1、 3.学习三极管伏安特性的测试方法二、实验内容和原理 实验内容:1.测量三极管的输入伏安特性 2.测量三极管的输出伏安特性 实验原理: BJT的共射极组态的伏安特性 1.共射组态输入特性 共射组态输入特性是指VCE一定时,输入回路中,VBE和IB之间的关系,即 IB=(VBE)|VCE=常数 VCE=0V VCE增长时 VCE1V后 2.共射组态输出特性 共射组态输出特性是以IB一定时,IC与VCE之间的关系。即 IC=(VCE)|IB=常数 整个输出特性可划分为三个不同的工作区域 (1)截止区 截止区是指图中IB0的区域。使BJT处于截至状态的条件是外加电压使发射结和集电结均处于反向偏置,即
2、VBE0,VCB0。 (2)饱和区饱和区相应于输出特性曲线中,靠近坐标IC的区域(VCE0.7V)。此时,发射结正偏,VBE0.7V,而集电结也由反偏转为正偏(VCB=VCE-VBE0)。 (3)放大区 放大区又称恒流区,对应于输出特性曲线的水平部分,即IB0,且VCE0.7V的区域。外加电压必须使发射结正偏,集电结反偏。三、主要仪器设备 电子实验箱、万用表、NPN型硅三极管9013四、操作方法和实验步骤1.输入伏安特性的测量1)VCE=0V测量步骤:1.设计并完成连接电路,ce间开路2.调节输入回路电源电压,用万用表测量be两端电压VBE,再测量Rb两端电压,用欧姆定律换算得到基极电流IB3
3、.重复上述步骤,测得多组VBE和IB数据记录并作出图。电路图连接如下:VCE=0V时仿真输入特性曲线如下图:2)VCE=1V1.设计并完成连接电路,ce间连接1V电压源电路图连接:VCE=1V仿真输入特性曲线如下图:3)将VCE=0V和VCE=1V两种情况下的输入特性曲线放在同一坐标系下,可以发现随着VCE的增大,输入特性曲线右移,仿真如下图所示: 2.输出伏安特性的测量 1)IB=16uA1.设计并完成连接电路2.将万用表连接在Rb两端,调整输入回路电压源,使得IB=16uA(即电压表示数为1.6V),调整完成不要再动3.调节输出回路电源电压,用万用表测量ce两端电压VCE,再测量Rc两端电
4、压,用欧姆定律换算得到集电极电流IC4.重复第三步,测得多组VCE和IC数据记录并作出图。 电路连接如下图: 仿真得到IB=16uA时,输出特性曲线如图示: 2)IB=40uA2.将万用表连接在Rb两端,调整输入回路电压源,使得IB=40uA(即电压表示数为4V),调整完成不要再动 仿真IB=40uA时的输出曲线如图示:五、实验数据记录和处理 1)输入曲线:a)VCE=0VVBE(V)UR(mV)IB(uA)0.4160.4320.020.454.60.0460.466.40.0640.479.20.0920.4813.50.1350.48516.90.1690.4918.20.1820.53
5、00.30.52640.640.54130.11.3010.55188.71.8870.562752.750.585875.870.6124512.45根据表格数据作出图像b)VCE=1V0.4170.0051.30.0130.5130.0312.40.1240.5725.90.2590.5952.30.52375.20.7520.611051.050.621531.530.632262.263213.210.655585.580.6670070.67102510.250.68146414.640.7312031.2根据表格数据作出图像得c)将VCE=0V和VCE=1V时的输入特性曲线放在同一
6、坐标系下2)输出特性曲线 a) ib=16uA rc=2.4kVCE(V)UR(V)IC(mA)0.051.5060.62750.061.660.6916670.072.481.0333330.082.961.2333330.13.241.350.134.421.8416670.176.772.8208336.92.8756.942.8916676.952.89583316.992.91257.062.9416677.172.987547.253.02083357.273.02916767.383.075做出图像得 b) ib=40uA rc=2700.0750.4371.620.092.22
7、0.121.1584.290.21.7376.431.927.110.41.9327.161.9427.191.9777.322.027.482.137.89作出图像得 c)将ib=16uA和ib=40uA时的输出特性曲线放在同一坐标系下六、实验结果与分析 1)三极管伏安特性测量电路参数设计依据 a.输入特性曲线测量中:在输入回路中,电源是由5V直流恒压源转换得到的可控电压源(05V), 电阻选择阻值为100k的定值电阻。这里的考虑是在输入特性测量中,晶体管be间的压降约为0.7V,电阻选择过小会使IB过大从而导致集电结电流IC过大,烧坏晶体管;电阻又不能太大,使测量过程中IB过小(个人觉得最
8、好要大于30uA)从而无法做出完整的输入特性曲线。100k电阻,IB的最大值为(5-0.7)V / 100k = 43uA,可以满足实验需求。在实验中,电流IB无法通过电流表直接测得,故采取测量电阻两端电压通过欧姆定律计算得到IB的值。b.输出特性曲线测量中:输入回路中要保证IB是恒流,在测量过程中会涉及到晶体管的饱和区和放大区,根据理论知识晶体管的饱和状态模型be上的压降为0.7V0.8V,放大状态模型be上的压降为0.7V,为了保证IB的恒定,这里需要选择一个大阻值电阻与基极串联,故选择Rb=100k。在输出回路中,电源采用+15V恒压源转换得到的可控电压源(015V),这里需要考虑的是电
9、阻Rc上的压降不宜过大,采用小阻值电阻,保证VCE有一定的可调范围,例如ib=16uA时,用的是2.4k的电阻,由实验前测量得放大系数=200,则放大状态下集电结电流IC=16uA200=3.2mA,电阻Rc上的压降为3.2mA2.4k=7.68V,则VCE可调范围是07.32V,可以满足实验需要。 2)放大系数 实验前直接用万用表测得晶体管放大系数=200 再由实验数据间接测量得到=192197基本吻合 思考题(1)从伏安特性曲线中可获得哪些有关三极管的重要参数?分别怎样获得? 答:可以得到放大系数,由输出特性曲线放大区工作的集电极电流IC比基极电流IB得到 还可以由输出特性曲线,靠近横轴的第一条曲线得到穿透电流IC=ICEO 还能得到饱和压降VCES由输出曲线拐点对应的VCE值可得(2)测量电路的设计和测量过程中有哪些需要注意的问题?需要注意三极管的管脚不能弄错,三极管各电极的偏置状态也不能混淆;在设计电路过程中需要保证设计的电路不能让三极管产生过流烧坏,也要保证能测量范围满足实验需求。
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