EMC电磁兼容测试报告2.docx
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EMC电磁兼容测试报告2
共页
检验记录
产品名称
NAMEOFSAMPLE
智能读卡锁
商标型号
TRADEMARK&TYPE
CHD1200M
制造厂商
MANUFACTURER
深圳市纽贝尔电子有限公司
委托单位
CLIENT
深圳市纽贝尔电子有限公司
检验类别
TESTSORT
委托
检验项目
TESTITEM
静电放电抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度
深圳电子产品质量检测中心
SHENZHENELECTRONICPRODUCTQUALITYTESTINGCENTER
深圳电子产品质量检测中心
检 验 记 录
第2页共 页
样品名称
智能读卡锁
商标
/
制造厂商
深圳市纽贝尔电子有限公司
型号规格
CHD1200M
委托单位
深圳市纽贝尔电子有限公司
取样方式
委托人送样
抽样单位
/
抽样母数
1台
抽样地点
/
样品数量
1台
生产日期
--
抽样日期
/
送检日期
2008年11月14日
检验日期
2008年11月14日--2008年12月4日
检验环境
15～35℃45～75%RH
样品说明:
检测样品1台，检测编号：
1#，检测前后样品外观完好，功能正常。
测试时供电电压：
DC12V
检验项目:
静电放电抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度
检测依据:
IEC61000-4-5:
2005、IEC61000-4-2：
2001、IEC61000-4-4-2004、企业要求
检验概况:
依据标准和企业要求对1台样品分别进行了静电放电抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度共3项的检测，测试结果均符合企业要求。
详见后页。
检验结论:
共检3项，3项均符合企业要求
检验负责人：
审核：
批准：
职务：
年 月 日 年 月 日 年 月 日
抗扰度试验判据说明：
序号
判定准则类别
说明
1
判据A
试验中EUT在规范极限值内性能正常
2
判据B
试验中EUT功能或性能暂时降低或丧失，但能自行恢复
3
判据C
试验中EUT功能或性能暂时降低或丧失，但需操作者干预或系统重调（或复位）
4
判据D
试验中EUT因装置（或元件）损坏而不可恢复的功能降低或丧失
检验项目：
浪涌（冲击）抗扰度试验
依据标准：
IEC61000-4-5:
2005、企业要求
产品名称：
智能读卡锁 商标型号：
CHD1200M 样品编号：
1#
试验条件：
温度：
23 ℃，湿度：
52 %RH，正常大气压。
电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果。
EUT状态：
试验前工作正常，试验中受试设备刷卡及RS485命令开锁正常，使受试设备处于正常工作状态。
试验等级：
在受试设备的DC电源和信号线端口：
正-负：
电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50μs（短路电流波形8/20μs），2Ω内阻
正（或负）-地：
电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50μs（短路电流波形8/20μs），12Ω内阻
信号线对线：
电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50μs（短路电流波形8/20μs），15Ω内阻
信号线对地：
电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50μs（短路电流波形8/20μs），15Ω内阻
要求符合性能判据B。
试验布置：
严格按标准要求。
试验过程：
：
浪涌（冲击）电压施加在EUT的DC电源和信号线端口，60秒钟一次，正、负极性各做5次。
试验电压由低等级增加到规定的试验等级，较低等级均应满足要求。
EUT表现：
在整个试验过程中没有出现危险或不安全的后果，试验中及试验后，EUT工作正常，表现出抗扰能力。
符合性能判据 A 。
描述如下：
受试设备在试验前正常工作，试验中及试验后EUT工作正常。
符合性能判据要求。
检验人：
校核人：
检验日期：
校核日期：
抗扰度试验判据说明：
序号
判定准则类别
说明
1
判据A
试验中EUT在规范极限值内性能正常
2
判据B
试验中EUT功能或性能暂时降低或丧失，但能自行恢复
3
判据C
试验中EUT功能或性能暂时降低或丧失，但需操作者干预或系统重调（或复位）
4
判据D
试验中EUT因装置（或元件）损坏而不可恢复的功能降低或丧失
检验项目：
静电放电抗扰度试验
依据标准：
IEC61000-4-2：
2001、企业要求
产品名称：
智能读卡锁 商标型号：
CHD1200M 样品编号：
1#
试验条件：
温度 24 ℃ ，湿度：
52％RH，正常大气压。
电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果。
EUT状态：
试验前工作正常，试验中受试设备刷卡及RS485命令开锁正常。
，使受试设备处于正常工作状态。
试验等级：
a）接触放电：
试验电压6kV。
b）空气放电：
试验电压8kV。
要求符合性能判据B。
试验布置：
严格按标准要求。
试验过程：
a）对EUT可接触的导电表面、螺钉、端口等金属体进行接触放电，分别选择4个以上试验点进行（每点至少50次，正负极性各25次），其中一个试验点承受水平耦合板前边缘中心距EUT0.1m处至少50次间接（接触）放电。
试验电压4kV，用尖端接触放电枪头，最大放电重复频率为1次/s。
试验电压应从最小值逐渐增加至规定的试验值，以确定故障的临界值。
b）对EUT可接触的壳体表面，按键、指示灯、显示屏、壳体等的缝隙进行空气放电，分别选择3个以上试验点，每点进行至少20次单次放电，正负极性各10次，试验电压8kV，用圆形空气放电枪头。
试验电压应从最小值逐渐增加至规定的试验值，以确定故障的临界值。
EUT表现：
在整个试验过程中没有出现危险或不安全的后果，表现出抗扰能力，符合性能判据 B。
描述如下：
受试设备在试验前正常工作，试验中及试验后受试设备工作正常。
符合性能判据要求。
检验人：
校核人：
检验日期：
校核日期：
抗扰度试验判据说明：
序号
判定准则类别
说明
1
判据A
试验中EUT在规范极限值内性能正常
2
判据B
试验中EUT功能或性能暂时降低或丧失，但能自行恢复
3
判据C
试验中EUT功能或性能暂时降低或丧失，但需操作者干预或系统重调（或复位）
4
判据D
试验中EUT因装置（或元件）损坏而不可恢复的功能降低或丧失
检验项目：
电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
依据标准：
IEC61000-4-4-2004、企业要求
产品名称：
智能读卡锁 商标型号：
CHD1200M 样品编号：
1#
试验条件：
温度：
23 ℃，湿度：
52 %RH，正常大气压。
电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果。
EUT状态：
试验前工作正常，试验中受试设备刷卡及RS485命令开锁正常。
，使受试设备处于正常工作状态。
试验等级：
在EUT供电电源端口：
线对线和线对地：
试验电压峰值2kV；重复频率2.5kHz，5/50nsTr/Td脉冲群波形。
脉冲群持续时间、周期分别为15ms，300ms。
要求符合性能判据B。
在信号线端口，通过电容耦合钳耦合：
试验电压峰值2kV；重复频率5kHz，5/50nsTr/Td脉冲群波形。
脉冲群持续时间、周期分别为15ms，300ms。
要求符合性能判据B。
试验布置：
严格按标准要求。
试验过程：
EUT的电源插入电快速瞬变脉冲群发生器的EUT插座端口，加峰值为2kV的试验电压，分别加在+、-和+/-线、地线上，每根线上的试验持续时间为1分钟，分别进行正负极性试验。
EUT的信号线放入电快速瞬变脉冲群发生器的电容耦合钳里，通过耦合，加峰值为2kV的试验电压，试验持续时间为1分钟，分别进行正负极性试验。
EUT表现：
在整个试验过程中没有出现危险或不安全的后果，试验中及试验后，EUT工作完全正常，表现出抗扰能力。
符合性能判据 B 。
描述如下：
受试设备在试验前正常工作，试验中及试验后受试设备工作正常。
符合性能判据要求。
检验人：
校核人：
检验日期：
校核日期：
试验仪器设备清单
序号
名称
型号
编号
有效日期
本次使用
21
静电放电测试仪
PESD1600
A0103108
2009.06.10
22
电快速瞬变测试仪
PEFTJUNIOR
A0103110
2009.06.10
23
电容耦合钳
IP4A
A0103208
2006.06.10
25
雷击测试仪
TSS500M10
A0712511
2009.11.19
26
浪涌脉冲发生器
VCS500M10
A0712509
2009.11.19
27
浪涌耦合网络
CNV503S9
A0712510
2009.11.19
注：
打“√”为本次试验使用仪器、设备，所有仪器、设备均在校准有效期内。
检查人：
检验报告审批登记表
QR-31
工作任务通知书
28-4271
检验报告编号
产品名称
智能读卡锁
生产企业
深圳市纽贝尔电子有限公司
检验项目
静电放电抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度
检验完成日期
年月日
报告编制日期
年月日
报告附件情况
1、工作任务通知书一份，1页；
2、委托检验协议书一份，1页；
3、检验记录一份，共页；
4、打印无差错。
编制：
年月日
审核记录
审核：
年月日
批准记录
批准：
年月日
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