自控实验4Word格式.docx

1、一实验目的1了解和掌握超前校正的原理。2了解和掌握利用开环的对数幅频特性和相频特性完成超前校正网络的参数的计算。3掌握在被控系统中如何串入超前校正网络，构建一个性能满足指标要求的新系统的方法。二实验内容及步骤1观测校正前时域特性曲线，並测量校正前系统的超调量Mp、峰值时间tP。2观测被控系统的开环对数幅频特性和相频特性，幅值穿越频率c，相位裕度，按“校正后系统的相位裕度”要求,设计校正参数，构建校正后系统。3观测校正后的时域特性曲线，並测量校正后系统的超调量Mp、峰值时间tP。4观测校正后系统的频率特性，观测校正后幅值穿越频率c、相位裕度。注：在进行本实验前应熟练掌握使用本实验机的二阶系统开环

2、对数幅频特性和相频特性的测试方法。1）。未校正系统的时域特性的测试未校正系统模拟电路图见图4-1。本实验将函数发生器（B5）单元作为信号发生器， OUT输出施加于被测系统的输入端Ui，观察OUT从0V阶跃+2.5V时被测系统的时域特性。图4-1 未校正系统模拟电路图实验步骤： 注：S ST 用“短路套”短接！（1）构造模拟电路：按图4-1安置短路套及测孔联线，表如下。（a）安置短路套 （b）测孔联线模块号跨接座号1A1S4，S82A2S3，S113A3S1，S64A6S4，S8，S95B5S-ST信号输入r（t）B5（OUT）A1（H1）运放级联A1（OUT）A2（H1）A2A（OUTA）A6

3、（H1）负反馈A6（OUT）A1（H2）A6（OUT）A3（H1）6示波器联接1档A3（OUT）B3（CH1）7B5（OUT）B3（CH2）（2）将函数发生器（B5）单元的矩形波输出作为系统输入R。（连续的正输出宽度足够大的阶跃信号） 在显示与功能选择（D1）单元中，通过波形选择按键选中矩形波（矩形波指示灯亮）。 函数发生器（B5）单元的量程选择开关S2置下档，调节“设定电位器1”，使之矩形波宽度3秒（D1单元左显示）。 调节B5单元的“矩形波调幅”电位器使矩形波输出电压= 2.5V（D1单元右显示）。（3）运行、观察、记录： 运行LABACT程序，在界面自动控制菜单下的“线性系统的校正和状态

4、反馈”实验项目，选中“线性系统的校正”项，弹出线性系统的校正的界面，点击开始，用虚拟示波器CH1观察系统输出信号。 观察OUT从0V阶跃+2.5V时被测系统的时域特性，等待一个完整的波形出来后，点击停止，然后移动游标测量其超调量、峰值时间及调节时间。时域特性超调量Mp（%）峰值时间tp（s）65.64%0.32在未校正系统的时域特性特性曲线上可测得时域特性：表4-1 未校正系统的时域特性MP=v/2.5*100%=1.641/2.5*100%=65.64%Tp=0.32s2）未校正系统的频域特性的测试本实验将数/模转换器（B2）单元作为信号发生器，实验开始后，将按频率特性扫描点设置表规定的频率

5、值，按序自动产生多种频率信号，OUT2输出施加于被测系统的输入端r（t），然后分别测量被测系统的输出信号的闭环对数幅值和相位，数据经相关运算后在虚拟示波器中显示。未校正系统频域特性测试的模拟电路图见图4-2。图4-2 未校正系统频域特性测试的模拟电路图 实验步骤：（1）将数/模转换器（B2）输出OUT2作为被测系统的输入。（2）构造模拟电路：按图4-2安置短路套及测孔联线表如下。B2（OUT2）A1（H1）幅值测量A3（OUT） B7（IN4）相位测量A3（OUT） A8（CIN1）8A8（COUT1） B8（IRQ6）将数/模转换器（B2）输出OUT2作为被测系统的输入，运行LABACT程序

6、，在界面的自动控制菜单下的线性控制系统的频率响应分析实验项目，选择二阶系统，就会弹出虚拟示波器的界面，点击开始，则进行频率特性测试。在未校正系统模拟电路的相频特性曲线上可测得未校正系统频域特性：表4-2 未校正系统频域特性频域特性穿越频率c（rad/s）相位裕度（）9.4219.7= 180+（wc）=180+（-160.3 3）超前校正网络的设计 在未校正系统模拟电路的开环相频特性曲线上测得未校正系统的相位裕度=18.9。 如果设计要求校正后系统的相位裕度=52，则网络的最大超前相位角须为：，。其中为考虑到时，所需減的角度，一般取510 可计算出网络的参数： 可计算出网络的最大超前相位角处的

7、对数幅频值为： 在系统开环幅频特性曲线上，可测得时的角频率=14.4 rad/s ，该角频率应是网络的最大超前角频率，这亦是串联超前校正后系统的零分贝频率。 可计算出计算串联超前校正网络参数：， 令 C=1u， 计算出：R4=155K， R5=38.7K超前校正网络传递函数为：为了补偿接入超前校正网络后，被校正系统的开环增益要下降a倍，必须另行提高系统的开环增益增益a倍。因为a=5，所以校正后系统另行串入开环增益应等于5的运放A5。4）串联超前校正后系统的时域特性的测试串联超前校正后系统时域特性测试的模拟电路图见图4-3。图4-3 串联超前校正后系统时域特性测试的模拟电路图按图4-3安置短路套

8、与测孔联线按下表。A5S3，S7A10S1A10（OUT）A5（H1）A5B（OUTB）A2（H1）/8跨接元件（155K）元件库A11中可变电阻跨接到A1（OUT）和A10（IN+）之间9/10（1u）11/12（38.7K）元件库A11中可变电阻跨接到 A10（IN+）和GND之间1314 量程选择开关S2置下档，调节“设定电位器1”，使之矩形波宽度3秒（D1单元左显示）。运行程序同1未校正系统的时域特性的测试观察矩形波输出（OUT）从0V阶跃+2.5V时被测系统的时域特性，等待一个完整的波形出来后，点击停止，然后移动游标测量其超调量、峰值时间及调节时间。在串联超前校正后的时域特性特性曲线

9、上可测得时域特性：表4-3校正后系统的时域特性21.88%0.2MP=v/2.5*100%=0.547/2.5*100%=21.88%Tp=0.2s5）串联超前校正后系统的频域特性的测试图4-4 串联超前校正后系统频域特性测试的模拟电路图串联超前校正后系统的传递函数为：按图4-4安置短路套与测孔联线表如下。信号输入/9元件库A11中可变电阻跨接到A1（OUT）和A10（IN+）之间校正网络：参见图4-510/1112/13 A10（IN+）和GND之间15图4-5 校正网络（部分）连线示意图运行程序同2未校正系统的频域特性的测试。在串联超前校正后的相频特性曲线上可测得串联超前校正后系统的频域特性：表4-4校正后系统频域特性穿越频率crad/s）相位裕度（15.0854.8+（-125.2）=54.8 测试结果表明符合设计要求。1 注：做完该实验请将A10单元的短路套拔掉放置在短路套闲置区，否则