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1、8、一定能量的连续 x 射线穿透物质时，随厚度的增加射线的总强度减小，平均波长变短，但最短波长不变。（O）9、加在x光管两端的电压越低，则电子的速度就越大，辐射出的射线能量就越高。X10、射线的线质越软，其光子能墨越大，波长越短，笄透力越强，衰减系数越小，半价层越大。11. 丫射线的能盘取决于放射性同位苯的活度或居里效，而它的强度取决于源的种类。（X）伐、射线的能量减弱到初始值上半时所穿过物质的厚度， 称半价层，又称半值层。13、放射性同位紊的能搔蜕变至其原值一半所需时间，称半衰期。14、描述放射性物质不稳定程度的量称为“活度” 。15、在核反应堆中，把一种元素变为放射性元素的过程，称为激活。

2、16v 当原子核内质子数不变，而原子量增加时，它就变戚另一种元素。仃、不稳定的同位素，称为放射性同位素。18、光子是以光速传播的微小的物质粒子。19、光电效应巾光子故部分吸收，而康普顿效应中光子被完全吸收。20汛发生康普顿效赃时，电子获得光子的部分能墨以反冲电子的形式射出 $同时，光子的能量减小，方向也改了，成为低能散射线。21、能量为1.022MeV勺射线与钢铁相互作用主要产生电子对效应（X）22、用于检测的X射线和丫射线，它们之间的主要区别在于：x射线是韧 致辐射的产物，而丫射线是放射性同位素原子核衰变的产物；x射线是连续谱， 丫射线是线状谱。23、即使管电压相同，不同x射线机所发生的x射

3、线的线质也是不同的。24.对不同种类的放射性同位素， 高活度的同位东总是比低活度的同位索具 有更高的辐射水平。25。 192Ir 源经过几个半衰期后，将其放在核反应堆中激活.可重复使用26汛与60C, o射线源相比，具有较短的半袁期和较低的能孟。 027、当x射线通过3个半价层后，其强度仅为初始值的1/3。28海、丫射线经过3个半衰期后，其能置仅剩下初始当值的 1/&29汛所谓“吸收”，就是物质阻止射线通过的能力。30，含氢元素的物质，对中子射线具有较强的衰减作用。 （参考题）（0）31线吸收系较表示单位长度妁相互作用几率， 质量吸收系数则表示单位质量的相互作用几率。32、放射性同位煮的衰变和

4、衰减是一回事。33、半衰期是指x射线强度减弱到初始值一半所需要的时间（X）34、x射线与丫射线只要波长相同，就具有相同的性质（O）35探、X、丫射线不受电磁场影响。 （O36、强度不受散射线影响的射线，称“窄束”射线。强度受射线影晌的射线，称“宽束”射线。 （0）37、元素米60CO27中有27个质子和33个中子，原子序数为27。（0）38、 工业用放射性同位素辐射出的丫射线的能量用平均能量来度量，x射线 机辐射出的x射线能量是用管电压峰值来度量。39、 在相同的管电压下，透照厚度增加散射比减小。40、管电压提高，衰减系数增太。41，工业检测用放射性同位素，有的是在核反应堆中通过中子照射激活的

5、，如60Co和92Ir，也有的是核裂变的产物，如 137Cq （参考题）42、因为发生光电效应的几率与被照物质原子序数的 3次方成正比， 所以原子序数越大，发生光电效应的几率越小43探、放射性同位素的半衰期与放射性同位东的种类有关。44、在工件对比度一定的情况下，由胶片（包括暗室处理）影响对比度的 因素称胶片对比度。 也以可定义为： 改变胶片的曝光置引起相应底片黑度差的固 有能力。45探、x、丫射线通过工件相邻两个不同厚度区域后的射线强度差与较大厚 度区射线强度的比，称主因对比度，又称工件对比度。46探、荧光增感的原理是射线与荧光物质作用， 产生荧光，从而加速胶片的 感光过程。（ O）47探、

6、金届增感屏受x或丫射线照射激发出电子，使胶片蹭感。常用的金属 材料是铅，它的粒度细，增感系数小，所得底片的滑晰度高。48、采用铅箔荧光增感时，不能根据曝光因子公式修正透照参数。49、胶片特性曲线的形状，既不受射线能置的影响，也不受显影配方的影 响。50、增感系数是指其它条件不变时，使用增感屏与不使用增感屏所需曝光 时间之比。51、 底片对比度就是底片上不同区域的黑度差。52、 透照厚度差相同的工件，采用高电压与低电压相比，主因对比度（工件 对比度）低。53探、通过同一部件邻近两厚度部位的射线强度其租小， 则主因对比度工54、潜影形成后如不及时冲洗，有可能出现“潜影衰退的现象。55、 实际使胶片

7、卤化银颗192lr粒感光的因求是电子。56、 不同类型的胶片， 在相同的透照条件下绘制特性曲线的形状相同。57、在实际应用范围内，射线的线质对胶片特性曲线的形状基本上无影响。58、射线强度提商，底片宽容度增太。59、胶片灰雾度是指曝光童为客时，底片的黑度。60汛 在300KvP以下，管电压越高，增感系数越大（O61、 增感系数随丫射线能盘的增高而增大。62、 铅箔增感和荧光增感，基本土不改变胶片对比度。63、象质计灵敏度2.0 %，是指大于2.0 %透照厚度的缺陷均可被检出。64、窄柬与宽束射线相比，窄束射线的对比度高。65、线质变硬，底片对比度提高。66、底片上缺陷影像的尺寸都大于实际缺陷的

8、尺寸GX）铭，、67、减小识别界限对比度 Dmi n,不利于识别小缺陷。68、 观片灯亮度提高，识别界限对比度 Dmin减小，能分辨的黑度范围向 高黑度一边扩展。69、 在较暗的室内评片，消除了散射光影响，底片的识别界限对比度减小， 有利于分辨缺陷。70、 厚工件中的紧闭裂纹，透照方向适当时，也能被检出。71、射线透过有余高焊缝后到达胶片上的散射比， 总大于透过厚度与焊缝相 同的平板后到达胶片上的散射比。72、透照厚度增大散射比增大。73探、对曝光过度的胶片，为获得符合要求的底片，可采用缩短显影时间来 补救。74探、当显影糟不放盏时，显影液就会被氧化，从而降低显影液的浓度。（O） 75、定影液

9、有两个作用：溶解未曝光的 AgBr和坚膜（O）76探、AgBr的颗粒度决定了胶片的性质，颗粒度越大，胶片感光速度越快， 胶片对比度越低。O）77、管电压、管电流和穿透厚度之弼关系的曲线称胶片特性曲线。78、 底片的颗粒度随射线能盘的提高而增大。79.对视觉产生影响的底片影像黑度的不均匀程度， 称底片影像颗粒度。80、胶片卤化银粒子的平均大小，称胶片粒度。81、底片影像颗粒度与胶片卤化银的粒度是同一概念。82、透照某一厚度的材料，乘一系数，得到它相当于多厚标准材料（通常 为钢）的吸收效果，该系数称射线照相等效系教。这一系数随射线能量而变化。83、在 x 射线管窗口加滤波板的作用是增大宽容度，消除

10、边蚀散射。 （O） 84、表征胶片曝光簋的对数与底片黑皮之间关系的曲线， 称胶片特性曲线。85、表征射线能置、透照厚度和曝光量三者关系的曲线，称曝光曲线。86、由曝光因子的公式可知，焦距增加一倍，则曝光量是原值的4倍。87汛，主因对比度与工件厚度变化引起的黑度差有关。88、源移去后，被照射工件本身仍残留低度的辐射。 X89、改变胶片的曝光量引起相应底片上黑度差的固有能力称为胶片对比 度。90、能够在射线底片上充分记录的工件好度范围称为宽容度。91、任何情况下，底片的对比度越大越好。92对子某一种胶片， 其曝光量同相应的底片黑度之间关系的曲线称曝光曲线。X）93、对于厚度差较大的工件，在保证灵敏

11、度要求的前提下，应增大宽容度。、（O）94、增大底片宽容度通常的方法是提高管电压。95、通过工件上两个不同厚度截面的射线强度比率越大， 工件对比度（主因对比度）越大。96象质计灵敏度与缺陷检出率是一回事。97、 封头的射线探伤程序应笨排在拼焊后，热压成型前进行。98、 局部探伤的底片在界线标记以外的缺陷不计。99、显影液是碱性的，定影液是酸性的。100、一般情况下，米吐尔与对苯二酚配合使用来增加显影能力和反差。101、胶片曝光部分越多，耗费的显影液越少。102汛 胶片从放入定影液开始直到所有的 AgBr颗粒消失这段时间称为定影时同。104、显影时间过长，会导致影像灰雾度和颗粒度过大（。）105

12、、胶片放进疲劳的显影液中显影，会使底片产生黄色灰雾；显影液被 定影液污染，会使底片产生双色灰雾（O）106、 决定 x 射线管靶材适用性的两个因素是原子序数和熔点。 （ O）107、 在管电压、管电流和冷却条件相同的情况下，焦点尺寸越小，其阳极温度越高。（O） 108、半波自整流的探伤机，在不工作的半周期内，由于负高压 加在x光管的阳极上，如冷却不好，也能发射电子，但不产生 x射线。109、 x 射线管的阳极特性是指管电流与管电压的关系。110、 x射线管的阴极特性是指灯丝温度与电子发射率的关系。111、 在管电压一定的情况下， x 光管可承受的负荷取决于焦点尺寸和阳极 靶冷却的效果。112、

13、目前广泛使用的x射线管有玻璃管和金屈的瓷O113、新购置或停用较久的x光机，使用前要训练x光管，其目的是排出 射线柜中的气泡。114、x光机操作时高压升不上去和高压跳闸是一回事。115汛 所谓“管电流”就是流过x射线管的灯丝电流。116汛 在使用过程中，阳极靶冷却不良会影响管电流的稳定性。117海、x射线管的实际焦点是指阳极靶被电子撞击的部分，有效焦点是指 实际焦点在垂直于管轴线上的投影。118海、192lr T贮罐用贫化轴作屏蔽，主要原因是贫化铀 卩值大，可制造 出体积小，重叠轻的贮罐。119探、X、丫射线损伤生物细胞的过程就是电离过程。120、职业放射性工作人员，年剂量当置的限值为 9 .5希沃特。121、辐射监测主要是指场所辐射监测和个人剂盘监溺（O） 122个人剂量笔给出的是射线荆置的累积值，剂重仪给出的是照射率值。123、照射童的国