材料分析技术期末试题docWord文档下载推荐.docx

1、而与 有关。5、X射线一方面具有波动性，表现为具有一定的 ，另一方面又具有粒子性，体现为具有一定的 ，二者之间的关系为6、莫塞来定律反映了材料产生的 与其 的关系。7、从X射线管射出的X射线谱通常包括8、当高速的电子束轰击金属靶会产生两类X射线，它们是_和_，其中在X射线粉末衍射中采用的是_ _ 。9、特征X射线是由元素原子中_引起的，因此各元素都有特定的_和_电压，特征谱与原子序数之间服从_ _定律。10、同一元素的K1、K2、K的相对大小依次为_；能量从小到大的顺序是_。（注：用不等式标出）11、X射线通过物质时，部分X射线将改变它们前进的方向，即发生散射现象。X射线的散射包括两种：12、

2、hu+kv+lw=0关系式称为_ ,若晶面（hkl）和晶向uvw满足该关系式，表明_ 。13、倒易点阵是由晶体点阵按照 式中，为倒易点阵基矢，为正点阵基矢的对应关系建立的空间点阵。在这个倒易点阵中，倒易矢量的坐标表达式为_，其基本性质为。14、X射线在晶体中产生衍射时，其衍射方向与晶体结构、入射线波长和入射线方位间的关系可用_ _ _、_ _、_和_四种方法来表达。15、当波长为的X射线照射到晶体并出现衍射线时，相邻两个（hkl）反射线的波程差是 ，相邻两个（HKL）反射线的波程差是16、布拉格公式=2dsin中表示 ，d表示 ，表示17、获得晶体衍射花样的三种基本方法是 、18获得晶体衍射花

3、样三种基本的方法中，劳埃法是通过改变 来获得衍射花样的，主要用于判断；旋转单晶法是旋转晶体，改变 来获得衍射花样的，主要用于研究粉末法是通过单色X射线照射多晶体样品，改变 来产生衍射的，测定样品的19、当X射线照射在一个晶体时，产生衍射的必要条件是_,而产生衍射的充要条件是_ _ _ 。20、X射线的衍射的强度主要取决于21、X射线衍射仪探测器主要性能是_、_ 、_22、测角仪在工作时，为了使样品与计数管始终在同一个_ _上，二者的转速必须保持_。23、测角仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线成300角，则计数管与入射线所成角度为 ；能产生衍射的晶面，与试样的自由表面呈 关系。24、粉末

4、照相法底片安装方法有三种：_、_和 _。25、粉末衍射仪法衍射峰2角的测量方法有_ 、_ 、_ 。26、多晶X射线粉末衍射分析方法通常有 两种。27X射线衍射仪的新进展主要有 三个方面。28、PDF卡片的二种常用的数值索引是_ _索引和_ _索引，前者是按衍射线的_顺序排列的，后者是按衍射线的_顺序排列的。29、利用衍射卡片鉴定物相的主要依据是_ _，参考_ _。30、X射线衍射定量分析的方法有31、精确测定点阵参数校正或消除误差常用的有哪三种方法？有 三种方法。32、X射线衍射仪测定宏观应力的方法主要有33、为了测得材料表面沿某个方向上的宏观应力，至少要测_个方向上某晶面的晶面间距，相应的方

5、法称为_ 。34、织构表示方法有 三种35、计算机技术在多晶体衍射中的应用主要有三个方面：、36、光学显微镜是可见光束通过光学透镜发生 达到放大的目的，而成像于电子显微镜是电子束通过电磁场（电子透镜）发生达到放大的目的，并成像于37、电镜中透镜分辨本领取决于38、波谱仪分析的元素范围为，能谱分析的元素范围为39、扫描电镜图像的分辨率决定于_ 。40、透射电镜中的电子光学系统可分为三部分。41、倒易矢量的长度等于正点阵中42、爱瓦尔德球图解法是的几何表达形式。43、电子衍射基本公式R = Lg 中的R表示，表示，L表示 ，g表示44、谱仪的分辨率是 的能力。45、电子波长与其加速电压平方根成，加

6、速电压越 ，电子波长越46、透射电镜粉末样品制备方法有47、复杂电子衍射花样通常包括 _、 、48、电子探针X射线显微分析中常用X射线谱仪有49、光电子发射可以分为三个过程，即（1）（2）（3）50、像差分为两类。51、金属薄膜制备过程大体是：52、X射线光电子能谱是测定低能电子的动能从而得到光电子的53、真正能够保持其特征能量而逸出表面的俄歇电子却仅限于表层以下 nm的深度范围。54、透射电镜的主要性能指标是55、透射电镜成像系统中，若使中间镜物平面与物镜像平面重合的操作称为操作；而使中间镜的物平面与物镜背焦面重合的操作称为操作。56、扫描电镜由 等部分组成。57、扫描电镜中样品制备的镀膜方法主要有两种：一种是，另一种方法是58、电子探针显微分析有四种基本分析方法：