数字式超声波探伤仪使用操作规程文档格式.docx

1、缺陷定位：水平值L、深度值H、声程值S。缺陷定量：根据设定基准灵活显示。缺陷定性：通过包络波形，人工经历判断。曲面修正：曲面工件探伤，修正曲率换算。6. 实时时钟记录 日期、时间跟踪记录，并存储。7. 通讯接口 高速USB接口提供传输。8. 屏幕保护 待机时，仪器屏幕会降低亮度或自动关闭，可使仪器省电，延长使用寿命1.3菜单构造根本调校存储系统曲线功能 围检测围mm探头探头类型通道通道选择显示屏幕亮度DAC曲线制作AVG扫描B扫模式材料声速m/s探头频率通道存储配色方案根本增益B扫方向显示延迟us探头前沿通道清空测点波高扫描周期探头零偏us晶片尺寸通道另存闸门起始mmA扫显示闸门闸门选择校准自

2、动校准波形波形选择标度网格显示调整曲线调整焊缝焊缝参数手动设置波形存储标度单位测点顺序闸门宽度mm前端距离波形调用水平标度闸门高度探头零偏波形清空起始闸门增益根本增益dB角录像录像编号报警按键声音偏移判废线RL上AVG线孔径当量孔径增益步距dB录像制作蜂鸣报警定量线SL中AVG线闸门起始扫查增益dB探头角度录像回放闪光报警评定线EL下AVG线晶片直径外表补偿dB探头K值录像清空报警类型报警基准报警曲线读数读数方式发射发射强度清除所有通道AWSAWS功能设置缺陷类型曲线基准测裂纹裂纹测深自动捕捉脉冲宽度所有波形缺陷直径基准孔径端点A检测方式重复频率所有录像缺陷长度端点B探头阻尼恢复出厂关闭系统当

3、量基准回检波方式工件厚度预留信息当前日期曲线显示曲面工件外径噪声抑制自动波高当前时间曲线类型工件径波形填充波峰记忆软件版本曲线拟合曲面修正回波编码回波包络其他信息曲线删除1.4指示灯报警指示灯：当前闸门回波峰值超出闸门或曲线高度进波报警，当前闸门回波峰值低于闸门或曲线高度失波报警时，该报警指示灯闪烁报警；电源指示灯：开机状态下仪器电源指示灯亮。关机状态下仪器电源指示灯灭。电池电量低时，电源指示灯的红灯亮同时报警指示灯闪烁。充电器指示灯：该指示灯位于充电器。充电开场，指示灯变红色。充电完成，指示灯由红色变成绿色。1.5 充电说明1.5.1供电方式 TS-V9系列电源供电方式有两种：外部电源充电器

4、和仪器专配锂离子电池组。外部电源充电器：电源充电器工作电压：市电交流220V，50Hz。供电方式： （1） 仪器没有装载电池时，外部电源充电器市电插头插入市电插座，电源充电器指示灯变亮，显示充电器正常工作，将充电器DC插头插入UTD800系列插孔，超探仪即可正常工作。 （2 ）仪器装载电池组时，连接好仪器和市电，仪器正常工作。注意：请使用稳定可靠的220V、50Hz的交流市电对仪器供电，以免损坏电源充电器、锂电池或者仪器；如需要停顿电源充电器的工作，先拔掉电源充电器与市电连接，再断开电源充电器与仪器的连接。仪器专配锂离子电池组：仪器顶部设置电池组充电的插口，并且电池组亦嵌充电插口。可以不将电池

5、取出直接对电池充电，亦可将电池取出进展充电。在电池电量缺乏时，及时对电池充电或利用电源充电器供电，也可更换备用电池组。更换电池过程中，请先关闭仪器。1.5.2 充电方式在线充电在线充电方法如下开机或关机状态均可充电，可以边工作边充电：1. 翻开仪器顶部防水塞。2. 将充电器的市电插头插入市电电源插座，然后将充电插头插入仪器顶部的充电插座，仪器自动开场对电池充电。充电过程中，充电器指示灯显示为红色。3. 电池充满后，仪器自动停顿充电。充电器指示灯显示为绿色。脱机充电脱机充电步骤如下：1. 将仪器关机。2. 将电池模块从电池仓中取出。3. 将充电器的市电插头插入电源插座，然后将充电插头插入电池模块

6、的充电插座，开场对电池充电。充电过程中，充电器指示灯显示红。4. 电池充满后自动停顿充电。充电器指示灯由红色转为绿色。移除电源插座后，充电器指示灯灭。充电过程完毕。充电考前须知：1. 请务必使用专用的充电器给电池充电。假设使用非本机专用的充电器严禁对仪器充电，2. 锂电池存在自放电问题。电池充满后，如果短期不用，电量会有一定的衰减；长期不用会导致电池过放而进入休眠状态。为保护探伤仪及电池，至少每个月要开机通电一到两个小时，并给电池充电，以免仪器的元器件受潮和电池亏电而影响使用寿命。3. 电池严禁存放在高温和潮湿的环境中，并要求干净，切不可有油污、腐蚀液体等，尤其注意电池的正负极部位不要与金属物

7、品等接触。3. 严禁擅自对电池拆卸或者改装，严禁挤压电池，严禁使电池短路。否那么可能会造成严重后果。4. 电池在运输和使用过程中，要小心慎重，防止电池过量冲击，更应防止电池跌落、撞击、刺穿、水浸、雨淋等情况发生。2 仪器的校准本章主要介绍数字超声波探伤仪的调校及使用数字式超声波探伤仪对锻件、钢板及焊缝的检测方法。本探伤仪的调校是指声速校准、探头的零偏校准和K值测量。本仪器的调校操作有两种方式：手动设置和自动校准。1）手动设置是在探头的准确校准参数时，通过直接输入这些参数来实现校准功能。2）自动校准是充分发挥了数字式超声波探伤仪的程序控制和数据处理能力，由仪器自动完成最顶峰值状况下的探头零偏的调

8、校。探伤准备:1. 工件外表温度不能过热，应该小于120。2. 工件外表粗糙度不能过大，否那么会影响探伤效果。工件的被测外表须露出金属光泽，并且平整、光滑。3. 耦合：工件外表需要涂敷适量的耦合剂，以利于探伤。探头准备：仪器启动前，根据工件形状、缺陷的性质选择适宜的探头，并将探头联接到仪器顶端的探头插座上。选择仪器的系统状态。探伤仪的发射、接收系统所处的组合状态的不同适用于不同的检测任务。对于特定的要求，选取某种状态组合，将起到优化回波波形、改善信噪比、获得较好的分辨力或最正确的探伤灵敏度的作用。探伤前，仪器、探头参数必须经过校准。2.1直探头校准为保证探伤的准确性，下面详细介绍校准的操作流程

9、。单晶直探头的校准对象为：材料声速纵波、探头零点；单晶直探头的校准分为以下几种情况：1. 材料声速、零点的校准；2. 未知材料声速、零点的校准；2.1.1材料声速、零点的校准1选择参数通道，并清空该通道。2单击“调校键，进入调校操作界面，选择“探头主菜单，在它子菜单中设置探头类型为直探头，输入探头频率，晶片尺寸。3选择“校准主菜单，再选择“手动设置子菜单，单击旋轮开场手动设置，按照提示依次输入声速和零偏。2.1.2未知材料声速、零点的校准直探头校准的目的是得到探头零点探头防磨层、发射同步的误差等引起的延迟，以us为单位和材料声速。所需材料：一个与被测材料一样并且厚度的试块，耦合剂。2.2斜探头

10、校准斜探头的校准也分为手动设置和自动校准，手动设置和直探头的手动设置操作一样，只需要按照提示输入校准参数即可。这里主要介绍自动校准。斜探头校准的对象为：材料声速横波、探头前沿入射点、探头零偏、折射角度/K值。可以分成声速、零偏、入射点校准和折射角K值校准两组。一般先校声速、零偏、入射点，再校折射角K值。斜探头校准一般需要CSK-IA试块或IIW试块或其它试块及直尺，耦合剂。2.2.1斜探头材料声速、探头零偏、探头前沿校准例2：用CSK-IA试块对2.5P1313，K2斜探头进展自动校准，步骤如下：测试仪器：数字式超声波探伤仪测试探头：斜探头2.5P1313K2试块类型：CSK-IA 1选择参数

11、通道，并清空该通道。（2） 单击“调校键，选择“探头主菜单，“探头类型设置为“斜探头，“探头频率设置为“2.5MHz，“探头前沿采用默认值，“晶片尺寸设为“13（3） 将探头耦合到CSK-IA的标定试块上，选择“校准主菜单，选择“自动校准子菜单，按“确认键。（4） 设置大概的“材料声速值、“探头零偏值，设置 “一点声程=50mm，“二点声程=100mm。设置完“二点声程后，按“确认键。（5）翻开波峰记忆或回波包络功能，沿R100半径方向前后移动探头，使回波最高，保持探头不动；单击“确认键，完成声速和零偏的校准。开场检测探头前沿。（6）用直尺量出探头前端至R100圆弧前端的距离，输入“前端距离子

12、菜单。本例量得结果为87mm，输入后按“确认键，完成探头前沿即入射点的检测。2.3.2斜探头角度/K值的校准例3：用CSK-IA50圆孔对2.5MHz K2斜探头自动校准。步骤如下：（1）按照例2 的操作完成仪器声速、零偏校准后，选择“角度主菜单，选择“自动校准子菜单，按“确认键，开场角度自动校准。（2）按提示输入目标直径为50mm，中心深度为30mm，标称角度为63.4/K2； 3单击“波峰记忆键，翻开波峰记忆或回波包络功能，探头沿试块前后移动如图，会看到回波包络轨迹，按照提示，目标反射波最高时按“确定，完成折射角/K值自动校准。可以看到折射角/K值已修正为实际值。2.3双晶探头校准双晶探头

13、的校准与直探头类似，需要注意双晶探头存在焦点深度，测零偏声速时注意选取与焦点深度接近的试块作为起始距离，否那么测得的零偏声速误差可能较大。3、DAC/AVG曲线的制作3.1 DAC曲线3.1.1 DAC曲线制作DAC曲线距离波幅曲线是一种描述反射点至波源的距离、回波高度及当量大小之间相互关系的曲线。尺寸大小一样的缺陷由于距离不同，回波高度也不一样。因此，DAC曲线对缺陷的定量非常有用。本仪器可自动制作DAC曲线。假设测试条件和要求如下：探头：2.5P1313，K2斜探头试块：CSK-A，CSK-A 如图DAC法；DAC点数：310、20、40判废线偏移量：0dB定量线偏移量：-10dB评定线偏

14、移量：-16dB现简要介绍以上功能的实现步骤。1.选择参数通道，并清空该通道2.设置探头参数。设置探头频率为2.5MHz，晶片直径为13mm。其它探伤参数可在测试过程中或测试完毕后设置。3.测斜探头的探头零偏和材料横波声速。参见上文斜探头零偏自动校准例24.测探头K值。参见上文斜探头K值自动校准例3。5.制作DAC曲线。单击“曲线键，屏幕下方出现DAC曲线制作主菜单行，选择“DAC主菜单，再选择“曲线制作子菜单，单击旋轮或“确认键，开场制作DAC曲线，回波显示区右上角出现“DAC字符显示，同时仪器自动选择“闸门起始子菜单，且屏幕右上角“DAC字符下方显示数值“1。将探头放置在CSK-A试块上，

15、如图4.1，对准第一个测试孔（10mm深度的孔），移动探头直到找到最高回波，旋转旋轮移动闸门锁定此回波，单击“确认键，仪器自动记录下该波峰的高度和位置，完成该点的测试，此时“DAC字符下方显示数值“2，表示进入下一个测试点的采样。按照上面的步骤依次顺序锁定并记录下一个测点20mm，40mm。记录完成两个测试点后，仪器依据刚刚完成的测点自动生成一条平滑的DAC曲线。此后，每添加一个测试点，这条DAC曲线就会自动进展修正并重新生成。制作DAC曲线的测试点最少要两个或两个以上，最多可记录32个测试点，一般可根据探伤实际情况，记录35点即可。DAC制作过程中，随时可以按“曲线键退出DAC制作过程。选择

16、完成所有测试点后，选择“曲线制作子菜单，单击“确认键，完成DAC曲线制作。此时得到的DAC曲线是以16mm的基准线母线为基准生成的。DAC曲线制作完成后，仪器根据该基准线以及判废线、定量线和评定线的偏移设置，在屏幕上同时显示出判废线、定量线和评定线，共三条DAC曲线。判废偏移是指面板曲线中判废线RL线与母线可选择的偏移量；定量偏移是指面板曲线中定量线SL线与母线可选择的偏移量；评定偏移测长偏移是指面板曲线中评定线测长线，EL线与母线可选择的偏移量。根据探伤要求和相关标准不同，可以调整三条曲线的偏移量，调整围在-50dB50dB。本例中，根据探伤要求，判废偏移调整到0dB，定量偏移调整到-10d

17、B，评定偏移调整到-16dB。DAC曲线主要是对缺陷当量进展探测，缺陷当量是指当前闸门的缺陷回波的当量值是以何线作为计算基准，可以选择母线、判废线、定量线和评定线四个选项，常用母线或定量线。缺陷当量dB显示仅在制作成功DAC曲线后才有效，对AVG无效。如果要保存做好的DAC曲线，单击“存储键，选择“波形主菜单，在“波形选择子菜单中选择波形号，再选中“波形存储子菜单，单击“确认键，完成存储。必须测准探头零点、材料声速和探头K值，否那么所制作的DAC曲线不准确；3.2.1 DAC曲线调整如果已经制作出的DAC曲线与实际回波不吻合，偏差太大时，可利用调整功能做局部的调整。操作如下：选择DAC“调整功

18、能，按“上移键或“下移键选中屏幕右侧“曲线调整子菜单，按“确认键开场对已经完成的DAC曲线进展调整。如果没有制作DAC曲线的话，仪器将会提示：当前通道下未找到DAC曲线此时，光标自动选择“测点顺序子菜单，“测点顺序的默认值为“1，屏幕上在1号测点处出现一个闪动的“标志，旋转数码飞梭旋轮，选择想要改变波高的测点，闪动的“标志会移动到该测点处，选好后，再选中“测点波高子菜单，旋转数码飞梭旋钮，改变波高，单击“确定键，仪器会提示“DAC曲线的当前测点重测完成；再用一样的方法调整下一个测点；测点调整完毕后，选择“曲线调整子菜单，单击“确认键，完成曲线调整，DAC曲线就会根据调整后的测点高度自动进展修正

19、并重新生成。对于“测点波高的调整，也可通过将光标移动到“闸门起始，套住回波后按下“确认键实现。3.1.3 DAC曲线拟合当DAC 曲线的类型为曲线时，为了使曲线形状更光滑，用户可以使用本仪器设计的曲线拟合功能。在DAC 曲线功能组主菜单中，选择“显示，通过“向上或“向下键选择“拟合，并按“确认键翻开曲线拟合功能，此时，曲线变光滑。制作DAC曲线的测试点最少3个或3个以上，曲线拟合功能才有效。3.1.4 DAC曲线删除当用户需要删除已制作的DAC曲线，或者想重新制作DAC曲线时，就要利用曲线的的删除功能如果没有DAC曲线的话，仪器会提示：当前通道下未找到DAC曲线。在DAC操作界面下，选择“显示

20、主菜单，再选择“曲线删除子菜单，单击“确定键，仪器提示“删除DAC曲线？，再单击“确定键，即可删除该DAC曲线。该操作只是将仪器存中的DAC曲线删除，并未删除波形文件中存储的DAC曲线。如果要删除波形文件中存储的DAC曲线，那么须进展波形清空操作。3. 2 AVG曲线AVG曲线分单点制作和多点制作。单点AVG曲线是理论曲线，多点制作AVG曲线，考虑了实际情况，因此做出的曲线更准确些。下面详细介绍曲线制作过程。3.2.1 单点AVG 曲线制作1.探头：2.520，直探头2.试块： CS-1-53.AVG法1.选择参数通道，并清空该通道。设置探头频率为2.5MHz，晶片直径为20mm。3.测直探头

21、的探头零偏和材料纵波声速。4.制作AVG曲线。操作步骤如下：按“曲线键进入DAC基准设置和制作界面，再按“曲线键，切换到AVG基准设置和制作界面，选择“设置主菜单，把“曲线基准子菜单设置为“平底孔类型。选择“AVG主菜单，选择“曲线制作子菜单，单击“确认键，开场AVG制作，“曲线制作子菜单中的“开场变为“完毕。波形显示区右上角出现“AVG字符提示。将探头在CS-1-5试块上移动，调节闸门位置以锁定2平底孔回波后，单击“确认键，那么仪器自动记录下闸门的波峰位置和高度，选择“曲线制作子菜单，单击“确认键，完毕AVG曲线的制作。AVG制作完成后，屏幕上显示出三条AVG曲线，这是基于2平底孔自动生成的

22、三条AVG曲线，分别对应仪器中设置的上AVG线、中AVG线和下AVG线三种不同孔径的AVG曲线。可以对AVG线上、AVG线中和AVG线下三条AVG曲线进展重新设置，以得到孔径的AVG曲线，以方便对缺陷的分析比拟。AVG曲线制作完成后，状态条上会实时显示闸门最高回波的孔径值。缺陷孔径值：仅在制作成功AVG曲线前方才有效，对DAC无效。AVG曲线制作完成并显示后，用当前闸门锁定缺陷回波，那么仪器自动计算缺陷的孔径值和位置，并实时显示于状态条上。在制作AVG曲线时，要注意所用的直探头的频率和晶片尺寸是否适宜，各参数值的设置是否正确；在制作AVG曲线时，理论上只计算了三倍近场区之后的数值，三倍近场区之

23、前仅显示为直线。如果所用试块厚度较小，那么需要用屡次波，使所需回波处于三倍近场区之后。在制作完成任何基准平底孔、大平底的AVG曲线后，仪器会自动转换为上AVG线、中AVG线和下AVG线三种不同孔径的AVG曲线。3.2.2 多点AVG制作操作步骤： 1. 选择参数通道，并清空该通道。 2. 设置探头参数。 3. 测直探头的探头零偏和材料纵波声速。 4. 制作多点AVG曲线。按“曲线键进入DAC基准设置和制作界面，再按“曲线键，切换到AVG基准设置和制作界面，选“设置主菜单，把“曲线基准子菜单设置为“大平底类型。选择“AVG主菜单，选择“曲线制作子菜单，单击“确认键，开场AVG制作，“曲线制作子菜

24、单中“开场变为“完毕。将探头耦合在CS-1-5试块上，调节闸门位置以锁定大平底回波后，单击“确认键，那么仪器自动记录下闸门的波峰位置和高度，调节闸门位置以锁定大平底的下一次以及后续的屡次回波，并单击“确认键，选择“曲线制作子菜单，单击“确认键，完毕多点AVG曲线的制作。3.2.3 AVG 曲线拟合AVG 曲线拟合的目的如同DAC。在AVG 曲线功能组主菜单中，选择“显示，通过“向上或“向下键选择“拟合，并按“确认键翻开曲线拟合功能，此时，曲线变得很光滑。 注意：制作AVG曲线的测试点最少3个或3个以上，曲线拟合功能才有效。提示：DAC或AVG曲线制作完成后，可以利用作好的曲线进展曲线进波和曲线

25、失波报警操作，来提醒操作人员。4、探伤辅助功能应用4.1裂纹测深测裂纹功能包含4个参数项，分别为裂纹测深、端点A、端点B、闸门起始。用于纵向裂纹深度测量。在测量前，探头零点和K值均需要经过校准。 1 .单击“功能键，进入功能功能组操作界面，选择“测裂纹主菜单，再选择“裂纹测深子菜单； 2. 在试件上移动探头，如下列图找到裂纹上端端点回波，单击“确认键，根据屏幕下方提示用闸门套住缺陷波，单击“确认键，此时“端点A子菜单显示上端点深度； 3. 移动探头，找到裂纹下端端点回波，根据屏幕下方提示用闸门套住缺陷波，单击“确认键，此时“端点B子菜单显示下端点深度，“裂纹测深子菜单显示裂纹深度。4.2 动态记录 设备可以在检测现场实时动态记录特性回波与用户操作过程，以便给检测人员事后来识别、分析缺陷的性质。也可动态记录一些特点的缺陷回波，以便对特征性的波型进展识别和示。 1. 单击“动态记录键，进入录像操作界面。在“录像编号子菜单过选择旋钮选择录像文件REC-XX，再选择“录像制作子菜单，并按“确认键开场录像。如果录像文件中已存有数据，那么仪器会提示“文件中已存有数据，清空前方可重新录制，并返回。 2. 录像开场后，屏幕上方显示当前时间日期和“RE