射线检测.ppt

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射线检测,第一节射线检测的物理基础知识第二节X射线检测的基本原理和方法第三节X射线照相检测技术第四节常见缺陷及其在底片上的影像特征第五节射线探伤和中子射线检测简介第六节射线的防护,便携式X射线机,移动式X射线机,一、探伤的基本原理射线探伤的实质是根据被检工件与其内部缺陷介质对射线能量衰减程度不同，而引起射线透过工件后的强度差异（如下图），使缺陷能在射线底片或X光电视屏幕上显示出来。

图中射线在工件及缺陷中的线衰减系数分别为和。

根据衰减定律，透过完好部位x厚的射线强度透过缺陷部位的射线强度,第二章射线检测,射线检测是利用各种射线对材料的透射性能及不同材料对射线的吸收、衰减程度的不同，使底片感光成黑度不同的图像来观察的，是一种行之有效而又不可缺少的检测材料或零件内部缺陷的手段，在工业上广泛应用。

这是因为它具有以下优点：

1、适用于几乎所有的材料，对零件几何形状及表面粗糙度均无严格要求，目前射线检测主要应用于对铸件和焊件的检测；2、射线检测能直观地显示缺陷影像，便于对缺陷进行定性、定量和定位；3、射线底片能长期存档备查，便于分析事故原因。

射线检测对气孔、夹渣、疏松等体积型缺陷的检测灵敏度较高，对平面缺陷的检测灵敏度较低，如当射线方向与平面缺陷（如裂纹）垂直时很难检测出来，只有当裂纹与射线方向平行时才能够对其进行有效检测。

另外，射线对人体有害，需要有保护措施。

射线检测的缺点：

超声波探伤与X射线探伤的比较,超声波探伤:

是利用超声能透入金属材料的深处，并由一截面进入另一截面时，在界面边缘发生反射的特点来检查零件缺陷的一种方法，当超声波束自零件表面由探头通至金属内部，遇到缺陷与零件底面时就分别发生反射波来，在萤光屏上形成脉冲波形，根据这些脉冲波形来判断缺陷位置和大小。

超声波探伤比X射线探伤具有较高的探伤灵敏度、周期短、成本低、灵活方便、效率高，对人体无害等优点；缺点是对工作表面要求平滑、要求富有经验的检验人员才能辨别缺陷种类、对缺陷没有直观性；超声波探伤适合于厚度较大的零件检验。

超声波探伤与射线探伤都属于物理探伤。

一.射线的种类和频谱波长较短的电磁波叫射线，速度高、能量大的粒子流也叫射线。

第一节射线检测的物理基础,带电离子贯穿物质的本领较差,不带电离子电中性贯穿物质的本领较强广泛用于无损检测,辐射：

射线由射线源向外发射的过程。

在射线检测中应用的射线主要是X射线、射线和中子射线。

X射线和射线属于电磁辐射，中子射线是中子束流。

由于他们属电中性，不会受到库伦场的影响而发生偏转，且贯穿物质的本领较强，被广泛应用于无损检测。

1、X射线X射线又称伦琴射线，是射线检测领域中应用最广泛的一种射线，是由原子的内层电子跃迁释放能量而发射出的一种电磁波，波长范围约为0.0006100nm。

在X射线检测中常用的波长范围为0.0010.1nm。

X射线的频率范围约为310951014MHz。

射线的波长分布,X射线波长范围约为0.0006100nm,X射线检测中常用的波长范围为0.0010.1nm。

2、射线射线是一种波长比X射线更短的射线，波长范围约为0.00030.1nm，频率范围约为3101211015MHz。

工业上广泛采用人工同位素产生射线。

由于射线的波长比X射线更短，所以具有更大的穿透力。

在无损检测中射线常被用来对厚度较大和大型整体工件进行射线照相。

3、中子射线中子是构成原子核的基本粒子。

中子射线是由某些物质的原子在裂变过程中逸出高速中子所产生的。

工业上常用人工同位素、加速器、反应堆来产生中子射线。

在无损检测中中子射线常被用来对某些特殊部件（如放射性核燃料元件）进行射线照相。

原子核位于原子中心，由带正电的质子和不带电的中子组成，质子和中子均具有质量。

质子的电量与电子电荷相等。

二、射线的产生

（一）X射线的产生X射线是一种波长比紫外线还短的电磁波，它具有光的特性，例如具有反射、折射、干涉、衍射、散射和偏振等现象。

它能使一些结晶物体发生荧光、气体电离和胶片感光。

钨与钼的X射线谱,X射线通常是将高速运动的电子作用到金属靶（一般是重金属）上而产生的。

X射线源即X射线发生器主要由三部分组成：

发射电子的灯丝（阴极）、受电子轰击的阳极靶面、电子加速装置高压发生器。

图为在35kV的电压下操作时，钨靶与钼靶产生的典型的X射线谱。

钨靶发射的是连续光谱，而钼靶除发射连续光谱之外还叠加了两条特征光谱，称为标识X射线，即K线和K线。

若要得到钨的K线和K线，则电压必须加到70kV以上。

1、连续X射线根据电动力学理论，具有加速度的带电粒子将产生电磁辐射。

在X射线管中，高压电场加速了阴极电子，当具有很大动能的电子达到阳极表面时，由于猝然停止，它所具有的动能必定转变为电磁波辐射出去。

由于电子被停止的时间和条件不同，电子的能量和波长不同，所以辐射的电磁波具有连续变化的波长。

在任何X射线管中，只要电压达到一定数值，连续X射线总是存在的。

（2）连续X射线的波长在长波方向，理论上可以扩展到=；而在短波方向，实验证明具有最短波长min，且有,式中：

U为X射线管的管电压，单位为kV。

连续X射线具有以下特点：

（1）连续X射线的波长与阳极的材料无关。

（3）X射线管的效率为,式中：

P=ZIU2为连续X射线的总功率；P0=IU为输入功率；Z为阳极的原子序数,钨靶为74；U为管电压，单位为kV；为常数，约等于1.510-6。

（4）X射线管的管电压愈高，其连续X射线的强度愈大，而且其最短波长min愈向短波方向移动，如图所示。

不同管电压下钨靶连续X射线,2、标识X射线根据原子结构理论，原子吸收能量后将处于受激状态，受激状态原子是不稳定的，当它回复到原来的状态时，将以发射谱线的形式放出能量。

在X射线管内，高速运动的电子到达阳极靶时将产生连续X射线。

如果电子的动能达到相当的数值，可足以打出靶原子（通常是重金属原子）内壳层上的一个电子，该电子或者处于游离状态，或者被打到外壳层的某一个位置上。

于是原子的内壳层上（低能级处）有了一个空位，邻近高能级壳层上的电子便来填空，这样就发生相邻壳层之间一系列电子的跃迁。

外层高能级上的电子向内层低能级跃迁时将释放出多余能量，从而发射出X射线。

显然，这种X射线与靶金属原子的结构有关，其能量或波长是确定的，因此称其为标识X射线或特征X射线。

标识X射线通常频率很高，波长很短。

在工业探伤中所获得的X射线谱中既有连续谱，也有标识谱，标识射线与连续射线能量相比要小得多，所以起主要作用的是连续谱。

（二）射线的产生射线是一种电磁波，可以从天然放射性原子核中产生，也可以从人工放射性原子核中产生。

它是由放射性同位素的核反应、核衰变或裂变放射出的。

射线探伤中使用的射线源是由核反应制成的人工放射线源。

应用较广的有钴-60。

射线与X射线的一个重要不同点是，射线源无论使用与否，其能量都在自然地逐渐减弱，可由半衰期来反映：

（三）中子射线的产生中子是通过原子核反应产生的。

对原子施加强大作用,当给与原子核的能量大于种子的结合能时,种子就释放出来。

三、射线的特性X射线、射线、中子射线都可用于固体材料的无损检测。

1、具有穿透物质的能力；2、不带电荷，不受电磁场的作用；3、具有波动性、粒子性，即二象性；在做衍射试验的时候，粒子流和光束一样，都可以产生衍射波纹。

同时在局部区域，光的衍射图案也如同粒子的衍射图案一样，出现单个粒子形成的点。

这个试验得出的结论就是，在微观粒子运动的时候，既有波动效应，也有粒子效应，这就是波粒二象性。

4、能使某些物质起光化学作用；5、能使气体电离和杀死有生命的细胞。

四、射线通过物质的衰减射线穿过物质时，与物质中的原子发生撞击、产生能量转换，引发能量的衰减和以下种种物理效应。

（一）X射线、射线通过物质时的衰减1、X射线、射线与物质的相互作用射线与物质的相互作用主要有三种过程：

光电效应、康普顿效应和电子对的产生。

这三种过程的共同点是都产生电子，然后电离或激发物质中的其他原子；此外，还有少量的汤姆逊效应。

光电效应和康普顿效应随射线能量的增加而减少，电子对的产生则随射线能量的增加而增加，四种效应的共同结果是使射线在透过物质时能量产生衰减。

每束射线都具有能量为E=hv的光子。

光子运动时保持着它的全部动能。

光子能够撞击物质中原子轨道上的电子，若撞击时光子释放出全部能量，将所有能量传给电子，使其脱离原子而成为自由电子，光子本身消失。

这种现象称为光电效应。

光子的一部分能量把电子从原子中逐出去，剩余的能量则作为电子的动能被带走，于是该电子可能又在物质中引起新的电离。

当光子的能量低于1MeV时，光电效应是极为重要的过程。

（1）光电效应,

（2）康普顿效应在康普顿效应中，一个光子撞击一个电子时只释放出它的一部分能量，结果光子的能量减弱并在和射线初始方向成角的方向上散射，而电子则在和初始方向成角的方向上散射。

这种现象称为康普顿效应。

这一过程同样服从能量守恒定律，即电子所具有的动能为入射光子和散射光子的能量之差，最后电子在物质中因电离原子而损失其能量。

在绝大多数的轻金属中，射线的能量大约在0.23MeV范围时，康普顿效应是极为重要的效应。

康普顿效应随着射线能量的增加而减小，其大小也取决于物质中原子的电子数。

在中等原子序数的物质中，射线的衰减主要是由康普顿效应引起，在射线防护时主要侧重于康普顿效应。

（3）电子对的产生在原子核场的作用下，一个具有足够能量的光子释放出它的全部动能而转化具有同样能量的一对正负电子，光子则完全消失，这样的过程称为电子对的产生。

产生电子所需的最小能量为0.51MeV，所以光子能量hv必须大于等于1.02MeV。

电子对的产生和消失,光子的能量一部分用于产生电子对，一部分传递给电子和正电子作为动能，另一部分能量传给原子核。

由于产生电子对的能量条件要求不小于1.02MeV，所以电子对的产生只有在高能射线中才是重要的过程。

该过程正比于吸收体的原子序数的平方，所以高原子序数的物质电子对的产生也是重要的过程。

电子对的产生和消失,汤姆逊效应,（4）汤姆逊效应射线与物质中带电粒子相互作用，产生与入射射线波长相同的散射线的现象叫做汤姆逊效应。

这种散射线可以产生干涉，能量衰减十分微小。

2、射线的衰减定律和衰减曲线射线的衰减是由于射线光子与物体相互作用产生光电效应、康普顿效应、汤姆逊效应或电子对的产生，使射线被吸收和散射而引起的。

由此可知，物质愈厚，则射线穿透时的衰减程度也愈大。

射线衰减的程度不仅与透过物质的厚度有关，而且还与射线的性质（波长）、物体的性质（密度和原子序数）有关。

一般来讲，射线的波长愈小，衰减愈小；物质的密度及原子序数愈大，衰减也愈大。

但它们之间的关系并不是简单的直线关系，而是成指数关系的衰减。

设入射线的初始强度为I0，通过物质的厚度为d，射线能量的线衰减系数为，那么射线在透过物质以后的强度I为,由于射线束是锥形，修正后为,宽束射线的衰减曲线,H物体表面至射线源的距离。

中子是电中性的粒子流，不是电磁波，具有巨大的速度和贯穿能力。

中子射线在被测物质中的衰减主要取决于材料中对中子的捕获能力。

设入射线的初始强度为I0，通过物质的厚度为d，射线能量的线衰减系数为，那么射线在透过物质以后的强度I为,

（二）中子射线通过物质时的衰减,当一束强度为I0的射线平行通过被检测试件（厚度为d）后，其强度Id为,若被测试件表面有高度为h的凸起时，则射线强度将衰减为,X射线检测原理图,如在被测试件内，有一个厚度为x、吸收系数为的某种缺陷，则射线通过后，强度衰减为,若有缺陷的吸收系数小于被测试件本身的吸收系数，则IxIdIh，于是，在被检测试件的另一面就形成一幅射线强度不均匀的分布图。

通过一定方式将这种不均匀的射线强度进行照相或转变为电信号指示、记录或显示，就可以评定被检测试件的内部质量，达到无损检测的目的。

沿射线透照方向的缺陷尺寸越大，则有无缺陷处的强度差越大，反映在胶片上的黑度差越大，就越容易发现缺陷。

而,二、检测方法目前工业上主要有照相法、电离检测法、荧光屏直接观察法、电视观察法等。

1、照相法射线检测常用的方法是照相法，即利用射线感光材料（通常用射线胶片），放在被透照试件的背面接受透过试件后的射线。

胶片曝光后经暗室处理，就会显示出物体的结构图像。

根据胶片上影像的形状及其黑度的不均匀程度，就可以评定被检测试件中有无缺陷及缺陷的性质、形状、大小和位置。

此法的优点是灵敏度高、直观可靠、重复性好，是射线检测法中应用最广泛的一种常规方法。

由于生产和科研的需要，还可用放大照相法和闪光照相法以弥补其不足。

放大照相可以检测出材料中的微小缺陷。

X射线照相原理示意图,2、电离检测法当射线通过气体时与气体分子撞击，有的气体分子失去电子成为正离子，有的气体分子得到电子成为负离子，此即气体的电离效应。

电离效应将会产生电离电流，电离电流的大小与射线的强度有关。

如果将透过试件的X射线通过电离室测量射线强度，就可以根据电离室内电离电流的大小来判断试件的完整性。

这种方法对缺陷性质的判别较困难，只适用于形状简单、表面工整的工件，应用较少。

3、荧光屏直接观察法将透过试件的射线投射到涂有荧光物质的荧光屏上时，在荧光屏上会激发出不同强度的荧光来，利用荧光屏上的可见影像直接辨认缺陷。

这种方法成本低，适用于形状简单、要求不严格的产品的检测。

4、电视观察法是荧光屏直接观察法的发展，将荧光屏上的可见影像通过光电倍增管增强图像，再通过电视设备显示。

这种方法检测灵敏度比照相法低，对形状复杂的零件检测困难。

一、照相法的灵敏度和透度计

（一）灵敏度灵敏度是指显示缺陷的程度或能发现最小缺陷的能力，是检测质量的标志。

通常用两种方式表示：

绝对灵敏度，相对灵敏度。

第三节射线照相检测技术,1、绝对灵敏度：

指在射线胶片上能发现被检测试件中与射线平行方向的最小缺陷尺寸。

2、相对灵敏度：

指在射线胶片上能发现被检测试件中与射线平行方向的最小缺陷尺寸占试件厚度的百分数。

若以d表示为被检测试件的材料厚度，x为缺陷尺寸，则其相对灵敏度为,目前，一般所说的射线照相灵敏度都是指相对灵敏度。

射线照相中，被检工件中的最小缺陷是无法确切知道的，一般采用带有人工缺陷的试块，以透度计来确定透照的灵敏度。

（二）透度计透度计又称像质指示器，是用来估价检测灵敏度的一种标准工具，同时也常用来选取或验证射线检验的透照参数。

在透视照相中，要评定缺陷的实际尺寸是困难的，因此，要用透度计来做参考比较。

因此，用透度计测得的灵敏度表示底片的影像质量。

同时，还可以用透度计来鉴定照片的质量和作为改进透照工艺的依据。

透度计要用与被透照工件材质、吸收系数相同或相近的材料制成。

常用的透度计主要有两种：

槽式透度计和金属丝透度计。

1、槽式透度计槽式透度计的基本设计是在平板上加工出一系列的矩形槽，其规格尺寸如图所示。

槽深h一般0.1-6mm，用这种透度计计算灵敏度：

对不同厚度的工件照相，可分别采用不同型号的透度计。

槽式透度计示意图,被检工件厚度,透度计厚度,2、金属丝透度计金属丝透度计是以一套（711根）不同直径（0.14.0mm）的金属丝均匀排列，粘合于两层塑料或薄橡皮中间而构成的。

为区别透度计型号，在金属丝两端摆上与号数对应的铅字或铅点。

金属丝一般分为两类，透照钢材时用钢丝透度计，透照铝合金或镁合金时用铝丝透度计。

其灵敏度为：

金属丝透度计示意图,b为观察到的最小金属丝直径；A为被透照工件部位的总厚度。

使用透度计时，其摆放位置直接影响检测灵敏度。

原则上应将其置于透照灵敏度最低的位置，所以一般放在工件上靠近射线源的一侧，并靠近透照场边缘的表面上，并应使浅槽或金属丝直径小的一侧远离射线束中心，这样可保证整个被透照区的灵敏度达到灵敏度要求。

每张底片上原则上都必须有透度计。

透度计的使用方法,二、增感屏及增感方式的选择由于X射线和射线波长短，对胶片的感光效应差，一般X射线进入胶片并被吸收的效率很低，只能吸收大约1的有效射线能量，因此要得到一张清晰的底片需很长的感光时间。

为了增加胶片的感光速度，利用某些增感物质在射线作用下能激发出荧光或产生次级射线，从而加强对胶片的感光作用。

在射线透视照相中，所用的增感物质称为增感屏，其增感系数为,射线的曝光量通常以射线强度I和时间t的乘积表示，即E=It，E的单位为mCih（毫居里小时）。

增感屏通常有三种：

荧光增感屏、金属增感屏和金属荧光增感屏。

1、荧光增感屏荧光增感屏是利用荧光物质（常用钨酸钙CaWO4）被射线激发产生荧光实现增感作用的，其结构如图所示。

它是将荧光物质均匀地涂布在质地均匀而光滑的支撑物（硬纸或塑料薄板等）上，再覆盖一层薄薄的透明保护层组合而成的。

荧光增感屏构造示意图,2、金属增感屏金属增感屏在受射线照射时产生二次射线对胶片起感光作用。

其增感较小，一般只有27倍。

金属屏的增感特性通常是，原子序数增加，增感系数上升，辐射波长愈短，增感作用越显著。

但是原子序数越大，激发能量也要相应提高，如果射线能量不能使金属屏的原子电离或激发，则不起增感作用。

如铅增感屏，当管电压低于80kV时，则基本上无增感作用。

在生产实践中，多采用铅、金箔、锡等原子序数较高的材料作金属增感屏，因为铅的压延性好，吸收散射线的能力强。

3、金属荧光增感屏金属荧光增感屏是在铅箔上涂一层荧光物质组合而成的，其结构如图所示。

它具有荧光增感的高增感系数，又有吸收散射线的作用。

金属荧光增感屏结构示意图,4、增感方式的选择增感方式的选择通常考虑三方面的因素：

产品设计对检测的要求、射线能量和胶片类型。

就清晰度来讲，金属增感屏最高，荧光增感屏最低。

5、使用增感屏时的注意事项：

P54,三、曝光曲线1、曝光曲线影响透照灵敏度的因素很多，通常选择工件厚度、管电压、管电流和曝光量作为可变参量，其他条件相对固定。

根据具体条件作出的工件厚度、管电压和曝光量之间的相互关系曲线，是正确制定射线检测工艺的依据，这种关系曲线叫曝光曲线。

曝光曲线有多种形式，常用的是工件厚度和曝光量曲线、工件厚度和管电压曲线。

不同管电压下，材料厚度与曝光量的关系曲线，曝光量x与材料厚度d的关系为：

x与d呈线性关系。

用各种不同的电压试验时，就可以得出一组斜率逐渐变化的曲线。

材料厚度与曝光量关系曲线,不同焦距下，材料厚度与管电压的关系曲线。

由于底片黑度要求一定，所以曝光量x为一常数，如果被透照的材料固定，则d增大时吸收系数必须减小。

所以管电压要相应增大。

波长越小，射线越硬，穿透能力越强，吸收系数越小,射线能量不变,材料厚度与管电压的关系曲线,若以材料厚度d为横轴，管电压U为纵轴，则在一定焦距下的厚度所对应的管电压可以连成一条曲线。

以不同的焦距试验时，就可得到一组曲线。

2、曝光参数1）射线的硬度射线硬度是指射线的穿透力，由射线的波长决定。

波长越短硬度越大，则穿透力就越强，吸收系数越小。

X射线波长的长短由管电压所决定，管电压愈高，波长愈短。

射线硬度对透照胶片影像的质量有很大关系。

因此，选择射线的硬度尤为重要。

通常将60150kV定为中等硬度X射线，60kV以下定为软X射线。

当一束强度为I0的射线，通过被透照厚度为d的物体后，其强度将衰减为Id；通过一厚度为x的缺陷后，其强度为Ix。

IxId称为对比度或主因衬度，即,假设缺陷内为空气，则可忽略不计，则,在工业射线透照中，总是希望胶片上的影像衬度尽可能高，以保证检测质量。

因此，射线硬度尽可能选软些（思考:

射线波长大？

小？

）。

但如果希望在材料的厚薄相邻部分一次曝光，则要选用较硬的射线。

为了提高某些低原子序数、低密度和薄壁材料的检测灵敏度，应采用软射线，即低能X射线照相法。

2）射线的影像衬度,3）射线的曝光量射线的曝光量通常以射线强度I和时间t的乘积表示，即E=It，E的单位为mCih（毫居里小时）。

对X射线来说，当管压一定时，其强度与管电流成正比。

因此X射线的曝光量通常用管电流i和时间t的乘积来表示，即,E=it,单位为mAmin或mAs,一般在选用管电流和曝光时间时，在射线设备允许范围内，管电流总是取得大些，以缩短曝光时间并减少散射线的影响。

此外，X射线从窗口呈直线锥体辐射，在空间各点的分布强度与该点到焦点的距离平方成反比。

即,4）射线照相对比度射线照片上影像的质量由对比度、不清晰度、颗粒度决定。

影像的对比度是指射线照片上两个相邻区域的黑度差。

如果两个区域的黑度分别为D1、D2，则它们的对比度为：

D=D1-D2。

影像的对比度决定了在射线透照方向上可识别的细节，影像的不清晰度决定了在垂直于射线透照方向上可识别的细节尺寸，影像的颗粒度决定了影像可记录的细节最小尺寸。

射线在穿透物体的过程中会与物质发生相互作用,因吸收和散射而使其强度减弱.强度衰减程度取决于物质的衰减系数和射线在物质中穿越的厚度.如果被透照物体（试件）的局部存在缺陷,且构成缺陷的物质的衰减系数又不同于试件,该局部区域的透过射线强度就会与周围产生差异.把胶片放在适当位置使其在透过射线的作用下感光,经暗室处理后得到底片.底片上各点的黑化程度取决于射线照射量（射线强度、照射时间）,由于缺陷部位和完好部位的透射射线强度不同,底片相应部位就会出现黑度差异.底片相邻区域的黑度差定义为对比度.,5）焦距焦距是指从放射源（焦点）至胶片的距离。

焦距选择与射线源的几何尺寸和试件厚度有关。

由于射线源有一定的几何尺寸，从而产生几何不清晰度Ug，如图所示。

由相似三角形关系，求出：

式中：

为射线源的几何尺寸；F为焦点至胶片的距离；a为焦点至缺陷的距离；b为缺陷至胶片的距离。

透照影像几何不清晰度,6）等效系数两块不同厚度的不同材料在入射强度为I0的射线源照射下，若得到相同的出射强度Ix，则称二者为“等效”。

它们的厚度之比称为材料的“等效系数”。

根据等效系数的定义，可以从一条常用材料的曝光曲线上查出另一种材料的等效厚度所对应的管电压。

（一）平板型工件让X射线从前方照射，胶片放在被检查部位的后面。

四、典型工件焊缝的透照方向选择,纵缝透照法:

纵缝即平板对接焊缝或筒体纵缝，纵缝透照法是最常用的透照方法。

（二）圆管特别注意胶片与被检部位紧密贴合，并使锥形中心的辐射线与被检区域中心的切面垂直。

1、环缝外透法胶片在内，射线由外向里穿过单层壁厚对焊缝进行透照。

2、环缝内透法胶片在外，射线由里向外照射，特别适用于壁厚大直径小的管子。

（二）圆管3、双壁双影法：

射线源在工件外侧，胶片放在射线源对面的工件外侧，射线透过双层壁厚把工件两侧都投影到胶片上的透照方法称为双壁双影法。

外径小于等于89mm的管子对接焊缝可采用此法透照。

透照时，为了避免上、下层焊缝的影像重叠，射线束方向应有适当倾斜。

4、双壁单影法：

缩小焦距，使上层管壁中的缺陷模糊，从而得到下层管壁的清晰图像。

射线源,（三）角形件检验此类工件时，X射线照射的方向多为其角的二等分线方向。

（四）管接头焊缝（五）圆柱体（棒）滤波板的作用：

1、提高辐射束的平均能量，降低主因衬度，增加其宽容性；2、滤除软射线，消弱散射线的有害影响，提高清晰度。

（六）厚度变化剧烈的物体的透照1、采用两种感光度不同的胶片，感光快的底片上观察厚处，感光慢的底片上观察薄处；2、按材料厚薄单独曝光；3、对薄处采用密度相近的材料补偿；4、采用金属增感屏；5、不增感曝光。

一、铸件中常见的缺陷,1）气孔因铸模通气性不良等原因，使铸件内部分气体排不出来而形成气孔。

气孔大部分接近表面，在底片上的影像呈圆形或椭圆形，也有不规则形状的，一般中心部分较边缘稍黑，轮廓较清晰。

第四节常见缺陷及其影像特征（自学）,铸件中的气孔照片,2、疏松浇铸时局部温差过大，在金属收缩过程中，邻近金属补缩不良，产生疏松。

疏松多产生在铸件的冒口根部、厚大部位、厚薄交界处和具有大面积的薄壁处。

在底片上的影像呈轻微疏散的浅黑条状（羽毛状）或疏散的云雾状（海绵状），严重的呈密集云雾状或树枝状。

铸件内部疏松照片,3、缩孔铸件的缩孔在底片上呈树枝状、细丝或锯齿状的黑色影像。

4、针孔针孔是指直径小于或等于1mm的气孔，是铸铝合金中常见的缺陷。

在胶片上的影像有圆形、条形、苍蝇脚形等。

当透照较大厚度的工件时，由于针孔分布在整个横断面，针孔投影在胶片上是重叠的