统计过程控制SPC考试试题含答案_精品文档Word下载.doc

1、普通原因和特殊原因。3.1 固有变差：仅由普通原因造成的过程变差，由 = R/d2 来估计。3.2 总变差：由普通原因和特殊原因共同造成的变差，用 S 来估计。2、特殊特性：可能影响安全性或法规的符合性、配合、功能、性能或产品后续生产过程的产品特性或制造过程参数。3、标准差：过程输出的分布宽度或从过程中统计抽样值（例如：子组均值）的分布宽度的量度，用希腊字母或字母s（用于样本标准差）表示。4、控制限：控制图上的一条线（或几条线），作为制定一个过程是否稳定的基础。如有超出了控制极限变差存在，则证明过程受特殊因素的影响。控制限是通过过程数据计算出来的，不要与工程的技术规范相混淆。5、过程能力：一个

2、稳定过程的固有变差（6：R/d2 ）的总范围。6、Cpk（稳定过程的能力指数）：为一稳定过程【某一天、某一班次、某一批、某一机台其组內的变差（ R-bar/d2 or S-bar / C4 ）】下的“能力指数”，计算时须同时考虑过程数的趋势及该趋势接近于规格界限的程度。即：通常定义为CPU或CPL中的最小值。7、Ppk（性能指数，即初期过程的性能指数）：为试生产阶段一项类似于Cpk的能力指数，某一产品长期监控下的“能力指数”；但本项指数的计算，是以新产品的初期过程性能研究所得的数据为基础。通常定义为PPU或PPL中的最小值。8、PPM（质量水准，即每百万零件不合格数）：指一种根据实际的有缺陷材

3、料来反映过程能力的一种方法。PPM数据常用来优先制定纠正措施。9、过程（Process）：一组将输入转化为输出的相互关联或相互作用的活动。过程是向过程的顾客（内部的和外部的）提供产品或服务的增值活动链。注：A）一个过程的输入通常是其它过程的输出。B）组织为了增值通常对过程进行策划并使其在受控条件下运行。C）过程的资源通常包括：人员、资金、设施、设备、材料、技术和方法。10、第类错误：拒绝一个真实的假设。例如：采取了一个适用于特殊原因的措施而实际上过程还没有发生变化；即过度控制。二、是非题（正确以“”表示，错误以“”表示）：题 目判断1、所有的特殊特性均应使用统计过程控制。2、特殊特性的选择应由

4、企业按产品/过程中特性的重要程度来制定，并没有绝对的正确与否。3、在绘制控制图时，不管采取何种方法，均应注意控制图应能显示过程受控，否则不能计算过程能力。4、P图控制法适用于对所有的计数型数据做统计过程控制。5、1924年，美国的品管大师休哈特（W.A.Shewhart）博士提出将3Sigma原理运用于生产过程当中，并发表了著名的“控制图法”（亦称为：Shewhart控制图或3控制图。一种以实际产品质量特性与依过去经验所研判的过程能力的控制界限比较,而以时间顺序表示出来的图形）。通过对过程变差进行控制，为统计质量管理奠定了理论和方法基础。6、因为X（bar）-R图最为精确和敏感，较其它方法优势

5、更强,因此大多数企业都选择使用该方法。7、特殊原因都是恶性的，都应该进行剔除。8、当过程能力较高时，为降低成本，采取方法使之降低，这与持续改进相矛盾，不可取。9、当过程能力不足时，为提高过程能力，应进一步减小普通原因和特殊原因造成的变差。10、Ppk用于批量生产时对过程能力分析，Cpk用于批产前对过程能力的分析。三、简答题：1、请写出控制图中常见的八种过程不受控的表现情况？答：控制图中常见的八种过程不受控的表现情况为：、不能有点子超出上、下控制限（即：检定规则1: 1界外 有1点在A区以外）；、连续3点中不能有2点落在A区或A区以外之区域（即：检定规则2: 2/3A 连续3点中有2点在A区或A

6、区以外）；、连续5点中不能有4点落在B区或B区以外之区域（即：检定规则3: 4/5B 连续5点中有4点在B区或B区以外）；、不能有连续9点（或更多点）落在控制中心线的同一侧（即：检定规则4: 9单侧 连续9点在控制中心的同一侧）；、不能有连续7点（或更多点）持续上升或下降（即：检定规则5: 7连串 连续7点（或更多点）持续上升或下降）；、不能有连续14点交互着一升一降（即：检定规则6: 14升降 连续14点交互着一升一降）；、不能有连续8点在中心线的两侧,但C区并无点子（即：检定规则7: 8缺C 连续8点在中心线的两侧,但C区并无点子）。、不能有连续15点在中心线上下两侧的C区（即：检定规则8

7、: 15C 连续15点在中心线上下两侧的C区）。2、请写出常用的五种计量型控制图的简称和四种计数型控制图的简称？常用的五种计量型控制图的简称为：、平均数与极差控制图 （ X - R Chart）；、平均数与标准差控制图 （ X - s Chart）；、中位数与极差控制图 （ Chart）；、个别值与移动极差控制图 （ X - Rm chart）；、最大值与最小值极差控制图 （ L - S chart）。常用的四种计数型控制图的简称为：、不良率控制图（ P chart ）；、不良数控制图（ Pn chart,又称np chart或d chart ）；、缺点数控制图（ C chart ）；、单位缺点数控制图（ U chart ）。Page 3 of 3