单板硬件调试报告文档格式.docx

1、2.1.3问题列表72.2信号质量测试用例2.2.1电源82.2.1.1测试数据2.2.1.2测试波形及分析2.2.1.3问题列表2.2.2逻辑信号92.2.2.1测试结果2.2.2.2测试波形及分析2.2.2.3问题列表2.2.3时钟信号102.2.3.1测试结果2.2.3.2实测波形及分析2.2.3.3问题列表2.3时序测试用例2.3.1CPU接口部分时序112.3.1.1测试结果2.3.1.2测试时序及分析2.3.2业务接口部分时序2.3.2.1测试结果2.3.2.2测试时序及分析122.3.3问题列表2.4失效器件原因分析3调试测试总结3.1调试测试结果3.2遗留问题报告133.3调试

2、测试经验总结144其他5评审报告表目录表1 有问题信号记录表格表2 有问题信号记录表格表3 有问题信号记录表格表4 时序测试遗留问题表5 调试测试结果统计一表6 调试测试结果统计二表7 调试测试问题列表表8 信号质量遗留问题统计表表9 时序遗留问题统计表表10 功能遗留问题统计表图目录图1 XX图文档名称关键词： 调试测试、计划、其它关键词摘 要：缩略语清单： 对本文所用缩略语进行说明，要求提供每个缩略语的英文全名和中文解释。概述（本章节内容在计划模板中都有体现，在确保内容没有改变的情况下，可以直接拷贝）1.1 基本情况介绍简单介绍产品，并说明单板正式名称和PCB版本号。1.2 单板模块划分从

3、调试测试的角度简要说明单板硬件功能模块的划分情况，以及各个模块的功能和相互关系。1.3 调试测试组网图简单描述调试测试的组网图。可以配以插图进行说明。1.4 调试时间、地点及人员描述本次调试的时间，地点和开发调试人员。2 调试测试用例记录2.1 功能部分调试2.1.1 模块12.1.1.1 调试用例1调试用例编号：AAA-UT-CCC-NNN调试项目：可以用模块名或者调试大项命名调试子项目：具体的调试描述检查点、应达到的要求、指标和预期结果：执行中的其他说明：调试人员： 时间：实测结果：差异说明：说明以下差异及每个差异的原因：被测对象与其规格说明、总体/详细设计文档之间的任何差异；实际调试活动

4、与调试计划之间的任何差异。调试测试是否通过：（OK, POK , NG，NT）1.1.1.1 调试用例2.1.1.2 模块2.1.1.3 问题列表1.2 信号质量测试用例信号质量测试要保证全面性，即单板上的每个信号都要保证测试到，为了保证测试不遗漏，可以先将单板按照功能模块划分，并列举出每个功能模块中的器件，每个器件涉及到的信号再按照实现的功能分类，要列出每类信号的的判断标准，随后给出测试记录的表格。功能模块的划分可以为：电源模块、时钟模块、交叉模块、业务处理模块、接口模块、CPU控制模块、主备倒换模块等等，或者参照前面“2.单板硬件功能模块划分”。对于不同的模块，包含或涉及到不同类型的信号，

5、芯片对不同信号的质量要求是不一样的，例如对电源的质量要求是幅度、上电时间、上电顺序、纹波等；对时钟信号的质量要求是边沿单调性、上升时间、下降时间、占空比、上冲、下冲、回冲、时钟频率、抖动等；对控制信号的质量要求则是电平幅度、有效宽度、上冲、下冲、回冲等；对业务信号的质量要求则是电平幅度、上冲、下冲、回冲、眼图等。信号质量的测试点要选在信号的终端。在表格中结果判断一栏中，注明OK、POK、NG、NT，其中：OK：测试结果全部正确POK：测试结果大部分正确NG：测试结果不通过NT：由于各种原因本次无法测试以下的测试结果记录中，对测试通过的信号，只要求提供其列表；测试不通过的信号，要求提供测试波形记

6、录、原因分析、解决措施和解决计划。以下提供的表格为通用的信号质量规范要求和一些通用的电平信号的标准，可作为信号质量判断的标准，同时需要参考器件手册；以下给出的标准与芯片要求不符的，以芯片要求为准，并要求在芯片的测试实测记录前，列出其特殊要求。信号标准特性信号类型VCCVOHVIHVTVILVOLTTL、ABT52.421.50.80.4LVTTL、LVT、LVC、ALVC、LV3.3CMOS4.443.52.50.5PECL4.193.873.73.523.05LVPECL2.422.061.941.58GTL1.20.860.75GTL+1.0510.95ETL1.61.4BTL（低电平为1

7、V）2.11.621.551.471.1通用信号规范正向过冲负向过冲正向回冲负向回冲正向毛刺负向毛刺边沿特性实测VIH要求实测VIL要求3.87V3.52V必须单调TTL1V2.4V0.8V3V0.6VTTL（3V）2.8V3.5V1.5V1.0V0.4V1.2V0.3V1.4V0.95V0.25V1.15V边沿特性：对通用信号中的控制信号一般要求边沿必须单调；对数据、地址等信号可结合时序的测试结果来作相应的要求。通用时钟信号规范*占空比上升单调性上升时间下降单调性下降时间抖动特性40%-60%待定。建议：对于存在指标规定的信号，应满足指标；无指标规定或无法明确界定的情况下，应满足可靠性要求。

8、*：通用时钟信号规范描述了时钟信号要特殊关注的特性，测试中要注意，时钟信号必须同时满足信号标准特性和通用信号规范。1.1.1 电源1.1.1.1 测试数据幅度允许变化范围VCC1推荐电源电压*纹波地线噪声（VP-P）VCC2推荐电压*要求指标5%12%实测值单电源工作的不分VCC1、VCC2等1.1.1.1 测试波形及分析在此粘贴上测试的所有波形，实测数据，并加以简单分析。所有的波形都做为以后问题跟踪和质量回溯的依据。如果波形文件比较大可以压缩后粘贴或者做为单独的附件提供。1.1.1.2 问题列表在此需要提供有问题信号的波形、问题产生的原因分析、改进措施和修改计划。也可以用表格形式记录，在问题

9、描述栏中说明是信号的哪个特性不满足要求，具体波形见图XX。参考表格如下：1 有问题信号记录表格信号名/网络名测试点问题描述原因分析改进措施是否填写了缺陷跟踪电子流1.1.1 逻辑信号1.1.1.1 测试结果1. 接口模块U1：测试点（管脚）结果判断备注如：CLKU11OK可以在此填写为了产生这些信号，采取了什么样的的激励方式或方法U2：U3：。2. 业务处理模块3. XXX模块在此粘贴上测试的所有波形、实测数据，并加以简单分析。1.1.1 时钟信号1.1.1.1 实测波形及分析1.1 时序测试用例时序测试包括了CPU的读写时序、存储器的操作时序、业务处理器件的数据输入输出时序等。具体应按单板实

10、际设计进行划分。在时序测试之前要列出涉及到时序要求的器件,如U3，U4；然后可按照器件分别来记录时序测试结果，在记录每个器件的测试结果之前，与信号质量测试类似，也要先列出器件对时序的要求。表中标识符应与器件手册对应。测试结果有较大的错误1.1.1 CPU接口部分时序（下面表形式供参考使用，也可直接分别给出设计要求和实际测试得到的时序图，但必须明确给出测试结论和修改措施、计划）参数标识符最小值要求（ns）最大值要求（ns）实测值（ns）结论修改计划命令（/CS，/RAS，/CAS，/WE，DQM）的建立时间tCS修改计划中需写明本板解决、下一板解决或给出明确的修改完成日期。命令（/CS，/RAS

11、，/CAS，/WE，DQM）的保持时间tCH地址建立时间tAS地址保持时间tAH数据数据建立时间tDS数据数据保持时间tDH1.1.1.1 测试时序及分析1.1.2 业务接口部分时序1.1.2.1 测试结果（下面表形式供参考使用，也可分别直接给出设计要求和实际测试得到的时序图，但必须明确给出测试结论和修改措施、计划）时钟周期tCK帧建立时间帧保持时间1.1.2 问题列表将有问题的信号列举出来，如果完全满足情况，填写“无”。1 时序测试遗留问题1.1 失效器件原因分析描述对关键器件的失效分析结果和可靠性改进和预防措施。2 调试测试总结2.1 调试测试结果对本次调试的项目进行总结，包括完成总项数，

12、通过多少项，失败多少项，部分通过多少项及百分比等，详细的调试项目通过情况清单应放在附件部分，并在此处说明该附件的位置。此处的总结一般用以下表格进行表现：1 调试测试结果统计一计划测试项新增测试项实际测试项计划花费时间（人时）实际花费时间1 调试测试结果统计二总项目数OK项POK项NG项NT项数目百分比其中：总结调试的结果，确定所有已解决了的问题，并对解决结果进行总结，确定未解决的问题。为每个被测对象给出总结性的评价，包括其局限性，评价必须基于调试结果和被测对象的通过/失败准则。对失败风险的估计应包括在内。总结主要的调试活动和事件。总结资源消耗数据，如总人员、总机时，每个主要调试活动花费的时间。

13、1.1 遗留问题报告遗留问题是指调试过程中发生的并且在调试报告时仍没有得到解决需要投下一版PCB回归测试验证的问题。建立遗留问题统计表格，可对遗留问题数和级别进行统计，包括问题总数，致命，严重，一般和提示问题的数目及百分比等，遗留问题统计一般可用以下表格描述，其中的字段可根据实际情况进行设计和裁剪。1 调试测试问题列表总共发现问题总数致命问题严重问题一般问题提示问题问题分四个级别来定义，各级别含义如下：致命：引起系统死机或系统崩溃的问题严重：引起系统某一功能失效且不能简单恢复（如插拔单板）的问题一般：引起系统某一功能失效但可简单恢复或较难重现的问题提示：从操作或维护的角度发现的问题或建议1 信

14、号质量遗留问题统计表问题总数其他统计项1 时序遗留问题统计表1 功能遗留问题统计表1.1 调试测试经验总结2 其他对于模拟和射频部分以及其它关键内容，由于其要求不一，根据实际设计的要求，根据模拟、射频部分的测试用例，要求粘贴测试记录，分析测试结果，总结测试问题。3 评审报告开发组长应及时组织对单板硬件调试与单元测试报告的评审，按照单板硬件调试与单元测试过程的CHECKLIST 文档，进行审核。并将评审报告记录在这里。参考资料清单：请罗列本文档所参考的有关参考文献和相关文档，格式如下：作者书名（或杂志、文献、文档）出版社（或期号、卷号、公司文档编号）出版日期+起止页码例如：1 D. B. Lee

15、son, “A Simple Model of Feedback Oscillator Noise Spectrum,” Proc. IEEE, pp329-330, February 1966 （英文文章格式）2 D. Wolaver, Phase-Locked Loop Circuit Design, Prentice Hall, New Jersey,1991 （英文书籍格式）3 王阳元，奚雪梅等，“薄膜SOI/CMOS SPICE电路模拟”，电子学报，vol.22，No.5，1994 （中文文章格式）4 郑筠，MOS存储系统及技术，科学出版社，1990 （中文书籍格式）5 XXX，SDXXX用户手册 V1.1，基础部文档室，2001/4/26