材料现代分析方法课后简答题及名词解释Word文档格式.docx

1、光电子产额随入射光子能量的变化关系称为物质的光电子能谱分子光谱：由分子能级跃迁而产生的光谱。紫外可见光谱（电子光谱）：物质在紫外、可见辐射作用下分子外层电子在电子能级间跃迁而产生的吸收光谱。红外吸收谱：物质在红外辐射作用下，分子振动能级（和/或转动能级）跃迁而产生的吸收光谱。红外活性与红外非活性:只有发生偶极矩变化的分子振动，才能引起可观测到的红外吸收光谱带，称这种分子振动为红外活性的，反之则称为非红外活性的散射角（2）散射电子运动方向与入射方向之间的夹角。电子吸收：由于电子能量衰减而引起的强度（电子数）衰减。点阵消光：因晶胞中原子（阵点）位置而导致的F2=0的现象系统消光：晶体衍射实验数据中

2、出现某类衍射系统消失的现象。结构消光:在点阵消光的基础上，因结构基元内原子位置不同而进一步产生的附加消光现象，称为结构消光。衍射花样指数化:确定衍射花样中各线条（弧对）相应晶面（即产生该衍射线条的晶面）的干涉指数，并以之标识衍射线条，又称衍射花样指数化（或指标化）。 电子透镜:能使电子束聚焦的装置称为电子透镜质量厚度衬度（简称质厚衬度）：由于样品不同微区间存在原子序数或厚度的差异而形成的衬度衍射衬度：由于晶体对电子的衍射效应而形成的衬度。dd跃迁:在配位体的影响下，处于低能态d轨道上的电子吸收光能后可以跃迁至高能态的d轨道，这种跃迁，称之为dd跃迁。f-f跃迁:处于f轨道上的f电子，在配位体的

3、影响下，f电子吸收光能后可以由低能态的f轨道跃迁至高能态的f轨道，从而产生相应的吸收光谱。这种跃迁称为f-f跃迁。生色团：在紫外及可见光范围内产生吸收的原子团（或原子、电子、空穴等）。蓝移:当物质的结构或存在的环境发生变化时，其吸收带的最大吸收波长（最大）向短波方向移动，这种现象称为紫移或蓝移（或向蓝）。红移:当物质的结构或存在的环境发生变化时，其吸收带的最大吸收峰波长（最大）向长波长方向移动，这种现象称为红移（或称为“向红”）。助色团:有些含n电子的官能团，本身并不在紫外可见区产生吸收，但它们具有能使生色团的光谱峰移向长波区并使其强度增加的作用，这种官能团叫做助色团。电荷转移光谱，就是在光能

4、激发下，某一化合物中的电荷发生重新分布，导致电荷可从化合物的一部分转移至另一部分而产生的吸收光谱。倍频峰（或称泛音峰）：出现在强峰基频约二倍处的吸收峰，一般都是弱峰。组频峰：也是弱峰，它出现在两个或多个基频之和或差附近特征振动频率:某一键或基团的振动频率有其特定值，它虽然受周围环境的影响，但不随分子构型作过大的改变，这一频率称为某一键或基团的特征振动频率。而其吸收带称为特征振动吸收带。热分析：在程序控制温度条件下，测量物质的物理性质随温度或时间变化的函数关系的技术。差热分析（DTA）：在程序控制温度条件下，测量样品与参比物之间的温度差与温度（或时间）关系的一种热分析方法。差示扫描量热法（DSC

5、）：在程序控制温度条件下，测量输入给样品与参比物的功率差与温度（或时间）关系的一种热分析方法。振动自由度:分子简单正振动数目。简并:在多原子分子的简正振动中，有时两个或三个振动模式不同的简正振动具有相同的频率，此时在红外光谱上成为一个吸收峰出现，这种现象就是简并。分裂：某些基团处于某些机构中，因其对称性降低，简并的吸收带分裂开来。中心暗场像：将入射电子束反向倾斜一个相应的散射角度，而使散射电子沿光轴传播。二次离子：固体表面原子以离子态发射叫做二次离子。透射离子：当样品的厚度小于入射电子的平均穿入深度时，有一部分入射电子穿过样品，在样品背面被接收检测到的电子。吸收电流（电子）：入射电子在固体中传

6、播时，能量逐渐减小，最后失去全部动能的电子流。背散射电子：入射电子与固体作用后又离开固体的总电子流。特征X射线：射线管电压增至某一临界值，使撞击靶材的电子具有足够能量时，可使靶原子内层产生空位，此时较外层电子将向内层跃迁产生辐射即是特征X射线。俄歇电子：由于原子中的电子被激发而产生的次级电子，在原子壳层中产生电子空穴后，处于高能级的电子可以跃迁到这一层，同时释放能量。当释放的能量传递到另一层的一个电子，这个电子就可以脱离原子发射，被称为俄歇电子。二次电子：入射电子从固体中直接击出的的原子的核外电子和激发态原子退回基态时产生的电子发射，前者叫二次电子，后者叫特征二次电子。波数：2长度上出现的全波

7、数目；在波传播的方向上单位长度内的波长的数目。分子散射：入射线与线度即尺寸大小远远小于其波长的分子或分子聚集体相互作用产生的散射。X射线相干散射：入射光子与原子内受核束缚较紧的电子发生弹性碰撞作用，仅其运动方向改变没有能量改变的散射。X射线非相干散射：入射光子与原子内受到较弱的电子或者晶体中自由电子发生非弹性碰撞作用，在光子运动方向改变的同时有能量损失的散射。K系特征辐射：原子K层出现空位，较外的L层电子向内的K层辐射跃迁，发射的辐射。L系特征辐射：原子的L层出现空位，其外M,N层电子跃迁产生的谱线统称为L系特征辐射。吸收限：X射线照射固体物质产生光子效应时能量阀值对应的波长称为物质的吸收限。

8、X射线散射：X射线与物质作用（主要是电子）时，传播方向发生改变的现象。X射线衍射：散射X射线干涉一致加强的结果，即衍射。X射线反射：与可见光的反射不同，是“选择反射”，实质是晶体中各原子面产生的反射方向上的相干散射线。二、简答题1量子数n、l与m如何表征原子能级？在什么情况下此种表征失去意义？答：原子中核外电子的运动状态由主量子数n、角量子数l、磁量子数m、自旋量子数s和自旋磁量子数ms表征。n、l、m共同表征了电子的轨道运动，而s与ms则是电子自旋运动的表征。n决定电子运动状态的主要能量（主能级能量，E），n值越大，则电子离核越远，能量越高。l取值为0n-1的正整数，对应于l=0，1，2，3

9、，的电子亚层或原子轨道形状分别称为s、p、d、f等层或（原子）轨道。磁量子数m取值为0， 1， 2， l。当无外磁场存在时，同一亚层伸展方向不同的轨道具有相同的能量。当有外磁场时，只用量子数n、l与m表征的原子能级失去意义。2下列各光子能量（eV）各在何种电磁波谱域内？各与何种跃迁所需能量相适应？1.21061.2102、6.21.7、0.50.02、210-2410-7。102 X射线谱域，与原子内层电子跃迁所需能量相对应。6.21.7 紫外-可见谱域，与原子（或分子）外层电子跃迁所需能量相对应。0.50.02 红外谱域，与分子振动能级跃迁所需能量相对应。210-7 微波谱域，与分子转动能级

10、和电子自旋能级跃迁所需能量相对应。10分子能级跃迁有哪些类型？紫外、可见光谱与红外光谱相比，各有何特点?分子能级跃迁主要有电子能级跃迁、振动能级跃迁和转动能级跃迁。紫外、可见光谱是由于分子的电子能级跃迁引起的吸收光谱。由于电子的能级比较大，在产生电子能级跃的同时也会引起分子的振动和转动能级跃，因此其光谱上叠加了振动和转动能级跃的吸收光谱，所以是带状光谱。红外光谱是由于分子振动能级和转动能级跃迁引起的吸收光谱。对于一般的中红外光谱，其振动光谱上叠加了转动光谱，因此是带状光谱。纯转动能级跃引起的远红外光谱，则是线状光谱。14俄歇电子能谱图与光电子能谱图的表示方法有何不同？为什么？俄歇电子能谱图用微

11、分谱表示，因为俄歇电子产率很低，一次谱不好确定俄歇电子的能量位置，用微分谱可以表现得很清楚。光电子能谱图用一次谱表示，因为光电子的产率较高，用一次谱就能很清楚表示出来。15简述X射线与固体物质相互作用产生的主要信息及据此建立的主要分析方法。X射线与固体物质相互作用产生的主要信息有：弹性散射X射线，非弹性散射X射线，光电子，俄歇电子，荧光X射线，反冲电子，透射X射线，电离，热能等，据此建立的主要分析方法有：X射线衍射分析（XRD），X射线光电子能谱（XPS），X射线激发俄歇电子能谱（XAES），X射线荧光光谱（XRF）。16电子与固体作用产生多种粒子信号（如下图），哪些对应入射电子？哪些是由电子

12、激发产生的？图中背散射电子流IR、吸收电流IA和透射电子流IT对应入射电子；二次电子流IS、X射线辐射强度IX、表面元素发射总强度IE是由电子激发产生的。17电子“吸收”与光子吸收有何不同？电子吸收是指由于电子能量衰减而引起的强度（电子数）衰减的现象。电子吸收只是能量衰减到不能逸出样品，而不是真的被吸收了。光子的吸收是因光子的能量与物质中某两个能级差相等而被吸收，光子被真吸收了，转化成了另外的能量。18入射X射线比同样能量的入射电子在固体中穿入深度大得多，而俄歇电子与X光电子的逸出深度相当，这是为什么？因为俄歇电子与X光电子的能量差不多，都比较小，在内部经多次散射后能量衰减，难以逸出固体表面，

13、只有表面几个原子层产生的俄歇电子和X光电子才能逸出表面，从而被电子能谱仪检测到。19配合表面分析方法用离子溅射实行纵深剖析是确定样品表面层成分和化学状态的重要方法。试分析纵深剖析应注意哪些问题。答（1）溅射时入射离子的选择。一般应选择原子序数比较大的稀有气体离子，一是溅射率高，剥层速度快，二是不会造成样品表面污染；（2）入射离子能量的选择。一般是根据样品的特征和仪器的功率来选择。入射离子能量太低，剥蚀速率太慢，影响分析速度、灵敏度和检出限等；太高，仪器的使用寿命会缩短，也可能影响分析的准确度和精度。（3）高真空条件下进行溅射，要及时排出溅射出的二次离子，防止分析室被污染。20简述电子与固体作用

14、产生的信号及据此建立的主要分析方法。电子与固体作用产生的信号主要有：背散射电子，二次电子，透射电子，吸收电子，俄歇电子，X射线、表面元素发射等；建立的分析方法主要有透射电子显微镜（TEM），扫描电子显微镜（SEM），电子探针X射线显微分析（EPMA），俄歇电子能谱（AES）等。26简述布拉格方程的意义。布拉格公式2dHKLsin=中，dHKL干涉指数为（HKL）的晶面的晶面间距，X射线的入射方向或反射（衍射）方向与（HKL）面之间的夹角（叫掠射角或布拉格角），入射X射线的波长，该公式表达了晶面间距d、衍射方向和X射线波长之间的定量关系。该公式的基本应用有：（1）已知X射线的波长和掠射角，可计算

15、晶面间距d（分析晶体结构）；（2）已知晶体结构（晶面间距d）和掠射角，可测定（分析）X射线的波长，进行元素成分分析（加上莫塞莱定律）。27某斜方晶体晶胞含有两个同类原子，坐标位置分别为：（3/4，3/4，1）和（1/4，1/4，1/2），该晶体属何种布拉菲点阵？写出该晶体（100）、（110）、（211）、（221）等晶面反射线的F2值。如果将原子（1/4，1/4，1/2）移动到原点（0，0，0），则另一原子的坐标变为（1/2，1/2，1/2），因此该晶体属布拉菲点阵中的斜方体心点阵。对于体心点阵：29简述影响X射线衍射强度的因素影响X射线衍射方向和强度的因素主要有：入射X射线的波长 和强度I

16、、产生衍射的晶面的晶面间距d、样品的成分和结构、产生衍射的晶面的多重性、衍射时的温度、样品对入射X射线的吸收性质、实验条件等。30试总结德拜法衍射花样的背底来源，并提出一些防止和减少背底的措施。德拜法衍射花样的背底来源主要有：（1）荧光X射线；（2）入射X射线的单色性（连续X射线和K 辐射的干扰）等。防止和减少背底的主要措施：（1）选择合适的靶材，尽量少地激发样品产生荧光X射线，以降低衍射花样背底，使图像清晰；（2）选择合适的狭缝宽度（在保证入射X射线强度的前提下，尽量减小狭缝宽度），提高X射线的单色性；（3）选择适当的滤光片，尽量减少连续X射线和K 辐射的干扰，等等。31下图为某样品德拜相（

17、示意图），摄照时未经滤波。已知1、2为同一晶面衍射线，3、4为另一晶面衍射线，试对此现象作出解释。1、4为K 引起的衍射线，2、3为K 引起的衍射线。因 K 背散射电子像吸收电流像 X射线图像。48二次电子像的衬度和背散射电子像的衬度各有何特点？二次电子像和背散射电子像的衬度特点对比如下：二次电子像的衬度特点背散射电子像的衬度特点景深大、立体感强、分辨率高。衬度来源于形貌、成分、电压（样品局部电位）、样品中的磁畴（第一类磁衬度），主要反映形貌衬度。景深小，立体感不强、分辨率低。衬度来源于成分、形貌、电压、第二类磁衬度，主要反映原子序数衬度。49试比较波谱仪和能谱仪在进行微区化学成分分析时的优缺

18、点。波谱仪和能谱仪在进行微区化学成分分析时的优缺点对比如下：波谱仪能谱仪分析速度较慢，一般不适合作定性分析。分析速度快，可在几分钟内分析和确定样品中含有的几乎所有的元素。可分析4B-92U。一般分析11Na-92U，高档仪器可分析4B-92U。适合定量分析，准确度高。适合定性分析和半定量分析，准确度较高。现代能谱仪的定量分析准确度也很高。灵敏度较低，难以在低束流和低激发强度下使用。灵敏度高，可以在低入射束流和低激发强度下使用。重复性较好。重复性好。波长分辨率高，峰背比高。能量分辨率低，峰背比低。工作条件要求不太严格。工作条件要求严格，探头需在液氮温度下保存。50为什么说电子探针是一种微区分析仪

19、？电子探针分析时所激发的体积大小约为10 m3左右，如果分析物的密度为10g/cm3，则分析区的质量仅为10-10g。若探针的灵敏度为万分之一的话，则分析区的绝对质量可达10-14g，因此电子探针是一种微区分析仪。51要分析钢中碳化物成分和基体中碳含量，应选用什么仪器？要分析钢中碳化物成分和基体中碳含量，应选用电子探针仪，或配置了波谱仪或能谱仪的透射电镜（或扫描电镜）。但在分析前，应了解仪器分析元素的范围，因为电子探针仪有两种类型：波谱型或能谱型。一般情况下，波谱仪分析的元素范围是4Be-92U，能谱仪分析的元素范围是11Na-92U，而带特殊窗口材料的现代能谱仪分析的元素范围可达4Be-92U，因此要选用能分析碳（6C）的仪器。52要在观察断口形貌的同时，分析断口上粒状夹杂物的化学成分，选用什么仪器？怎样操作？应选用配置有波谱仪或能谱仪的扫描电镜。操作方法是：先扫描不同放大倍数的二次电子像，观察断口的微观形貌特征，然后在断口图像上圈定所要分析的粒状夹杂物，用波谱仪或能谱仪定点分析其化学成分。53举例说明电子探针的三种工作方式在显微成分分析中的应用。电子探针的三种工作方式：点、线、