1、HR( )经理审批: 日期:分派清单 :PDLOGMETMPMFINHRIT文件修改记录版 本修改内容概述修订人修订日期A新发行不良情况的处理03-Apr-20021.0 目的提供SPC的使用准则及步骤,并说明使用方法,以便在运用管制图时能够正确地决定、检讨管制界限与进行管制图的判读。2.0 范围 X-R管制图、P管制图、Cpk(制程能力指数)的运用管理。3.0 定义 3.1 计量值特性 凡产品的品质特性以实际量测方式取得的特性称为计量特性,例如重长等。 3.2 计数值特性 凡产品的品质特性不连续,不易或不能以实际量测方式取得,只能间断取值的 特性,例如不合格数、不良品率等。4.0 相关文件5
2、.0 职责 5.1 相关部门:SPC的运用与维持。 5.2 工程部:SPC的使用的规划。6.0 程序 6.1 管制图使用规划及选择原则 6.1.1 使用规划由QA及工程部根据各制造工序影响因素及质量影响因素,结合成 本及效益,全面规划需采取管制图控制的工序和产品特性。6.1.2 选择原则 6.1.2.1 计量值特性选用X-R管制图。 6.1.2.2 计数值特性选用P管制图。 6.2 管制图绘制、使用步骤 6.2.1 首次使用管制图的作业程序 6.2.1.1 决定须管制的特性。 6.2.1.2 搜集25组数据。 6.2.1.3 计算中心线(平均值)及管制上、下限。 6.2.1.4 绘制管制图。
3、6.2.1.5 检查是否有超出管制界限的点。 6.2.1.6 将这些超出管制界限的资料剔除并重新计算中心线(平均值)及管 制上、下限。 6.2.1.7 决定管制图的中心线(平均值)及管制上、下限。 6.2.2 现场使用管制图的作业程序 6.2.2.1 在新的管制图纸划出管制图的中心线(平均值)及管制上、下限。 6.2.2.2 依规定的抽样频率及抽样数,并将所得资料记录于管制图上,且依所使用的管制图种类进行计算。 6.2.2.3 将计算结果描点于管制图上。 6.2.2.4 管制图判读及异常管制图矫正/预防措施 6.2.2.5 检讨管制界限 6.2.2.5.1当完成一张管制图时,根据管制图图纸上的
4、资料重新计算中心线 (平均值)及管制上、下限。计算时须剔除超出管制界的资 料。 6.2.2.5.2 比较计算前后之中心线(平均值)及管制上、下限。 6.2.2.5.3 若无重大差异时在新的管制图纸延用计算前的管心线(平均值) 6.2.2.5.4 若有明显的差异时,可在新的管制图纸使用计算后的管制中心线(平均值)及管制上、下限。 6.3 管制图判读原则及异常管制图的矫正/预防措施 6.3.1 正常之管制图其各点的动态为: 6.3.1.1 多数的点集中在中心线附近。 6.3.1.2 少数的点落在管制界限附近(但未超出管制界限)。 6.3.1.3 各点的分布呈随机状态,无任何规则可循。 6.3.2
5、异常管制图的判读 6.3.2.1 任何超出控制限的点 6.3.2.2 连续7个点在中心线之上或之下 6.3.2.3 连续7个点上升或下降 6.3.2.4 任何其它明显的非随机图形,如2/3的描点应落在控制限1/3的中间区域,描点成规则形状。 6.3.3 异常之管制图的矫正/预防措施 6.3.3.1 出现任何超出控制界限的点,都应提请相关单位进行原因分析,并采取矫正措施。 6.3.3.2 对于连续7个点在中心线之上或之下,或连续7个点上升或下降,或其它明显非随机图形,都应提请相关部门分析原因,留意趋势采取相应预防措施。 6.3.3.3 如相关责任部门无视不良现象的存在或长期行动无效果, 必要时发
6、出矫正/预防措施要求书要求其改善。 6.4 XR管制图的使用方法 XR管制图是以管制平均值(X管制图)与全距(R管制图)的方式达到管 制的目的。 6.4.1 决定样本数 6.4.1.1 使用XR管制图的样本数(n)以2 5个为适当,但不要超过 10个为宜。 6.4.1.2 样本数一经决定后必须在使用时固定不变。 6.4.2 平均值与全距的计算 6.4.2.1 平均值(X)= 各组内数据的和样本数。 6.4.2.2 全距(R)= 各组内的最大值最小值。 6.4.3 X 管制图与R管制图之中心线与管制上、下限的计算公式。 6.4.3.1 X 管制图之中心线与管制上、下限的计算公式: 6.4.3.2
7、 R 管制图之中心线与管制上、下限的计算公式: 6.4.3.3 XR管制图的系数表N23456789A21.881.020.730.580.480.420.370.340.31D21.131.692.062.332.532.702.852.973.08D30.080.140.180.22D43.272.572.282.112.001.921.861.821.786.5 P 管制图的使用方法P 管制图是以管制不良率的方式达到管制的目的。6.5.1 决定样本数 6.5.1.1 使用P管制图的样本数(n)以能够发现1-5个不良品最为适 当,样本数的决定公式为: 6.5.1.2 若未决定样本数,导致管
8、制下限小于0,则下限取0。6.5.2 管制图的管制界限必须依管制上、下限公式计算,若样本改变时,以实际样本数代入。6.5.3 P 管制图之中心线及管制上、下限的计算公式:6.6 制程能力指数 Cpk 使用规划 6.6.1 工程部根据各制造过程或工序影响以及质量特性,全面规划需进 行制程能力控制的制程或工序并明确相应的Cpk值。 6.6.2 制程能力指数 6.6.1.1 使用制程能力指数时,应依统计学的原则,同时衡量制程中的集中(平均)与分数(变异)状况,以确实掌握制程品质特性。6.6.1.2 Cpk值、Cpk等级、不合格率及相应措施关系列表如下。衡量等级Cpk值Cpk等级不良率(P)相 应 措
9、 施2.0(含以上)6P0.000000002本公司的优势,需要时配合管制图管制。1.672.05P0.00000057希望制程能够达到的水准,应考虑配合管制图进行管制C1.331.674P0.00006产品可免检,但应考虑配合管制图管制。D1.01.333P0.0027制程有改善空间,要改善并可采取抽样的方式检验产品E0.671.02P0.0455制程应进行专案改善并考虑设置检查站,确认唯有合格的批才可进入下一制程。F0.330.672P0.3174制程很差,应考虑实施全检6.6.3 制程能力指数运用的前提 6.6.3.1 所使用的规格上下限依内部或客户要求。 6.6.3.2 如客户另有特定
10、制程指数值要求时,另和客户协商。 6.6.3.3 指数计算的结果可能因抽样误差而有所差异,使用时掌握其等级,并采取适当措施即可。 6.6.4 制程能力指数的计算 6.6.4.1 符号说明 USL:表示规格上限。LSL:表示规格下限。 X :表示所搜集或抽样资料的平均。 :表示自所搜集或抽样资料中所推算(估计)的标准差。 6.6.4.2 制程能力指数计算公式 Cpk:相对于规格同时表示制程集中与变异的指数。 6.6.4.3 标准差计算公式 =R/d2R 是子组极差的平均值,d2 是随样本容量变化的常数 6.6.5 制程能力指数异常的处理当制程能力指数低于客户要求时,责任部门应采取措施以改善,必要时应以矫正/预防措施要求书的形式提出改善7附件 7.1 X-R管制图图纸样式7.2 P管制图图纸样式8. 流程图略附件一X-R 管制图部门: 管制图编号:组别规格管制图X图R图机器号码工序名称最大值上限作业员管制特性平均值中心限抽样方法 期 限最小值下限测试者时 日合计编 号样本测定值X1X2X3X4X5X平均XR管制图计算原 因追 查附件二计数型数据管制图
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