碳素钢和低合金钢锻件超声检测方法和质量分级Word下载.docx

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a)被检材料的多余部分(尺寸足够时);

b)与被检材料同钢种、同热处理状态的材料;

c)与被检材料具有相同或相似声学特性的材料。

1.1.3.3单晶直探头对比试块

单晶直探头检测采用CS-2试块调节基准灵敏度,其形状和尺寸应符合图4和表9的规定。

如确有需要也可采用其他对比试块。

1.1.3.4双晶直探头对比试块:

a)工件检测厚度小于45mm时,应采用CS-3对比试块;

b)CS-3试块的形状和尺寸应符合图5和表10的规定。

图4CS-2对比试块

表9CS-2对比试块尺寸单位为mm

试块

编号

规格

d

L1

L2

D

1

25/2

2

25

50

≥35

19

200/2

200

225

≥100

25/3

3

20

200/3

25/4

4

21

200/4

50/2

75

≥50

22

250/2

250

275

≥110

5

50/3

23

250/3

6

50/4

24

250/4

7

75/2

100

≥60

300/2

300

325

≥120

8

75/3

26

300/3

9

75/4

27

300/4

10

100/2

125

≥70

28

400/2

400

425

≥140

11

100/3

29

400/3

12

100/4

30

400/4

13

125/2

150

≥80

31

500/2

500

525

≥155

14

125/3

32

15

125/4

33

500/4

16

150/2

175

≥85

17

150/3

18

150/4

 

图5CS-3对比试块

表10CS-3对比试块尺寸单位为mm

试块序号

孔径

检测距离L

φ2

35

40

45

φ3

φ4

1.1.4.5工件检测面曲率半径小于等于250mm时,应采用曲面对比试块(试块曲率半径在工件曲率半径的0.7倍~1.1倍范围内)调节基准灵敏度,或采用CS-4对比试块来测定由于曲率不同而引起的声能损失,其形状和尺寸按图6所示。

图6CS-4对比试块

1.1.4.6对比试块CS-2、CS-3、CS-4制造要求等见JB/T8428和GB/T11259的规定。

1.1.5敏度的确定

1.1.1.1单晶直探头基准灵敏度的确定

使用CS-2或CS-4试块,依次测试一组不同检测距离的φ2mm平底孔(至少3个),制作单晶直探头的距离-波幅曲线,并以此作为基准灵敏度。

当被检部位的厚度大于或等于探头的3倍近场区长度,且检测面与底面平行时,也可以采用底波计算法确定基准灵敏度。

1.1.1.2双晶直探头基准灵敏度的确定

使用CS-3试块,依次测试一组不同检测距离的φ2mm平底孔(至少3个)。

制作双晶直探头的距离-波幅曲线,并以此作为基准灵敏度。

1.1.1.3扫查灵敏度一般应比基准灵敏度高6dB。

1.1.6检测

1.1.6.1耦合方式

耦合方式可采用直接接触法。

1.1.6.2灵敏度补偿

检测时应根据实际情况进行耦合补偿、衰减补偿和曲面补偿。

1.1.6.3工件材质衰减系数的测定:

a)在工件无缺陷完好区域,选取三处检测面与底面平行且有代表性的部位,调节仪器使第一次底面回波幅度(B1)或第n次底面回波幅度(Bn)为满刻度的50%,记录此时仪器增益或衰减器的读数,再调节仪器增益或衰减器,使第二次底面回波幅度或第m次底面回波幅度(B2或Bm)为满刻度的50%,两次增益或衰减器读数之差即为(B1−B2)或(Bn−Bm)(不考虑底面反射损失)。

b)工件厚度小于3倍探头近场区长度(t<3N)时,衰减系数(满足n>3N/t,m>n)按式

(1)计算:

α=[(Bn-Bm)20lg(m/n)]/2(m-n)t·

·

(1)

式中:

α——衰减系数,dB/m(单程);

(Bn−Bm)——两次底波增益或衰减器的读数之差,dB;

t——工件检测厚度,mm;

N——单晶直探头近场区长度,mm;

m、n——底波反射次数。

c)工件厚度大于3倍探头近场区长度(t≥3N)时,衰减系数按式

(2)计算:

α=[(B1-B2)-6]/2t·

(2)

(B1−B2)——两次底波增益或衰减器的读数之差,dB;

其余符号意义同b)。

d)工件上三处衰减系数的平均值即作为该工件的衰减系数。

1.1.6.4扫查方式

1.1.6.4.1直探头检测:

a)移动探头从两个相互垂直的方向在检测面上座100%扫查。

主要检测方向如图7所示;

b)双晶探头扫查时,探头的移动方向应与探头的隔声层相垂直;

c)根据合同、技术协议书或图样的要求,也可采用其他形式的扫查,如一定间隔的平行线或格子线扫查。

1.1.6.4.2斜探头检测

斜探头检测应按附录E的要求进行。

1.1.7缺陷当量的确定

1.1.7.1当被检缺陷的深度大于或等于所用探头的3倍近场区时,可采用AVG曲线或计算法确定缺陷的当量。

对于3倍近场区内的缺陷,可采用距离-波幅曲线来确定缺陷的当量。

也可采用其他等效方法来确定。

说明:

↑——应检测方向;

※——为参考检测方向。

图7检测方向(垂直检测法)

1.1.7.2当采用计算法确定缺陷当量时,若材质衰减系数超过4dB/m,应进行修正。

1.1.7.2当采用距离-波幅曲线来确定时,若对比试块与工件材质衰减差值超过4dB/m,应进行修正。

1.1.8质量分级等级评定

1.1.8.1缺陷的质量分级见表11。

1.4.8.2当检测人员判定反射信号为白点、裂纹等危害性缺陷时,锻件的质量等级为Ⅴ级。

表11锻件超声检测缺陷质量分级单位为mm

等级

单个缺陷当量平底孔直径

≤φ4

≤φ4+6dB

≤φ4+12dB

≤φ4+18dB

>φ4+18dB

由缺陷引起的底波降低量GB/BF

≤φ6dB

≤φ12dB

≤φ18dB

≤φ24dB

>24dB

密集区缺陷当量直径

≤φ2

≤φ3

≤φ4dB

≤φ4+4dB

>φ4+4dB

密集区缺陷面积占检测总面积的百分比/%

≤5

≤10

≤20

>20

注:

由缺陷引起的底波降低量仅适用于声程大于近场区长度的缺陷。

注2:

表中不同种类的缺陷分级应独立使用。

表3:

密集区缺陷面积指反射波幅大于等于φ2当量平底孔直径的密集缺陷。

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