数码相机环境可靠性测试标准作业办法.docx
《数码相机环境可靠性测试标准作业办法.docx》由会员分享,可在线阅读,更多相关《数码相机环境可靠性测试标准作业办法.docx(21页珍藏版)》请在冰豆网上搜索。
数码相机环境可靠性测试标准作业办法
全一電子(深圳)有限公司
JEBSEEELECTRONICS(S.Z)CO.,LTD.
數碼相機環境可靠性測試標准作業辦法
文件編號:
EP-Q-06
發文日期:
01.03’07
製訂日期:
09.08.06
版次:
1.0版
修訂日期:
製訂部門:
品質管理課
審核:
鄭偉君
製作:
王元珍
相
關
部
門
總
經
理
室
製
造
部
資
材
課
品
質
管
理
課
工
程
課
管
理
課
生
管
課
成
型
課
壓
鑄
課
確
認
羅仲堯
1/3/20071:
14:
54PM
核準
劉雪梅
1/3/20078:
03:
55AM
核準
羅仲堯
1/3/20071:
14:
02PM
核準
鄭偉君
1/3/20078:
19:
48AM
核準
侯燕忠
1/3/20077:
59:
33AM
核準
吳建平
1/3/20078:
08:
46AM
核準
孟麗君
1/3/20077:
57:
49AM
核準
侯燕忠
1/3/20077:
59:
33AM
核準
陳國誠
1/3/20077:
58:
54AM
核準
表格編號:
SP1-E-01-01
全一電子(深圳)有限公司
JEBSEEELECTRONICS(S.Z.)CO.,LTD.
文件變更記錄表
文件編號:
EP-Q-06
發文日期:
01.03’07
版次:
1.0
製訂部門:
品質管理課
文件名稱:
數碼相機環境可靠性測試標准作業辦法
版次
變更摘要
表格編號:
SP1-E-01-02
全一電子(深圳)有限公司
JEBSEEELECTRONICS(S.Z.)CO.,LTD.
標準作業程序
文件編號:
EP-Q-06
發文日期:
01.03’07
版次:
1.0
頁數:
1of10
文件名稱:
數碼相機環境可靠性測試標准作業辦法
1.0目的:
為測試數碼相機產品在各種環境下之抵抗能力,提昇產品之可靠度。
2.0範圍:
本環境測試標准僅適用于全一生產的數碼相機測試用。
3.0定義﹕僅適用于全一數碼機環境測試。
4.0權責:
4.1品管課工程師:
負責本測試標准的修改及完善。
4.2品管課技術員:
負責產品信賴性試驗之執行。
4.3品管課課長:
負責產品信賴性試驗結果之審核。
4.4品管課最高主管:
負責產品信賴性試驗結果之確認。
5.0環境測試標准:
5.1環境可靠性測驗項目
(一)電池極性相反測試及電池盒安裝測試
(二)高溫存儲及操作測試
(三)高﹑低溫循環測試
(四)低溫存儲及操作測試
(五)冷熱沖擊測試
(六)溫﹑濕度循環測試
(七)高溫﹑高﹑低濕測試
(八)電池蓋安裝測試
(九)落下測試
A)單個裸機落下測試B)整箱落下測試
(十)振動測試
(十一)影像偏移與覆蓋率測試
(十二)三腳架螺母測試
(十三)彎折試驗
(十四)電池壽命測試
(十五)相機與電腦連接插撥測試
(十六)記錄報告表單
5.2試驗時機:
5.2.1新產品開發階段之信賴性試驗,於新產品設計完成試作時實施試驗所設計產品
對環境之適應性。
實施項目:
參照『驗證需求一覽表』(表格編號:
SEF200102),指定項目實施。
5.2.2量試階段之信賴性試驗,主要是測試包裝對產品之保護能力。
實施項目:
參照『驗證需求一覽表』指定項目實施。
5.2.3客戶要求對過程之產品測驗﹐若客戶有特殊要求﹐得依客戶規定實施。
表格編號:
SP1-E-01-04
全一電子(深圳)有限公司
JEBSEEELECTRONICS(S.Z.)CO.,LTD.
標準作業程序
文件編號:
EP-Q-06
發文日期:
01.03’07
版次:
1.0
頁數:
2of10
文件名稱:
數碼相機環境可靠性測試標准作業辦法
5.3一般規定
5.3.1標準狀態:
係指施行試驗及測定之一般試驗場所之狀態,如無特別指定時,得依試驗當時
之室溫及濕度下實施。
5.3.2初期測定及最終測定:
供試品於每項試驗前後,均需施行測定,測定應包含外觀,機械結構,電氣
特性等檢查,如無特別指定測定於5.3.1之標準狀態下施行。
5.4電池極性相反測試及電池盒安裝測試﹕
5.5.1極性安裝按正常要求﹐將反方向插入電池24小時后﹐檢查相機是否還能正常工作
(備注﹕如果數碼相機DSC具有防止錯誤極性電池插入的機械或電子保護功能﹐這
項測試可以不做)
5.5.2電池盒安裝測試﹕
用極限尺寸的(偏差最大)電池去檢查電池盒的尺寸﹐安裝電池100次﹐每安裝10次
檢查一次電池表面外觀﹐電池不可有划破﹐不易取出之現象。
5.5高溫存儲及操作測試﹕
5.5.1目的:
確保產品在運送及倉儲中,受不同溫度的忍耐度。
5.5.2靜態高溫條件:
A.高溫:
Th=60℃
5.5.3測試程序:
1﹑0~A升溫:
25℃~60℃,升溫時間5Min(5分鐘)。
2﹑A~B高溫:
60℃,保存時間24HR(24小時)。
3﹑B~C降溫:
60℃~25℃,降溫時間10Min(10分鐘)。
4﹑執行一個循環。
5﹑測試結束後,須不通電在室溫中放置4HR(4小時)後,再執行功能測試
不能有任何失敗發生。
表格編號:
SP1-E-01-04
全一電子(深圳)有限公司
JEBSEEELECTRONICS(S.Z.)CO.,LTD.
標準作業程序
文件編號:
EP-Q-06
發文日期:
01.03’07
版次:
1.0
頁數:
3of10
文件名稱:
數碼相機環境可靠性測試標准作業辦法
5.5.4試驗說明
(1).試驗前,應施以初期測定。
(2).試品應置於恆溫恆濕箱。
(3).試驗時間係由供試品溫度穩定時間開始計算。
(4).試驗後,應施以最終測定。
5.6高﹑低溫循環測試
5.6.1目的:
對產品內部元件潛在因溫度變化而導致不良的問題經由測試將問題找出﹐
再給予改善。
5.6.3高﹑低溫循環測試條件:
(1).高溫:
Th=60℃
(2).低溫:
Tl=-20℃
(3).濕度﹕相對濕度10%~90%RH
5.6.4測試程序:
(1)﹑0~A升溫:
25℃~60℃,升溫時間5Min(5分鐘)。
(2)﹑A~B高溫:
60℃,保存時間8HR(8小時)。
(3)﹑B~C降溫:
60℃~-20℃,降溫時間10Min(10分鐘)。
(4)﹑C~D低溫:
-20℃,保存時間8HR(8小時)。
(5)﹑D~E升溫:
0℃~40℃,升溫時間5Min(5分鐘)。
(6)﹑E~F高溫:
40℃,保存時間8HR(8小時)。
(7)﹑F~G降溫:
40℃~25℃,降溫時間5Min(5分鐘)。
(8)﹑G~H常溫:
25℃,保存時間4HR(4小時)。
(9)﹑執行一個循環。
(10)﹑測試結束後,須不通電在室溫中放置4HR(4小時)後,再執行功能測試
不能有任何失敗發生。
表格編號:
SP1-E-01-04
全一電子(深圳)有限公司
JEBSEEELECTRONICS(S.Z.)CO.,LTD.
標準作業程序
文件編號:
EP-Q-06
發文日期:
01.03’07
版次:
1.0
頁數:
4of10
文件名稱:
數碼相機環境可靠性測試標准作業辦法
5.7低溫存儲及操作測試﹕
5.7.1目的:
確保產品在運送及倉儲中,受不同溫度的忍耐度。
5.7.2靜態低溫條件:
A.低溫:
Tl=-20℃
5.7.3測試程序:
(1)﹑0~A降溫:
25℃~-20℃,降溫時間10Min(10分鐘)。
(2)﹑A~B低溫:
-20℃,保存時間24HR(24小時)。
(3)﹑B~C升溫:
-20℃~25℃,升溫時間5Min(5分鐘)。
(4)﹑C~D常溫:
25℃,保存時間4HR(4小時)。
(5)﹑執行一個循環。
(6)﹑測試結束後,須不通電在室溫中放置4HR(4小時)後,再執行功能測試
不能有任何失敗發生。
5.8冷熱沖擊測試﹕
5.8.1 目的:
確保產品在驟泠驟熱狀況不會對產品之結構和特性造成損壞。
5.8.2冷熱沖擊測驗條件
A.高溫:
Th=60℃
B.低溫:
Tl=-20℃
C.常溫﹕25℃
5.8.3測試程序﹕
1﹑0~A降溫:
25℃~-20℃,降溫時間10Min(10分鐘)。
2﹑A~B低溫:
-20℃,保存時間2HR(2小時)。
3﹑B~C升溫:
-20℃~60℃,升溫時間5Min(5分鐘)。
4﹑C~D高溫:
60℃,保存時間2HR(2小時)。
5﹑D~E降溫:
60℃~-20℃,降溫時間10Min(10分鐘)。
6﹑測試執行五個循環
表格編號:
SP1-E-01-04
全一電子(深圳)有限公司
JEBSEEELECTRONICS(S.Z.)CO.,LTD.
標準作業程序
文件編號:
EP-Q-06
發文日期:
01.03’07
版次:
1.0
頁數:
5of10
文件名稱:
數碼相機環境可靠性測試標准作業辦法
7﹑測試結束後,須不通電在室溫中放置4HR(4小時)後,再執行功能測試
不能有任何失敗發生。
5.9溫﹑濕度循環測試﹕
5.9.1目的:
確保產品在運送及倉儲中,不同溫溼度的忍耐度。
5.9.2溫﹑濕度變化測試條件﹕
A.高溫:
Ta=-20℃Tb=20℃Tb=40℃B.相對濕度:
10%~90%RH
5.9.3測試程序﹕
(1)﹑恆溫:
-20℃,濕度變化每3分鐘增加1%RH,測驗時長4HR(4小時)。
(2)﹑-20℃~A升溫:
升溫時間5Min(5分鐘)。
(3)﹑A~B恆溫:
20℃﹐濕度變化每3分鐘增加1%RH,測驗時長4HR(4小時)
(4)﹑B~C升溫:
20℃~40℃,升溫時間5Min(5分鐘)。
(5)﹑C~D高溫:
40℃,濕度變化每3分鐘增加1%RH,測驗時長4HR(4小時)
(6)﹑D~E降溫:
40℃~-20℃,降溫時間10Min(10分鐘)。
(7)﹑測試執行二個循環。
(8)﹑測試結束後,須不通電在室溫中放置4HR(4小時)後,再執行功能測試
不能有任何失敗發生。
表格編號:
SP1-E-01-04
全一電子(深圳)有限公司
JEBSEEELECTRONICS(S.Z.)CO.,LTD.
標準作業程序
文件編號:
EP-Q-06
發文日期:
01.03’07
版次:
1.0
頁數:
6of10
文件名稱:
數碼相機環境可靠性測試標准作業辦法
5.10高溫﹑高﹑低濕測試﹕
5.5.1目的:
確保產品在運送及倉儲中,不同溫溼度的忍耐度。
5.5.2高溫﹑高溫測試:
A.高溫:
Th=60℃
B.相對濕度﹕Ha=10%RH.Hb=90%RH.
5.5.3測試程序:
(1)﹑0~A升溫:
25℃~60℃,升溫時間5Min(5分鐘)。
(2)﹑A~B高溫:
60℃,恆濕10%RH與90%RH,各測試時間8HR(8小時)。
(3)﹑B~C降溫:
60℃~25℃,降溫時間10Min(10分鐘)。
(4)﹑執行一個循環。
(5)﹑測試結束後,須不通電在室溫中放置4HR(4小時)後,再執行功能測試
不能有任何失敗發生。
5.11電池蓋安裝測試﹕
5.11.1目的﹕檢驗電池蓋與機構件的搭配程度是否良好。
5.11.2測試程序﹕
(1)﹑打開電池蓋
(2)﹑插入電池
(3)﹑關上電池蓋
(4)﹑打開電池蓋
(5)﹑取出電池蓋
(6)﹑關上電池蓋
(7)﹑重復1~6步驟100次
測試前后﹐所有試驗品都要按照所有消費者操作的情形進行適當的操作﹐檢查是否正常。
檢查
電池蓋看是否有任何擦傷松動﹐斷裂或其它不正常的缺點﹐當然﹐也要檢查電池是否有任何擦傷。
表格編號:
SP1-E-01-04
全一電子(深圳)有限公司
JEBSEEELECTRONICS(S.Z.)CO.,LTD.
標準作業程序
文件編號:
EP-Q-06
發文日期:
01.03’07
版次:
1.0
頁數:
7of10
文件名稱:
數碼相機環境可靠性測試標准作業辦法
5.12落下試驗
5.12.1目的:
測試包裝材料在搬運和輸送過程及客戶使用中所遭遇到落下應力時,對產
品保護程序是否合格。
5.12.2單個數碼相機落下測試(不含包材為裸機)
(1)規格:
(落下平面為1CM厚之木板)
A)輕度下落
(1.手持裸機距地3英寸自由下落
(2.下落100次
下落的地面必須是實心的塑膠或木頭
B)重度下落
(1.下落高度1M
(2.下落次數3次
下落的地面必須是實心鋼鐵或混凝土做成
測試前后﹐試驗品都要按照所有消費者操作的情形進行適當的操作﹐
檢查是否正常。
5.12.3包裝成品整箱落下測驗﹕
(1)落下標准﹕一角三稜六面(下落高度標准(參考NSTA標准)如下﹕)
重量范圍下落高度
G≦20lb/9kg30in/76cm
20lb/9kg<G≦40lb/18kg24in/61cm
40lb/18kg60lb/27kg100lb/45kg(2)測試程序:
(3)一角,三稜,六面
1.外包裝中任何一角。
2.延著角,最短的一稜,做稜落下試驗。
3.延著角,次短的一稜,做稜落下試驗。
5.延著角,最長的一稜,做稜落下試驗。
5.做背面落下試驗。
6.做正面落下試驗。
7.做右面落下試驗。
8.做左面落下試驗。
9.做底面落下試驗。
10.做上面落下試驗。
表格編號:
SP1-E-01-04
全一電子(深圳)有限公司
JEBSEEELECTRONICS(S.Z.)CO.,LTD.
標準作業程序
文件編號:
EP-Q-06
發文日期:
01.03’07
版次:
2.3
頁數:
8of10
文件名稱:
數碼相機環境可靠性測試標准作業辦法
(4)試驗說明:
落下試驗後,執行功能測試不得有失敗,且機構不得損傷鬆脫或變形。
5.13振動試驗:
5.13.1目的:
模擬在操作期間或運輸可能逼受之振動,測知產品結構及包裝材料
耐震程度。
5.13.2規格:
振動頻率範圍:
10~55Hz
掃描之比例(循環週期):
5-55-5-Hz/2分鐘往返
試驗時間:
X.Y.Z.軸各30分鐘
5.13.3試驗說明:
測試後執行功能測試不得有失敗,且機構不得損傷鬆脫或變形。
5.14影像偏移與覆蓋率測試﹕
5.15.1目的﹕測試數碼相機從觀景窗看到的范圍與實際拍攝到的范圍偏移比率﹐及
覆蓋率是否符合設計要求
5.15.2測試程序﹕
(1)﹑先調節使鏡頭中心與拍攝物體(座標圖)中心對准﹐測試數據分為水平﹐垂直。
(2)﹑觀景窗所看到的左限(a)﹐右限(b)﹐上限(c)﹐下限(d)
(3)﹑境頭所拍到的左限(a’)﹐右限(b’)﹐上限(c’)﹐下限(d’)
5.15.3影像偏移度A計算公式﹕
A水平=[|a’-b’︱/(a+b)]*0.5*100%
A垂直=[|c’-d’-︱/(c+d)]*0.5*100%
標准偏移度A≦11%為可接受范圍
5.15.4影像觀景窗覆蓋面積測試﹕
5.15.5測試方法一致﹐計算公式與影像偏移度計算公式及標准不相同
5.15.6影像覆蓋率C計算公式﹕
C水平=[(a+b)/2]/[(a’+b’)/2]*100%
C垂直=[(c+d)/2]/[(c’+d’)/2]*100%
標准﹕85%<=c<=95%為可接收范圍
表格編號:
SP1-E-01-04
全一電子(深圳)有限公司
JEBSEEELECTRONICS(S.Z.)CO.,LTD.
標準作業程序
文件編號:
EP-Q-06
發文日期:
01.03’07
版次:
1.0
頁數:
9of10
文件名稱:
數碼相機環境可靠性測試標准作業辦法
5.15三腳架螺母測試﹕
5.15.1目的﹕檢驗三腳螺母與三腳架的搭配程度
5.15.2測試程序
用三腳架螺母旋入三角架100次。
每旋入20次﹐檢驗一次三腳螺母是否正常
5.16彎折試驗
5.16.1目的:
模擬在使用過程中線材及其灌頭部份可能承受的彎曲強度。
5.16.2規格:
荷重500g,角度60度,500回,每分鐘30回。
5.16.3試驗說明:
試驗後產品表面不可有皺痕、破裂,內部芯線不可斷裂。
5.17電池壽命測試﹕
5.17.1目的﹕驗証數碼相機在最低的電壓供應下拍照的圖片效果
5.17.2拍照環境條件﹕1﹑灰度﹕18%2﹑距離﹕1.5M3﹑亮度﹕600lux±200lu
5.17.3測試程序
用品質最好的電池﹐裝入相機﹐將相機開啟﹐每間隔30秒后拍一張照片(例GP電池)
拍照細節
1LCD/TFT開﹐間隔30秒
2LCD/TFT開﹐間隔30秒
3LCD/TFT開﹐間隔30秒
4LCD/TFT開﹐間隔30秒
5LCD/TFT開﹐間隔30秒
開機1分鐘
關機1分鐘
6LCD/TFT開﹐間隔30秒
7LCD/TFT開﹐間隔30秒
8LCD/TFT開﹐間隔30秒
9LCD/TFT開﹐間隔30秒
10LCD/TFT開﹐間隔30秒
開機1分鐘
關機1分鐘
刪除所有相片﹐從復以上過程﹐直到電池沒電為此(如相機有閃光功能的﹐需測試閃光有效距離。
每個循環均需下載圖到電腦上﹐檢驗所拍圖片效果是否正常﹐拍照實物距離為1.5M.
5.18相機與電腦連接插撥測試
5.18.1目的﹕模擬在使用過程中﹐相機與電腦的連接﹐是否會造成電腦的死機現象
5.18.1測試程序
1﹑連接電腦操作抽插20次﹐每插撥一次下載一次圖片(插撥間隔10秒)
2﹑不連接電腦﹐進行抽插500次,每插撥10次下載一次圖片(插撥間隔10秒)
表格編號:
SP1-E-01-04
全一電子(深圳)有限公司
JEBSEEELECTRONICS(S.Z.)CO.,LTD.
標準作業程序
文件編號:
EP-Q-06
發文日期:
01.03’07
版次:
1.0
頁數:
10of10
文件名稱:
數碼相機環境可靠性測試標准作業辦法
在插撥測驗前﹑后﹐下載圖片不可有任何異常﹐電腦死機狀況在0.3%內為可接受標准
6.0表格記錄與參考文件﹕
6.1『電池壽命測試標準記錄』(附件一)表格編號:
EP-Q-06-01
6.2『數碼相環境測試報告』(附件二)表格編號:
EP-Q-06-02
6.3『數碼相機影像偏移度和覆蓋率測試報告』(附件三)表格編號:
EP-Q-06-03
6.4『驗證需求一覽表』(表格編號:
SEF200102)
表格編號:
SP1-E-01-04