α=（LogI2/I1）/（LogV2/V1）
2.4.9动态阻抗（压敏电阻）在指定的工作点上测量一个Zx由计算得出
小的信号阻抗，由下定义:
Zx=（dVx）/（dIx）
2.4.10电阻值（压敏电阻）压敏电阻在给定工作点的静态Rx由计算得出
电阻，由下定义：
Rx=（dVx）/（dIx）
2.4.11电容（压敏电阻）在指定频率和偏置电压下压敏电C见4.11
阻两端测得的电容.
2.4.11交流耗散功率（压敏电阻）在额定有效值电压Vm（ac）Pd见4.12和图7
下压敏电阻功率泻放的测量。
2.4.13电压过冲击（压敏电阻）.当施加波前持续时间低于8μs
的电流波形时超出装置的限制电压的那部分电压。
这个电压可以Vos见6.3和图8定义
用限制电压Vc的a%来表示。
（对于8/20μs波形）
2.4.14响应时间（压敏电阻）.在波形超出限制电压水平
和电压过冲击峰值之间的点的时间。
这个定义的目的是，
用同样峰值电流幅值的8/20波形定义限制电压作为这个响应时间---见6.4和图8定义
的使用波形。
2.4.15过冲击持续时间（压敏电阻）.在波形超出限制电压
水平（Vc）点和电压过冲击下降到峰值的50%点之间的时间。
对于
定义的目的是，用同样峰值电流幅值的8/20波形定义限制电压作为过------
冲击持续时间的使用波形。
3.工作条件
3.1正常工作条件
没有特别要求，下列项目应该由厂家指定。
3.1.1环境条件
（1）工作和存储温度范围
（2）海拔或空气压力
（3）湿度
（4）机械振动和冲击
3.1.2压敏电阻无力特性
（1）耐溶解性
（2）焊接性能
（3）可燃性
（4）过载时包装破裂
3.1.3系统条件
（1）标称系统频率
（2）最大持续系统电压
3.1.4在系统条件下的浪涌值
（1）峰值单次瞬时电流（Itm）
（2）寿命额定冲击电流
（3）额定单次冲击瞬时能量（Wtm）
（4）额定瞬时平均功率泻放（Pt（AV）m）
3.2非正常工作条件
下列工作条件在设计上或者压敏电阻应用上可能需要特别考虑，应该引起厂商的注意。
3.2.1环境条件
1）环境温度超过标准工作条件
2）海拔超过厂商规定
3）暴露于下列情况
a）有害烟雾或水汽
b）过量灰尘或水流传到累积；过分漕湿，水汽和滴水，水流或者盐喷；爆炸性气体；不正常振动或冲击
c）辐射
4）非正常运输或储存条件
5）严重可燃
3.2.2物理条件
在空间或重量上的限制，包括传导物体的清晰，尤其是海拔超过厂商指定的。
3.2.3系统条件
1）系统电压，电流或工频条件超过装置的值（看section5失效模式）
2）系统浪涌电流超过装置的值（看section5失效模式）
3）任何其他用户已知的非正常条件
4.标准设计测试程序
4.1标准设计测试准则
在4.4到4.12描述的设计测试为简单观察压敏电阻装置的特定属性提供标准化的方法。
装置和装置的不同，这些属性可能不同，因此有必要提供统计的属性描述以便比较产品。
4.2统计程序
应使用下列程序来描述任何属性，这些测定的属性有重要的统计方面。
选择产品样品应采用和设计的测试定义一致，测试时由ANSI/IEEEStd100-1977（3）提供。
测试足够多数量装置，并且按照在适用的设计测试中的描述测量有疑问的特性参数值，直到测定下面的统计分布参数在厂家指定的信心限度内。
相关的产品样品值（没有限定）诸如意思，中值，最大最小值和标准偏差能被陈述出。
4.3测试条件
4.4到4.12的测试应该按要求在装置上进行。
没有特别指定，环境测试条件应该如下：
温度25±5℃
相对湿度：
小于85%
海拔：
低于2000m（6562）
4.4限制电压测试
4.4.1
这个测试的目的是在通过浪涌电流时测定压敏电阻提供的电压保护。
限制电压应该是在脉冲波形8/20us电流，指定峰值下测量的。
线路在功能上等效于图3。
没有特别指定这个装置在两极上都要测试。
R3=电流传感电阻
CRO=观察电流和电压的示波镜
VUT=测试下的压敏电阻
注意：
对于大电流高频率测试中测量技术应该注意到，诸如卡尔文连接（四点探头）和短引脚.
P1=充电网络或电源
S1=充电开关
S2=冲击放电开关
L=冲击整形电感
C=冲击发生器电容
R1=冲击整形电阻
R2=冲击整形和限流电阻
图3-限制电压的测试电路
4.4.2
为了建立电压-电流特性曲线图，限制电压应该在两个电流等级下测量。
这两等级应该一个中间值和一个是很高值，参照额定浪涌电流容量。
（4.9每段中的标称压敏电压的测量提供一个低电流观察点）没有指定要求对于中间等级测试，使用的峰值电流测试建议的范围为5A-300A。
对于高等级测试限制电压的测量，在寿命额定冲击电流测试期间限制电压的测量建议使用表1中的对应两种脉冲条件的电流，和8/20us测试波形的这种脉冲在正负两级性上都要施加。
对于特别的应用，可以指定其他测试波形。
4.5额定峰值单次脉冲瞬时电流测试（Itm）（见图4）
4.5.1
这个测试的目的是证实压敏电阻在额定通流量下当受到单次浪涌，它的设计符合可靠性的统计表达水平。
采用失效准则章节5。
4.5.2
对于每种极性在额定峰值幅度下压敏电阻受到一个8/20μs电流脉冲冲击。
合适的额定电压Vm（ac）或Vm（dc）应该在冲击前持续施加最少两秒和冲击后最少30秒后。
4.6寿命额定脉冲电流测试（见图3）
4.6.1
这个测试的目的是为了证实，当受到复合脉冲或不同波形，或两者，相对应于厂家指定的任何寿命额定冲击电流，一个压敏电阻的设计满足可靠性的统计表达水平。
没有特殊要求，测试采用推荐的表1列举的冲击次数和波形。
章节5失效准则应该在每组多次冲击测试的总结下应用。
4.6.2
对于每种电流水平和测试的波形都应该采用新的样品来完成表1。
没有特殊要求，应该施加正反极性方向交互式的浪涌。
在脉冲之间的时间段应该选择以便不超过在2.4.5定义下装置的瞬时平均功率泻放值。
这些测试（不包括Itm）不要求应用线电压。
P1=充电网络或电源
S1=充电开关
S2=冲击放电开关
L=冲击整形电感
C=冲击发生器电容
R1=冲击整形电阻
R2=冲击整形和限流电阻
R3=电流感应分流
CRO=观察电流和电压的示波镜
VUT=测试下的压敏电阻
P2=Vm（ac）或Vm（dc）独立源
L2=低通滤波电感（见注2和3）
注：
（1）对于大电流高频率测试中测量技术应该注意到，诸如卡尔文连接（四点探头）和短引脚.
（2）短路时P2和L2串联应能传送最小0.5A.
（3）L2的值有很高的阻抗能够使浪涌和电源P2分开.
图4确定额定峰值单次脉冲瞬时电流（Itm）的测试电路
P1=已整流的ac，dc，Vpm电源
FU=熔断丝
VUT=测试下的压敏电压
图5-确定额定有效值，DC和峰值电压（Vm（ac），Vm（dc），Vpm）的测试电路
4.7额定有效电压测试（Vm（ac））见图5，额定直流电压测试（Vm（ac））见图5
压敏电阻的额定有效电压或直流电压是建立在装置的有限寿命基础上，如章5定义。
对于最大的环境温度，期望在这个温度下这个装置工作的失效模式，实际的考虑规定通过在更高的温度下施加全部的额定电压以加速这个测试。
没有简单的测试能够测定电压值，考虑装置的期望寿命，期望环境温度，高能量脉冲冲击和寿命终结（失效）准则的选择。
这些考虑在厂家和用户应用工程功能领域内。
为了说明这个评估的过程，下列程序典型的描述参考图5.电源（交流和直流取决于应用）必须接近整流（±2%最大值），同时测试箱的温度（±3℃）。
在测试期间假如升高温度以加速测试到发生崩溃（失效）时，建议给压敏电阻使用熔断装置。
压敏电阻特性的初始读出数值，特别是压敏电阻标称电压，应和在设置间隔测试后相比较，例如，168，500和1000小时。
装置在控制室温（25±5℃）下，做出初始的和中间的读出数值。
没有特殊要求，这些测试推荐环境温度85℃，持续时间1000小时。
4.8直流功耗电流测试（ID）
压敏电阻应该用电路在功能上等效于图6的电路。
一个好的整流直流电源是有必要的。
在施加电压（Vm（dc））最大10ms后电流应该测量。
这个时间延迟允许导通稳定以后的接近长时间直流值。
没有个别指定这个装置应该使用正反两极性测试。
4.9标称压敏电压测试（VN（dc）和VN（ac））见图6
4.9.1
压敏电阻测试应该使用已知或测量过的直流或交流源。
施加的时间在10ms和10s之间，或者足够的持续时间和上升时间以致压敏电压在10s值的±2%。
采用在功能上线路等效于图6.没有个别指定这个装置应该使用正反两极性测试.
4.9.2
假如需要交流测试，峰值标称压敏电压，VN（ac），应使用频率50-60HZ的正弦电压源测量。
采用电路在功能上等效于图6.
4.10额定循环峰值电压测试（Vpm）（见图5）
压敏循环峰值电压值和非正弦应用电压有关。
4.7描述的评估过程是可适用的，除此以外正弦电源将应该用指定的波形来代替。
P1=可调整地DC电源（如果是ac测试则采用ac电源）
R1=模拟电流源达到足够大的值（例如，100KΩIN（dc）=1.0mA）
R2=模拟电压源达到足够大的值（例如，10KΩID=10μA）
图6-DC功耗电流和标称电流和标称压敏电阻电压测试（ID，VN（dc）,VN（dc））的测试电路
P1=60Hz电源可变电压注：
有关功率表参数信息看4.12
VUT=测试下的压敏电阻
图7-交流功耗功率（Pd）的测试电路
4.11电容测试
在指定的频率和偏置电压下测试电容。
注意没有相关特殊应用的要求，这个测试建议用1.0MHz的频率和偏置电压为零。
信号水平应该是这样，加倍幅值变化不要多于5%。
4.12交流功耗功率（Pd）（见图7）
压敏电阻测试应该使用在功能上电路等效于图7.压敏电阻在它的额定有效电压Vm（ac）下测试。
Vm（ac）的精度应该在2%。
使用的瓦特计应该随非正弦电流的平方准确的工作。
压敏电阻必须保持在测试下直到它达到稳定状态。
测试结果取决于环境温度和在压敏电阻周围的空气循环。
必须注意对于这测试要创造相同的期望的条件。
5失效模式
没有特殊要求，建议使用下列准则。
在此装置温度回到25±5℃后，测定失效的测试应该进行.
5.1短路失效模式
在这个模式里，此装置电阻在1Vdc下永久减少并低于100Ω.
5.2降级失效模式
在这个模式里，装置的压敏电压低于测试前的90%。
注意因为使用标称压敏电压作为失效的准则，选择电流密度在这个电流密度下进行的这个测试会影响失效评估的结果。
另外，对于选择的电流密度减少，降级失效模式准则的灵敏度也增加。
对于电流密度推荐典型的值是1mA/cm2.
5.3高的限制电压失效模式
在这个模式里，装置的限制电压高于测试前的限制电压的120%（在中等电流值）.
5.4“失效-安全”工作
使用“失效-安全”来描述压敏电阻的失效模式因为下列原因令人气馁的：
装置的失效会发生在以上描述的任何模式下。
一些用户可能考虑对于此装置大部分期望的模式是仍具有保护功能；例如，在短路失效模式失败后。
然后，其他用户的系统目标能要求单个装置应该在高限制失效模式下失效以便获得系统描述的性能。
这样，当很多用户考虑“失效-安全”时，短路模式失效实际可能和其他用户的期望（安全）模式相反。
因而，这个推荐的实验是来描述5.1到5.3定义的失效模式其中之一。
6.其他参数
6.1额定瞬时能量
当产品实时处理或波形的连续数字化或加倍时，在一个脉冲期间能量泻放的测定需要同时记录电流和电压。
这些工作是耗时的或要求特殊使用仪器，这些仪器是不容易获得的。
通过一个简单波一个非常好的总的大概的能量泻放可以从峰值估算出来。
例如，在电流脉冲（下降时间与波前持续时间相比具有长的时间）的情况下，能量接近1.4VcIpt，这里Vc是限制电压，Ip是峰值电流，t是Ip/2电流波形的时间，这三个参数通过传统的使用仪器都可以测量得到。
进一步而言，这些数据就可以从寿命额定脉冲测试（4.6）的结果中获得。
对于一个8/20us电流波，通过冲击泻放的能量等于0.91.4VcIpt。
对于其他的波形，这些估算值可能不是很准确，用户仅仅要进行峰值电流估算，除非有严格要求才使用特殊的测试程序。
用户应该意识到，用能量作为比较不同的压敏电阻设计的品质的标志是容易让人误解的。
通过瞬时电流积累的能量取决于压敏电阻的限制电压。
因而，较低的能量值不是意味着在瞬变环境里耐受能力也较低。
相反，单次和寿命冲击电流值是压敏电阻浪涌耐受能力的合适的测试。
没有特殊要求，能量值推荐作为主要考虑的电流值的补充，并且对于应用问题在能量方面更方便处理。
设立的单次脉冲能量值是来自额定峰值电流测试的数据。
对于批次接受，使用相同的统计方法。
对于多次脉冲，这里压敏电阻的老化是要考虑的一个参数，冲击寿命因素可以得到。
对于实际目的，当在原理上能量不等效时，在电流值中使用的相同的因素可以应用在单次脉冲能量值上.
6.2额定瞬时平均功率泻放（Pt（AV））
压敏电阻的额定瞬时浪涌平均功泻放率由厂家指定，为了限制装置的温度以获得可靠的长寿命，应考虑三个参数：
1）通过重复瞬变在材料中的输入的平均积累的能量
2）在工作温度下与功耗电流相关的输入功率泻放（正常是总能量输入的一个小因素）
3）输出能量通
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