CT8685系列电测机培训教材Word文档下载推荐.docx

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[PgUp][PgDn]以方便资料编辑

d.[Exit]使系统跳离目前状态并回到前一状态

4.[Enter]确认键

5.[TEST]开始量测键

6.操作辅助键（SoftKey）群组

S1~S6位于LCD右侧，作为辅助操作/设定用

7.[Reset]系统重置键，相当于暖开机（WarmStart）

二.按键操作

功能设定与分析模式包含系统主功能[Func]、系统设定[Setup]与打印功能[Print].

1.系统主功能（Function）

提供系统之主要功能选单，首先按下[Func]

在以[↑]或[↓]键选择所需项目，按[Enter]即可进入选择项目功能，可按[Exit]退回上一画面.

2.系统自我测试

本功能可设定此一机台是否于开机后会直接执行自我测试的功能.首先按[Func]，再以[↑]或[↓]选定本项目后按[Enter]，此时系统则会执行自我测试的功能，可按[Exit]跳离.

3.设定系统时间

本功能可调整系统的年/月/日/时/分/秒，按下[Func]，请以[↑]或[↓]选择至本项目并按下[Enter]，请分别输入正确日期与时间，输入完毕请按S1[设定]储存，可按[Exit]跳离.时间为24小时制。

4.更改系统密码

本测试机提供按键保护，以避免资料被任意修改。

首先按下[Func]，请以[↑]或[↓]选择至本项目并按下[Enter]，请输人原密码并按下[Enter]，请使用文数字键键入新密码并按[Enter]且牢记此密码，请再次输入新密码，确认新密码并按[Enter]，此时屏幕上会显示{设定成功}，新密码设定成功会自动跳回功能选单中，若要修改密码，请重复以上之设定步骤.

5.设定屏幕明暗

本功能提供LCD画面亮度的控制，值愈大亮度愈亮，共分为0~10阶段，默认值为|5|，首先按下[Func]，再以[↑]或[↓]选择至本项目并按下[Enter]，依需要按下S1[更亮]或S6[更暗]变更其亮度，并按[Enter]确认，变更完毕后，可按[Exit]跳离。

6.直流高压校正

直流高压校正功能即调整Read（量测值）最近似于DC设定值。

首先按下[Func]，再以[↑]或[↓]选择至本项目并按下[Enter]，然后按S1[上升]或S2[下降]调整Read（量测值）最近似于DC设定值，设定完毕，请按S4[完成]，若欲取消设定之资料则可按S6[放弃]即可。

7.绝缘阻抗校正功能

即测试电压设定为200V~700V量测值为无穷大。

首先按下[Func]，再以[↑]或[↓]选择至本项目并按下[Enter]，按S1[上升]或S2[下降]，设定完毕，请按S4[完成]若欲取消设定之资料则可按S6[放弃]即可。

8.内部阻抗归零

本功能可执行机器内部阻抗归零之动作。

首先按下[Func]，再以[↑]或[↓]选择至本项目并按下S1[归零]或[Enter]，按下[Enter]即可执行内部阻抗归零的动作（当您欲执行内部阻抗归零时，请先插好归零治具），若PORTA（A槽）完成内部阻抗归零，LCD会显示询问是否依序进行，然后依次可以进行B、C、D的归零。

按下S6[清除归零]可执行清除内部阻抗归零的动作.

归零意指将所有PIN脚完全部短路后，予以量测其值并储存于机器内部，

并修正杂散电容阻抗，以确保量测准确度。

9.寻找输出点位（PinSearch）

本功能可显示出目前的输出点位为何。

首先按下[Func]，再以[↑]或[↓]选择至本项目并按下[Enter]，将自动找点探针接于PinSearch接头上，并将探针指于你所欲得知之点位上。

三.系统设定（Setup）

系统设定包括系统组态与测试相关动作设定.首先按下[Setup]再以[↑]或[↓]选择所需项目，并按[Enter]，若有需要请按S1[项目选择]切换.完毕可按[Exit]跳离.

1.按键声音

本测试机可依需要开启/关闭按键的声音。

默认值为|全部有声|

全部有声按键无论有效键或无效键皆设定有声响

全部无声按键无论有效键或无效键皆设定无声响

有效键声有效键才设定有声响

无效键声无效键才设定有声响

2.按键操作

默认值为|开放|。

首先按下[Setup]，再以[↑]或[↓]选择至本项功能，按S1[项目选择]，然后输入旧密码.解除保护模式时若忘记密码，在画面显示{输入旧密码}后按[Shift]+[BS]即可显示原密码.

3.测试警报

本功能提供测试结果之警讯，共有3个选项，可视其需要加以设定

全部有声不论待测物测试结果为良品或不良皆设有声响

全部无声不论待测物测试结果为良品或不良皆设无声响

不良有声只设定待测物测试结果为不良才有声响

良品有声只设定待测物测试结果为良品才有声响显示及打印测试资料

本功能即设定测试统计资料显示及打印的型式，共有三个选项

全部显示不论错误与否皆显示及打印测试资料

全不显示不论错误与否皆不显示及打印测试资料

错误步骤显示及印列错误步骤

4.统计测试结果

本功能为切换系统是否进入统计模式，共有二个选项，默认值为|否|，说明如下

是统计模式打开

否统计模式关闭

统计模式之激活会影响测试速度，请视需要再打开此功能

5.开机自我测试

共有二个选项，默认值为│是│

是须作开机自我测试

否不须作开机自我测试

6.连续错误警报声

当测试发生错误时，会出现连续错误警报声响

7.测试档案

共有三个选项，默认值为│自动判别│

自动判别测试系统自动判别为单一档案或循序档案测试

单一档案指定为单一档案测试（即主画面所显示之{目前档案}）

循序档案指定为循序档案测试（无论目前主画面所显示之{目前檔

案}为何，皆进行循序档案之测试）

8打印功能选单（Print）

本测试机提供直接的打印机输出，方便您将所需要的资料打印出来.

（a）选定所需资料或画面

（b）按下[Print]即可

9．学习断短路设定（Learn）

本机台对于断短路设定是以学习的方式作设定的，亦即将测试线材之连接

情形记忆在系统中，而系统将测试之结果显示于LCD上

1.当测试模式设定中[MODE]，线材种类设定为{一般}。

首先按下[Learn]当进行线材测试时，按下[TEST].由LCD显示画面中，我们可得知测试总数及良品、不良品的数目.

2.当测试模式设定[MODE]中，线材种类设定为{点测}。

首先按下[Learn].使用自动寻点探针指定所欲测试之短路点位，比如：

当您使用自动寻探针，并将之置于线材指定之点位上（A01），按下S1[循序学习]，依序将探针置于线材指定之点位上（A03,A05,A07）亦按下S1[循序学习]，完毕，请按S4[完成]，请按[Enter]储存档案或按[Exit]跳离，亦可键入新檔名再按[Enter]另存新档，当进行线材测试时，按下[TEST].请利用自动寻点探针置于A01.请务必依序并利用自动寻点探针置于A03,A05,A07，即可完成线材测试之动作，因最初我们预设4个步骤，所以每一待测物之测试，均须循序测试由。

步骤1至步骤4完全正确无误才算良品。

最大只能设定64个测试步骤

3.试模式设定中，线材种类设定为{单边}。

首先按Learn]，画面中右边所显示出之数值即为所谓的单边测试灵敏度（请参考P39.P40）。

当进行线材测试时，按下[TEST]，LCD显示画面中，我们可得知测试总数及良品、不良品的数目。

11.查看统计资料（Statistic）

本功能可查看测试结果之统计资料，包括：

测试总数、良品个数、不良品

个数以及不良原因分析亦即寻求项目分类不良品个数,首先按Stat],按下S1[数量比率]，则可使统计资料以百分比的型式呈现,按下S6[清除资料]，则会将现有的统计资料完全清除.完毕后，可按[Exit]跳离

12.ChapterIII综合测试模式

测试模式是利用程序化设计功能，针对不同之测试项目设定不同之测试条件,而予以同时且自动之测试，以满足不同之需求，达到最佳效率，可分成

测试条件设定

综合测试实作

档案管理

测试条件设定

此部份指的是针对待测物（DUT）测试时所设定的一些管制标准与相对应的测试条件，包含O/S/Cond/R/C/HIPOT/Diode设定，其内容主要为

各测试项目（Parameter）之测试讯号（频率、电压大小、电流等）

管制标准，规格管制标准值、误差比率

a.断短路表{o/s}

首先按O/S，断短路表是利用学习的方式而来的，完毕可按[Exit]跳离

b.导通阻抗测试编辑（C）

首先按下[Cond]，再以[↑]或[↓]选择至您所要设定之项目，导通阻抗设定，请依需要利用数字键键入数字，导通测试模式设定，可利用S1[项目选择]切换为一般/瞬间状态。

瞬间导通测试次数，请依需要利用数字键键入数字，按下S5[线材归零]可执行线材归零的动作（当您欲执行线材归零时，请先插好归零治具）。

归零意指将所有PIN脚完全短路后，予以量测其值并储存于机器内部，并修正杂散电容阻抗，以确保量测准确度。

建议每三个月归零一次以确保准确度。

c.电阻设定编辑（R）

首先按下[R]，按S1[拷贝上行]可作拷贝上行资料的动作，按S2[删除此行]可作删除所选定行数之资料，按S5[最前一行]可使光标移至现有数据的第一行上，按S6[最后一行]可使光标移至现有数据的最后一行上，请利用方向键移动至您所要设定的项目，键入您的规格管制标准值，当您利用方向键移动至标准值时，按下S1[单步学习]，则目前所在之标准值会经由学习的方式测出待测，物指定点位之标准值按下S2[全部学习]，则所有标准值皆会经由学习的方式测出待测物指，定点位之标准值，按下S4[全部相同]，则所有标准值皆会与所指定点位的标准值相同，按下S5[归零]，按下[Enter]即进行归零动作，按下S6[清除归零]即可清除所作电阻归零之资料.

d.电容设定编辑（Capacitance）

按下[C],然后按S1[拷具上行]可作拷具上行资料的动作，再按S2[删除此行]可作删除所选定行数之资料，再按S5[最前一行]可使光标移至现有数据的第一行上，再按S6[最后一行]可使光标移至现有数据的最后一行上，，利用方向键移动至您所要设定的项目，然后键入您的规格管制标准值，当您利用方向键移动至标准值时，面显按下S1[单步学习]，则目前所在之标准值会经由学习的方式测出待测

物指定点位之标准值，按下S2[全部学习]，则所有标准值皆会经由学习的方式测出待测物指，定点位之标准值，按下S4[全部相同]，则所有标准值皆会与所指定点位的标准值相同，按下S5[归零]即可进行归零动作。

按下[Enter]即进行归零动作，按下S6[清除归零]即可清除所作电容归零之资料。

e.高压设定编辑（HIPOT）

此功能为DC绝缘、AC耐压的测试电压、频率、时间、规格及其它项目之设定。

按下[Hipot]利用方向键移动至您所要设定的项目,键入您的规格管制标准值.

f.测试模式设定（MODE）

测试动作设定是在设定测试时之动作与相关的设定。

首先按下[Mode]，请以[↑]或[↓]移动至您所要设定之项目，设定完毕，可按S6[测试项目]以设定欲进行测试之项目，按下S6[测试项目]，LCD显示画面如下，请以[↑]或[↓]移动至您所要设定之项目，按下S1[项目选择]切换是否进行所选定项目之测试。

项目说明如下断短路判定值请按S1[项目选择]切换设定。

数值为2KΩ/5/10/20/50KΩ

线材种类请按S1[项目选择]切换一般/点测/单边

最大容许电容量请按S1[项目选择]切换设定数值为

0.05uF/0.1/0.2/0.5/1uF

测试启动方式请按S1[项目选择]切换其设定，共有三种选择

–自动测试激活方式之设定为自种激活

–手动测试激活方式之设定为手动激活

–连续测试激活方式之设定为连续激活

自动测试插入延迟设定测试治具阀门延迟时间，测试时若应用治

具阀门时，其动作需有一段延迟时间，因此实

际测试时间需延，请利用数字键键入

连续测试间隔时间连续测试时两待测物（DUT）测试之时间区隔，请

利用数字键键入

连续测试次数请利用数字键键入连续测试次数

测试有错误时当测试有误时，测试继续与否之设定请按S1[项

目选择]切换其设定为停止/不测高压/全部测完

短断路端点判断请按S1[项目选择]切换设定为是/否

单边测试灵敏度判断有线与否（线愈长，灵敏度数值愈高）

当显示出灵敏度数值>

您所设定的单边测试灵

敏度数值时，即判定为有线

瞬短断测试时间请利用数字键键入瞬短断路测试时间

瞬短断测试最大点位请按S1[项目选择]切换设定为128/256

若您所购置之机台为128Pin则无此设定项目，此项目最大功能在节

省瞬短断测试时间

单边测试只有PortA（A槽）有效（即指A1~A64），当测试模式设定中之线材种

类设定为{单边}，且单边测试灵敏度设为{0}，此时进行短断路学习，实例

测试如下：

将待测线材置于PortA（A槽）按下[Learn]，LCD画面显示如下

一般上无线状态所量测出来的数值约为20左右。

所以很明显地可以看出有

线点位及线数，此时可依您的需要设定单边测试灵敏度（建议设定在有线/

无线数值之中）以此为例，若我们将单边测试灵敏度设为70（约20~120之中间值），再按下,[Learn]，LCD画面显示如下:

由此，我们即可马上知道有线数为6，即有6条线.当您对测试模式设定中之短断路端点判断设定为∣是∣时，当测试断短路

发生错误时，系统会自动去侦测出发生断路之点位所在！

四.综合测试实作

做完以上的设定之后，即可进行综合测试实作。

其因操作程序之不同，可细分为两种：

实时测试（RealTimeTest）与已存测试（ExistedTest），分别说明如下：

1.实时测试

此部份是将已储存在主存储器内之测试条件设定为测试之条件，实时对待

测物予以测试，是最常用的测试方法，其步骤说明如下，先检视测试条件设定是否正确

（b）按下[Mode]即显示测试模式设定画面，请检视并确认测试模式设定是否正确，并依需要予以更改，确认无误后，请按[EXIT]跳离，回到主画面，按下[TEST]后即开始测试，测试完毕或须中断测试时，请按[EXIT]跳离

2.已存测试（ExistedTest）

您可将储存在内存内之已存盘案（ExistedFile）加载至主存储器后予以执行

测试，其操作说明如下：

首先按下[File]，再请以[↑]或[↓]移动光标，选定欲加载之文件名称，确认后按下[Enter]，测试机开始把选定之档案加载主存储器中，此时LCD画面将跳回主画面，目前档案即显示为您所选定之档案名称，此时即档案加载完成，请按[EXIT]跳离，回到主画面，按下[Mode]即显示测试模式设定画面，请检视并确认测试模式设定是否正确，并依需要予以更改，确认无误后，请按[EXIT]跳离，回到主画面，按下[TEST]后即开始测试，测试完毕或须中断测试时，请按[EXIT]跳离。

3.档案管理（File）

您可执行选取旧档/删除旧档/档案排序之动作，以方便档案管理与取用，其

操作说明如下：

选取档案。

选取档案是将已储存在永久内存内之已存盘案加载至主存储器中，以方便

其它用途，包含测试、编辑、打印等，其操作说明如下：

首先按下[File]，请以[↑]或[↓]移动光标，选定欲加载之文件名称，按下[Enter]即是执行加载档案的动作，测试机开始把选定之档案加载主存储器中，此时LCD画面将跳回主画面，目前档案即显示为您所选定之文件名称，

此时即档案加载完成

4.循序设定

当您必须对同一待测物进行数种测试步骤时，您可将所需进行的测试步骤，以循序测试的方式设定，以简化您的测试程序并减少您的测试时间。

首先按下[File]，然后按下S1[循序设定]，您可按S1[循序选档]，LCD显示画面如下：

运用[↑]或[↓]移动光标，选择并设定待测物所需进行的测试步骤，举例如下，我们选定1RODD-A1RODD-B，1RODD-D此三个档案，运用[↑]或[↓]移动光标移至1RODD-A，然后按下S3[选取]，再运用[↑]或[↓]移动光标移至1RODD-B，然后按下S3[选取]，继续运用[↑]或[↓]移动光标移至1RODD-D，然后按下S3[选取]，请按S4[完成]，如此即完成循序测试设定，另外亦可利用S2[循序学习]来设。

举例如下，置入待测物，按下S2[循序学习]，按下S1[学习]，则产生了第1个步骤设定，以此类推，可设定第1个、第2个…….步骤，假设我们共设定了5个。

测试步骤，设定完成后，并按下S3[完成]，如此亦可完成循序测试设定，按下S3[循序测试]或[TEST]，进行第1测试步骤，第一步骤PASS，LCD画面显示{等待测试步骤2}，循序完成1,2,3,4,5个测试步骤后，以此类推至完成所设定的5个步骤之后，如此即完成循序测试。

每一个测试步骤完成后，机器会扫瞄短断路（O/S），当短断路（O/S）状态改变

后，机器才会进行下一个测试步骤

若要机器不必等短断路（O/S）状态改变即进行下一个测试步骤，请将该测试

步骤档案测试模式中的{测试起动方式}设定为连续即可

5.建立新檔

建立新的档案于永久内存内中之功能，其操作说明如下：

首先按下[File]，按下S2[建立新檔]即可进行建立新档的动作，键入您所喜欢之文件名称，确认您欲建立之文件名称并按下[Enter]即完成建立新档之动作。

6.删除旧档

删除旧档是将已储存于永久内存内之档案永久删除，以避免占用宝贵的永

久内存，其操作说明如下

首先按下[File]并以[↑]或[↓]移动光标，选定欲删除之文件名称，按下S5[删除旧档]即可执行删除档案的动作，确认您欲删除之文件名称并按下[Enter]即完成删除档案之动作.

7.档案排序

档案排序功能，可使您依其需要快速对已存有之档案作排序之动作，其操

作说明如下：

首先按下[File]，按下S6[档案排序]，即可依您的需要作出档案排序之动作，共有五个

选择，详列如下：

依文件名称由大至小排列

依文件名称由小至大排列

依储存顺序由小至大排列

依档案日期由大至小排列

依档案日期由小至大排列

8.档案储存（Save）

档案储存是将在主存储器内之资料储存于永久内存，以方便其它用途，包含加载、测试、编辑、打印等，其操作说明如下：

首先请先检视测试条件设定是否正确，然后确认无误后，请回到主画面，按下[Save]您可直接使用[EditKey]中之文数字键键入您喜欢的名称，然后按下[Enter]确认，即完成储存档案的工作。

项目符号量测范围电阻R0.1~1.0M，二极体测试D0.0V~7.0V，导通COND0.1~50.0，高压（漏电流）IL0.1mA~5mA，绝缘电阻IR1M~500M，断/短路O/S2K~50K，瞬间短断路测试2K~50K，瞬间导通测试0.1~50.0，直流高压绝缘测试，200~700Vdc，50VResolution，5%准确度。