sb0.807.5As0.102.5Bi0.151.4Cu0.050.80Cd0.100.65Ca0.102.0Ag0.081.07 试验报告试验报告见附件1。8 协同试验8.1 样品的准备根据铅及铅合金特性、

6、X射线荧光光谱法同时测定多种元素和实际工作中收集到的样品情况，制备了6个样品，以尽可能保证被测物有3个以上水平。8.2 精密度试验在精密度试验方面，共征集7个实验室（见表2）对6个铅合金中锡、锑、砷、铋、铜、镉、钙、银含量进行精密度试验（协同试验），依据GB/T6379.2-2004测量方法与结果的准确度（正确度与精密度）对精密度试验数据进行了处理，得出重复性限和再现性限。表2 协同试验的实验室编号编号实验室1国家再生有色金属橡塑材料质量监督检验中心（安徽）2云南驰宏锌锗股份有限公司3昆明冶金研究院4北京有色金属研究总院5广州有色金属研究院6阳谷祥光铜业有限公司7河南豫光金铅股份有限公司9 标

7、准征求意见稿意见汇总与处理在协同试验过程中，征求的意见以及对意见的分析处理，详见意见汇总表。10 预期效果经研究、讨论和审定后，所制定的铅及铅合金化学分析方法 锡、锑、砷、铋、铜、镉、钙、银含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法标准为推荐性有色金属化学分析方法行业标准，为国内首次制定、发行。 国家再生有色金属橡塑材料质量监督检验中心（安徽） 2018年07月13日附件1：铅及铅合金化学分析方法锡、锑、砷、铋、铜、镉、钙、银含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法试验报告1.方法原理由X光管发射的原级X射线入射到样品上，样品元素受激发射出荧光X射线，并与原级X射线的散射线一起，通过准直器(索勒狭缝)，

8、以平行方式投射到晶体表面,按布拉格条件发生衍射,衍射的X射线与晶体散射线一起,通过次级准直器（称探测器准直器）进入探测器，进行光电转换，把不可直接测量的光子转变成为可以测量的电信号脉冲。探测器的输出脉冲经放大器幅度放大和脉冲高度分析器的幅度甄别后，即可通过定标器进行测量由计算机进行数据处理，输出结果。2.试样制备试样尺寸，原则上使用X射线荧光光谱仪分析试样时，必须保证试样能将样品杯孔径完全覆盖，试样的厚度应保证不被X射线击穿。试样加工，试样分析面用车床或铣床加工成光洁的平面，表面粗糙度参照GB/T 1031-2009要求，轮廓的最大高度Rz6.3m,用脱脂棉蘸取无水乙醇将表面擦干净，用32mm

9、的样品杯进行测量。试样加工时可用无水乙醇冷却、润滑，不允许用其他润滑剂。3.仪器、测量条件的选择Axios max波长色散X射线荧光光谱仪：端窗薄铍窗，铑靶X射线管，功率4kW,面罩孔径30mm, SuperQ 5.0操作软件。元素测量条件见表1。表1 元素测量条件元素谱线分光晶体准直器m检测器滤光片m电流mA电压kV峰位测量时间s脉冲幅度SnSn KLiF200300Scint.Brass (400)606614.00742023-73SbSb KLiF200300Scint.None606613.42342025-75AsAs KLiF200300Scint.Al(200)606630.4

10、4502025-75BiBi LLiF200300Scint.Brass (400)606633.00342025-75CuCu KLiF200300Scint.Al(200)606645.01362028-78CdCd KLiF200300Scint.Brass (400)606615.27482619-69CaCa KLiF200300FlowNone30133113.11922824-74AgAg KLiF200300Scint.Brass (400)606615.97462020-70InIn KLiF200300Scint.None606614.01861029-77由于不同分析单位

11、使用的X射线荧光光谱仪型号不同，可按照X射线荧光光谱仪的各自特点选定工作参数。4、标准曲线制作及干扰元素修正4.1标样的选择目前，市售铅合金标样较少，为覆盖各元素所需的检测范围，按试样制备方法制取标样，标样系列经国家再生有色金属橡塑材料质量监督检验中心（安徽）、云南驰宏锌锗股份有限公司、昆明冶金研究院化学定值。制作的校准标样各组分的含量见表2。表2 校准标样各元素含量（%）#SnSbAsBiCuCdCaAg18.837.130.2190.1510.0860.119-0.99723.534.520.2090.6690.2660.630-0.69046.422.04-0.8480.4360.421

12、-0.52056.560.830.3541.030.0600.324-0.3486-0.9201.400.0450.381-717.10-0.1030.2841.980.0829-0.300-10-0.660-1412.076.802.5730.2910.7970.224-0.187171.34-0.089-4.2 标准曲线制作标准样品经加工平整，根据X射线荧光光谱法通用校正曲线公式，采取标准曲线法，以峰强度为纵坐标，元素含量为横坐标绘制标准曲线。各元素成线情况良好。标准曲线的信息见表3。表3 标准曲线信息元素截距D斜率E离散度RMS品质系数KModelMatrix Model基体模式Sn0.

13、066670.097100.092250.03167C=D+E.R.MFPSb0.032020.012940.027120.01638C=D+E.R.MFP As0.032240.013450.002050.00288C=D+E.R.MFPBi-0.143112.109740.015560.01676C=D+E.R.MClassic Cu-0.004330.004760.007030.01182C=D+E.R.MFPCd-0.041350.261620.005320.00796C=D+E.R.MClassic Ca0.007910.014800.003310.00434C=D+E.R.MFPAg-0.011540.120460.012090.01776C=D+E.R.MFP注：FP为基本参数法，Classic为经验系数法4.3 干扰校正铅合金元素之间存在着非常复杂的光谱重叠干扰，对于分析精度的影响是十分严重的。为了提高校准曲线的线性度，降低曲线点的离散度，除了提高样品制备的质量和仪器稳定性外，必须准确校正光谱的重叠干扰，以获得准确的分析线净强度。本方法对部分元素进行了基体校正。校正系数见表4表4.校正系数元素Lo(C)Lo(C