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1、电源部分的实时时钟晶体，接电源U4-26#27#与内部振荡电路构成振荡器，在手机加电时，由电池电压供电，同时电池电压还向后备电池充电。手机未加电时，由后备电池向实时时钟供电产生32.768KHz时钟信号，从U4-52#输出到U1-N15。按下开机键时，U4-43输入开机信号，低电平触发开机。经内部对电池电压的转换稳压后，电源IC U4分别从9#、11#、30#、32#等输出几组电压，供整机工作。其中：9#BAGPWR为逻辑供电。11#BCREPWR供电供给CPU内部电路，9#LPVOD为暂存供电，以提供逻辑工作电源。CPU得到供电后，输出RFPC射频使能信号，从U1-D6脚送到电源45#，使电

2、源U4-49#输出TCXOPWR射频主时钟供电电源。供给13MHz晶体振荡电路后，产生13MHz时钟信号，一路在射频作为基准时钟，一路用于逻辑电路，经CPU-H14输入。复位电路设在电源IC内部，由电源内部供电开始工作，经延时电路计时约100ms，当延时结束U4-56#为低电平输出复位信号到CPU-K11。CPU得到稳定的13MHz时钟信号及电源和延时结束的复位信号三个条件后，系统开始复位。CPU发出片选、读写信号，通过地址和数据总线去版本调出开机程序和数据（因为U20已集成了暂存和版本），在已集成了的U20里自检运算。如各部自检正常，再得到软件支持CPU-F2输出维持信号PC到电源46#，维

3、持手机工作。2、 手机关机过程，手机工作后，CPU维持电源工作，如再次按下开机键会使U4-43#，再次出现下跳变电压送到电源内的触发器产生一个关机请求程序，运行通过后取消维护信号，电源失去维持信号不能再给整机供电，从而实现关机。3、 如出现不开机，应主要检查：一般不开机主要由电源集成引起不开机、时钟引起不开机、逻辑及软件故障引起不开机、接触不良引起不开机等几大类。检查不开机可观察电流或其它进行故障定位。首先要确定如接触方面，接触良好时才进一步维修。4、13MHz主时钟电路：13MHz主时钟电路由13MHz晶体，主时钟放大及U17射频IC局部构成，13MHz晶体的2#、4#接地、3#、1#连U1

4、7、RF处理器，13MHz晶体得到供电电压时，开始起振，输出一路主时钟在射频作为基准时钟，一路输送到CPU及和弦音IC。（如图2-2所示：13MHz主时钟对于手机非常重要，其它一切正常情况下，它只要起振、手机就可以开机。要使手机接收、发射正常，13MHz时钟是一个基本条件，而且要求精度很高，在13.000-12.9999范围内。由CPU-E10输出AFC控制13MHz频率准确。否则频偏会造成手机无接收或难以发射故障。二、开关机故障维修1、不开机这一故障现象：加电按开机键，稳压电路无任何反应。检查过程：拆开手机，把电源IC U4-43#对地短接2秒，电流表仍无反应，测电源模块的几路电池电压供电正

5、常，实时时钟也有由电池供电的3.6V，可电源IC输出几路供电整机电压却没有，用热风枪补焊电源IC及开机信号线开机正常故障排除。2、不开机之二加电按开机键，电流显示30mA左右。拆开手机，检查电源模块输出 几路供电电压，9#、1#、12#、30#、35#等全都正常，检查复位信号的脉冲电压也正常，查13MHz电路，发现13MHz晶体损坏更换后正常。3、不开机之三加电按开机键，电流50mA左右不动。根据电流现象，50mA左右不动排除电源部分故障，可能是逻辑部分的硬件，特别是软件部分的故障，检测逻辑供电时钟、复位均正常，重点放在U20。U20它把版本和暂存集成在一起。它内部存放着各种控制信息，CPU工

6、作时，都是从这里调出来的，如果它内部资料发生错乱就会出现不开机、无信号、不发射等故障。将U20取下重新写入手机程序、故障排除。手机不开机，SIM卡座不插卡时，SIM卡电路是不会被启动工作的，而要维修中，SIM卡座出现的故障也较多，主要是SIM卡“未被接受”和插入SIM卡时显示“请插入SIM卡”故障，而具体发后的故障主要是供电部分不正常，SIM卡及通路元件虚焊或损坏，以及与SIM卡座连接的线路出现了断线等。ZTC838型手机射频部分天线接收频率GSM：925-960MHZ，DCS：1805-1880MHZ：发射频率GSM：890-915Z，DCS：1710-1785MHZ。1、 接收电路分析：如

7、图2-3所示，由ANT把空中的无线电磁波接收下来经天线开关匹配电路（由L6、L7、C112组成），进行匹配后，天线匹配阻抗一般在50左右后把高频信号经C106送入到天线开关U13-8#。在天线开关里，接收与发射的频段由CPU控制，当U13-2#VC1为高电平时，GSM-T-R工作，当U13-11#VC2为高电平时DCS-T-R工作。接收GSM、DCS，上天线开关10#、11#输出到接收高频滤波器FL1-3#、2#滤波后送去射频处理模块。 接收信号由U17-33#、34#、36#输入，在内部经低噪声放大处理后与本振信号进行混频，取其差频360MHZ，混频后的信号由U17-39#、38#输出，经F

8、L3滤波器滤波后，又经U17-44#、43#送回射频处理器，进行增益放大后，再与本振送来的信号进行二混频、解调、移相等处理后U17-8#、9#、10#、11#输RX基带信号送到U1进行基带处理。2、 发射电路分析发射电路如下图2-4所示： 来自逻辑部分TX、IQ基带信号进入射频处理器U17-8#、9#、10#、11#（在这里，CPU与射频处理器这间的基带信号传输线共用的）。先在内部进行发射IQ信号放大、调制处理、由TXVCO产生的发射信号回到射频处理器作为取样信号，与RXVCO信号进行混频，同样，取其差频与调制的1/Q信号在鉴相器里进行鉴相，产生误差的信号从U17-25#输出，经外围低通滤波电

9、路进行滤波，同时，低通滤波可以滤除高频成人，以防止对VCO造成干扰，去控制TXVCO，由发射击VCOU16-9#7#输出发射DCS、GSM频率，由功率放大器U14-1#、7#输入，在功放IC中，进行功率放大后，从U14-11#、9#输出到天线开关，在CPU控制天线开关转换下发射出去。1、 无接收首先用示波器测RX1、Q信号，是否有直流1.4V，频率是否为67K，以区分是逻辑还是射频故障（注：手机在未发射时检测）。 如果是射频故障，可先在天线开关前接假天线，如电容元件C113在GSM频段上，C11在DCS频段上，也可以在天线开关U13-10#、1#上接，如有信号，说明天线开关及其通路元件有损坏，

10、没有则继续检测FL1滤波器，当然，在检测时，首先测它的供电是否正常，如上述都是正常，则应为射频处理器虚焊或损坏。2、 无发射同样，首先检测TX1、Q信号是否有1.4V直流及67K频率信号（手机发射时测），虽然RX和TX都在同一地方测试，但意义却不同，如有测量的电压或频率，进一步可查射频处理器，查它的供电VRF是否正常，与无接收一样，用排除法在天线开关前接假天线，缩小故障范围，除了查发射通路的IC外，也不要忘记检查发射通路阻容元件，如TXVCO前C198、C197后C232、C231及功放通路上L16、L25是否损坏，一般可排除故障。1、 和弦音电路如图2-5所示：ZTC838型手机的和弦音IC

11、，采用YMU762C即40和弦音。音乐IC有两个供电电源BGBAGPWR，逻辑供电，AMP-PWR，内部音频放大电路供电。来自CPU-H5的复位信号，低电平有效，送入U19-4#工作时，对音乐IC进行复位，它的时钟采用射频基准时钟。音乐IC工作时，首先须CPU用片选信号进行片选后进行读、写信号控制，至于数据传输的是数据还是指令，由地址线A0决定，A0为高平，传输控制指令，A0为低电平，传输数据，数据音频信号在内部经过一系列处理，D/A转换经音频放大驱动听筒发声。2、 SIM卡电路如图2-6所示：SIM卡电路由CPU给出信息，经电源转换后控制SIM卡座。手机开机，SIM卡座不插卡时，SIM卡电路是不会被启动工作的，而在维修中，SIM卡座出现的故障也较多，主要是SIM卡“未被接受”和插入SIM卡时显示“请插入SIM卡”故障，而具体发生的故障主要是供电部分不正常，SIM卡及通路元件虚焊或损坏，以及与SIM卡座连接的线路出现了断线等。