X射线衍射习题Word文档下载推荐.docx

1、 14、定量物相分析可以确定样品中的元素含量 （ 15、定量物相分析K法优点是不需要掺入内标样品 （） 16、利用高温X射线衍射可以测量材料热膨胀系数（） 17、定量物相分析法中必须采用衍射积分强度 （） 18、丝织构对称轴总是沿着试样的法线方向 （ 19、为获得更多衍射线条须利用短波长X射线进行衍射（） 20、板织构有时也具有一定的对称性 （） 21、材料中织构不会影响到各晶面的衍射强度 （ 22、粉末样品不存在择优取向即织构问题 （ 23、常规衍射仪X射线穿透金属的深度通常在微米数量级 （） 24、粉末样品粒度尺寸直接关系到衍射峰形质量 （） 25、X射线应力测定方法对非晶材料也有效 （

2、26、利用谢乐公式D=/（cos） 可测得晶粒尺寸 （ 27、宏观应力必然造成衍射峰位移动 （） 28、微观应力有时也可造成衍射峰位移动 （） 29、材料衍射峰几何宽化仅与材料组织结构有关 （ 30、实测衍射线形是由几何线形与物理线形的代数叠加 （二、选择题 1、与入射X射线相比相干散射的波长 （A）较短，（B）较长，（C）二者相等，（D）不一定 2、连续X射线的总强度正比于 （A）管电压平方，（B）管电流，（C）靶原子序数，（D）以上都是 3、L层电子回迁K层且多余能量将另一L层电子打出核外即产生 （A）光电子，（B）二次荧光，（C）俄歇电子，（D） A和B 4、多晶样品可采用的X射线衍射方

3、法是 （A）德拜-谢乐法，（B）劳厄法，（C）周转晶体法，（D） A和B 5、某晶面族X射线衍射强度正比于该晶面的 （A）结构因子，（B）多重因子，（C）晶面间距，（D） A和B 6、基于X射线衍射峰位的测量项目是 （A）结晶度，（B）点阵常数，（C）织构，（D）以上都是 7、基于X射线衍射强度的测量项目是 （A）定量物相分析，（B）晶块尺寸，（C）内应力，（D）以上都是 8、测定钢中奥氏体含量时的X射线定量物相分析方法是 （A）外标法，（B）内标法，（C）直接比较法，（D） K值法 9、X射线衍射仪的主要部分包括 （A）光源，（B）测角仪光路，（C）计数器，（D）以上都是 10、Cu靶X射线

4、管的最佳管电压约为 （A） 20kV，（B） 40kV，（C） 60kV，（D） 80kV 11、X射线衍射仪的测量参数不包括 （A）管电压，（B）管电流，（C）扫描速度，（D）暴光时间 12、实现X射线单色化的器件包括 （A）单色器，（B）滤波片，（C）波高分析器，（D）以上都是 13、测角仪半径增大则衍射的 （A）分辨率增大，（B）强度降低，（C）峰位移，（D） A与B 14、宏观应力测定几何关系包括 （A）同倾，（B）侧倾，（C） A与B，（D）劳厄背反射 15、定性物相分析的主要依据是 （A）衍射峰位，（B）积分强度，（C）衍射峰宽，（D）以上都是 16、定量物相分析要求采用的扫描方式

5、 （A）连续扫描，（B）快速扫描，（C）阶梯扫描，（D） A与B 17、描述织构的方法不包括 （A）极图，（B）反极图，（C） ODF函数，（D）径向分布函数 18、面心立方点阵的消光条件是晶面指数 （A）全奇，（B）全偶，（C）奇偶混杂，（D）以上都是 19、立方晶体（331）面的多重因子是 （A） 6 ，（B） 8 ，（C） 24 ，（D） 48 20、哪种靶的临界激发电压最低 （A） Cu ，（B） Mo ，（C） Cr ，（D） Fe 21、哪种靶的K系特征X射线波长最短 22、X射线实测线形与几何线形及物理线形的关系为 （A）卷积，（B）代数和，（C）代数积，（D）以上都不是 23、

6、与X射线非晶衍射分析无关的是 （A）径向分布函数，（B）结晶度，（C）原子配位数，（D）点阵参数 24、宏观平面应力测定实质是利用 （A）不同方位衍射峰宽差，（B）不同方位衍射峰位差， （C）有无应力衍射峰宽差，（D）有无应力衍射峰位差 25、计算立方晶系ODF函数时需要 （A）多张极图数据，（B）一张极图数据， （C）多条衍射谱数据，（D）一条衍射谱数据 26、衍射峰半高宽与积分宽之关系通常 （A）近似相等，（B）半高宽更大，（C）积分宽更大，（D）不一定 27、关于厄瓦尔德反射球 （A）球心为倒易空间原点，（B）直径即射线波长之倒数， （C）衍射条件是倒易点与该球面相交，（D）以上都是 2

7、8、 K双线分离度随2 增大而 （A）减小，（B）增大， （C）不变，（D）不一定 29、d值误差随2 增大而 30、衍射谱线物理线形宽度随增大而三、填空题 1、管电压较低时只产生 连续 谱，较高时则可能产生 连续 和 特征 谱 2、K系特征X射线波长由短至长依次 、 1 和 2 3、Cu、Mo及Cr靶特征辐射波长由短至长依次 Mo 、 Cu 和 Cr 4、特征X射线强度与 管电流 、 管电压 及 特征激发电压 有关 5、X射线与物质的相互作用包括 散射 和 真吸收 ，统称为 衰减 6、结构振幅符号 F ，结构因子符号 F2 ，结构因子等零称为 消光 7、除结构因子外，影响衍射强度因子包括多重

8、因子、吸收因子和温度因子 8、体心立方晶系的低指数衍射晶面为 （110） 、（200） 和 （211） 9、面心立方晶系的低指数衍射晶面为 （111） 、（200） 和 （220） 10、X射线衍射方法包括 劳埃法 、 周转晶体法 和 粉末法 11、衍射仪的主要组成单元包括 光源 、测角仪光路 和 计数器 12、影响衍射仪精度的因素包括 仪器 、 样品 和 实验方法 13、衍射仪的主要实验参数包括 狭缝宽度 、扫描范围 和 扫描速度 14、衍射谱线定峰方法包括 半高宽中点 、顶部抛物线 和 重心 法 15、精确测量点阵常数的方法包括图解外推法、最小二乘法和标样校正法 16、X射线定量物相分析包

9、括 直接对比 、内标 和 K值 法 17、三类应力衍射效应， 衍射峰位移 、衍射峰宽化 和 衍射峰强度降低 18、X射线应力常数中包括材料的 弹性模量 、 泊松比 和 布拉格角 19、棒材存在 丝 织构，板材存在 板 织构，薄膜存在 丝 织构 20、X射线衍射线形包括 实测 线形、 物理 线形和 仪器即几何 线形四、名词解释 1、七大晶系 要点 立方晶系、正方晶系、斜方晶系、菱方晶系、六方晶系、单斜晶系及三斜晶系。 2、点阵参数 描述晶胞基矢长度及夹角的几何参数，分别用a、b、c、及表示。 3、反射球 倒易空间中构造一个以X射线波长倒数为半径的球，球面与倒易原点相切。 4、短波限 连续X射线波

10、谱中的最短波长。 5、相干散射 X射线被样品散射后波长不变。 6、荧光辐射 光子作用下样品原子K层电子电离，L层电子回迁K层，同时产生特征辐射线。 7、俄歇效应 光子作用下样品原子K层电子电离， L层电子回迁K层，另一L层电子电离。 8、吸收限 若X射线波长由长变短，会出现吸收系数突然增大现象，该波长即吸收极限。 9、原子散射因子 一个原子X射线散射振幅与一个电子X射线散射振幅之比。 10、角因子 与衍射角有关的强度校正系数，包括洛伦兹因子和偏振因子。 11、多重因子 晶体中同族等效晶面的个数。 12、吸收因子 由于样品对X射线吸收而导致衍射强度降低，而所需的校正系数。 13、温度因子 热振动

11、使原子偏离平衡位置，导致衍射强度降低，而所需的校正系数。 14、多晶体 由无数个小单晶体组成，包括粉末样品和块体样品。 15、衍射积分强度 实际是X射线衍射峰的积分面积。 16、PDF卡片 晶体衍射标准卡片，提供晶体的晶面间距和相对衍射强度等信息。 17、极图 在样品坐标系中，多晶样品某同族晶面衍射强度的空间分布图。 18、ODF函数 利用几张极图数据，计算出多晶样品各晶粒空间取向概率即ODF函数。 19、RDF函数 通过X射线相干散射强度，计算RDF函数，反映非晶原子近程配位信息等。 20、结晶度 在结晶与非晶混合样品中的结晶物质含量五、简答题 1、连续X射线谱与特征X射线谱 当管压较低时，

12、呈现在一定波长范围内连续分布的X射线波谱，即连续谱。管压超过一定程度后，在某些特定波长位置出现强度很高、非常狭窄的谱线，它们叠加在连续谱强度分布曲线上；当改变管压或管流时，这类谱线只改变强度，而波长值固定不变，这就是X射线特征谱。 2、X射线与物质的作用 X射线与物质的作用包括散射和真吸收。散射包括相干散射和非相干散射，相干散射波长与入射线波长相同即能量未发生变化，而非相干散射波长则大于入射线波长即能量降低。真吸收包括光电效应、俄歇效应及热效应等。 3、X射线衍射方向 即布拉格定律，可表示为，其中d晶面间距，布拉格衍射角，为X射线波长。布拉格定律决定X射线在晶体中的衍射方向。基于布拉格定律，可

13、进行定性物相分析、点阵常数测定及应力测定等。 4、X射线衍射强度 要点 X射线衍射强度简化式为，其中V是被照射材料体积，Vc即晶胞体积，P晶面多重因子，|F|2晶面结构因子，Lp角因子或洛伦兹-偏振因子，A吸收因子，e-2M温度因子。基于X射线衍射强度公式，可进行定量物相分析、结晶度测量及织构测量等。 5、结构因子与系统消光 结构因子即一个晶胞散射强度与单电子散射强度之比，反映了点阵晶胞结构对散射强度的影响。晶胞中原子散射波之间周相差引起波的干涉效应，合成波被加强或减弱。某些晶面的布拉格衍射会消失，称之为消光。 6、材料内应力的分类 第I类内应力为宏观尺寸范围并引起衍射谱线位移，第II类应力为晶粒尺寸范围并引起衍射谱线展宽，第III类应力为晶胞尺寸范围并引起衍射强度下降。第I类应力属于宏观应力，第II类及第III类应力属于微观应力。