1、振荡ISA 槽的主振信号,空板上电则应常亮,否则停振。FRAME帧周期PCI 槽有循环帧信号时灯才闪亮,平时常亮。RST复位开机或按了 RESET 开关后亮半秒钟熄灭必属正常, 若不灭常因主板上的复位插针接上了加速 开关或复位电路坏。12V电源空板上电即应常亮,否则无此电压或主板有短路。12V5V5V(只有 ISA 槽才有此电压)3V3这是 PCI 槽特有的 3.3V 电压,空板上电即应常亮,有些有 PCI 槽的主板本身无此电压,则 不亮。5.使用流程图(以最小系统为例)6.故障代码含义速查表查表必读(注意事项)1.特殊代码 “00”和“FF”及其它起始码有三种情况出现:1已由一系列其它代码之
2、后再出现: “00”或“FF”,则主板 OK 。2如果将 CMOS 中设置无错误,则不严重的故障不会影响 BIOS 自检的继续,而最终出现 “00”或FF。”3一开机就出现 “00”或 “FF”或其它起始代码并且不变化则为板没有运行起来。2.本表是按代码值从小到大排序,卡中出码顺序不定。3.未定义的代码表中未列出。4.对于不同 BIOS (常用的 AMI 、 Award、 Phoenix)用同一代码所代表的意义有所不同,因此应弄清您 所检测的电脑是属于哪一种类型的 BIOS ,您可查问你的电脑使用手册,或从主板上的 BIOS 芯片上直接查看,也可以在启动屏幕时直接看到。5.有少数主板的 PCI
3、 槽只有前一部分代码出现,但 ISA 槽则有完整自检代码输出。且目前已发现有极 个别原装机主板的 ISA 槽无代码输出,而 PCI 槽则有完整代码输出,故建议您在查看代码不成功时,将本 双槽卡换到另一种插槽试一下。另外,同一块主板的不同 PCI 槽,有的槽有完整代码送出,如 DELL810 主 板只有靠近 CPU 的一个 PCI 槽有完整的代码显示,一直变化到 “00”或“FF”,而其它槽走到 “38”则不 继续变化。6.复位信号所需时间 ISA 与 PCI 不一定同步,故有可能 ISA 开始出代码,但 PCI 的复位灯还不熄,故PCI 代码停在起始码上。代码Award BIOSAmi BIO
4、SPhoenix BIOS 或 Tandy 3000 BIOS00已显示系统的配置;即将控制 INI19 引导装 入。01处理器测试 1,处理器状态核实 ,如果测试失败,循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始,不可屏蔽中断即将停用。CPU 寄存器测试正在进行或者失败。02确定诊断的类型(正常或者制造)。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用不可屏蔽中断;通过延迟开始。CMOS 写入读出正在进行或者失灵。03清除 8042 键盘控制器,发出TESTKBRD 命令( AAH )通电延迟已完成。ROM BIOS 检查部件正在进行或失灵。04使 8042 键盘控制器复位,核实TESTKBRD 。键盘控
5、制器软复位通电测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。05如果不断重复制造测试 1 至 5,可获 得 8042 控制状态。已确定软复位通电;即将启动 ROM 。DMA 初如准备正在进行或者失灵。06使电路片作初始准备,停用视频、奇 偶性、DMA 电路片, 以及清除 DMA 电路片,所有页面寄存器和 CMOS 停机字节。已启动 ROM 计算 ROM BIOS 检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。DMA 初始页面寄存器读写测试正在进 行或失灵。07处理器测试 2,核实 CPU 寄存器的工 作。ROM BIOS 检查总和正常,键盘缓冲器已清 除,向键盘发出 BAT(基本保证测试) 命令。08使
6、 CMOS 计时器作初始准备,正常 的更新计时器的循环。已向键盘发出 BAT 命令,即将写入 BAT 命 令。RAM 更新检验正在进行或失灵。09EPROM 检查总和且必须等于零才通 过。核实键盘的基本保证测试,接着核实键盘命令字节。第一个 64K RAM 测试正在进行。0A使视频接口作初始准备。发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。第一个 64K RAM 芯片或数据线失灵, 移 位。0B测试 8254 通道 0。写入键盘控制器命令字节, 即将发出引脚 23 和 24 的封锁解锁命令。第一个 64K RAM 奇偶逻辑失灵。0C测试 8254 通道 1。键盘控制器引脚 23、24 已封锁解
7、锁; 已发 出 NOP 命令。第一个 64K RAN 的地址线故障。0D1、检查 CPU 速度是否与系统时钟相 匹配。 2、检查控制芯片已编程值是 否符合初设置。 3、视频通道测试, 如果失败,则鸣喇叭。已处理 NOP 命令;接着测试 CMOS 停开寄存器。第一个 64K RAM 的奇偶性失灵0E测试 CMOS 停机字节。CMOS 停开寄存器读写测试;将计算CMOS 检查总和。初始化输入输出端口地址。0F测试扩展的 CMOS。已计算 CMOS 检查总和写入诊断字节;CMOS 开始初始准备。10测试 DMA 通道 0 。CMOS 已作初始准备, CMOS 状态寄存器即 将为日期和时间作初始准备。
8、第一个 64K RAM 第 0 位故障。11测试 DMA 通道 1 。CMOS 状态寄存器已作初始准备,即将停用DMA 和中断控制器。第一个 64DK RAM 第 1 位故障。12测试 DMA 页面寄存器。停用 DMA 控制器 1 以及中断控制器 1 和 2; 即将视频显示器并使端口 B 作初始准备。第一个 64DK RAM 第 2 位故障。13测试 8741 键盘控制器接口。视频显示器已停用,端口 B 已作初始准备;即将开始电路片初始化存储器自动检测。第一个 64DK RAM 第 3 位故障。14测试存储器更新触发电路。电路片初始化存储器处自动检测结束;8254 计时器测试即将开始。第一个
9、64DK RAM 第 4 位故障。15测试开头 64K 的系统存储器。第 2 通道计时器测试了一半; 8254 第 2 通道 计时器即将完成测试。第一个 64DK RAM 第 5 位故障。16建立 8259 所用的中断矢量表。第 2 通道计时器测试结束; 8254 第 1 通道计 时器即将完成测试。第一个 64DK RAM 第 6 位故障。17调准视频输入输出工作, 若装有视 频 BIOS 则启用。第 1 通道计时器测试结束; 8254 第 0 通道计 时器即将完成测试。第一个 64DK RAM 第 7 位故障。18测试视频存储器, 如果安装选用的视 频 BIOS 通过,由可绕过。第 0 通道
10、计时器测试结束;即将开始更新存 储器。第一个 64DK RAM 第 8 位故障。19测试第 1 通道的中断控制器( 8259) 屏蔽位。已开始更新存储器,接着将完成存储器的更新。第一个 64DK RAM 第 9 位故障。1A测试第 2 通道的中断控制器( 8259) 屏蔽位。正在触发存储器更新线路, 即将检查 15 微秒 通断时间。第一个 64DK RAM 第 10 位故障。1B测试 CMOS 电池电平。完成存储器更新时间 30 微秒测试;即将开始 基本的 64K 存储器测试。第一个 64DK RAM 第 11 位故障。1C测试 CMOS 检查总和。第一个 64DK RAM 第 12 位故障。
11、1D调定 CMOS 配置。第一个 64DK RAM 第 13 位故障。1E测定系统存储器的大小, 并且把它和CMOS 值比较。第一个 64DK RAM 第 14 位故障。1F测试 64K 存储器至最高 640K 。第一个 64DK RAM 第 15 位故障。20测量固定的 8259 中断位。开始基本的 64K 存储器测试; 即将测试地址 线。从属 DMA 寄存器测试正在进行或失灵。21维持不可屏蔽中断( NMI )位(奇偶性或输入输出通道的检查)。通过地址线测试;即将触发奇偶性。主 DMA 寄存器测试正在进行或失灵。22测试 8259 的中断功能。结束触发奇偶性;将开始串行数据读写测试。主中断
12、屏蔽寄存器测试正在进行或失灵。23测试保护方式 8086 虚拟方式和 8086 页面方式。基本的 64K 串行数据读写测试正常; 即将开始中断矢量初始化之前的任何调节。从属中断屏蔽存器测试正在进行或失灵。24测定 1MB 以上的扩展存储器。矢量初始化之前的任何调节完成,即将开始中断矢量的初始准备。设置 ES 段地址寄存器注册表到内存高端。25测试除头一个 64K 之后的所有存储 器。完成中断矢量初始准备;将为旋转式断续开 始读出 8042 的输入输出端口。装入中断矢量正在进行或失灵。26测试保护方式的例外情况。读出 8042 的输入输出端口; 即将为旋转式 断续开始使全局数据作初始准备。开启 A20 地址线;使之参入寻址。27确定超高速缓冲存储器的控制或屏蔽 RAM 。全 1 数据初始准备结束;接着将进行中断矢 量之后的任何初始准备。键盘控制器测试正在进行或失灵。28确定超高速缓冲存储器的控制或者特别的 8042 键盘控制器。完成中断矢量之后的初始准备;即将调定单色方式。CMOS 电源故障检查总和计算正在进 行。29已调定单色方式,即将调定彩色方式。CMOS 配置有效性的检查正在
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