整机可靠性测试手册.docx

1、整机可靠性测试手册 深 圳 市 世 融 通 电 子 公 司产品测试手册编制部门： 品质部 日期： 拟定： 日期： 审核： 日期： 批准： 日期： 版本时间修改内容修改人 1 简介1.1 目的为了规范世融通公司产品测试的各项工作，使公司产品研发、品质管理按照共同的测试项目和测试标准进行测试，以使项目各阶段品质保证能达到手机的测试要求，特制定本测试手册。1.2 适用范围本手册适用于本公司所有项目的整机测试。1.3 责任公司产品研发、品质保证都需按本测试手册进行相关测试，对问题进行分析，确定责任部门，由责任部门提出改善对策。2 整机测试项目电性能测试按照产品检验规范和行业相关标准，测试手机的各项重要

2、电性能指标； ESD测试测试手机在静电环境中的性能； 环境测试模拟公司各产品使用的各种恶劣环境，测试其性能是否达到要求；主要包括高/低温试验、湿热试验、防尘试验等。 寿命测试测试产品各易损部件的工作寿命是否达到规格要求；主要包括读卡器，打印机，制票机等产品试验。 机械强度测试测试括读卡器，打印机，制票机等机械结构的强度；主要包含振动测试、跌落测试等。3.整机测试标准电性能测试标准依照公司规范、行业相关标准，测试公司产品的电性能。参考标准:1. 公司的产品行业环境要求和试验方法。2. 公司产品根据公司可靠测试设备测试。3. 根据公司可靠性设备进行安全要求和产品验证进行试验 ESD静电测试标准产品

3、在接充电器和不接充电器的情况下，分别测试产品在常用使用状态下的ESD性能，待机和运行状态是必须要测试的状态。接触放电为6KV,对裸露的金属件续放电各10次后对地放电,应无数据丢失和功能损坏等；接触放电每点每个测试电压连续放电10次(加严测试20次)；空气放电10KV，主机底壳等处进行放电，被选点每点每个测试电压放电10次(加严测试20次)，每放电一次需对地放电，状况应良好，应无数据丢失和功能损坏。注：测试后功能恢复正常，及外观检查应良好（电镀层不应有掉镀层等不良现象）。完成后作好记录。所需手机数为2部。参考标准:行业可靠性技术要求和测试方法 ESD实验室环境要求:环境温度： +15 +35相对

4、湿度： ESD实验室湿度应严格控制到3060RH大气压力： 86106kPa 环境测试标准测试项目及条件：测试项目测试条件/参考标准主要测试阶段数量注意事项低温储存试验 T=-303，试验时间12小时，回温2h后检测功能、外观、机械和电性能有无异常。 项目PR1阶段，首次量产，重要元器件或元器件的供应商，结构材料变更；4试验中手机带电池关机状态。低温工作试验T=-203，试验时间8小时，测试过程中需进行中间检测，观察信号指示并进行拨打测试（或用仪器测试电性能），测试持续时间到后立即在该温度下进行电性能和功能测试，最终检测：将试验样品回温2h后检测呼叫连接、外观、机械等应正常。中间检测及最终检测

5、均正常测试才为合格。 项目PR1阶段，首次量产，更改重要元器件或元器件的供应商，结构材料变更；4试验中手机处于待机状态（如果T=-203条件下电性能有异常情况，品质可按照T=-103的实验条件作为最低出货标准。若选择观测信号指示与被叫的方式，需将手机工作在带SIM卡的标准用户模式)高温储存试验T=652，试验时间12小时，储存时间到后立即检测功能、外观、机械和电性能应正常。（可立即调低温度至552进行高温工作试验） 项目PR1阶段，首次量产，更改重要元器件或元器件的供应商，结构材料变更；4试验中手机带电池关机状态。高温工作试验T=552，试验时间8小时，测试过程中需进行中间检测，进行主叫拨打测

6、试（或用仪器测试电性能），测试持续时间到后在该温度下进行电性能和功能测试，最终检测：将试验样品回温2h后进行功能、外观、机械和电性能等检测。中间检测及最终检测均正常测试才为合格。 项目PR1阶段，首次量产，更改重要元器件或元器件的供应商，结构材料变更；4试验中手机处于待机状态。主叫可采用直接拔打112的方式。恒定湿热试验T=402，RH=933%，试验时间48小时，测试过程中需进行中间检测，进行主叫拨打测试（或用仪器测试电性能），测试时间到后在该温度下进行电性能和功能测试，回温2h后检测呼叫连接、外观、机械等应正常。项目PR1阶段，首次量产必须要测，更改重要元器件或元器件的供应商，结构材料变更

7、4试验中手机处于待机状态。（翻盖手机翻盖处于打开状态，使用大LCD也处于工作状态，主叫采用拨打112的方式）。湿热循环试验从室温以不大于1/MIN速度变到40，RH:933%，保持1H；再以不大于1/min速度变到-10，保持1h；循环13次。循环期满，回温2H后检测功能、外观、机械和电性能应正常。项目PR1阶段，首次量产，更改重要元器件或元器件的供应商，结构材料变更；4试验中手机处于待机状态盐雾测试三个喷雾周期，每个2h，每个喷雾周期后有一个为期22h的湿热储存周期。喷雾条件为温度为(1535)，浓度为 1)的氯化钠溶液；储存条件为(40 2),相对湿度为9095项目PR1阶段2手机带电池关

8、机状态防尘试验将手机放置在粉尘试验箱内，样品体积综合不得超过试验箱有效空间的1/3，底面积不得超过有效水平在积的1/2；与实验箱内壁距离应不小于100mm。启动粉尘试验箱，使气流能够将灰尘均匀缓慢地沉降在试验样品上，最大值不得超过2m/s。测试时间到后，将手机在粉尘箱内静置2H，进行功能、外观及装配检测。（在仪器未到位前，也可采用袋子装上少许灰尘，把手机装进袋子且用人手抖动袋子1分钟方式）。 项目PR1阶段，首次量产；2试验中手机带电池关机。 测试后的手机显示区域内、摄相头区域内不得有粉尘出现。 备注：对于本环境测试标准中未涉及的新工艺，新标准，可以根据具体情况采用行业标准来进行测试。 *防尘

9、测试在没有专用测试仪器的情况下，可以采用手动测试的方式代替。 寿命测试标准 测试项目测试方法/标准主要测试阶段数量注意事项翻/滑盖寿命试验以4060次/分钟的速度翻动翻盖，来回为1次，要求翻盖达到最大转动位置。每3000次检查1次。要求翻盖最少测试8万次。测试结束后首先对样品进行功能、结构检测；然后拆机检查铰链周围壳体以及FPC有无外观异常，并对FPC阻值进行测量。 第一次装机，首次量产，转轴供应商变更；4测试中手机处于待机状态；测试中手机应无异常（关机，显示乱等）；测试后手机应无结构松动，响声等，外观无掉漆、裂痕；壳体无破裂，FPC无破裂；以4060次/分钟的速度滑动滑盖，来回为1次，要求滑

10、动达到最大行程位置。每3000次检查1次。要求滑盖最少测试10万次。测试结束后首先对样品进行功能、结构检测；然后拆机检查滑轨、FPC外观，并对FPC阻值进行测量。 第一次装机，首次量产，转轴供应商变更；4Speaker寿命测试采用电池加旅充充电的供电方式或者直接用 直流电源供电方式，将试验样机设置成长时间播放状态（采用播放MP3，循环连续播放），连续播放时间不少于120H，功能应正常。 项目PR1阶段，speaker音频参数调整，供应商变更；6选用音频较高的歌曲；测试中突然掉电不超过1分钟可以累积测试时间，超过1分钟必须重新计算。马达振动寿命试验将手机设置为马达长时间振动状态，试验时间不少于7

11、2H；对于单体马达可采用：2秒开1秒关为一个周期，循环5万次以上，马达功能应正常。项目PR1阶段，更换马达供应商；3单体振动周期选取参考手机实际使用定出，选取最接近的振动周期进行测试机械按键寿命测试以4060次/分钟的速度，不小于5N的力度均匀按键，Dome：10万次；Switch：5万次；导航键：6万次，每2万次检查1次，试验后功能应正常。项目PR1阶段，DOME供应商、按键设计变更；2手机处于关机状态电池插拔测试装上电池再取下电池。累计2000次以上。每插拔100次开机检查一次，手机功能应正常。项目PR1阶段，电池连接器变更；2测试速度不超过30次/分（插入拔出算一次）SIM卡插拔测试插入

12、SIM卡再取出，累计1000次。每插拔100次开机检查一次，手机不能有不识卡现象，测试完毕手机功能应正常。（2合一，3合一卡座特殊处理）项目PR1阶段，更换SIM卡座供应商；2测试速度不超过30次/分（插入拔出算一次）外置内存卡插拔试验插入内存卡再取出，累计1000次。不支持热插拔的机型，每插拔100次开机检查一次，支持热插拔的机型必须在开机状态下测试，每插拔100次检查一次，要求测试后存储卡结构正常（不能破裂），手机无不识卡问题，内存卡中的内容不可丢失。项目PR1阶段，更换T卡座供应商；2插拔频率不超过30 次/分钟。（插入拔出算一次）耳机插孔插拔试验将耳机垂直插入耳机孔后，再垂直拔出，如此

13、反复，累计3000次。功能应正常。项目PR1阶段，更换耳机插孔供应商；2插拔频率不超过3040次/分钟。（插入拔出算一次）若手机采用数据线、耳机、充电器三合一接口，需要采用三种配件对应同一个母座各测试3000次。I/O插拔测试插入数据线再拔下，累计3000次。每插拔100次开机检查一次，手机功能应正常。项目PR1阶段，更换I/O口供应商；2插拔频率不超过30次/分钟。（插入拔出算一次）若手机采用数据线、耳机、充电器三合一接口，需要采用三种配件对应同一个母座各测试3000次。电池盖插拔测试插上电池后盖再拔下，累计1000次，外观、功能应正常。 项目PR1阶段，更换电池盖材料/供应商；2插拔频率不

14、超过30次/分钟 （插入拔出算一次）手写笔插拔测试手写笔垂直插入手机再拔出为一次，插拔10000 次，实验中检查手机与手写笔的配合有无不顺畅现象。测试完毕后手机与手写笔外观、结构应正常。（试验速率：25 次/分钟）项目PR1阶段，更换手写笔供应商；210000次测试后，手机壳体卡扣弹片功能正常，无破裂；手写笔可以锁紧不会滑落，多段设计的手写笔，拉出后应为伸长状态触摸屏点击试验将手机固定在点击测试仪器上，用固定在尖端的随机手写笔，加载150g 的力，对触摸屏点击25 万次，每5 万次对屏幕进行检查并清洁；手机处于待机状态；测试完毕后，触摸屏表面无损伤，功能正常。点击速率：约1 次/秒第一次送样，

15、更换TP、触摸IC；或更换LCD供应商；2采用手机自带手写笔进行测试，同时验证手写笔的可靠性。触摸屏划线试验将手机固定在划线测试仪器上，用手机自带的手写笔沿触摸屏的对角线进行划线测试，划线压力为150g 力，测试次数10 万次（反复来回为2 次），每1 万次对触摸屏功能、结构和外观进行检测，并对触摸屏进行清洁。测试结束后，触摸屏功能应正常，外观无损伤（划痕）。（划线速度：约30mm/秒）第一次送样，更换TP、触摸IC，或更换LCD供应商；2划线测试距离不小于屏幕对角线距离的1/3。备注：触摸屏点击划线试验为选作测试项目，只针对TP的新供应商样品做验证测试，标准屏不再安排此项测试。 机械强度测试

16、标准测试项目测试方法/标准主要测试阶段数量注意事项跌落试验（单机）试验样机插SIM卡，并装配电池，手机处于正常待机状态。将样品放置在垂直跌落试验仪上，将高度调到 ，进行垂直跌落测试。每个面各测2 次，共跌落12 次。跌落测试后，首先对样品进行外观、功能，结构检测，记录测试状态后，再进行拆机检测。 （的屏适用米，的屏适用1米） 第一次装机，项目PR1，首次量产，电池、壳体、屏等大的器件变更及供应商变更；4试验从手机的最小面开始跌落，每个循环中LCD 面为最后跌落面；有翻盖（滑盖）的移动电话机应将盖合上；跌落后进行外观检查，磨损是可以的，但不应有破裂以及裂痕；电池盖易脱落，手写笔易脱出，两次以内的

17、掉卡或掉电以及胶塞拉出但未脱落等现象不作为不合格的判定依据。 拆机检测：内部壳体无破裂机变形，定位柱等无变形，确保主板定位良好，主板元器件无损伤。试验中，若因为设计原因，无法满足跌落后电池后盖任然锁紧状态，可采用加贴胶纸的方式固定电池盖后再进行测试 撞击试验单体测试： 将单体显示屏固定在刚性支撑面上，用45g钢球，从50cm高处，以初速为O的状态，垂直冲击镜片中心点位置共5次。试验结束后，对样品进行外观检测。 整机测试：将试验样品装上配套电池。不开机状态下依靠在刚性的支撑面上，用45g钢球，从50cm高处，以初速为O的状态，垂直冲击中心位置共5次。试验结束后，对样品进行功能、外观及装配检测。第

18、一次装机，改LCD组件或供应商变更2单体测试试验： 采用45g钢球从50cm处垂直落下的方式进行。 单体测试后，显示屏外观无损伤，功能应正常。 整机测试试验： 采用45g钢球从50cm处垂直落下的方式进行。 整机测试后，手机显示应无异常，触摸屏外观、功能应正常。(不适用TP)微跌试验样机插SIM卡开机状态，高度为7cm跌落到地面为PVC（厚度4mm，硬度80 Shore D）上，正反面（主按键正面及电池背面）各跌5000次。有翻盖（滑盖）手机应将盖合上状态下测试。第一次装机2所有功能正常。每500次检查手机状态。不能自动关机，不能掉网。结构件无错位。允许因摩擦及撞击造成的表面漆脱落。软压试验将

19、手机正面朝上，放置在支撑部件的中心位置上，样品处于开机状态并锁住键盘。弹性挤压头以25kg的力、每分钟1530次的频率挤压样品中间部位1000次，分别在400、600、800、1000次进行外观检查和话音通信检查，外观、功能应正常，话音通信应能正常进行。测试结束后进行功能、外观及装配检测应无异常。第一次装机，电池、壳体、屏等大的器件变更或供应商变更2按压头材质为硅树脂，支撑部分材质为帆布。3.6 包装成品测试标准随机振动试验振动频率: 10 500Hz ASD(加速度频谱密度)：S3持续时间: 每方向1小时(x,y,z三个方向)。 试验过程中检查手机有无掉卡、关机等不良现象，测试结束后功能检查应无异常。 第一次装机一箱手机处于待机状态。自由跌落试验1角，3棱，6面各跌落1次。地面为20mm厚的木板。6个面按由小到大的顺序跌落，底面最后跌落第一次装机一箱选取包装箱封口处的一角，以该角引出的3个侧棱，由短到长分别跌落1次，6个面按由小到大的顺序跌落，底面最后跌落注意事项：1， 如有技术改进或品质提升，品质部需及时完善本测试手册；2， 本标测试手册解释权归品质部 ；