超声波仪器探头性能指标及其测试方法.docx

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超声波仪器探头性能指标及其测试方法

超声波仪器、探头主要组合的性能测定

主要性能测试项目及其性能指标

仪器

灵敏度余量

垂直线性误差

动态围

分辨力

水平线性误差

探测围

通用仪器

≥46dB

≤6%

≥26dB

≥26dB

≤2%

数字仪器

≥60dB

≥3.6m

探头

频率误差

相对灵敏度余量

分辨力

声轴偏斜角

折射角误差

直探头

≤15%

≥40dB

≥26dB

≤1.5°

斜探头

≤15%

≥60dB

≥18dB

≤4%

小角度探头

≤15%

≥50dB

≥16dB

≤2°

不动车专用

≥75dB

一、超声波探伤仪主要性能测试方法

 1、电噪声电平(%)

仪器灵敏度置最大,发射置强,抑制置零或关,增益置最大,衰减器置“0”,深度粗调、深度微调置最大。

读取时基线噪声平均值,用百分数表示。

2、灵敏度余量(dB)

 a)使用2.5MHz、Φ20直探头和CS-1-5或DB--PZ20—2型标准试块。

 b)连接探头并将仪器灵敏度置最大,发射置强,抑制置零或关,增益置最大。

若此时仪器和探头的噪声电平(不含始脉冲处的多次声反射)高于满辐的10%,则调节衰减或增益,使噪音电平等于满辐度的10%记下此时衰减器的读数S0。

图1 直探头相对灵敏度(灵敏度余量)测量

 c)将探头置于试块端面上探测200mm处的i2平底孔,如图17所示。

移动探头使中Φ2平底孔反射波辐最高,并用衰减器将它调至满辐度的50%,记下此时衰减器的微Sl,则该探头及仪器的探伤灵敏度余量S为:

S=S1--S0(dB)

3、垂直线性误差测量(%)

 

(1)连接探头并在试块上探测任一反射波(一般声程大于50mm)作为参照波,如图2所示。

调节探伤仪灵敏度,使参照波的辐度恰为垂直刻度的100%,且衰减器至少有30dB的余量。

测试时允许使用探头压块。

图2 垂直线性误差测量

(2)用衰减器降低参照波的辐度,并依次记下每衰减2dB时参照波辐度的读数,直至衰减26dB以上。

然后将反射波辐度实测值与表l中的理论值相比较,取最大正偏差d(+)与最大负偏差d(-),则垂直线性误差△d用式

(1)计算:

△d=|d(+)|+|d(-)|…………………

(1)

(3)在工作频率围,改用不同频率的探头,重复

(1)和

(2)的测试。

表1

衰减量dB

0

2

4

6

8

10

12

14

16

18

20

22

24

26

波高理论值

100

79.4

63.1

50.1

39.8

31.6

25.1

20.0

15.8

12.5

10.0

7.9

6.3

5.0

实测值

4、动态围的测量(dB)

(1)连接探头并在试块上探测任一反射波(一般声程大于50mm)作为参照波。

(2)调节衰减器降低参照波,并读取参照波辐度自垂直刻度的100%下降至刚能辨认之最小值(一般约为3~5%)时衰减器的调节量,此调节量则定为该探伤仪在给定频率下的动态围。

(3)按

(1)和

(2)条方法,测试不同频率不同回波时的动态围。

5、水平线性误差测量(%)

(1)连接探头,并根据被测探伤议中扫描围档级将探头置于适当厚度的试块上,如DB――D1,DB—Pz20-2,CSK-1A试块等,如图3所示。

再调节探伤仪使之显示多次无干扰底波。

(2)在不具有“扫描延迟”功能的探伤仪中,在分别将底波调到相同辐度的条件下,使第一次底波B1的前沿对准水平刻度“2”第五次底波B5的前沿对准水平刻度“10”,然后依次将每次底波调到上述相同辐度,分别读取第二、三四次底波前沿与水平刻度“4”、“6”、“8”的偏差Ln,如图4所示,然后取其最大偏差Lmax按式

(2)计算水平线性误差ΔL:

式中:

ΔL:

水平线性误差,%;

B:

水平全刻度读数。

图3 水平线性误差测量

图4 水平线性误差测量

 (3)在具有“扫描延迟”功能的探伤仪中,按

(2)条的方法,将底波以前沿对准水平刻度“0”,底波B6前沿对准水平刻度“l0”,然后读取第二至第五次底波中之最大偏差值Lmax,再按式(3)计算水平线性误差△L

(4)在探伤仪扫描围的各档级,至少应测试一种扫描速度下的水平线性差。

 6、分辨力的测量(dB)

使用2.5MHz、Φ20直探头

a)仪器抑制置零或关,其它旋钮置适当位置,连接探头并置于CSK-IA标准试块上,探测声程分别为85mm和91mm反射面的反射波(如图9所示),移动探头使两波等高;

图9 直探头分辨力的测量

b)改变灵敏度使两次波辐同时达到满辐度的100%,然后测量波谷高度h,则该探头的分辨力R用下式计算:

R=20lg(100/h)

若h=0或两波能完全分开,则取R>30dB。

二、超声探头的测试方法

1、探头回波频率及频率误差测量

 

(1)直探头回波频率的测试

a)连接被测探头并置于l号标准试块25mm厚度处,使第一次底波最高。

b)用示波器在探伤仪的接收输入端观察底波B1的扩展波形,如图8,在此波形中,以峰值点P为基准,读出在其前一周期、后两个周期共计三个周期的时间T3,根据fe=3/T3计算回波频率fe,再按下式计算回波频率误差:

口fe=(fe-f0)/f0×100%………………(7)

式中:

fe回波频率误差,%;f0――探头的标称频率。

图8探头回波频率测量

(2)斜探头回波频率的测量

仪器连接及调节度与直探头相同,将探头置于1号试块上探测R100圆弧面的最高回波。

其余步骤与直探头相同。

2、分辨力(纵向)测量

 

(1)直探头分辨力的测量

a)仪器抑制置零或关,其它旋钮置适当位置,连接探头并置于CSK-IA标准试块上,探测声程分别为85mm和91mm反射面的反射波(如图9所示),移动探头使两波等高;

图9 直探头分辨力的测量

b)改变灵敏度使两次波辐同时达到满辐度的100%,然后测量波谷高度h,则该探头的分辨力R用下式计算:

R=20lg(100/h)…………………………(8)

 

(1)若h=0或两波能完全分开,则取R>30dB。

 

(2)斜探头分辨力的测量

a)如图10所示,探头置于CSK一1A试块的K值测量位置,耦合良好,探测试块上A(Φ50)、B(Φ44)两孔的反射波,移动探头使两波等高;

b)调节衰减器和增益,使A、B西波波辐同时达到满辐度的100%,然后测量波谷高度h,

则该探头的分辨力R用式(8)计算;

c)若h=0或两波能完全分开,则取R>30dB。

图10 斜探头分辨力的测量

 (3)小角度探头分辨力的测量

将探头置于K<1.5的位置,其余测试步骤同斜探头分辨力的测量。

3、直探头声轴偏斜角的测量

 

(1)在DB---H1试块上选取深度约为2倍被测探头近场长度的横通孔。

 

(2)标出探头的参考方向,将探头几何中心轴对准横通孔中心轴,然后使探头沿x方向在试块中心线上移动,测出到孔波最高点时探头的移动距离D、,其中孔波辐度最高点在+x方向时加上(+)号,在-x方向时加上(-)号,如图1l。

图11 直探头声轴偏斜角的测量

(3)继续沿x方向移动探头,分别测出孔波辐度最高点至孔波辐度下降6dB时探头的移动距离W+x和w-x。

(4)使探头沿y方向对准试块中心线移动,按上两条的方法测出Dy、W+y和W-y。

(6)Dx、Dy。

表示了声轴的偏移,W+x、W-x、W+y和Wy表示了声束宽度,读数精确到1mm。

按下式计算声轴的偏斜角θ:

4、斜探头、小角度入射点的测定

(1)横波斜探头

 连接被测探头并置于CSK一1A型标准或CSK—I型标准试块上探测试块R100圆弧面,如图12所示。

前后移动探头并保持探头与试块侧面平行,使R100圆弧面的回波辐度达到最高,则此时R100圆心刻线所对应的探头侧棱上的点的即为探头的入射点。

读数精确到0.5mm。

图12 入射点的测定

(2)小角度纵波探头

调整仪器各旋钮使屏幕显示正常,将被测探头置于TZS—R试块的R面上(图13)探测试块A面下棱角,前后移动探头,并注意保持探头声束与试块侧面平行,使A面下棱角回波达到最高,记下此时探头前沿至试块前端以端)的距离为然后用二次反射被探测A面上棱角,同样前后移动探头,使A面上棱角回波达到最高,记下此时探头前沿至试块前端(A端)的距离XZ,则探头前沿至入射点的距离为:

a=x2—2xl

5 斜探头折射角的测量

测试设备:

a)探伤仪;b)l号标准试块;C)刻度尺。

测试步骤

将探头置于1号标准试块上,当K≤1.5时,探头放在如图10(a)位置,观察Φ50mm孔的回波;1.52.5时,则观察图10(c)的Φ1.5mm横通孔的回波。

前后移动探头,直到孔的回波最高时固定下来,然后在试块上读出按3.2.5测得的入射点相对应的角度刻度β,β即为被测探头折射角,读数精确到0.5º。

图10

按下式计算K值:

K=tgβ

式中:

β-折射角,(°);

(2)小角度纵波探头K值和β角的测定

 在小角度探头的K值和β角测定之前,应首先测定探头的前沿距离a,然后再按图15和图16所示方法,在TZS—R试块的c面或B面进行测试,当找到端面(A面)上棱角的最大反射波高时,则探头的K值和w角用下式计算:

 当探头入射角在6º~8º时(如图15)

k=:

(X+a)/200…………………………(11)

β=arctgk

当探头入射角在9º~11º时(如图16)

k=(X+a)/80;…………………………(12)

p=arctgk

图15                图16

小角度探头人射角α和折射角β对应关系如表3(斜块声速取2730m/s)。

表3

入射角α

10°

11°

12°

折射角β

10.86°

13.06°

15.27°

17.5°

21.76°

22.04°

24.35°

26.7°

6 相对灵敏度

 

(1)直探头(等同于探伤灵敏度余量)

 a)使用2.5MHz、Φ20直探头和CS-1-5或DB--PZ20—2型标准试块。

 b)连接探头并将仪器灵敏度置最大,即发射置强,抑制置零或关,增益置最大。

若此时仪器和探头的噪声电平(不含始脉冲处的多次声反射)高于满辐的10%,则调节衰减或增益,使噪音电平等于满辐度的10%记下此时衰减器的读数S0。

图17 直探头相对灵敏度(灵敏度余量)测量

 c)将探头置于试块端面上探测200mm处的Φ2平底孔,如图17所示。

移动探头使中Φ2平底孔反射波辐最高,并用衰减器将它调至满辐度的50%,记下此时衰减器的微Sl,则该探头及仪器的探伤灵敏度余量S为:

S=S1--S0(dB)………………………………………(13)

 

(2)斜探头相对灵敏度测试

连接好被测试斜探头并按直探头的方法测量噪声电平S0,然后将探头并置于CSK-1A标准试块上探测R100圆弧面(如图18),耦合良好并保持声束方向与试块侧面平行,前后移动探头,使R100圆弧面的一次回波辐度最高,将其衰减至满辐度的50%,此时衰减器的读数为S2。

则斜探头的相对灵敏度S为:

S=S2-S0(dB)…………………………………………(14)

图18 斜探头相对灵敏度测量

 (3)小角度纵波探头

测量方法同横波探头的情况,只不过基准反射面由CSK-1A试块上的R100圆弧面改为DB-H2试块上Φ3×80横孔,如图19所示。

前后移动探头使孔波达到最高,并用衰减器将其调至满刻度的50%,记下此时衰减器的读数S3,则S3-S0。

的差值即为被测探头的相对灵敏度。

测量时注意保持探头侧面与试块侧面平行。

图19 小角度探头相对灵敏度测量

7 空载始波宽度测量

 

(1)直探头空载始波宽度

a)探头置1号(或CSK-1A)试块高100mm的探测面上,使底波B1;和B2的前沿分别对准水平刻度的5和10,即水平刻度全长代表钢中纵波声程200mm。

b)探头移置DB-PZ20-2、试块或CS-1-5试块上,仪器的调整度置灵敏度余量测试状态,将探头置于空气中,擦去探头表面油层,水平刻度的“0”点至始波后沿与垂直刻20%线的交点所对应的水平距离Wo即为空载始波宽度(用钢中纵波的距离表示),如图20所示。

 

(2)斜探头空载始波宽度

 a)连接直探头并将其置于1号(或CSK-1A)标准试块高91mm的探测上,调节“扫描”和“移位”旋钮,使底波B1、B2的前沿分别对准水平刻度的5和10,并使第二次底波辐度为垂直刻度的50%~80%。

此时水平刻度线全长代表钢中横波声程100mm。

也可用被测斜探头直接探测CSK-1A试块上R50和R100圆弧面,调节仪器“扫描”和“移位”旋钮,使两波的前沿分别对准水平刻度的5和10,水平刻度线全长代表钢中横波声程100mm。

 b)换上待测斜探头,仪器调整度置斜探头相对灵敏度测试状态,在声束方向与试块侧面保持平行的条件下前后移动探头,使1号(或CSK-1A)试块R100圆弧面的第一次回波最高,调节衰减器使回波辐度为垂直刻度的50%,然后调节水平旋钮,使回波前沿对准刻度“10”。

 c)将探头置于空气中,擦去探头表面油层,使仪器增益40dB,则水平刻度的“0”点至始波后沿与垂直刻度20%线交点所对应的水平距离Wo,即为该探头空载始波宽度,用钢中横波传播距离表示。

(3)小角度探头始波宽度

a)调节水平刻度全长为钢中纵波200mm(调节方法与直探头同)。

b)仪器的调整度置小角度探头相对灵敏度测试状态,并按表4调节中3×80横孔的最高回波至水平刻度的计算值位置。

将探头置于空气中,擦去探头表面油层,使仪器增益30dB,则水平刻度的“0”点至始波后沿与垂直刻度20%线交点所对应的水平距离Wo,即为该探头空载始波宽度,用钢中纵波的传播距离表示。

c)因调整量小,测量时可将Φ3×80孔波的前沿一律对准水平刻度4.1格。

表4

小角度探头的角度

5

6

7

8

9

10

Φ3x80最高孔波声程

81.0

81.5

82.0

82.7

83.4

84.3

Φ3x80最高孔波位置

4.05

4.08

4.10

4.14

4.17

4.22

注:

Φ3×80最高孔波位置系指水平刻度大格数。

8、斜探头声轴偏斜角测量

将被探头置于1号试块厚度为25mm的表面上。

若探头的K值≤l时,测试时用试块上端面,如图23.a所示;若探头的K值>l,则测试时用试块的下端面,如图23.b上所示。

前后移动和左右移动探头,使所测端面回波辐度最高,然后用量角器测量探头侧面与试块侧面法线的夹角θ。

即为被测探头的声轴偏斜角,读数精确到0.5º。

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