测井软件1文档格式.docx

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《随钻测井资料响应校正技术的研究和应用》软件说明书

根据所建立的校正方法（模型）、程序和多口井资料的处理分析，研发了一套随钻测井响应（资料）的环境影响校正软件。

基于随钻测井响应理论模型，以Schlumberger、Halliburton和BakerHughes三大公司的随钻测井资料为处理对象，以随钻测井响应的环境影响解释图版为校正依据，在对图版（曲线）合理采样读值与数字化并考虑其适用条件的基础上，采用最小三乘法和神经网络法等先进的数学方法进行最优拟合，建立了随钻测井响应的环境影响校正数学公式（模型），实现对LWD资料的环境影响自动校正，提高随钻测井曲线的径向分辨率和随钻地层评价的精度。

研究中，我们重在加强与现场实际情况的紧密结合，突出研究成果的实际应用，形成了一套较为成熟的随钻测井响应的环境影响校正技术～应用软件。

考虑到实用性与方便性，将本软件设置为四大主要功能模块，包括斯伦贝谢随钻测井资料环境影响校正、哈里伯顿随钻测井资料环境影响校正和贝克休斯随钻测井资料环境影响校正及井眼轨迹与钻遇地层关系的随钻测井解释。

该软件在一定程度上，可以较好地解决目前随钻测井资料的环境影响校正问题和井眼轨迹与油藏的空间位置关系的随钻测井分析问题。

本软件使用VC++6.0语言编程（编制校正模块13个），基于EDA软件开发平台，采用面向对象设计的方式，可视化界面友好。

软件中的各模块,可在VC++6.0语言环境下编译源程序（*.dsw）自动生成动态链接库文件（*.dll），将这些动态链接库文件（*.dll）挂接在EDA测井解释软件平台上即可运行。

该软件已在多台电脑上调试运行通过。

应用测试表明，该软件设计思想正确，模块设置（功能）较全，运行稳定、输入输出方便，方法可行、结果合理，可以用于随钻测井资料的环境影响校正处理与影响因素的判释。

用户使用该软件之前，应该①熟悉EDA平台的使用方法，能够在EDA平台上熟练地进行常规测井资料的数字处理，尤其是数据格式转换、参数卡的填写、输入输出曲线的重定向，曲线的计算与绘制等；

②熟悉VC++6.0语言的编程环境,以及*.exe文件和动态连接库（*.dll）的生成与挂接；

③熟悉常规测井和随钻测井解释中的环境影响校正方法，尤其是熟悉三大公司的随钻测井资料。

例如随钻伽马、井径、不同源距和不同工作频率的随钻相位差和幅度比电阻率、随钻中子和密度、随钻声波等测井曲线的英文名称、刻度、单位和测量条件（随钻测井仪器类型、钻铤和钻头尺寸的大小，泥浆类型、密度和矿化度），以及环境影响校正图版。

1校正模块（*.dll）挂接方法

⑴在VC++6.0编程语言环境下打开源程序（*.dsw），在工程（Project）菜单下选择设置（Settings），弹出ProjectSettings对话框之后，选择General，在Workingdirectory设置要编译生成的动态链接库或者可执行文件（exe）的输出路径（中间文件和输出文件的路径），例如C:

\EDA\Debug。

⑵在工具（Tools）菜单下选项（Options）子菜单中设置头文件和链接库文件所在路径，弹出Options对话框之后，选择Directories，首先在Showdirectoriesfor栏中选includefiles，在Directories中设置为C:

\EDASDK\INC（假设EDASDK安装在C盘）；

然后在Showdirectoriesfor栏中选libraryfiles，在Directories中设置为C:

\EDASDK\LIB。

⑶对每个校正程序进行编译，得到对应的动态链接库文件（*.dll）或可执行文件（*.exe）。

假设EDA安装在C盘，则将C:

\EDA\Debug文件夹下的所有动态链接库（*.dll）拷贝到C:

\EDA\bin\method\中、将C:

\EDA\Debug文件夹下的所有可执行文件（*.exe）拷贝到C:

\EDA\bin\中，将数据模型文件和excel工具软件等的安装路径指向文件COSL-SWPI-EDA-DataPath.ini拷贝到C:

\下，将EDA.ini文件复制到C:

\EDA\system目录下，覆盖原有的EDA.ini文件（注意备份原有的EDA.ini文件，以便增添其中的模块到新的EDA.ini文件）。

⑷将所提供的*.ptf文件复制到C:

\EDA\system\method文件夹中,重新启动EDA，即可运行。

⑸应用程序（*.exe）外挂校正模块（非动态链接库模块），其挂接方法基本同上，不同的是，将C:

\EDA\bin（假设EDA安装在C盘）,重新启动EDA，即可运行。

2挂接在EDA平台上的校正模块名称

S-BoreholeCorrection-Ra-CNL-GR……………斯伦贝谢井眼影响（电阻率,中子）校正

S-BedthicknessCorrection……………………………………斯伦贝谢围岩影响校正

S-AnisotropyCorrection-chartFormula斯伦贝谢电阻率各向异性相对倾角影响校正

AnisotropyCorrection-iteration-formula用电阻率各向异性与倾角关系计算Rh,Rv

S-DielectricCorrection…………………………………斯伦贝谢介电常数影响校正

S-Ra-Invasion-Correction…………………………斯伦贝谢泥浆侵入影响校正

S-Schlumberger-DEN-Standoff-correct…………………斯伦贝谢密度间隙影响校正

H-HoleSize-Correction-GR-CNL-Ra…哈里伯顿井眼影响（伽马,电阻率,中子）校正

H-BedThicknessAndDip-Correction………………哈里伯顿围岩与相对倾角影响校正

H-Dielectric-Correction…………………………………哈里伯顿介电常数影响校正

B-Borehole-Rm-Correction………………贝克休斯井眼影响校正

RtForward………………………………………………随钻电阻率测井曲线的正演模拟

NewSand…………………………………………地层参数和含流体性质的随钻测井解释

Fwdtxt2wis和HWLCG…………………………井眼轨迹与地层关系的随钻测井成图

3主要校正模块使用说明

3.1斯伦贝谢随钻测井资料环境影响校正主模块

挂接在EDA平台上的斯伦贝谢随钻测井资料环境影响校正主模块如图1所示，该模块包括7个子模块，包括井眼（井径大小和泥浆电阻率）、围岩（层厚）、各向异性（相对倾角）、介电常数和泥浆侵入以及地层密度偏离间隙等影响校正。

图1基于EDA平台的Schlumberger随钻测井资料环境影响校正模块（dll）菜单界面

3.1.1井眼影响校正子模块（S-BoreholeCorrection-Ra-CNL-GR）

斯伦贝谢井眼校正模块的输入曲线如图2所示，需输入10条电阻率曲线、1条中子曲线、2条井径曲线和一条伽马曲线。

该模块对电阻率、中子和伽马曲线进行井眼影响校正，校正结果输出曲线如图3所示，即输出10条电阻率曲线、1条中子校正曲线和一条伽马校正曲线。

需输入的参数如图4所示，CDNADNTooL为仪器类型，有CDN、ADN两种类型。

DCS为钻铤大小，CDN测井仪器的钻铤大小可选6.5、8.0（in），ADN测井仪器的钻铤大小可选6.75、8.25（in）。

OPF为随钻电阻率测井仪器的工作频率，有2MHz和400kHz两种，其DCS钻铤大小可选6.75、8.25（in）；

Rm为泥浆电阻率（ohmm）；

To为井场温度；

GEOG为地温梯度。

用户可根据实际资料，选择其中几条曲线进行校正。

图2Schlumberger随钻测井资料井眼影响校正的输入曲线

图3Schlumberger随钻测井资料井眼影响校正的输出曲线

图4Schlumberger随钻测井资料井眼影响校正的参数卡

3.1.2围岩影响校正子模块（S-Read-Bed-Rt、S-BedthicknessCorrection）

具体使用时，必须先运行曲线分层读值子模块，然后逐点进行围岩校正处理。

图5～图7是测井曲线分层读值模块（S-Read-Bed-Rt）的输入、输出界面。

输入曲线为泥质含量曲线、深相位和深衰减电阻率曲线，输出曲线为一临时曲线RP99，实际上深相位和深衰减电阻率的分层读值数据保存在C:

\EDA\TEMP下，文件名为tempEDA-SfenCeng.txt。

参数FcFG为分层方法，包括按Vsh泥质含量或Rt电阻率分层，一般情况下首选按泥质含量分层；

RCO为主动分层曲线（如电阻率或泥质含量）的截止值（例如2ohmm或40%）。

图8～图10为斯伦贝谢围岩校正子模块的输入、输出界面，输入10条电阻率曲线，输出为校正后的电阻率曲线。

参数OPF为仪器工作频率（2MHz,400kHz）；

BTP为相位电阻率的纵向分辨率（例如1.5ft），BTA为衰减电阻率的纵向分辨率（2.0ft），在不同地层电阻率情况下，随钻电阻率测井仪器都有其纵向分辨率，实际处理时可以查阅随钻测井仪器的相关规格参数等资料。

图5Schlumberger随钻电阻率围岩校正分层读值模块的输入曲线

图6Schlumberger随钻电阻率围岩校正分层读值模块的输出曲线

图7Schlumberger随钻电阻率围岩校正分层读值模块的参数卡

图8Schlumberger随钻电阻率围岩影响校正的输入曲线

图9Schlumberger随钻电阻率围岩影响校正的输出曲线

图10Schlumberger随钻电阻率的围岩影响校正的参数卡

3.1.3各向异性和相对倾角影响校正子模块（S-AnisotropyCorrection-chartFormula）

图11～图13是斯伦贝谢随钻电阻率测井相对倾角与各向异性校正子模块的输入、输出界面。

输入曲线为10条电阻率曲线和1条相对倾角曲线，输出为校正后的10条电阻率曲线，可根据实际需要选择其中几条电阻率曲线进行校正。

LMD为各向异性系数（Rv/Rh）0.5，一般情况下选取各向异性校正公式（迭代法）逐点处理结果中的各向异性系数最大值作为LMD（例如2）；

用户可选取直井中的水平层的纯砂岩电阻率近似作为垂直电阻率Rv，纯泥岩电阻率近似作为水平电阻率Rh。

图11Schlumberger随钻电阻率的相对倾角与各向异性校正的输入曲线

图12Schlumberger随钻电阻率的相对倾角与各向异性校正的输出曲线

图13Schlumberger随钻电阻率的相对倾角与各向异性校正的参数卡

3.1.4介电常数影响校正子模块（S-DielectricCorrection）

图14～图16是斯伦贝谢随钻电阻率的介电常数校正模块的输入曲线、输出曲线和参数卡界面。

输入曲线为10条电阻率曲线，输出为10条校正后的电阻率曲线和一条相对介电常数曲线，参数RDC为相对介电常数。

一般情况下先处理一次，然后选所计算出的相对介电常数曲线的最小值作为RDC值，再处理一次作为最终的校正结果。

可根据地层电阻率

采用下式来估算相对介电常数。

图14Schlumberger随钻电阻率测井的介电常数校正的输入曲线

图15Schlumberger介电常数校正的输出曲线

图16Schlumberger随钻电阻率测井的介电常数校正模块的参数卡

3.1.5泥浆侵入影响校正子模块（S-Ra-Invasion-Correction）

图17～图19是斯伦贝谢随钻电阻率测井的泥浆侵入校正模块的输入、输出界面。

输入曲线为三条深中浅探测电阻率曲线（多选相位电阻率曲线）、一条泥质含量曲线、一条井径曲线和一条孔隙度曲线（见图17），输出为原状地层电阻率、冲洗带电阻率以及侵入半径和侵入深度曲线，参数InvasionType为泥浆类型（=1为盐水泥浆的导电性减阻侵入；

=2为淡水泥浆的电阻性增阻侵入）；

SHCT为泥质含量截止值（例如40%）；

PORcut为孔隙度截止值（例如8.0%）。

图17Schlumberger随钻电阻率测井的泥浆侵入校正的输入曲线

图18Schlumberger随钻电阻率测井的泥浆侵入校正的输出曲线

图19Schlumberger随钻电阻率测井的泥浆侵入校正的参数卡

3.1.6随钻地层密度测井间隙影响校正子模块S-Schlumberger-DEN-Standoff-correct）

图20～图22为斯伦贝谢随钻地层密度测井的间隙影响校正的输入、输出界面，输入曲线为4条密度（上下左右4象限密度）、1条微差井径、1条平均密度井径、1条水平井径和1条垂直密度井径曲线；

输出为1条密度校正曲线；

参数卡中MUD为实际钻井的泥浆密度，范围为0.5～2.5g/cc，CORMETHOD为选取所需的校正方法，其值为1时用平均密度法校正、为2时用最大密度法校正，DCS为钻铤大小，有4.75,6.75,8.25,9.5in四种类型。

图20斯伦贝谢随钻地层密度的间隙影响校正模块输入曲线

图21Schlumberger随钻地层密度的间隙影响校正的输出曲线

图22Schlumberger随钻地层密度的间隙影响校正的参数卡

3.2哈里伯顿随钻测井资料环境影响校正主模块

挂接在EDA平台上的哈里伯顿随钻测井资料的环境影响校正主模块如图23所示，该主模块包括3个子模块，即井眼（井眼大小和泥浆电阻率）、围岩（层厚）与相对倾角、介电常数校正。

图23哈里伯顿随钻测井资料的环境影响校正模块菜单

3.2.1井眼影响校正子模块（H-HoleSize-Correction-GR-CNL-Ra）

哈里伯顿随钻测井资料的井眼影响校正模块输入曲线如图24所示，输入为4条相位电阻率曲线、1条伽马曲线、1条中子曲线和1条井径曲线。

该模块对电阻率、伽马和中子曲线进行井眼影响校正，输出曲线如图25所示，即输出4条相位电阻率、1条伽马和1条中子校正曲线。

所需输入的参数如图26所示，参数DCS为钻铤直径，可选4.75、6.75、8.00、9.5（in）；

Rm为钻井泥浆的电阻率；

MW为泥浆密度；

KCL为泥浆中的氯化钾含量（%）；

TO为井场温度（oC）；

用户可根据实际资料，选择其中几条进行校正。

图24哈里伯顿随钻测井资料的井眼影响校正模块的输入曲线

图25哈里伯顿随钻测井资料的井眼影响校正模块的输出曲线

图26哈里伯顿随钻测井资料的井眼影响校正模块的参数卡

3.2.2围岩影响校正子模块（H-Read-Bed-Rt、H-BedThicknessAndDip-Correction）

图27～图29是围岩校正分层读值模块（H-Read-Bed-Rt）的输入、输出界面。

输入曲线为4条相位电阻率曲线和一条泥质含量曲线，输出为分层读值的4条相位电阻率，输出结果保存在缺省目录C:

\EDA\TEMP下，文件名为tempEDA-HfenCeng.txt。

在对围岩进行校正前，必须先运行分层读值子模块。

参数FCFG为分层方法，包括按泥质含量分层和按电阻率分层，一般情况下按泥质含量分层；

参数RCO为砂泥岩分层的主动测井曲线截止值，根据待进行围岩校正的电阻率曲线或泥质含量曲线来确定（例如2ohmm或40%）。

图30～图32为哈里伯顿随钻测井资料的围岩影响校正子模块的输入、输出界面，输入4条相位电阻率曲线、1条相对倾角曲线和1条Vsh曲线，输出为校正后的电阻率曲线，用户可根据实际资料选择其中几条进行校正。

参数BT为相位电阻率的纵向分辨率（ft），一般情况下厂商会提供其随钻测井仪器在不同电阻率情况下的纵向分辨率，实际处理时可以查阅仪器厂商所提供的相关资料（BT值要高于理论分辨率）。

图27哈里伯顿随钻电阻率测井资料的围岩校正分层读值模块的输入曲线

图28哈里伯顿随钻电阻率测井资料的围岩校正分层读值模块的输出曲线

图29哈里伯顿随钻电阻率测井资料的围岩校正分层读值模块的参数卡

图30哈里伯顿随钻电阻率测井资料的围岩与相对倾角校正模块的输入曲线

图31哈里伯顿随钻电阻率测井资料的围岩与相对倾角校正模块的输出曲线

32哈里伯顿随钻电阻率测井资料的围岩与相对倾角校正模块的参数卡

3.2.3介电常数影响校正子模块（H-Dielectric-Correction）

图33～图35是哈里伯顿随钻电阻率测井资料的介电常数影响校正模块输入、输出曲线界面，输入为4条相位电阻率曲线，输出为4条校正后的相位电阻率曲线和1条相对介电常数曲线，参数RDC为相对介电常数（一般情况下取最小值），也根据地层电阻率

采用前式来计算。

图33哈里伯顿随钻电阻率测井资料的介电常数影响校正模块的输入曲线

图34哈里伯顿随钻电阻率测井资料的介电常数影响校正模块的输出曲线

图35哈里伯顿随钻电阻率测井资料的介电常数影响校正模块的参数卡

3.3贝克休斯随钻测井曲线的井眼影响校正模块

贝克休斯公司提供的随钻测井资料的环境影响校正图版极少，主要为随钻电阻率测井的井眼影响校正图版。

校正时输入曲线为两条随钻电阻率曲线、1条伽马曲线、1条中子曲线和两条井径曲线，输出为校正后的两条随钻电阻率曲线、1条校正后的伽马曲线和1条中子校正曲线。

参数DCS为钻铤直径，可选6.75、8.25、9.5（in）；

图36贝克休斯随钻电阻率测井资料的井眼影响校正模块

图37贝克休斯随钻电阻率测井资料的井眼校正模块的输入曲线

图38贝克休斯随钻电阻率测井资料的井眼校正模块的输出曲线

图39贝克休斯随钻电阻率测井资料的井眼校正模块的参数卡

3.4随钻电阻率测井曲线的正演模拟模块（RtForward）

图40～图43是随钻电阻率正演模块的输入和输出界面。

程序运行时需要读入包含顶深、底深和地层真电阻率三列数据的文本文件，形式上从EDA井文件中读入1条电阻率曲线，输出为4条曲线（相位差、幅度比和对应的电阻率曲线）。

输入参数DIP为相对倾角，LMD为各相异性系数，TR1、TR2为源距（inch），OPF为操作频率，VR为垂直分辨率。

图40随钻电阻率测井响应特征的正演数值模拟模块界面

图41随钻电阻率测井响应特征的正演模拟模块的输入曲线

图42随钻电阻率测井响应特征的正演模拟模块的输出曲线

图43随钻电阻率测井响应特征的正演模拟模块的参数卡

3.5各向异性和相对倾角影响校正（迭代法）子模块（AnisotropyCorrection-iterationformula）

图44～图47是采用迭代法逐点进行相对倾角与各向异性校正模块的输入和输出界面。

输入曲线为两条电阻率曲线、1条相对倾角曲线和1条泥质含量曲线，输出为校正后的4条电阻率曲线（校正后的水平和垂直方向的相位和衰减电阻率曲线）和3条λ系数曲线（对应相位和衰减电阻率曲线及平均值），可根据需要选择其中几条电阻率曲线进行校正。

参数RSD为纯砂岩的电阻率值（例如5ohmm）；

RSH为纯泥岩的电阻率值（例如2ohmm）。

图44随钻电阻率测井曲线的各向异性和相对倾角影响校正（迭代法）子模块

图45随钻电阻率测井曲线的各向异性和相对倾角影响校正（迭代法）子模块的输入曲线

图46随钻电阻率测井曲线的各向异性和相对倾角影响校正（迭代法）子模块的输出曲线

图47随钻电阻率测井曲线的各向异性（迭代法）和相对倾角影响校正子模块的参数卡

3.6NewSand随钻测井资料的地层参数解释模块

由于中子、密度测井资料是目前随钻测井的必测项目（例如方位中子密度测井），采用中子和密度测井曲线交会识别岩性和气层及计算孔隙度十分有效。

常规的sand分析程序计算孔隙度只采用中子密度交会方法，且参数太多，使用不便，为此我们改进了原sand分析程序，研制了NewSand程序。

NewSand程序是既能使用中子密度交会方法解释孔隙度又能实现单孔隙解释孔隙度，且输入参数较少，结果更趋合理。

图48-图54是NewSand程序的输入、输出界面。

其中参数PORFG为计算孔隙度方法选择标志，当PORFG=0,1,2,3时分别采用中子密度曲线交会法，密度曲线，声波曲线，中子曲线来计算POR。

图48NewSand随钻测井资料的地层参数解释模块

图49NewSand解释模块的输入曲线

图50NewSand解释模块的输出曲线

图51NewSand解释模块的计算泥质含量参数卡

图52NewSand解释模块的计算孔隙度参数卡

图53NewSand解释模块的计算地层含水饱和度参数卡

图54NewSand解释模块的计算地层渗透率参数卡

3.7井眼轨迹与地层关系的随钻测井解释成图模块

⑴“井眼轨迹与地层关系的随钻测井成图”模块主要包含两个外挂的可执行程序Fwdtxt2wis.exe和HWLCG..exe，都置于C：

\EDA\bin下，外挂于EDA平台上的子菜单TOOLS下。

该模块采用最小曲率法计算大斜度井和水平井的井眼轨迹参数，同时沿井眼轨迹回放随钻测井曲线和岩性、物性等参数解释剖面，用于解释井眼轨迹与钻遇地层的实际情况及关系。

图38是运行该程序后所显示的主界面窗口，主菜单包括文件、查看、计算、显示、设置、曲线图、保存数据、常用工具和帮助等9个功能。

图55沿井眼轨迹的随钻测井曲线回放模块的主界面