分析材料.docx
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分析材料
分析材料
篇一：
材料分析
元月份材料消耗分析
一、指标完成情况
元月份原煤产量计划24万吨，完成10.06万吨，完成计划的42%，进尺计划1580m，完成1500m，完成计划的95%。
生产科五项材料消耗费用357.13万元，比计划106.64元（10.60元/t）提高投入费用250.49万元。
二、五项材料指标完成情况及消耗分析：
1、支护：
支护材料消耗费用147.07万元比计划费用60.36万元（6元/吨），多投入86.71万元。
材料超耗的主要原因是：
（一）、原煤产量完成较少，进尺相对完成较好，影响吨煤费用。
分析如下：
（二）、包含在年计划指标费用之内，因工程所需集中出库的材料，影响当月指标费用（2-604工作面末采）。
具体分析如下：
①、计划原煤产量与实际完成产量相比
元月份原煤产量完成10.06万吨，比月均计划（25万吨）少完成40.24%；影响费用89.64万元。
计算：
（实际10.06万吨-计划25万吨）*指标6元/吨=89.64万元。
②、计划进尺与实际完成进尺相比
元月份完成进尺1500米，比月均计划进尺1583米，少完成83
米，影响费用7.86万元。
计算：
（完成进尺1500米-月均计划1583米）*指标947元=7.86万元。
以上两者相比，影响费用81.78万元。
2、包含在年计划指标费用之内，因工程所需集在当月出库的材料，影响吨煤费用。
2-604工作面末采平均月计划指标费用0.17元/吨，应耗4.15万元，因工程所需而在元月份末采，投入费用21.91万元，两者相比多投入17.76万元。
2、建工：
建工材料消耗费用35.72万元比计划费用10.06万元（1元/吨），多投入25.66万元。
主要原因是：
（1）、建工材料调价比20XX年初水泥每吨提高了108元、沙每方提高了106元、石子每方提高了112元，12月份锚喷巷道170米，各工作面治理达标等工程，全月共使用水泥290吨、沙459方、石子490方，调价后提高投入费用13.49万元。
（2）、临时工程投入金额较大，投入费用13.47万元，其中：
五采区轨道巷末端硬化投入费用11.33万元。
2-314回采面施工水仓，投入费用2.15万元。
3、坑木：
坑木材料消耗费用4.42万元比计划费用2.72万元（0.27元/吨），多投入1.7万元。
主要原因是：
异常情况投入，影响指标费用（2-504工作面打木垛投入费用1.84万元）。
4、专工：
专工材料实际消耗费用19.34万元比计划费用2.01万元（0.2元/吨），多投入17.33万元。
具体分析如下：
①、异常情况投入4.67万元，影响指标费用（2-504工作面顶板破碎，施工锚索）。
②、包含在年计划指标费用内，而集中出库的材料，影响材料超耗。
2-604工作面末采投入费用14万元。
5、其它：
其它材料实际消耗费用150.06万元比计划费用31.48万元（3.13元/吨），多投入118.58万元。
影响其它材料超耗的主要因素是：
1、原煤产量完成较少，进尺相对完成较好，影响费用85.54万元。
计划原煤产量与实际完成产量相比
元月份原煤产量完成10.06万吨，比月均计划（25万吨）少完成40.24%；影响费用89.64万元。
计划进尺与实际完成进尺相比
元月份完成进尺1500米，比月均计划进尺1583米，少完成83米，影响费用4.1万元。
计算：
（完成进尺1500米-月均计划1583米）*指标494元=4.1万元。
以上两者相比，影响费用85.54万元。
2、主平硐口贯通处架棚，采用新材料粉煤灰、用圆钢加工片网，投入费用24.08万元。
3、2-504顶板破碎，过断层虽然采取了一系列措施，截齿消耗依然较大，比计划90只多投入了220只，π梁130根、费用16.26万元。
三、回收复用
①、元月份共回收垫片1500块，维护队回收垫片1500块（大垫片800块、小垫片700块），回收锚梁315根交机分厂修理；
复用：
掘一队复用大垫片400块。
掘四队复用大垫片1700块，小垫片1000块（维护队回收的垫片调出外，其余的是库存全部调出使用）。
②、专用工具修旧利废
为减少专用工具的投入成本，十二月份共修理风钻47台（掘五队2台、开二队25台、采一队20台），风动锚头2台（掘六队2台，风镐21台（维护队1台、掘一队2台、掘三队10台、掘四队1台、掘五队2台、开二队5台）；涨拉机4台（掘五队5台、开二队1台）；气腿凿岩机29台（掘三队6台、开二队11台、采一队12台）。
修理
好的专工用具已全部投入使用，为我矿降低材料成本费用35.09万元。
四、下一步采取的措施
①、针对支护材料浪费，队组普遍存在对材料管理不重视的现象。
采取加强支护材料标漆识别、支护材料动态管理力度，一经查出的浪费材料，严格按《浪费材料处罚制度》进行处罚，以此带动各队组对材料管理的高度重视，减少材料浪费。
②、严格交旧领新制度，在审批材料时，由队组先出示废旧材料回收单，没有交旧或交旧数量达不到规定的不予审批材料，费用科室材料管理人员应有权对回收的材料进行查看，起到相互监督作用。
③、狠抓旧品旧件的修复工作，一是对回采面回收的锚梁、垫片及时协调给机分厂进行修复，二次分配给队组使用；二是在专工用具方面联系厂家自带配件到矿修理。
④、加大计划管理力度。
根据月度作业计划安排，对每月的回收指标进行再确定，根据材料回收的难易程度，确立月度回收复用计划，下达到相关单位，从而使全矿的回收复用工作更具有针对性、计划性和条理性。
五、二月份工作计划
①、严格执行交旧领新制度，各队组领用物资由单位材料管理员，按规定数量、比例交旧，经供应科收旧管理员验收、签字并开具废旧物品回收单，方可在费用科室审批材料，无收旧管理员签字或交旧物品达不到规定数量的，费用科室不予审批材料。
如确系生产需要不能拆卸交旧的物资，由领料单位开具免交旧申请单，并有队长或书记签
篇二：
材料分析
1.X射线管主要由阳极,阴极,和窗口构成.
2.X射线透过物质时产生的物理效应有:
散射,光电效应,透射X射线,和热.
3.德拜照相法中的底片安装方法有:
正装,反装和偏装三种.
4.X射线物相分析方法分:
定性分析和定量分析两种;测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法.
5.透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响.
6.今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析.
7.电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器.
8.扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子.
1.X射线衍射方法中最常用的方法是（b）.劳厄法;b.粉末多晶法;c.周转晶体法.
2.已知X光管是铜靶,应选择的滤波片材料是（b）.a.co;b.ni;c.Fe.
3.X射线物相定性分析方法中有三种索引,如果已知物质名时可以采用（c）.
a.哈氏无机数值索引;b.芬克无机数值索引;c.戴维无机字母索引.
4.能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（b）.
a.第二聚光镜光阑;b.物镜光阑;c.选区光阑.
5.透射电子显微镜中可以消除的像差是（b）.a.球差;b.像散;c.色差.
6.可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（a）.
a.高阶劳厄斑点;b.超结构斑点;c.二次衍射斑点.
7.电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是（b）.a.背散射电子;b.俄歇电子;c.特征X射线.
8.中心暗场像的成像操作方法是（c）.a.以物镜光栏套住透射斑;b.以物镜光栏套住衍射斑;c.将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑.
一、X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么
答:
X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品,首先要求粉末粒度要大小适中,在1um-5um之间;其次粉末不能有应力和织构;最后是样品有一个最佳厚度（t=
二、分析型透射电子显微镜的主要组成部分是哪些它有哪些功能在材料科学中有什么应用答:
透射电子显微镜的主要组成部分是:
照明系统,成像系统和观察记录系统.透射电镜有两大主要功能,即观察材料内部组织形貌和进行电子衍射以了解选区的晶体结构.分析型透镜除此以外还可以增加特征X射线探头,二次电子探头等以增加成分分析和表面形貌观察功能.改变样品台可以实现高温,低温和拉伸状态下进行样品分析.透射电子显微镜在材料科学研究中的应用非常广泛.可以进行材料组织形貌观察,研究材料的相变规律,探索晶体缺陷对材料性能的影响,分析材料失效原因,剖析材料成分,组成及经过的加工工艺等.
三、什么是缺陷的不可见性判据如何用不可见性判据来确定位错的布氏矢量答:
所谓缺陷的不可见性判据是指当晶体缺陷位移矢量所引起的附加相位角正好是π的整数倍时,有缺陷部分和没有缺陷部分的样品下表面衍射强度相同,因此没有衬度差别,故而看不缺陷.利用缺陷的不可见性判据可以来确定位错的布氏矢量.具体做法是先看到位错,然后转动样品,选择一个操作反射g1,使得位错不可见.这说明g1和位错布氏矢量垂直;再选择另一个操作反射g2,使得位错不可见;那么g1×g2就等于位错布氏矢量b.
四、有一金属材料的多晶粉末电子衍射花样为六道同心圆环,其半径分别是:
8.42mm,11.88mm,14.52mm,16.84mm,18.88mm,20.49mm;相机常数Lλ=17.00mm.请标定衍射花样并求晶格常数.（10分）
解:
已知R1=8.42;R2=11.88;R3=14.52;R4=16.84;R5=18.88;R6=20.49
有R12=70.8964;R22=141.1344;R32=210.8304;R42=283.5856;R52=356.4544;R62=419.8401.R12/R12=1;R22/R12=1.99;R32/R12=2.97;R42/R12=4;R52/R12=5.02;R62/R12=5.92.有n数列为:
1:
2:
3:
4:
5:
6.
由于金属材料中很少是简单立方结构,故考虑n数列为:
2:
4:
6:
8:
10:
12.这是体心立方晶体结构,其值对应的晶面族指数是:
110;200;211;220;310;222.
根据电子衍射基本公式Rd=Lλ,有
d1=2.019;d2=1.431;d3=1.171;d4=1.009;d5=0.900;d6=0.829.
根据立方晶体晶面间距公式
a=2.86
五、分析电子衍射与X射线衍射有何异同（8分）答:
电子衍射的原理和X射线衍射相似,是以满足（或基本满足）布拉格方程作为产生衍射的必要条件.
首先,电子波的波长比X射线短得多,在同样满足布拉格条件时,它的衍射角θ很小,约为10-2rad.而X射线产生衍射时,其衍射角最大可接近π/2.
其次,在进行电子衍射操作时采用薄晶样品,薄样品的倒易阵点会沿着样品厚度方向延伸成杆状,因此,增加了倒易阵点和爱瓦尔德球相交截的机会,结果使略微偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射.
第三,因为电子波的波长短,采用爱瓦尔德球图解时,反射球的半径很大,在衍射角θ较小的范围内反射球的球面可以近似地看成是一个平面,从而也可以认为电子衍射产生的衍射斑点大致分布在一个二维倒易截面内.这个结果使晶体产生的衍射花样能比较直观地反映晶体内各晶面的位向,给分析带来不少方便.
最后,原子对电子的散射能力远高于它对X射线的散射能力（约高出四个数量级）,故电子衍射束的强度较大,摄取衍射花样时暴光时间仅需数秒钟.
1.X射线和标识X射线：
X射线：
波长为0.01~1000?
之间的电磁波，（1分）标识X射线：
只有当管电压超过一定的数值时才会产生，且波长与X射线管的管电压、管电流等工作条件无关，只决定于阳极材料，这种X射线称为标识X射线。
（2分）
2.布拉格角：
入射线与晶面间的交角，衍射角：
入射线与衍射线的交角。
3.静电透镜和磁透镜：
静电透镜：
产生旋转对称等电位面的电极装置即为静电透镜，（1.5分）磁透镜：
产生旋转对称磁场的线圈装置称为磁透镜。
（1.5分）
4.原子核对电子的弹性散射和非弹性散射：
弹性散射：
电子散射后只改变方向而不损失能量，（1.5分）非弹性散射：
电子散射后既改变方向也损失能量。
（1.5分）
5.热分析的热重法和热膨胀法热重法：
把试样置于程序控制的加热或冷却环境中，测定试样的质量变化对温度或时间作图的方法，（1.5分）热膨胀法：
在程序控温环境中，测定试样尺寸变化对温度或时间作图的方法。
（1.5分）
1.X射线衍射方法有劳厄法、转晶法、粉晶法和衍射仪法。
2.扫描仪的工作方式有连续扫描和步进扫描两种。
3.在X射线衍射物相分析中，粉末衍射卡组是由粉末衍射标准联合委员会编制，称为JcPdS卡片，又称为PdF卡片。
4.电磁透镜的像差有球差、色差、轴上像散和畸变。
5.透射电子显微镜的结构分为光学成像系统、真空系统和电气系统。
6.影响差热曲线的因素有升温速度、粒度和颗粒形状、装填密度和压力和气氛。
1.X射线衍射分析可对无机非金属材料进行哪些分析、研究？
（5分）
答：
（1）.物相分析：
定性、定量（1分）
（2）.结构分析：
a、b、c、α、β、γ、d（1分）（3）.单晶分析：
对称性、晶面取向—晶体加工、籽晶加工（1分）（4）.测定相图、固溶度（1分）（5）.测定晶粒大小、应力、应变等情况（1分）
2.在X射线衍射图中，确定衍射峰位的方法有哪几种？
各适用于什么情况？
（7分）答：
（1）.峰顶法：
适用于线形尖锐的情况。
（2）.切线法：
适用于线形顶部平坦，两侧直线性较好的情况。
（3）.半高宽中点法：
适用于线形顶部平坦，两侧直线性不好的情况。
（4）.7/8高度法：
适用于有重叠峰存在，但峰顶能明显分开的情况。
（5）.中点连线法：
（6）.抛物线拟合法：
适用于衍射峰线形漫散及双峰难分离的情况。
（7）.重心法：
干扰小，重复性好，但此法计算量大，宜配合计算机使用。
3.在电子显微分析中，电子的波长是由什么决定的？
电子的波长与该因素
的关系怎样？
关系式？
（3分）答：
电子的波长是由加速电压决定的，（1分）电子的波长与加速电压平方根成正比，（1分）λ=12.25V-1/2（1分）
4.扫描电镜对试样有哪些要求？
块状和粉末试样如何制备？
试样表面镀导
电膜的目的？
（8分）答：
扫描电镜试样的要求：
（1）.试样大小要适合仪器专用样品座的尺寸，小的样品座为Ф30-35mm，大的样品座为Ф30-50mm，高度5-10mm。
（2）.含有水分的试样要先烘干。
（3）.有磁性的试样要先消磁。
扫描电镜试样的制备：
（1）.块状试样：
导电材料——用导电胶将试样粘在样品座上。
不导电材料——用导电胶将试样粘在样品座上，镀导电膜
（2）.粉末试样：
将粉末试样用导电胶（或火棉胶、或双面胶）粘结在样品座上，镀导电膜。
将粉末试样制成悬浮液，滴在样品座上，溶液挥发后，镀导电膜。
试样表面镀导电膜的目的是以避免在电子束照射下产生电荷积累，影响图象质量。
5.在透射电子显微分析中，电子图像的衬度有哪几种？
分别适用于哪种试样和成像方法？
答：
质厚衬度、衍射衬度和相位衬度1分）质厚衬度：
适用于非晶体薄膜和复形膜试样所成图象的解释（2分）衍射衬度和相位衬度：
适用于晶体薄膜试样所成图象的解释（2分）
6.差热曲线中，如何确定吸热（放热）峰的起点和终点？
起点和终点各代表什么意义？
（5答：
用外推法确定吸热（放热）峰的起点和终点：
曲线开始偏离基线点的切线和曲线最大斜率切线的交点既为差热峰的起点；同样方法可以确定差热峰的终点。
（3分）起点：
反应过程的开始温度（1分）终点：
反应过程的结束温度（1分）
7.红外光谱主要用于哪几方面、哪些领域的研究和分析？
红外光谱法有什么特点？
（7分）答：
红外光谱主要用于
（1）.化学组成和物相分析，
（2）.分子结构研究。
（2分）应用领域：
较多的应用于有机化学领域，对于无机化合物和矿物的鉴定开始较晚。
红外光谱法的特点
（1）.特征性高；
（2）.不受物质的物理状态限制；（3）.测定所需样品数量少，几克甚至几毫克；
（4）.操作方便，测定速度快，重复性好；（5）.已有的标准图谱较多，便于查阅。
（5分）
8.光电子能谱分析的用途？
可获得哪些信息？
（5分）答：
光电子能谱分析可用于研究物质表面的性质和状态，可以获得以下信息：
（1）.物质表面层的化学成分，（1分）
（2）.物质表面层元素所处的状态，（3）.表面层物质的状态，（4）.物质表面层的物理性质。
1.扫描电镜的分辨率和哪些因素有关？
为什么?
和所用的信号种类和束斑尺寸有关，因为不同信号的扩展效应不同，例如二次电子产生的区域比背散射电子小。
束斑尺寸越小，产生信号的区域也小，分辨率就高。
计算题（10分）用cuKαX射线（λ=0.15405nm）的作为入射光时，某种氧化铝的样品的XRd图谱如下，谱线上标注的是2θ的角度值，根据谱图和PdF卡片判断该氧化铝的类型，并写出XRd物相分析的一般步骤。
答：
确定氧化铝的类型（5分）根据布拉格方程2dsinθ=nλ，d=λ/（2sinθ）对三强峰进行计算：
0.2090nm,0.1604nm,0.2588nm,与卡片10-0173α-al2o3符合，进一步比对其他衍射峰的结果可以确定是α-al2o3。
XRd物相分析的一般步骤。
（5分）测定衍射线的峰位及相对强度i/i1：
再根据2dsinθ=nλ求出对应的面间距d值。
（1）以试样衍射谱中三强线面间距d值为依据查Hanawalt索引。
（2）按索引给出的卡片号找出几张可能的卡片，并与衍射谱数据对照。
（3）如果试样谱线与卡片完全符合，则定性完成。
1．透射电镜中如何获得明场像、暗场像和中心暗场像？
答：
如果让透射束进入物镜光阑，而将衍射束挡掉，在成像模式下，就得到明场象。
如果把物镜光阑孔套住一个衍射斑，而把透射束挡掉，就得到暗场像，将入射束倾斜，让某一衍射束与透射电镜的中心轴平行，且通过物镜光阑就得到中心暗场像。
2．简述能谱仪和波谱仪的工作原理。
答：
能量色散谱仪主要由Si（Li）半导体探测器、在电子束照射下，样品发射所含元素的荧光标识X射线，这些X射线被Si（Li）半导体探测器吸收，进入探测器中被吸收的每一个X射线光子都使硅电离成许多电子—空穴对，构成一个电流脉冲，经放大器转换成电压脉冲，脉冲高度与被吸收的光子能量成正比。
最后得到以能量为横坐标、强度为纵坐标的X射线能量色散谱。
在波谱仪中，在电子束照射下，样品发出所含元素的特征x射线。
若在样品上方水平放置一块具有适当晶面间距d的晶体，入射X射线的波长、入射角和晶面间距三者符合布拉格方程时，这个特征波长的X射线就会发生强烈衍射。
波谱仪利用晶体衍射把不同波长的X射线分开，即不同波长的X射线将在各自满足布拉格方程的2θ方向上被检测器接收，最后得到以波长为横坐标、强度为纵坐标的X射线能量色散谱。
3．电子束与试样物质作用产生那些信号？
说明其用途。
（1）二次电子。
当入射电子和样品中原子的价电子发生非弹性散射作用时会损失其部分能量（约30～50电子伏特），这部分能量激发核外电子脱离原子，能量大于材料逸出功的价电子可从样品表面逸出，变成真空中的自由电子，即二次电子。
二次电子对试样表面状态非常敏感，能有效地显示试样表面的微观形貌。
（2）背散射电子。
背散射电子是指被固体样品原子反射回来的一部分入射电子。
既包括与样品中原子核作用而形成的弹性背散射电子，又包括与样品中核外电子作用而形成的非弹性散射电子。
利用背反射电子作为成像信号不仅能分析形貌特征，也可以用来显示原子序数衬度，进行定性成分分析。
（3）X射线。
当入射电子和原子中内层电子发生非弹性散射作用时也会损失其部分能量（约几百电子伏特），这部分能量将激发内层电子发生电离，失掉内层电子的原子处于不稳定的较高能量状态，它们将依据一定的选择定则向能量较低的量子态跃迁，跃迁的过程中将可能发射具有特征能量的x射线光子。
由于x射线光子反映样品中元素的组成情况，因此可以用于分析材料的成分。
1.X射线光电效应：
当X射线的波长足够短时，起光子的能量就很大，以至能把原子中处于某一能级上的电子打出来，而它本身则被吸收。
它的能量就传递给该电
子了，使之成为具有一定能量的光电子，并使原子处于高能的激发态。
这种过程我们称之为光电吸收或光电效应
2.衍射角：
入射线与衍射线的交角。
3.背散射电子：
电子射入试样后，受到原子的弹性和非弹性散射，有一部分电子的总散射角大于90o,重新从试样表面逸出，称为背散射电子。
4.磁透镜：
产生旋转对称磁场的线圈装置称为磁透镜。
5.差热分析：
把试样和参比物置于相等的加热条件下，测定两者的温度差对温度或时间作图的方法。
记录曲线称为差热曲线。
1.X射线管中，焦点形状可分为点焦点和线焦点，适合于衍射仪工作的是线焦点
2.X射线衍射方法有劳厄法、转动晶体法、粉晶法和衍射仪法。
3.TEm的分辨率是0.104—0.25nm，放大倍数是100—80万倍；SEm的分辨率是3—6nm，放大倍数是15—30万倍。
4.解释扫描电子显微像镜的衬度有形貌衬度、原子序数衬度和电压衬度三种衬度。
5.XRd是X射线衍射分析，TEm是透射电子显微分析，SEm是扫描电子显微分析。
EPma是电子探针分析
6.光电子能谱是在近十多年才发展起来的一种研究物质表面的性质和状态的新型物理方法
1.X射线衍射的几何条件是d、θ、λ必须满足什么公式？
写出数学表达式，并说明d、θ、λ的意义。
（5答：
X射线衍射的几何条件是d、θ、λ必须满足布拉格公式。
（1分）其数学表达式：
2dsinθ=λ（2dsinθ=nλ）其中d是晶体的晶面间距。
（1分）θ是布拉格角，即入射线与晶面间的交角。
λ是入射X射线的波长。
（1分）
2.画图说明半高宽中点法确定衍射峰位的方法（5答：
先连接衍射峰两边的背底ab，从强度极大点P作PP’，交ab于P’点，PP’的中点o’即是峰高一半点。
过o’作ab的平行线与衍射峰交于m和n点，mn中点o的角位置即定作峰位。
3.扫描电镜的特点？
（7答：
（1）可以观察直径为10—30mm的大块试样，制样方法简单。
（1
（2）场深大，适用于粗糙表面和断口的分析观察，图像富有立体感真实感。
（1分）（3）放大倍数变化范围大，15~300000倍。
（1（4）分辨率3~6nm。
透射电镜的分辨率虽然高，但对样品厚度的要求十分苛刻，且观察的区域小。
（5）可以通过电子学方法有效地控制和改善图像的质量。
（1（6）可进行多种功能的分析。
观察阴极荧光图像和进行阴极荧光光谱分析。
（1（7）可使用加热、冷却和拉伸等样品台进行动态试验，观察各种环境条件下的项变及形态变化等。
（1分
4.在透射电子显微分析中，电子图像的衬度有哪几种？
分别适用于哪种试样和成像方法？
答：
质厚衬度、衍射衬度和相位衬度1分）质厚衬度：
适用于非晶体薄膜和复形膜试样所成图象的解释1分）衍射衬度和相位衬度：
适用于晶体薄膜试样所成图象的解释（1分）
5.差热分析中对参比物有哪些要求？
常用什么物质作参比物？
（5分）答；掺比物的要求：
（1）.在整个测温范围内无热效应。
（1分）
（2）.比热和导热性能与试样接近。
（1分）（3）.粒度与试样相近（约50～150μm）。
（1分）掺比物常用物质：
α-al2o3（1720K煅烧过的高纯al2o3粉）（2分）
6.红外光谱分析主要用于哪几方面、哪些领域的研究和分析？
红外光谱法有什么特点？
答：
红外光谱主要用于
（1）.化学组成和物相分析，
（2）.分子结构研究。
（2分）应用领域：
较多的应用于有机化学领域，对于无机化合物和矿物的鉴定开始较晚。
（1分）红外光谱法的特点：
（1特征性高；（2.不受物质的物理状态限制；（3.测定所需样品数量少，几克甚至几毫克；（4）.操作方便，测定速度快，重复性好；（5）.已有的标准图谱较多，便于查阅。
（2分数值孔径：
由物体与物镜间媒介的折射率n与物镜孔径角的一半的正弦值的乘积。
干涉面：
面间距为dHKL的晶面并不一定是晶体中的原子面，而是为了简化布拉格方程所引入的反射面，我们把这样的反
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