原子荧光仪器原理及结构PPT推荐.pptx

1、,（2）直跃线荧光：激发和去激发过程中涉及的上能级相同。,原子荧光光谱法分析基础,（3）阶跃线荧光：激发和去激发过程中涉及的上能级不同。,原子荧光光谱法分析基础,（4）敏化荧光：受激发的原子与另一种原子碰撞时，把激 发能传递给另一个原子使其激发，后者再从辐射形式去激 发而发射荧光即为敏化荧光。,原子荧光光谱法分析基础,（5）多光子荧光：两个或以上的光子共同使原子到达激发 态，然后发射一个光子再返回到基态所发射的荧光,大多数分析涉及共振荧光，因为其跃迁几率最大 且用普通光源就可以获得相当高辐射密度。,原子荧光光谱法分析基础,敏化荧光和多光子荧光很少用于分析，因为产生 的荧光辐射密度低。,原子荧光

2、光谱分析的定量,原子荧光光谱法分析基础,原子荧光光谱分析法是用激发光源照射含有一定浓度的待 测元素的原子蒸气，从而使基态原子跃迁到激发态，然后 回到较低能态或基态，发出原子荧光。测定原子荧光的强度即可求得待测样品中该元素的含量。,If=Ia,If荧光强度 为荧光量子效率 Ia 吸收光的强度,If=k C,上述公式仅仅适用于低浓度的原子荧光分析。,原子荧光光谱法分析基础,随着原子浓度的增加，由于谱线展宽效应、自吸、散射等因素的影响会使得曲线出现弯曲。,氢化物反应,原子荧光光谱法分析基础,氢化物发生进样方法，是利用某些能产生初生态 氢的还原剂或化学反应，将样品溶液中的待测组 分还原为挥发性共价氢化

3、物，然后借助载气流将 其导入原子光谱分析系统进行测量。,氢化物发生的优点：,原子荧光光谱法分析基础,分析元素能够与可能引起干扰的样品基体分离，消除了干 扰。与溶液直接喷雾进样相比，氢化物法能将待测元素充分预 富集，进样效率接近100%。连续氢化物发生装置易实现自动化。不同价态的元素氢化物发生的条件不同，可进行价态分析。,氢化物反应种类,原子荧光光谱法分析基础,1）金属酸还原体系（Marsh反应）Zn+2HCL-ZnCl2+2H nH+Mm+-MHn+H2缺点：能发生氢化物的元素较少；反应速度慢大约需要10 分钟；干扰较为严重。,2）硼氢化钠酸还原体系,原子荧光光谱法分析基础,酸化过的样品溶液中

4、的砷、铅、锑、硒等元素与还原剂（一般为硼氢化钾或钠）反应在氢化物发生系统中生成氢化物NaBH4+3H2O+H+=H3BO3+Na+8H*+Em+=EHn+H2（气体）式中Em+代表待测元素，EHn为气态氢化物该体系克服或大大减少了金属-酸还原体系的缺点，在还原能 力、反应速度、自动化操作、抗干扰程度以及适用的元素数目 等诸多方面表现出极大的优越性。,碱性体系：在碱性试样底液中引入NaBH4和酸进行氢化反应.在NaOH强碱性介质中氢化元素形成可溶性含氧酸盐，可消除铁、铂、铜族元素的化学干扰。电化学方法在5%KOH碱性介质中，用电解法在铂电极上还原砷和锡，优点是空白低，选择性好,原子荧光光谱法分析

5、基础,氢化物反应干扰,原子荧光光谱法分析基础,1、种类液相干扰（化学干扰）-氢化反应过程中气相干扰（物理干扰）-传输过程中、原子化过程中,2、干扰的消除液相干扰：络合掩蔽、分离（沉淀、萃取）、加入抗 干扰元素、改变酸度、改变还原剂的浓度等。气相干扰：分离、选择最佳原子化环境,原子荧光光谱法分析基础,氢化物发生装置,原子荧光光谱法分析基础,氢 化 物 进 样 系 统,连 续 流 动,流 动 注 射,氢 化 物 进 样 系 统,原子荧光光谱法分析基础,断 续 流 动,顺 序 注 射,气液分离器,原子荧光光谱法分析基础,膜分离,气 液 分 离,光源要求：要有足够的辐射强度 光谱纯度高，背景低 辐射能

6、量稳定性好使用寿命长，操作和维护方便,原子荧光仪器结构,原子荧光仪器结构,石英管原子化器,原子荧光仪器结构,普通,屏蔽,光学系统,原子荧光仪器结构,简化结构；光程短；增强荧光信号强度,通道,原子荧光仪器结构,单道、双道、三道、四道,优势：多元素同时测定；单道增强多通道设计,检测器,原子荧光仪器结构,日盲光电倍增管,检测波长范围：160nm320nm,PF6仪器优点,原子荧光仪器结构,PF6 多道全自动原 子荧光光度计,外观,模块化设计,原子荧光仪器结构,原子荧光仪器结构,内置式试剂溶液瓶,全 封 闭 进 样 系 统,手动进样自动进样全封闭内藏式自动进样器,全自动顺序注射氢化物发生系统,原子荧光仪器结构,柱塞泵,蠕动泵,更准确,更省液 更稳定,氢 化 物 发 生 系 统,数据处理系统,原子荧光仪器结构,自动控制 数据处理结果保存与输出 多用户管理在线帮助,软件分析助手,PFWin,祝大家：工作顺利 身体健康！,