1、a) 被检材料的多余部分(尺寸足够时);b) 与被检材料同钢种、同热处理状态的材料;c) 与被检材料具有相同或相似声学特性的材料。1.1.3.3 单晶直探头对比试块单晶直探头检测采用CS-2试块调节基准灵敏度,其形状和尺寸应符合图4和表9的规定。如确有需要也可采用其他对比试块。1.1.3.4 双晶直探头对比试块:a) 工件检测厚度小于45mm时,应采用CS-3对比试块;b) CS-3试块的形状和尺寸应符合图5和表10的规定。图4 CS-2对比试块表9 CS-2 对比试块尺寸 单位为mm试块编号规格dL1L2D125/2225503519200/220022510025/3320200/325/
2、4421200/450/2755022250/2250275110550/323250/3650/424250/4775/210060300/2300325120875/326300/3975/427300/410100/21257028400/240042514011100/329400/312100/430400/413125/21508031500/250052515514125/33215125/433500/416150/21758517150/318150/4图5 CS-3 对比试块表10 CS-3对比试块尺寸 单位为mm试块序号孔径检测距离L2354045341.1.4.5 工件
3、检测面曲率半径小于等于250mm时,应采用曲面对比试块(试块曲率半径在工件曲率半径的0.7倍1.1倍范围内)调节基准灵敏度,或采用CS-4对比试块来测定由于曲率不同而引起的声能损失,其形状和尺寸按图6所示。图6 CS-4 对比试块1.1.4.6 对比试块CS-2、CS-3、CS-4制造要求等见JB/T 8428和GB/T 11259的规定。1.1.5 敏度的确定1.1.1.1 单晶直探头基准灵敏度的确定使用CS-2或CS-4试块,依次测试一组不同检测距离的2mm平底孔(至少3个),制作单晶直探头的距离-波幅曲线,并以此作为基准灵敏度。当被检部位的厚度大于或等于探头的3倍近场区长度,且检测面与底
4、面平行时,也可以采用底波计算法确定基准灵敏度。1.1.1.2 双晶直探头基准灵敏度的确定使用CS-3试块,依次测试一组不同检测距离的2mm平底孔(至少3个)。制作双晶直探头的距离-波幅曲线,并以此作为基准灵敏度。1.1.1.3 扫查灵敏度一般应比基准灵敏度高6dB。1.1.6 检测1.1.6.1 耦合方式耦合方式可采用直接接触法。1.1.6.2 灵敏度补偿检测时应根据实际情况进行耦合补偿、衰减补偿和曲面补偿。1.1.6.3 工件材质衰减系数的测定:a) 在工件无缺陷完好区域,选取三处检测面与底面平行且有代表性的部位,调节仪器使第一次底面回波幅度(B1)或第n次底面回波幅度(B n)为满刻度的5
5、0%,记录此时仪器增益或衰减器的读数,再调节仪器增益或衰减器,使第二次底面回波幅度或第m次底面回波幅度(B2或Bm)为满刻度的50%,两次增益或衰减器读数之差即为(B1B2)或(B nB m)(不考虑底面反射损失)。b) 工件厚度小于3倍探头近场区长度(t3N)时,衰减系数(满足n3N/t,mn)按式(1)计算:=(Bn-Bm)20lg(m/n)/2(m-n)t (1)式中: 衰减系数,dB/m(单程);(B nB m)两次底波增益或衰减器的读数之差,dB;t 工件检测厚度,mm;N单晶直探头近场区长度,mm;m、n底波反射次数。c) 工件厚度大于3倍探头近场区长度(t3N)时,衰减系数按式(
6、2)计算:=(B1-B2)-6/2t (2)(B 1B 2)两次底波增益或衰减器的读数之差,dB;其余符号意义同b)。d) 工件上三处衰减系数的平均值即作为该工件的衰减系数。1.1.6.4 扫查方式1.1.6.4.1 直探头检测:a) 移动探头从两个相互垂直的方向在检测面上座100%扫查。主要检测方向如图7所示;b) 双晶探头扫查时,探头的移动方向应与探头的隔声层相垂直;c) 根据合同、技术协议书或图样的要求,也可采用其他形式的扫查,如一定间隔的平行线或格子线扫查。1.1.6.4.2 斜探头检测斜探头检测应按附录E的要求进行。1.1.7 缺陷当量的确定1.1.7.1 当被检缺陷的深度大于或等于
7、所用探头的3倍近场区时,可采用AVG曲线或计算法确定缺陷的当量。对于3倍近场区内的缺陷,可采用距离-波幅曲线来确定缺陷的当量。也可采用其他等效方法来确定。说明:应检测方向;为参考检测方向。图7 检测方向(垂直检测法)1.1.7.2 当采用计算法确定缺陷当量时,若材质衰减系数超过4dB/m,应进行修正。1.1.7.2 当采用距离-波幅曲线来确定时,若对比试块与工件材质衰减差值超过4dB/m,应进行修正。1.1.8 质量分级等级评定1.1.8.1 缺陷的质量分级见表11。1.4.8.2 当检测人员判定反射信号为白点、裂纹等危害性缺陷时,锻件的质量等级为级。表11 锻件超声检测缺陷质量分级 单位为mm等级单个缺陷当量平底孔直径44+6dB4+12dB4+18dB4+18dB由缺陷引起的底波降低量GB/BF6dB12dB18dB24dB24dB密集区缺陷当量直径234dB4+4dB4+4dB密集区缺陷面积占检测总面积的百分比/%5102020注:由缺陷引起的底波降低量仅适用于声程大于近场区长度的缺陷。注2:表中不同种类的缺陷分级应独立使用。表3:密集区缺陷面积指反射波幅大于等于2当量平底孔直径的密集缺陷。
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